JPH0948629A - 光ファイバおよびその製造方法 - Google Patents

光ファイバおよびその製造方法

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JPH0948629A
JPH0948629A JP7196658A JP19665895A JPH0948629A JP H0948629 A JPH0948629 A JP H0948629A JP 7196658 A JP7196658 A JP 7196658A JP 19665895 A JP19665895 A JP 19665895A JP H0948629 A JPH0948629 A JP H0948629A
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core
fluorine
refractive index
optical fiber
outer periphery
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JP7196658A
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Toshio Danzuka
俊雄 彈塚
Sumio Hoshino
寿美夫 星野
Motonori Nakamura
元宣 中村
Masaharu Ohashi
正治 大橋
Katsusuke Tajima
克介 田嶋
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Sumitomo Electric Industries Ltd
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】線引時の応力残留を防止できて、非常に優れた
伝送特性のファイバが得られる光ファイバおよびその製
造方法を提供する。 【解決手段】屈折率の高いコアと該コアの外周に位置し
コアより屈折率の低いクラッドからなる光ファイバにお
いて、上記コアは少なくともGeO2 ドープ量が中心部
から外周に向かって減少する中心領域を有し、該中心領
域の外周から内側に向かう少なくとも一部の領域におい
てフッ素ドープ量が外周から中心にに向かって減少する
分布を有することによりファイバ横断面内のガラス粘度
が略均一に調整されてなることを特徴とする光ファイバ
およびその製法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は主として通信用に用
いられる伝送損失が優れた光ファイバ及びその製造方法
に関し、詳しくはファイバ軸に直交した断面内のガラス
粘度が概略均一な光ファイバおよびその製造方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、通信用の光ファイバは、光の伝送
域であるコアにGeO2 、Al2 3などの屈折率を高
めるドーパントをドープするか、あるいはコアの外周に
位置するクラッドにフッ素、B2 3 等の屈折率を低く
するドーパントをドープすることによりコアの屈折率を
クラツドのそれより相対的に高くなるようにガラスの屈
折率を変え導波構造を形成している。これらのガラス組
成の違いは光ファイバの断面内のガラス粘度を不均一に
するため、光ファイバの伝送損失に影響を与える。すな
わち、ガラス粘度はドーパントの含有量に依存している
ため、例えばコアがGeO2 ドープガラス、クラッドが
純シリカガラスの場合にはコアの粘度がクラッドに比較
して低く軟化点温度が低下する。このため溶融・細径フ
ァイバ化工程において、ファイバ化する際にクラッドの
方が早く固まることになる。一方、コアが純シリカでク
ラッドがフッ素ドープガラスの場合には、クラッドの粘
度がコアに比べて低くなり、線引時にはコアが最初に固
まってくる。このようにガラス粘度が不均一な場合には
ファイバ化時の固化速度が異なり、不均一な層の間には
圧縮あるいは引っ張りの応力が残留することになる。こ
の残留応力が大きくなると、ガラスの屈折率を微妙に変
化させ伝送特性に影響を与えるとともに、ガラス中の欠
陥の生成を促進し、伝送損失の増加を招くことになる。
