JPH0945011A - ディスク状記録媒体の検査装置及び検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 アドレス信号のフォーマットの種類に依存す
ることなく、ディスク状記録媒体の欠陥を汎用的に検出
することができるディスク状記録媒体の検査装置及び検
査方法を提供する。 【解決手段】 アドレス信号が予め書き込まれた光ディ
スクの欠陥を検出するに際し、先ず、光ディスクに書き
込まれた信号を再生して２値化する。そして、この２値
化信号にパルスが存在するときに所定の時間だけパルス
ゲートを開いて、このパルスゲートが開かれている所定
の時間内における２値化信号のパルスの数を数え、この
パルスの数が所定の数以上のときにアドレスマスク信号
を発生させる。そして、アドレスマスク信号と、上記２
値化信号を所定の時間だけ遅らせた信号との論理積を求
め、上記論理積からディスク状記録媒体の欠陥を検出す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、アドレス信号が予
め書き込まれたディスク状記録媒体の欠陥を検出するデ
ィスク状記録媒体の検査装置及び検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク又は磁気デ
ィスク等のようなディスク状記録媒体は、大量の情報を
記録することが可能な円盤状の記録媒体であり、基板上
に記録層が形成されて構成される。

【０００３】このようなディスク状記録媒体は、記録再
生が正常にできることを保証するために、記録層の表面
に欠陥が存在していないかを検査する必要がある。すな
わち、記録層が形成されたディスク状記録媒体に対し
て、記録層が正常に成膜されているか、または、傷や異
物等が存在していないか等を検査する必要がある。

【０００４】このようなディスク状記録媒体の欠陥の検
査は、ディスク状記録媒体の信号を実際に再生して、そ
の再生信号に含まれるドロップアウト信号、すなわち記
録層の表面の欠陥によって生じる信号を検出することに
より行われる。

【０００５】ただし、このようにディスク状記録媒体の
信号を実際に再生し、その再生信号に含まれるドロップ
アウト信号を検出しようとする場合、ディスク状記録媒
体にアドレス信号が予め書き込まれているときには、再
生信号からアドレス信号にマスクをかけてドロップアウ
ト信号だけが検出されるようにする必要がある。

【０００６】そこで、従来、アドレス信号が書き込まれ
たディスク状記録媒体の検査を行う際には、ディスク状
記録媒体から信号を再生するとともに、アドレス信号を
反転させたようなアドレスマスク信号を生成し、このア
ドレスマスク信号と再生信号との論理積を求めて再生信
号からアドレス信号を取り除いている。このとき、当然
の事ながら、アドレスマスク信号は、検査するディスク
状記録媒体のアドレス信号のフォーマットに対応するよ
うにしておく必要がある。そこで、従来のディスク状記
録媒体の検査方法では、どのようなアドレスマスク信号
を生成するかを予め定めている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、例えば同じ
直径のディスク状記録媒体であっても記録密度の違いに
よってアドレス信号のフォーマットが異なるものとなる
ように、ディスク状記録媒体に書き込まれるアドレス信
号のフォーマットには非常に多くの種類がある。特に、
近年、光ディスクや光磁気ディスク等の品種の増加が著
しく、アドレス信号のフォーマットの種類も急激に増加
している。

【０００８】そして、従来のディスク状記録媒体の検査
方法で、このようなアドレス信号のフォーマットの種類
の増加に対応するには、検査対象のディスク状記録媒体
のアドレス信号のフォーマット毎に、それぞれのアドレ
ス信号のフォーマットに対応するように、アドレスマス
ク信号のフォーマットを設定する必要があった。

【０００９】このように、従来のディスク状記録媒体の
検査方法では、アドレス信号のフォーマットに対して汎
用性が無いという問題があった。特に光ディスクや光磁
気ディスク等の品種の増加に伴って、ディスク状記録媒
体の検査におけるアドレス信号のフォーマットに対する
汎用性は大きな問題となってきており、アドレス信号の
フォーマットを問わずにディスク状記録媒体の検査を行
えるようにすることが強く望まれている。

