JPH0943356A - 放射線変換素子とその製造方法および放射線撮像装置 - Google Patents

放射線変換素子とその製造方法および放射線撮像装置

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JPH0943356A
JPH0943356A JP7196350A JP19635095A JPH0943356A JP H0943356 A JPH0943356 A JP H0943356A JP 7196350 A JP7196350 A JP 7196350A JP 19635095 A JP19635095 A JP 19635095A JP H0943356 A JPH0943356 A JP H0943356A
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radiation
light
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radiation conversion
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Application number
JP7196350A
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English (en)
Inventor
Yukio Nishikawa
幸男 西川
Shinichi Mizuguchi
信一 水口
Junichi Hibino
純一 日比野
Yasuichi Oomori
康以知 大森
Yasuhiko Makaji
康彦 眞梶
Takeshi Abe
健 阿部
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 高解像度・高感度の放射線撮像装置を高速か
つ容易に製造することができる優れた放射線変換素子と
その製造方法及び放射線撮像装置を提供する。 【構成】 光を映像信号に変換する光検出パネル2の画
素3を少なくとも1つ含む大きさに、X線、放射線の光
変換素子のシンチレータ1を格子状に分割し、その分割
面と光検出パネルを相対させ、素子の分割領域内に光検
出パネルの画素を少なくとも一つ含むように接着し、格
子状の加工は素子上にパターニングされた保護層を形成
し、粒子または粒子線を照射し、保護層間の露出する素
子部分を除去するか、素子上に収束した粒子線を相対的
に移動照射するか、粒子線を線状のマスクパターンを通
過させ、素子上にマスクパターンを結像させることで、
格子状の分離層を設けてクロストークを防ぎ、広い面積
の高速加工を可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線または放射線等を光
に変換する放射線変換素子とその製造方法および放射線
変換素子を用いた放射線撮像装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】放射線撮像装置はX線または放射線を光
に変換する素子(以下シンチレータと呼ぶ)と光検出パ
ネルを組み合わせて構成される。このような従来技術と
して、光検出パネルの全面にシンチレータを付けたもの
がある。シンチレータの材料としては、CsIや酸硫化
イットリウム・テルビウムなどがある。しかし、全面に
シンチレータを付けただけでは、シンチレータのクロス
トークにより解像度が低下し、また光検出パネルに損傷
を与えやすい欠点がある。
【0003】これに対して、光ファイバプレートの上部
にシンチレータを付け、光ファイバプレートを通った光
を光検出パネルで受光する放射線撮像装置も知られてい
る。しかし、光ファイバプレートは高価であり、装置が
大型である。また、検出効率を上げるためにシンチレー
タを厚くすると解像度が低下しやすい。
【0004】これらの欠点を克服するものとして、光フ
ァイバプレートの表面にエッチングで多数の凸凹を形成
し、突出したコアにシンチレータを成長させる方法が、
例えば特開昭61−185844号公報および特開昭6
1−225684号公報に示されている。
【0005】しかし、これらの方法は画素とコアを正確
に位置合わせして光結合することが困難であるとして、
光検出パネルの画素上に凸状パターンを形成し、その凸
状パターンの上面にシンチレータの柱状結晶を成長させ
る方法が、例えば図9に示すように特開平5−9378
0号公報において述べられている。図9において、40
は画素、41は凸状パターン、42はマスク、43は反
射膜、44はシンチレータの柱状結晶、45はコーティ
ング膜、46は2次元光センサである。まず、ガラス基
板上に薄膜プロセスにより画素40を配置した2次元光
検出パネルを形成する。光検出パネルの画素40上に凸