この問題を解決する方法として、ファイバ中のガラス粘
度を概略均一にした粘度整合ファイバが特開平5−30
1736に提案されている。この該公報には、ガラスの
屈折率を高くするドーパントGeO2 と低くするドーパ
ントフッ素(F)を適当に調整することで、ガラス粘度
を調整するとともに屈折率を合わせる方法が開示されて
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のような粘度整合
ファイバは、GeO2 が半径方向に均一にドープされた
いわゆるステップ型の屈折率分布の場合には良いが、G
eO2 ドープ量が半径方向に分布を持つような場合に
は、完全に粘度を合わせることはできず、平均的な粘度
の整合しかできない問題があった。また、もう一つの問
題点は気相合成法においてはGeO2 の均一ドープがし
ずらいという問題である。通常フッ素は多孔質ガラス母
材に焼結工程でドープされるため比較的均一にドープす
ることが可能であるが、GeO2 は気相合成中にガラス
原料とともに供給されてドープされ、そのドープ量を増
加させると中心部でドープ量が多くなる傾向が強い。こ
れはGeO2 のドープ量が気相合成法での合成温度に依
存しているためであり、合成領域全体の温度を均一に保
つ工夫がされている。しかしながら、GeO2 のドープ
量を増加させていくと、ガラスを合成するバーナ火炎中
の原料流中のGe原料流の濃度が一定にはなりにくく、
均一にドープすることが難しくなる。このような状況で
は、完全にガラス粘度を均一にすることはできず、コア
のGeO2 ドープ量に分布がある場合には、その平均粘
度、あるいは中心部の粘度を外周部と合わせることしか
できなかった。特に粘度の影響が最も大きいと考えられ
る外周部で粘度を合わせることはできなかった。本発明
は、このような問題点を解消し、たとえGeO2 にドー
プ量の分布が存在していたとしても、コア部の粘度をク
ラッド部などの粘度と効果的に整合できる光フアイバ構
造及びその製法を実現することを目的とし、これにより
伝送特性の良好な光フアイバ及びその製造方法を提供し
ようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解消するた
めの手段として本発明は、屈折率の高いコアと該コアの
外周に位置しコアより屈折率の低いクラッドからなる光
ファイバにおいて、上記コアは少なくともGeO2 ドー
プ量が中心部から外周に向かって減少する中心領域を有
し、該中心領域の外周から内側に向かう少なくとも一部
の領域においてフッ素ドープ量が外周から中心に向かっ
て減少する分布を有することによりファイバ横断面内の
ガラス粘度が略均一に調整されてなることを特徴とする
光ファイバを提供する。また本発明は、屈折率の高いコ
アと該コアの外周に位置しコアより屈折率の低いクラッ
ドからなる光ファイバにおいて、上記コアは少なくとも
GeO2 ドープ量が中心部から外周に向かって減少する
中心領域を有し、該中心領域の外周から内側に向かう少
なくとも一部の領域においてフッ素ドープ量が外周から
中心に向かって減少する分布を有し、かつコアが中心領
域の外周に中心領域の最大屈折率より屈折率の低い外周
領域をもち、該外周領域においてはGeO2 のドープ量
及びフッ素のドープ量がそれぞれ半径方向においてほぼ
均一であることによりファイバ横断面内のガラス粘度が
略均一に調整されてなることを特徴とする光ファイバを
提供する。さらに本発明は、屈折率の高いコアと該コア
の外周に位置しコアより屈折率の低いクラッドからなる
光ファイバにおいて、上記コアは少なくともGeO2
ープ量が中心部から外周に向かって減少する中心領域を
有し、該中心領域の外周から内側に向かう少なくとも一
部の領域においてフッ素ドープ量が外周から中心に向か
って減少する分布を有することによりファイバ横断面内
のガラス粘度が略均一に調整されてなる光ファイバの製
造において、中心領域のコアの合成は、(1)気相合成法
によりGeO2 ドープ量が中心部で高くなるような組成
分布を持つ多孔質ガラス母材を合成する工程、及び(2)
加熱炉内において該多孔質ガラス母材を不活性ガス雰囲
気で加熱して収縮させた後、フッ素原料を含む不活性ガ