【００１０】そこで本発明は、このような従来の実情に
鑑みて提案されたものであり、アドレス信号のフォーマ
ットの種類に依存することなく、汎用的に欠陥を検出す
ることができるディスク状記録媒体の検査装置及び検査
方法を提供すること目的としている。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに完成された本発明に係るディスク状記録媒体の検査
装置は、アドレス信号が予め書き込まれたディスク状記
録媒体の欠陥を検出するディスク状記録媒体の検査装置
であって、ディスク状記録媒体に書き込まれた信号を再
生する再生装置と、上記再生装置によって再生された信
号を２値化する２値化回路と、上記２値化回路によって
２値化された２値化信号にパルスが存在したときに所定
の時間だけ開かれるパルスゲートと、上記パルスゲート
が開かれている所定の時間内における２値化信号のパル
スの数を数えるカウンタと、上記カウンタによって数え
られたパルスの数が所定の数以上のときにアドレスマス
ク信号を発生するアドレスマスク信号発生器と、上記２
値化回路によって２値化された２値化信号を所定の時間
だけ遅らせるシフトレジスタと、上記アドレスマスク信
号発生器からのアドレスマスク信号及び上記シフトレジ
スタによって所定の時間だけ遅らされた２値化信号の論
理積を出力するＡＮＤ回路とを備えることを特徴として
いる。

【００１２】このディスク状記録媒体の検査装置では、
ディスク状記録媒体からの再生信号を２値化した２値化
信号にパルスが存在したときに所定の時間だけパルスゲ
ートを開き、このパルスゲートが開かれている所定の時
間内における２値化信号のパルスの数をカウンタによっ
て数える。このとき、そのパルスがアドレス信号による
ものならば、カウンタによって数えられたパルスの数は
所定の数以上となる。そこで、このディスク状記録媒体
の検査装置では、カウンタによって数えられたパルスの
数が所定の数以上のときに、アドレスマスク信号発生器
でアドレスマスク信号を発生させる。これにより、予め
アドレスマスク信号のフォーマットを定めておかなくて
も、アドレス信号に対応したアドレスマスク信号を発生
させることが可能となる。

【００１３】また、本発明に係るディスク状記録媒体の
検査方法は、アドレス信号が予め書き込まれたディスク
状記録媒体の欠陥を検出するに際し、ディスク状記録媒
体に書き込まれた信号を再生して、この再生された信号
を２値化し、上記２値化信号にパルスが存在したときに
所定の時間だけパルスゲートを開いて、このパルスゲー
トが開かれている所定の時間内における２値化信号のパ
ルスの数をカウンタによって数え、上記カウンタによっ
て数えられたパルスの数が所定の数以上のときにアドレ
スマスク信号発生器によってアドレスマスク信号を発生
させ、上記アドレスマスク信号発生器からのアドレスマ
スク信号と、上記２値化信号を所定の時間だけ遅らせた
信号との論理積を求め、上記論理積からディスク状記録
媒体の欠陥を検出することを特徴とするものである。

【００１４】このディスク状記録媒体の検査方法では、
ディスク状記録媒体からの再生信号を２値化した２値化
信号にパルスが存在したときに所定の時間だけパルスゲ
ートを開き、このパルスゲートが開かれている所定の時
間内における２値化信号のパルスの数をカウンタによっ
て数える。このとき、そのパルスがアドレス信号による
ものならば、カウンタによって数えられたパルスの数は
所定の数以上となる。そこで、このディスク状記録媒体
の検査方法では、カウンタによって数えられたパルスの
数が所定の数以上のときに、アドレスマスク信号発生器
でアドレスマスク信号を発生させる。これにより、予め
アドレスマスク信号のフォーマットを定めておかなくて
も、アドレス信号に対応したアドレスマスク信号を発生
させることが可能となる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した具体的な
実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明す
る。

【００１６】まず、本発明を適用したディスク状記録媒
体の検査装置の一例について説明する。

【００１７】このディスク状記録媒体の検査装置は、ア
ドレス信号が予め書き込まれたディスク状記録媒体の欠
陥を検出する検査装置である。そして、ここでは、光学
的にデータの記録再生が行われる光ディスクの欠陥の検
査を行う。ただし、検査対象のディスク状記録媒体は、
光ディスクに限られるものではなく、光磁気方式によっ
て記録再生が行われる光磁気ディスクや、磁気的に記録
再生が行われる磁気ディスク等であってもよい。

【００１８】この検査装置は、図１に示すように、光デ
ィスク１に書き込まれた信号を再生する再生装置２と、
上記再生装置２によって再生された再生信号に基づいて
光ディスク１の欠陥の数を数える欠陥検出装置３とを備
えている。

【００１９】ここで、再生装置１は、通常の光ディスク
ドライブであり、光学ピックアップ４と、光ディスク１
を支持し回転させるスピンドル５とを備えている。そし
て、スピンドル５上で回転する光ディスク１に書き込ま
れた信号を光学ピックアップ４によって再生する。な
お、被検査対象のディスク状記録媒体が、光ディスクで
はなく、光磁気ディスクや磁気ディスク等の場合には、
それぞれに適合した再生装置を用いればよいことは言う
までもない。