状パターン41を形成し、さらに凸状パターン41の上
面にのみマスク42を設け、凸状パターン41の側面に
光反射膜43を形成する。次に、マスク42を除去し、
蒸着によりシンチレータの柱状結晶44を凸状パターン
41の上面に結晶成長させる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の従
来の構成では、蒸着によりシンチレータを結晶成長させ
るため、工程時間が長く、光検出パネルの不必要な部分
にも蒸着されたり、結晶同士が適切な間隔を保って成長
するのが困難であるという問題点を有していた。
【0007】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、高解像度・高感度の放射線撮像装置を高速かつ容易
に製造することのできる放射線変換素子とその製造方法
および放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の第1の放射線変換素子とその製造方法および
放射線撮像装置は、X線または放射線を光に変換する素
子と、前記素子により変換された光を映像信号に変換す
る光検出パネルを有し、前記光検出パネルの画素を少な
くとも1つ含む大きさに前記素子を格子状に分割し、前
記素子の分割面と前記光検出パネルとを相対させ、前記
素子の分割領域内に光検出パネルの画素を少なくとも一
つ含むように両者を組み立てるものである。
【0009】上記構成において、前記素子は個片には分
割されないことが好ましい。また、前記素子と前記光検
出パネルとを接着することが好ましい。
【0010】また、接着剤は前記素子により変換された
光に対して透明であることが好ましい。
【0011】本発明の第2の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、X線または放射線を透過
する基板上に、X線または放射線を光に変換する層を形
成し、前記光変換層を格子状に加工するものである。
【0012】上記構成において、前記光変換層を厚膜印
刷法を用い、前記基板上に形成することが好ましい。
【0013】本発明の第3の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、X線または放射線を光に
変換する素子上にパターニングされた保護層を形成し、
前記素子上に粒子または粒子線を照射し、保護層間から
露出する素子部分を除去するものである。
【0014】上記構成において、前記保護層の材料は照
射される粒子または粒子線に対して耐久性があり、かつ
不透過性であることが好ましい。
【0015】また、前記保護層の材料としてフォトレジ
ストを用い、フォトリソグラフィー法によってパターニ
ングを行うことが好ましい。
【0016】また、前記保護層は前記光変換層により変
換された光を透過することが好ましい。
【0017】また、素子部分を除去後、保護層を除去す
ることが好ましい。また、保護層を剥離剤を用いて除去
することが好ましい。
【0018】また、焼成によって保護層を分解除去する
ことが好ましい。本発明の第4の放射線変換素子とその
製造方法および放射線撮像装置は、X線または放射線を
光に変換する素子上に収束した粒子線を照射し、前記素
子を格子状に加工するものである。
【0019】上記構成において、粒子線はレーザ光であ
ることが好ましい。また、前記レーザ光はパルス光であ
ることが好ましい。
【0020】本発明の第5の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、X線または放射線を光に
変換する粉体材料を両面から基板で挟んだ三層構造の素
子に対し、一方の面からレーザ光を照射して前記素子を
格子状に加工するものである。
【0021】上記構成において、前記三層構造の素子の
うち、少なくともレーザ光を照射する基板は有機フィル
ムであることが好ましい。
【0022】また、レーザ光の波長は0.3〜5μmで
あることが好ましい。また、前記三層構造の素子のう
ち、前記レーザ光照射面裏側の基板は、前記レーザ光を
透過することが好ましい。
【0023】本発明の第6の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、粒子線を線状のマスクパ
ターンを通過させ、X線または放射線を光に変換する素
子上に前記マスクパターンを結像させ、つぎに前記パタ
ーンと直交させて前記線状のマスクパターンを結像させ
た粒子線を照射し、前記素子を格子状に加工するもので
ある。
【0024】本発明の第7の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、レーザ発振器と、前記レ
ーザ発振器より出射するレーザ光を収束させる光学装置
と、X線または放射線を光に変換する素子を保持するた
めに前記レーザ光に対して透過性の高い材料で作られた