ス雰囲気で加熱して透明化する工程、を有することを特
徴とする上記方法を提供する。本発明の方法において
は、炉内雰囲気をフッ素原料を含んだ不活性ガス雰囲気
に変更する温度が1250〜1500℃であることが特
に好ましい実施態様として挙げられる。また本発明の方
法においては、上記加熱炉内において該多孔質ガラス母
材を不活性ガス雰囲気で加熱して収縮させた後、フッ素
原料を含む不活性ガス雰囲気で加熱して透明化する工程
が、多孔質母材の全長を概略均熱に加熱できる均熱炉内
において昇温しつつ該多孔質ガラス母材を透明化し、こ
の際の炉内雰囲気を最初は不活性ガス雰囲気で、昇温の
途中からはフッ素原料を含む不活性ガス雰囲気とする工
程であることを特徴とする上記方法が特に好ましい実施
態様として挙げられる。また本発明の方法においては、
上記加熱炉がゾーン炉であることを特徴とする上記方法
が特に好ましい実施態様として挙げられる。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明の光フアイバの構造を具体
的実施例をもとに説明する。図1(a)は概略放物型の
GeO2 ドープ分布を持つコア内のガラス粘度を均一に
するための組成の分布を示したものである。中心で高く
なるGeO2 のドープ量(実線で示して有る)に対応し
て、フッ素ドープ量が外周で高く、中心で少なくなるよ
うに調整されている(点線で示す)。このようにGeO
2 とFの組成を半径方向に調整することにより、ガラス
内の粘度を調整することが可能である。このときの屈折
率分布は図1(b)のような分布となる。
【0006】通常ガラス粘度低下の影響は添加量(比屈
折率差比)でFがGeO2 の約3倍の効果が有る。例え
ばGeO2 を比屈折率差換算で0.3%添加したものと
Fを比屈折率差換算で0.1%添加したものは同じ粘度
になる。従って、コア中心と外周のガラス粘度を合わせ
るためには、Fは中心のGeO2 の約1/3(比屈折率
差換算で)だけドープすれば良いことになる。このよう
に、コア内の屈折率差が、中心が高く外周で低くなるよ
うな分布を持つ場合にも、ガラス粘度を均一に調整する
ことが可能であり、ファイバ化時の固化速度をファイバ
の軸方向に対し垂直な断面内で均一にすることができて
高品質な光ファイバを得ることができる。なお添加量の
重量比率と比屈折率差の関係はおおよそ下記のようにな
る。 GeO2 :Geの添加量が17重量%のとき、石英(純
SiO2 )に対する比屈折率差は1%。 F:Fの添加量が1重量%のとき、石英に対する比屈折
率差は−0.33%。
【0007】図2はコア内のガラス粘度が完全には一致
しないまでも、少なくともコア中心と外周でガラス粘度
を合わせたファイバの屈折率分布構成を示すものであ
る。図2のような場合にはコアの中心及び外周が、さら
に外側に形成されるクラッドと粘度を合わせることがで
きるため、ファイバ化時にはコアの外周部特に界面でク
ラッドと固化速度をほぼ同じにすることができ、伝送特
性の劣化要因を小さくする効果が得られる。
【0008】図3はコアがGeO2 のドープ量が大きい
中心コアとGeO2 ドープ量の少ない外周コアの2層か
らなる場合の粘度均一化の組成を示したものである。実
線はGeO2 分布、鎖線はフッ素(F)分布を示す。中
心コアにおいて、概略放物型のGeO2 分布に対し、F
濃度は外周で高く中心で低くなるように設定されてい
る。このような組成をとることで、中心コア内のガラス
粘度を均一に調整することが可能となる。
【0009】次に中心でGeO2 濃度が高く、外周で低
くなるような組成分布を持つ多孔質ガラス母材のガラス
粘度を均一に調整するためのフッ素ドープ法について説
明する。フッ素は一般的に多孔質ガラス母材の加熱・透
明化処理工程においてフッ素(フッ素化合物)含有雰囲
気下で加熱されることによりドープされる。焼結でフッ
素が多孔質ガラス母材にドープされる工程は、多孔質
ガラス母材中への拡散・浸透、ガラスとの反応・固
定、高温での揮散の3つの工程に分けることができ
る。の揮散はガラスと反応しガラス中に取り込まれる
反応の逆反応であり、透明化時の雰囲気ガス中のフッ素
原料濃度を一定にしておけば、反応は平衡に達し、揮散