【００２０】一方、欠陥検出装置２は、上記再生装置２
によって再生された再生信号を一旦蓄えておくバッファ
１０と、上記バッファ１０から供給される再生信号を２
値化する２値化回路２０と、上記２値化回路２０から供
給される２値化信号に基づいてアドレスマスク信号を発
生するアドレスマスク発生回路３０と、上記２値化回路
２０から供給される２値化信号を所定の時間だけ遅らせ
るシフトレジスタ４０と、上記アドレスマスク発生回路
３０からのアドレスマスク信号と、上記シフトレジスタ
４０によって所定の時間だけ遅らされた２値化信号との
論理積を求め、この論理積をドロップアウト信号として
出力するＡＮＤ回路５０と、上記ＡＮＤ回路５０から供
給されるドロップアウト信号に基づいて光ディスクの欠
陥を数を数えて出力するエラーカウンタ６０とを備えて
いる。

【００２１】つぎに、上記欠陥検出装置３の回路構成に
ついて、図２を参照しながら詳細に説明する。

【００２２】上記欠陥検出装置３のバッファ１０は、再
生装置２からの信号のうち、ＲＦ信号を受け取り蓄える
第１のバッファ１１と、プルイン信号を受け取り蓄える
第２のバッファ１２とを備える。そして、第１のバッフ
ァ１１及び第２のバッファ１２に蓄えられたＲＦ信号及
びプルイン信号は、２値化回路２０へと供給される。

【００２３】２値化回路２０は、第１のバッファ１１か
らのＲＦ信号と第２のバッファ１２からのプルイン信号
とを比較して２値化する第１のコンパレータ２１と、第
２のバッファ１２からのプルイン信号を反転させる反転
回路２２と、第１のバッファ１１からのＲＦ信号と反転
回路２２で反転されたプルイン信号とを比較して２値化
する第２のコンパレータ２３と、第１のコンパレータ２
１の出力と第２のコンパレータ２２の出力との論理和を
求めて出力するＯＲ回路２４とを備える。

【００２４】ここで、第１のコンパレータ２１及び第２
のコンパレータ２３で信号を２値化する際は、アドレス
信号等が書き込まれたアドレス部以外の部分からの反射
率を示すＲＦ信号、すなわち光ディスクのデータ部から
のＲＦ信号を基準として基準電位を設定し、この基準電
位に対して一定の割合をスライスレベルとして設定す
る。ここで、スライスレベルは、正負共に基準電位に対
して１０％程度に設定することが好ましい。

【００２５】そして、ＯＲ回路２４は、アドレスマスク
発生回路３０及びシフトレジスタ４０に接続されてお
り、ＯＲ回路２４からアドレスマスク発生回路３０及び
シフトレジスタ４０に２値化信号が供給される。

【００２６】ＯＲ回路２４から２値化信号が供給される
アドレスマスク発生回路３０は、ＯＲ回路２４から供給
される２値化信号にパルスが存在したときに所定の時間
だけ開かれるパルスゲート３１と、上記パルスゲート３
１が開かれている所定の時間内における２値化信号のパ
ルスの数を数えるカウンタ３２と、上記カウンタ３２に
よって数えられたパルスの数が所定の数以上のときに、
アドレスマスク信号を発生させるように指示するフラグ
信号を出力するフラグラッチ３３と、上記フラグラッチ
３３からのフラグ信号に応じてアドレスマスク信号を発
生させるアドレスマスク信号発生器３４とを備えてい
る。そして、アドレスマスク信号発生器３４によって発
生されたアドレスマスク信号Ｓ４は、ＡＮＤ回路５０へ
と供給される。

【００２７】一方、シフトレジスタ４０は、ＯＲ回路２
４から供給された２値化信号を所定の時間だけ遅らせる
ようにシフトさせるものである。ここで、シフトレジス
タ４０で２値化信号を遅らせる時間は、パルスゲート３
１が開かれている間の時間、すなわちパルスゲート３１
の１回当たりの開放時間とする。そして、シフトレジス
タ４０で所定の時間だけ遅らされた２値化信号は、ＡＮ
Ｄ回路５０へと供給される。