治具とを備え、レーザ光の照射部と前記素子を相対的に
移動させながら加工するものである。
【0025】上記構成において、レーザ光に対して透過
性の高い材料はガラスであることが好ましい。
【0026】本発明の第8の放射線変換素子とその製造
方法および放射線撮像装置は、レーザ発振器と、前記レ
ーザ発振器より出射するレーザ光を収束させる光学装置
と、X線または放射線を光に変換する素子を空中に保持
する治具とを備え、レーザ光の照射部と前記素子を相対
的に移動させながら加工するものである。
【0027】上記構成において、前記素子の保持治具は
移動機構によって格子状に移動することが好ましい。
【0028】また、前記レーザ光は前記素子上を格子状
に走査されることが好ましい。
【0029】
【作用】この構成によって、シンチレータに格子状の分
離層を設けることでクロストークを防ぎ、高解像度・高
感度の放射線撮像装置を提供できる。しかも、粒子また
は粒子線を照射する方式により、広い面積を高速に加工
できるため、高い生産性を実現することができる。
【0030】
【実施例】
(実施例1)本発明の放射線変換素子とその製造方法お
よび放射線撮像装置の第1の実施例を図1と図2を参照
しながら説明する。図1は格子状に分割されたX線また
は放射線を光に変換する素子(以下シンチレータと呼
ぶ)の外観である。
【0031】図1において、1はシンチレータで、板状
の焼結体である。シンチレータ1には焼結時または焼結
後に加工して格子状の溝1aが形成されている。しか
し、シンチレータ1は溝1aによって個片には分割され
ず、底面でつながっている。
【0032】図2は、シンチレータと光検出パネルの組
み立ての概念図である。(a)は組み立て前、(b)は
組み立て後である。2は光検出パネル、3は光検出パネ
ル2の画素、4は接着剤である。シンチレータ1の格子
状の分割部の大きさは画素3を含むことができるもので
ある。複数本の溝1aによって表面が分割されたシンチ
レータ1の分割面と光検出パネル2の画素3とを対応さ
せ、接着する。接着剤4がシンチレータ1によって変換
された光に対して透明であれば、深さ方向に直進する光
については画素3に到達する。しかし斜め方向に進む光
については、シンチレータ1に形成された溝1aの面1
b(側面)で反射され、隣の画素には到達できずクロス
トークを防ぐことができる。
【0033】(実施例2)本発明の放射線変換素子とそ
の製造方法および放射線撮像装置の第2の実施例を図3
を参照しながら説明する。図3は、サンドブラスト法に
よるシンチレータの加工の工程概念図である。
【0034】(a)は加工前のシンチレータ、(b)は
パターニングされた保護層を形成したシンチレータ、
(c)はサンドブラスト法で加工中の構成図である。本
実施例で用いたシンチレータはX線または放射線を透過
するガラス基板5上に、X線または放射線を光に変換す
る層6を厚膜印刷法で形成したものである。基板は有機
フィルムであっても良い。(b)の保護層の形成工程で
は、サンドブラスト耐性を有するレジスト7として東京
応化工業(株)製OSBR−82Rと称されるネガ型液
状レジストを用いている。このレジスト7をスピンコー
ト法により光変換層6の上に約15〜20μm程度の膜
厚で塗布する。レジスト塗布後70℃の温度で15分間
乾燥する。
【0035】次にサンドブラストで除去する格子状のパ
ターン以外が露光できるフォトマスクを密着させ、15
mJ/cm2の露光量で露光後、0.2重量%炭酸ナト
リウム水溶液をスプレーで吹き付けて現像し、純水で洗
浄するとパターンが得られる。
【0036】(c)のサンドブラスト工程では、シリカ
(SiO2)粒子8をサンドブラストマシーン(アルプ
スエンジニアリング社製)により、レジストパターン7
を形成した光変換層6上にブラスト圧力2kgf/cm
2で吹き付け、レジスト7で被覆されていない部分を切
削する。レジスト7はサンドブラストに対して耐久性が
あり、かつ粒子を透過しないため、パターン下の光変換
層6は加工されない。シリカの粒子径を10μm以下に
することで、光検出パネルの画素の間隔に対応した狭い
溝幅の加工が可能となる。切削後、レジストパターン7
をモノエタノールアミン系のレジスト剥離剤を用いて除
去すると図4のような構造となる。
【0037】サンドブラスト耐性を有するレジストとし
て東京応化工業(株)製ORDYL−BF205と称さ
れるネガ型ドライフィルムレジストを用いた場合にも、
同様の工程で切削が可能である。なお、除去の方法は剥
離剤を用いた方法に限定されるものではなく、例えばレ
ジストパターンを除去せず、焼成により燃焼させて除去
することも可能である。
【0038】これらの実施例では、サンドブラストのマ
スクとしてフォトレジストを利用した。微細パターニン
グにはフォトレジストが最も望ましいが、サンドブラス
トで除去する溝状のパターン以外に、サンドブラスト耐