反応を抑えることができる。一方、ガラス中への拡散
は、多孔質ガラスの嵩密度(粒子の詰まり方を示すパラ
メータ)あるいは空孔率(粒子で囲まれる空孔の割合)
と密接な関係がある。すなわち、雰囲気中に含まれるフ
ッ素原料ガスは、多孔質ガラス母材の粒子の隙間から母
材中に浸透していく。従って空孔率が小さく、隙間がほ
とんどないような母材にはフッ素原料は浸透しにくく、
フッ素をドープすることができない。
【0010】このことから、多孔質ガラス母材の中心部
の空孔率を小さくし、外周の空孔率が次第に大きくなる
ようにしておけばフッ素の浸透を半径方向に調整するこ
とができ、フッ素分布を付けることができる。このよう
な方法として、例えば特開昭60−161347号公報
にはコア外周部にドーパント濃度あるいは嵩密度の高い
層(空孔率の小さい層)を形成することで、コアへのフ
ッ素の浸透を防ぎ、クラッドにのみフッ素をドープする
方法が提案され、また特開昭62−182129号公報
にはコア中心から外周にかけて嵩密度を次第に小さくす
ることにより、コア中心部から外周に向かって濃度が高
くなるようにフッ素濃度を付ける方法が提案されてい
る。これらの方法は嵩密度によりフッ素の浸透が変わる
ことを利用した方法で、有効な方法ではあるものの、気
相合成時に嵩密度(空孔率)を調整しなければならない
と言う問題がある。GeO2 の濃度分布を調整し、かつ
嵩密度も変えることは非常に難しく、容易ではない。
【0011】そこで、本発明では透明化するための熱処
理によって多孔質ガラス母材が収縮する際の嵩密度の変
化を利用することを考えた。多孔質ガラス母材の収縮は
温度とGeO2 ドープ濃度に依存しており、同一温度に
おいてはGeO2 濃度が大きいほど早く収縮する。した
がって、中心でGeO2 濃度が高い多孔質ガラス母材で
は、中心で収縮が早く起こることになる。本発明におい
ては、透明化熱処理を開始した後、収縮が適度に進行し
GeO2 の分布に対応して嵩密度分布が形成された時点
からフッ素原料の投入を開始するため、この嵩密度分布
に応じたフッ素の浸透を実現できる。なお、以下本発明
におけるこの焼結工程中にフッ素を添加する手段をフッ
素ドープ焼結と称する。該フッ素ドープ焼結によれば、
中心まではフッ素が浸透せず外周部でフッ素濃度が高い
ドーピングを実現できることになる。しかも、収縮がG
eO2 濃度に依存するため、特別な操作無しでGeO2
分布に対応したフッ素ドープを行うことができるメリッ
トがある。
【0012】本発明によるフッ素ドープは図4に示すよ
うに均熱炉で多孔質ガラス母材を加熱しつつ加熱温度と
雰囲気ガス組成を変化させれば、容易に実施できる。図
4において1は多孔質ガラス母材、2は炉心管、3はヒ
ータ、4はガス導入口、5はガス排気口である。図4の
構成で多孔質母材を図5の温度、雰囲気条件グラフ図に
示すような温度条件で昇温すると、温度に応じ、多孔質
母材は収縮し始める。このときGeO2 分布に応じて内
部の嵩密度分布は中心で高く、外周部で低くなってい
る。この収縮が適当なところまで進行した段階で雰囲気
中にフッ素原料を加えれば、所望のフッ素濃度を実現で
きることになる。フッ素原料を投入する温度が低いと、
中心までフッ素が浸透することになり、温度が高いと外
周部にのみフッ素をドープすることができる。従って温
度が低すぎると分布を付けることはできず、均一な分布
になってしまう。
【0013】本発明者らが種々実験した結果によれば、
1250℃未満ではフツ素は均一にドープされてしま
い、1300℃未満では、中心部にもフッ素が若干ドー
プされることがわかった。また、1500℃を超えると
外周においてすらフッ素はドープされないことがわかっ
た。粘度整合を有効に行うためには1450℃未満の温
度でフッ素を投入することが好ましい。
【0014】加熱開始時の雰囲気としては、Heガス,
Arガス等の不活性ガス雰囲気が好ましい。また投入す
るフッ素原料ガスとしてはSiF4 ,SF6 ,CF4
が望ましく、フッ素原料ガス濃度は0.01〜100%
(体積比)と広い範囲で適用することができる。
【0015】また、本発明の多孔質母材の加熱開始時の
かさ密度として好ましい範囲は、0.1〜0.5g/c
c、フッ素添加開始時のかさ密度として好ましい範囲は