【００２８】そして、ＡＮＤ回路５０は、アドレスマス
ク信号発生器３４から供給されたアドレスマスク信号
と、レジスタ４０から供給された２値化信号との論理積
を求め、その結果をドロップアウト信号としてエラーカ
ウンタ６０に供給する。ここで、ドロップアウト信号
は、アドレスマスク信号によってアドレス信号がマスク
され取り除かれているので、光ディスクの欠陥による信
号だけが残っている。

【００２９】そして、エラーカウンタ６０は、ＡＮＤ回
路５０から供給されたドロップアウト信号に基づいて、
光ディスクの欠陥の数を数えて出力する。

【００３０】つぎに、以上のような検査装置による光デ
ィスク１の検査について、図３に示す信号の例を参照し
ながら詳細に説明する。なお、図３に示す各信号では、
光ディスク１のデータ部からの再生信号の電位を基準電
位としている。

【００３１】再生装置２によって再生された光ディスク
１からの再生信号は、図３（１）に示すように、光ディ
スク１に予め書き込まれたアドレス部からの信号である
アドレス信号７０と、光ディスク１の欠陥によって生じ
るドロップアウト７１とを含んでいる。ここで、アドレ
ス信号７０には、当然の事ながら、ＶＦＯ信号（Ｖａｒ
ｉａｂｌｅ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｏｓｃｉｌｌａｔｏ
ｒ信号）等のような制御信号７０ａも含まれている。

【００３２】そして、この再生信号は、バッファ１０を
介して２値化回路２０に入力され、２値化回路２０によ
り、図３（２）に示すように、２値化信号に変換された
上で、アドレスマスク発生回路３０及びシフトレジスタ
４０に供給される。

【００３３】アドレスマスク発生回路３０に供給された
２値化信号は、先ず、パルスゲート３１に入力される。
そして、パルスゲート３１は、この２値化信号にパルス
が存在しているときに、図３（３）に示すように、所定
の時間のパルス幅をもつゲートオープン信号を発生さ
せ、この所定の時間だけパルスゲート３１を開いて２値
化信号をカウンタ３２に供給する。ここで、パルスゲー
ト３１を開く時間は、１０〜２０μｓ程度が好適であ
る。

【００３４】次に、カウンタ３２は、パルスゲート３１
が開いている間の時間内に存在している２値化信号のパ
ルスの数を検出する。ここで、パルスがアドレス信号７
０によるものならば、カウンタ３２によってパルスは多
数検出される。具体的には、通常の光ディスクにおい
て、このように検出されるパルスの数は１０数個程度と
なる。これに対して、パルスがドロップアウト７１によ
るものならば、カウンタによって検出されるパルスの数
は１つだけ又は複数であっても非常に少数となる。

【００３５】そして、カウンタ３２によって検出された
パルスの数が所定の数以上のとき、図３（４）に示すよ
うに、アドレスマスク信号を発生させるように指示する
フラグ信号が、フラグラッチ３３からアドレスマスク信
号発生器３４に供給される。ここで、フラグ信号を発生
させるか否かの判断に用いる所定の数は、パルスがアド
レス信号７０によるものか、又はドロップアウト７１に
よるものかを判断できるように設定すればよく、具体的
には、例えば、パルスがアドレス信号７０によるものの
ときに１０数個のパルスが検出されるようならば、ここ
での所定の数は１０個程度とすればよい。

【００３６】次に、アドレスマスク信号発生器３４は、
フラグラッチ３３からフラグ信号が供給されたら、図３
（５）に示すように、アドレスマスク信号を発生させ
る。ここで、アドレスマスク信号は、アドレス信号７０
を完全にマスクすることができるように信号幅がアドレ
ス信号７０よりも若干広くとられた、２値化回路２０か
らの２値化信号とは逆向きの信号である。ただし、この
アドレスマスク信号は、パルスゲート３１が開く時間ｔ
の分だけ、２値化回路２０からの２値化信号よりも遅れ
た信号となっている。

【００３７】一方、２値化回路２０からシフトレジスタ
４０に供給された２値化信号は、シフトレジスタ４０に
よって、図３（６）に示すように、パルスゲート３１が
開く時間ｔだけ、遅らされた信号とされる。この結果、
シフトレジスタ４０からの２値化信号と、アドレスマス
ク信号発生器３４からのアドレスマスク信号の位相が対
応するようになる。

【００３８】そして、シフトレジスタ４０からの２値化
信号と、アドレスマスク信号発生器３４からのアドレス
マスク信号とは、ＡＮＤ回路５０に入力され、このＡＮ
Ｄ回路６０から、シフトレジスタ４０からの２値化信号
と、アドレスマスク信号発生器３４からのアドレスマス
ク信号との論理積であるドロップアウト信号が出力され
る。このドロップアウト信号は、図３（７）に示すよう
に、アドレス信号がマスクされ取り除かれており、ドロ
ップアウトによる信号７２だけが残っている。