性がある例えばポリメタクリル酸メチルなどを溶解しペ
ースト状にした液体を、スクリーン印刷法などによって
塗布し、乾燥したものをサンドブラスト用マスクとして
利用しても同様の加工が可能である。
【0039】保護層7の材料として、光変換層6により
変換された光を透過する材料を用いれば、保護層7を除
去せずに、そのまま光検出パネルと組み立てることも可
能である。
【0040】また、加工手段として、イオン照射やプラ
ズマを用いたドライエッチングなどの方法を用いれば、
加工速度は遅いが、より一層微細な高精度加工が可能と
なる。
【0041】(実施例3)本発明の放射線変換素子とそ
の製造方法および放射線撮像装置の第3の実施例を図5
を参照しながら説明する。図5は、シンチレータのレー
ザ加工装置の構成図である。
【0042】図5において、11はYAGレーザ発振
器、12はレーザ光、13はコリメータ、14は反射
鏡、15はレンズ、16はシンチレータ、17はガラス
板、18は移動機構である。レーザ発振器11から出射
したレーザ光12は、コリメータ13により拡大され、
反射鏡14によりレンズ15に誘導され、シンチレータ
16上に集光される。移動機構18を移動させること
で、シンチレータ16を格子状に加工することができ
る。しかし、例えば、シンチレータ16にCsIの板状
焼結体を用いると、レーザ光12はシンチレータ16を
通過できる。そのため、シンチレータ16下にレーザ光
12を反射したり吸収する材料を接触させると、反射レ
ーザ光または噴出物によりシンチレータ16の裏面が再
加工され、表面状態は悪くなる。本実施例では、シンチ
レータ16を保持するガラス板17上は、波長1.06
μmのレーザ光をほとんど反射せず、また、ガラス板1
7下の移動機構が加工された場合の噴出物にもさらされ
ないため、シンチレータ16の再加工を防ぐことができ
る。
【0043】本実施例は、レーザ光の照射部とシンチレ
ータの相対的な移動を移動機構により行う方式である
が、レーザ光を反射鏡などで走査する方式でもよい。
【0044】(実施例4)本発明の放射線変換素子とそ
の製造方法および放射線撮像装置の第4の実施例を図6
を参照しながら説明する。図6はシンチレータの加工状
態の概念図である。(a)は加工前、(b)は加工後で
ある。第4の実施例が第3の実施例と異なる点はシンチ
レータとして、酸硫化イットリウム・テルビウム粉体の
光変換材料19を基板20と21で挟んだ三層構造とし
たことである。
【0045】三層構造とすることで、粉体材料の使用も
可能となる。この三層構造のシンチレータの一方の面か
らレンズ15で集光したレーザ光12を照射する。照射
側の基板20に、例えばポリエチレン・テレフタレート
(PET)のような有機フィルムを用いると、波長0.
3〜5μmのレーザ光を透過するため、微細加工に適し
たYAGレーザ光を照射すると、光変換材料19に吸収
される。光変換材料9のレーザ照射部は高温になり、噴
出する。
【0046】基板20は有機フィルムなので、噴出物に
よって容易に基板20は破られ、深さ方向に加工が進
む。レーザ光12はパルス光であれば、レーザ強度が高
いため、一層容易に加工が進み、裏側の基板21の損傷
も小さい。裏側の基板21は有機フィルムやガラスであ
ればレーザ光を透過するため、光変換材料19を通過し
たレーザ光12より受ける損傷も小さい。
【0047】なお、レーザ光を照射する基板20がレー
ザ光12の吸収体であっても良いことは言うまでもな
い。
【0048】(実施例5)本発明の放射線変換素子とそ
の製造方法および放射線撮像装置の第5の実施例を図7
を参照しながら説明する。第5の実施例が第4の実施例
と異なる点はシンチレータ16を保持治具22によって
空中に保持したことである。この方式でも、第4の実施
例と同様に反射レーザ光または噴出物によるシンチレー
タ16の再加工を防ぐことができる。
【0049】(実施例6)本発明の放射線変換素子とそ
の製造方法および放射線撮像装置の第6の実施例を図8
を参照しながら説明する。第6の実施例が第4あるいは
第5の実施例と異なる点は、線状のパターンを有するマ
スク23を通過したレーザ光12をシンチレータ16上
に縮小結像投影することである。これにより、まず線状
の加工が施される。つぎに前記パターンと直交する線状
パターンを有するマスク24を回転機構25により交換
し、パターンを結像させる。シンチレータ16を移動さ
せ、これらの加工を繰り返すことでシンチレータ16上
に格子状の加工を施すことができる。縮小投影法では、
複雑な微細パターンの加工も可能となる。
【0050】
【発明の効果】以上のように本発明は、X線または放射
線を光に変換する素子と、前記素子により変換された光
を映像信号に変換する光検出パネルとから構成され、前
記光検出パネルの画素を少なくとも1つ含む大きさに前
記素子を格子状に分割し、前記素子の分割面と前記光検