0.3〜1.0g/ccである。
【0016】均熱炉の場合、もちろん内部の収縮は温度
範囲のみでなく、その昇温速度も影響しており、昇温速
度を調整することによってもフッ素の分布の調整が可能
である。昇温速度が速いと内部の温度が上がりにくくな
るため、収縮を抑える効果があり、遅いと収縮を進行さ
せる効果がある。昇温速度が速すぎると、内部の収縮が
進まずフッ素が中心にまで浸透しやすくなり、好ましく
ない。10℃/分以下が好ましい。また安定した収縮を
得ることを考慮すると8℃/分以下がなお好ましい。生
産性の観点から考えると遅すぎるのも問題があり、2℃
/分以上が好ましい範囲といえる。
【0017】また、ヒータの短いゾーン炉でも本発明を
実施することは可能である。この場合にはまず、125
0℃から1500℃の適当な温度で一旦収縮を進行さ
せ、ついでフッ素を多孔質ガラス母材に浸透させた後、
高温で透明化を行う方法である。この場合、フッ素の濃
度分布の形状は多孔質ガラス母材の収縮度すなわち収縮
温度で調整することができる。
【0018】図3に示すような、屈折率の高い中心コア
部ととその外周にあり中心コアより屈折率の低い外周コ
ア部及び外周コアの外側のクラツド層からなる組成分布
を形成する方法としては、まず中心コア部を上記した本
発明の方法で製造し、この焼結ガラスを一旦延伸した後
この外側に更に気相合成法(たとえばVAD法,OVD
法)でGeO2 を含む外周コア部の多孔質層を形成し、
フッ素ドープ焼結を行い、ついでクラッド部を気相合成
法で形成し、さらにフッ素ドープ焼結を行うという多段
階の工程により製造することが可能である。このように
複雑な屈折率分布構造のものも、本発明の方法を繰り返
すことにより製造できる。なお、ガラス焼結体を延伸し
てからその外周に多孔質ガラス層を形成する方法を例示
したが、延伸せずにその外側に多孔質ガラス層を合成し
て同様な加工をする方法も当然可能である。
【0019】さらに、中心コア,外周コア及びクラッド
をそれぞれ別々に製造しておき、外周コア、クラッドに
ついては、パイプ状に穴開け等の加工をした後、これを
ロッドインコラップすることにより組み立てていく手法
も可能である。さらにまた、パイプに加工するのでな
く、初めからパイプ状の母材を作成することも可能であ
る。
【0020】一般に、VAD法に用いられる原料はガラ
ス原料としてSiCl4 、ドーパント原料としてGeC
4 が用いられるが、これらの原料の種類で本発明の効
果が変わることはない。従って例えばAl2 3 ,B2
3 等をドープした母材についても本発明の適用が可能
である。また、フッ素原料としてはSiF4 、SF6
CF4 等が用いられる。フッ素原料についてもVAD法
の原料と同様である。GeO2 の添加量範囲としては、
純シリカ(SiO2 )との比屈折率差換算で0〜1.5
%程度、フッ素の添加量範囲は同様に純シリカとの比屈
折率差換算で0〜−0.8%程度が本発明における望ま
しい範囲として挙げられる。
【0021】また、本発明はフッ素ドープ焼結に先立
ち、脱水処理を行うこともできる。本発明での脱水処理
はこの種の技術分野における公知技術に従い一般的な方
法でよく、具体的には均熱炉であればHe等の不活性ガ
ス雰囲気にCl2 ,SiCl4,CCl4 ,SOCl2
などの脱水ガスを含む雰囲気で1000℃〜1200℃
程度で0.5〜2時間程度加熱する。ゾーン炉の場合
は、同様の雰囲気中、1000℃〜1200℃程度に加
熱されたヒートゾーンに2〜20mm/分程度の送り速
度で多孔質ガラス母材を送り込むことで行う。
【0022】
【実施例】
〔例1〕SiO2 を主成分とし、中心でGeO2 濃度が
高く、外周でGeO2 濃度が低くなるようなGeO2
度が概略2乗分布をした外径90mm、かさ密度0.2
0g/ccの多孔質ガラス母材をVAD法により作成し
た。このとき、GeO2の最大値が比屈折率差で0.6
%となるように原料濃度を調整した。該多孔質ガラス母
材を図3に示すような均熱炉内に配置し、Cl2 を含む
He雰囲気(Cl 2 :He=1:50)で500℃から
1100℃まで、8℃/分の速度で昇温しつつ加熱し脱
水した後、5℃/分で昇温しつつ収縮を進めた。135