【００３９】そして、このドロップアウト信号は、ＡＮ
Ｄ回路５０からエラーカウンタ６０に入力され、このエ
ラーカウンタ６０によってドロップアウト信号から光デ
ィスクの欠陥が検出される。

【００４０】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
においては、予めアドレスマスク信号のフォーマットを
定めておかなくても、アドレス信号に対応したアドレス
マスク信号を発生させることが可能である。したがっ
て、本発明によれば、アドレス信号のフォーマットの種
類に依存することなく、汎用的に欠陥を検出することが
できるディスク状記録媒体の検査装置及び検査方法を提
供することができる。

【００４１】また、本発明に係るディスク状記録媒体の
検査装置及び検査方法では、再生信号に含まれているア
ドレス信号に基づいてアドレスマスク信号を生成してい
るので、再生信号の検出速度に関わらず、再生信号に対
応したアドレスマスク信号が生成される。したがって、
このディスク状記録媒体の検査装置及び検査方法では、
再生信号の検出速度、すなわち再生時のディスク状記録
媒体の回転速度を自由に設定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したディスク状記録媒体の検査装
置の一構成例を示す模式図である。

【図２】図１に示したディスク状記録媒体の検査装置の
回路構成の一例を示すブロック図である。

【図３】図１に示したディスク状記録媒体の検査装置に
よる信号の処理の様子を示す図である。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ 再生装置 ３ 欠陥検出装置 ４ 光学ピックアップ ５ スピンドル １０ バッファ １１ 第１のバッファ １２ 第２のバッファ ２０ ２値化回路 ２１ 第１のコンパレータ ２２ 反転回路 ２３ 第２のコンパレータ ２４ ＯＲ回路 ３０ アドレスマスク発生回路 ３１ パルスゲート ３２ カウンタ ３３ フラグラッチ ３４ アドレスマスク信号発生器 ４０ シフトレジスタ ５０ ＡＮＤ回路 ６０ エラーカウンタ

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｂ 11/30 Ｇ０１Ｂ 11/30 Ｚ Ｇ０１Ｎ 21/88 Ｇ０１Ｎ 21/88 Ｇ Ｇ１１Ｂ 7/00 9464−5Ｄ Ｇ１１Ｂ 7/00 Ｈ 11/10 ５８１ 9296−5Ｄ 11/10 ５８１Ｅ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 アドレス信号が予め書き込まれたディス
   ク状記録媒体の欠陥を検出するディスク状記録媒体の検
   査装置において、 ディスク状記録媒体に書き込まれた信号を再生する再生
   装置と、 上記再生装置によって再生された信号を２値化する２値
   化回路と、 上記２値化回路によって２値化された２値化信号にパル
   スが存在したときに所定の時間だけ開かれるパルスゲー
   トと、 上記パルスゲートが開かれている所定の時間内における
   ２値化信号のパルスの数を数えるカウンタと、 上記カウンタによって数えられたパルスの数が所定の数
   以上のときにアドレスマスク信号を発生するアドレスマ
   スク信号発生器と、 上記２値化回路によって２値化された２値化信号を所定
   の時間だけ遅らせるシフトレジスタと、 上記アドレスマスク信号発生器からのアドレスマスク信
   号と、上記シフトレジスタによって所定の時間だけ遅ら
   された２値化信号との論理積を出力するＡＮＤ回路とを
   備えることを特徴とするディスク状記録媒体の検査装
   置。
2. 【請求項２】 アドレス信号が予め書き込まれたディス
   ク状記録媒体の欠陥を検出するに際し、 ディスク状記録媒体に書き込まれた信号を再生して、こ
   の再生された信号を２値化し、 上記２値化信号にパルスが存在したときに所定の時間だ
   けパルスゲートを開いて、このパルスゲートが開かれて
   いる所定の時間内における２値化信号のパルスの数をカ
   ウンタによって数え、 上記カウンタによって数えられたパルスの数が所定の数
   以上のときにアドレスマスク信号発生器によってアドレ
   スマスク信号を発生させ、 上記アドレスマスク信号発生器からのアドレスマスク信
   号と、上記２値化信号を所定の時間だけ遅らせた信号と
   の論理積を求め、 上記論理積からディスク状記録媒体の欠陥を検出するこ
   とを特徴とするディスク状記録媒体の検査方法。