出パネルとを相対させ、前記素子の分割領域内に光検出
パネルの画素を少なくとも一つ含むように両者を組み立
てるか、X線または放射線を透過する基板上に、X線ま
たは放射線を光に変換する層を形成し、前記光変換層を
格子状に加工するか、X線または放射線を光に変換する
素子上にパターニングされた保護層を形成し、前記素子
上に粒子または粒子線を照射し、保護層間から露出する
素子部分を除去するか、X線または放射線を光に変換す
る素子上に収束した粒子線を照射し、前記素子を格子状
に加工するか、X線または放射線を光に変換する粉体材
料を両面から基板で挟んだ三層構造の素子に対し、一方
の面からレーザ光を照射して前記素子を格子状に加工す
るか、粒子線を線状のマスクパターンを通過させ、X線
または放射線を光に変換する素子上に前記マスクパター
ンを結像させ、つぎに前記パターンと直交させて前記線
状のマスクパターンを結像させた粒子線を照射し、前記
素子を格子状に加工するか、レーザ発振器と、前記レー
ザ発振器より出射するレーザ光を収束させる光学装置
と、X線または放射線を光に変換する素子を保持するた
めに前記レーザ光に対して透過性の高い材料で作られた
治具とを備え、レーザ光の照射部と前記素子を相対的に
移動させながら加工するか、レーザ発振器と、前記レー
ザ発振器より出射するレーザ光を収束させる光学装置
と、X線または放射線を光に変換する素子を空中に保持
する治具とを備え、レーザ光の照射部と前記素子を相対
的に移動させながら加工することにより、高解像度・高
感度の放射線撮像装置を高速かつ容易に製造することが
できる優れた放射線変換素子とその製造方法および放射
線撮像装置を実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるシンチレータの外観
【図2】(a),(b)は同シンチレータと光検出パネルの組
み立ての概念図
【図3】(a)〜(c)は同サンドブラスト法によるシンチレ
ータの加工の工程概念図
【図4】同サンドブラスト後のシンチレータを示す図
【図5】同シンチレータのレーザ加工装置の構成図
【図6】(a),(b)は同三層構造のシンチレータの加工状
態の概念図
【図7】同シンチレータのレーザ加工装置の構成図
【図8】同シンチレータのレーザ加工装置の構成図
【図9】(a)〜(d)は従来のシンチレータの結晶成長法の
工程概念図
【符号の説明】
1 シンチレータ 2 光検出パネル 3 光検出パネルの画素 4 接着剤 5 基板 6 光変換層 7 レジスト 8 シリカ粒子 11 YAGレーザ発振器 15 レンズ 16 シンチレータ 17 ガラス板 18 移動機構 19 光変換材料 20 有機フィルム 21 基板 22 保持治具 23 マスク 24 マスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大森 康以知 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 眞梶 康彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 阿部 健 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】X線または放射線を光に変換する素子と、
    前記素子により変換された光を映像信号に変換する光検
    出パネルを有し、前記光検出パネルの画素を少なくとも
    1つ含む大きさに前記素子を格子状に分割し、前記素子
    の分割面と前記光検出パネルとを相対させ、前記素子の
    分割領域内に光検出パネルの画素を少なくとも一つ含む
    ように両者を組み立てられたことを特徴とする放射線撮
    像装置。
  2. 【請求項2】前記素子は個片には分割されないことを特
    徴とする請求項1記載の放射線撮像装置。
  3. 【請求項3】前記素子と前記光検出パネルとを接着する
    ことを特徴とする請求項1記載の放射線撮像装置。
  4. 【請求項4】X線または放射線を光に変換する素子であ
    って、表面に複数の溝によって分割された分割面を有す
    る放射線変換素子。
  5. 【請求項5】X線または放射線を透過する基板上に、X
    線または放射線を光に変換する層を形成し、前記光変換
    層を格子状に加工することを特徴とする放射線変換素子
    の製造方法。
  6. 【請求項6】前記光変換層を厚膜印刷法を用い、前記基
    板上に形成することを特徴とする請求項5記載の放射線
    変換素子の製造方法。
  7. 【請求項7】X線または放射線を光に変換する素子上に
    パターニングされた保護層を形成し、前記素子上に粒子
    または粒子線を照射し、保護層間から露出する素子部分
    を除去することを特徴とする放射線変換素子の製造方
    法。
  8. 【請求項8】前記保護層の材料は照射される粒子または
    粒子線に対して耐久性があり、かつ不透過性であること
    を特徴とする請求項7記載の放射線変換素子の製造方
    法。
  9. 【請求項9】前記保護層の材料としてフォトレジストを
    用い、フォトリソグラフィー法によってパターニングを
    行うことを特徴とする請求項8記載の放射線変換素子の
    製造方法。
  10. 【請求項10】前記保護層は前記光変換層により変換さ
    れた光を透過することを特徴とする請求項7記載の放射
    線変換素子の製造方法。
  11. 【請求項11】素子部分を除去後、保護層を除去するこ
    とを特徴とする請求項7記載の放射線変換素子の製造方
    法。
  12. 【請求項12】保護層を剥離剤を用いて除去することを
    特徴とする請求項11記載の放射線変換素子の製造方
    法。
  13. 【請求項13】焼成によって保護層を分解除去すること
    を特徴とする請求項11記載の放射線変換素子の製造方
    法。
  14. 【請求項14】X線または放射線を光に変換する素子上
    に収束した粒子線を照射し、前記素子を格子状に加工す
    ることを特徴とする放射線変換素子の製造方法。
  15. 【請求項15】粒子線はレーザ光であることを特徴とす
    る請求項14記載の放射線変換素子の製造方法。
  16. 【請求項16】前記レーザ光はパルス光であることを特
    徴とする請求項15記載の放射線変換素子の製造方法。
  17. 【請求項17】X線または放射線を光に変換する粉体材
    料を両面から基板で挟んだ三層構造の素子に対し、一方
    の面からレーザ光を照射して前記素子を格子状に加工す
    ることを特徴とする放射線変換素子の製造方法。
  18. 【請求項18】前記三層構造の素子のうち、少なくとも
    レーザ光を照射する基板は有機フィルムであることを特
    徴とする請求項17記載の放射線変換素子の製造方法。
  19. 【請求項19】レーザ光の波長は0.3〜5μmである
    ことを特徴とする請求項18記載の放射線変換素子の製
    造方法。
  20. 【請求項20】前記三層構造の素子のうち、前記レーザ
    光照射面裏側の基板は、前記レーザ光を透過することを
    特徴とする請求項17記載の放射線変換素子の製造方
    法。
  21. 【請求項21】粒子線を線状のマスクパターンを通過さ
    せ、X線または放射線を光に変換する素子上に前記マス
    クパターンを結像させ、つぎに前記パターンと直交させ
    て前記線状のマスクパターンを結像させた粒子線を照射
    し、前記素子を格子状に加工することを特徴とする放射
    線変換素子の製造方法。
  22. 【請求項22】レーザ発振器と、前記レーザ発振器より
    出射するレーザ光を収束させる光学装置と、X線または
    放射線を光に変換する素子を保持するために前記レーザ
    光に対して透過性の高い材料で作られた治具とを備え、
    レーザ光の照射部と前記素子を相対的に移動させながら
    加工することを特徴とする放射線変換素子の製造方法。
  23. 【請求項23】前記レーザ光に対して透過性の高い材料
    はガラスであることを特徴とする請求項22記載の放射
    線変換素子の製造方法。
  24. 【請求項24】レーザ発振器と、前記レーザ発振器より
    出射するレーザ光を収束させる光学装置と、X線または
    放射線を光に変換する素子を空中に保持する治具とを備
    え、レーザ光の照射部と前記素子を相対的に移動させな
    がら加工することを特徴とする放射線変換素子の製造方
    法。
  25. 【請求項25】前記素子の保持治具は移動機構によって
    格子状に移動することを特徴とする請求項22または2
    4記載の放射線変換素子の製造方法。
  26. 【請求項26】前記レーザ光は前記素子上を格子状に走
    査されることを特徴とする請求項22または24記載の
    放射線変換素子の製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6452186B1 (en) 1999-07-23 2002-09-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Detector for the detection for electromagnetic radiation
JP2023177097A (ja) * 2022-06-01 2023-12-13 Tdk株式会社 電子部品の製造装置及び電子部品の製造方法

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