0℃になったところでフッ素原料としてSiF4 を投入
した。SiF4 濃度はフッ素(F)が外周部で比屈折率
差で0.2%入るように調整した(SiF4 濃度として
は3%)。そのまま1550℃まで昇温し、20分間保
持した後、降温した。この結果、良好な透明焼結体(ガ
ラス母材)が得られた。該ガラス母材の元素分析を行っ
たところ、GeO2 は中心で0.6%となる2乗分布型
にドープされており、Fは図2に示すような分布とな
り、最外周で−0.2%の比屈折率差となり、中心に向
かって徐々に減少していることがわかった。またフッ素
(F)の浸透している範囲は外径比r/Rで中心から
0.2のところまでドープされていることが確認され
た。
【0023】〔例2〕例1と同じ多孔質母材を用い、フ
ッ素原料の投入温度を1300℃と変化させた以外は例
1と同条件でガラス母材を作成した。この結果、良好な
透明焼結体が得られた。このガラス母材の元素分析を行
ったところ、GeO2 は中心で0.6%となる2乗分布
状で例1と同様な分布が得られた。フッ素のドープされ
た範囲は外径比r/Rで中心から0.1のところまでで
あることが確認された。
【0024】〔例3〕例1と同じ多孔質母材を用い、フ
ッ素原料の投入温度を1400℃と変化させた以外は例
1と同条件でガラス母材を作成した結果、良好な透明焼
結体が得られた。このガラス母材の元素分析を行ったと
ころ、GeO2 は中心で0.6%となる2乗分布状で例
1と同様な分布が得られたが、フッ素のドープされた範
囲は外径比r/Rで中心から0.6のところまでドープ
されていることが確認された。
【0025】以上の例1ないし例3の結果から、本発明
の方法によりフッ素の浸透程度を制御できることが認め
られた。
【0026】〔例4及び例5〕例1と同じ構成でフッ素
原料の投入温度を1240℃、1520℃の2水準でガ
ラス母材の作成を行った。この結果、良好な透明焼結体
が得られ、このガラス母材の元素分析を行ったところ、
GeO2 の分布は変わらないものの、1240℃ではフ
ッ素が母材全体に均一にドープされており(例4)、1
520℃では全くフッ素がドープされていない(例5)
ことがわかった。
【0027】〔実施例1〕例1で作成した焼結体をコア
母材として用い、以下のようにして粘度を整合させた光
ファイバを作成した。なお、粘度については後記するよ
うに残留応力を測定することにより確認した。まず、該
焼結体を15mmに延伸した後、VAD法でこの延伸体
の外周にSiO2 からなるクラッド用多孔質ガラス母材
を合成し、ついでこの母材を均熱炉に挿入し、例1と同
様の条件で脱水した後、1200℃に昇温し、炉内をS
iF4 を含むHeガス雰囲気(SiF4 濃度3%)とし
た後、5℃/分の昇温速度で1550℃まで昇温し、透
明ガラス化した。このようにフッ素ドープ焼結すること
により、Fを比屈折率差で−0.2%ドープしたクラッ
ドを有する光ファイバ用プリフォームを作成した。これ
を外径125μmのファイバに線引しその特性を評価し
たところ、波長1.55μmでの損失が0.198dB
/kmと優れた特性のファイバが得られた。
【0028】〔実施例2〕また、例2により得られた焼
結体をコア母材として、実施例1と同様の同様の方法で
ファイバ化し損失を評価したところ、波長1.55μm
で0.199dB/kmと実施例1のファイバとほとん
ど同等の良好な損失値を得ることができた。
【0029】〔実施例3〕例1と同様の方法を用い、G
eO2 の最大値が比屈折率差で0.83%で2乗分布の
GeO2 分布を作成し、Fを外周部に比屈折率差で−
0.27%入るように調整しフッ素ドープ焼結を行い焼
結体を得た。フッ素ドープ法は例1と同様の方法でSi
4 の濃度のみ3.5%とした。この焼結体を中心コア
母材として下記の工程により、図3に示すタイプの粘度
を整合させた光ファイバを作成した。該中心コア母材と
は別にVAD法でGeO2 が比屈折率差で0.18%均
一にドープされた多孔質ガラス母材を合成し、1100
℃でCl2 を含むHe雰囲気で脱水処理した後、SiF
4 を含むHe雰囲気(SiF4 濃度3.5%)でFが均
一に−0.23%ドープされるように1250℃で加熱
処理した後、1550℃で透明ガラス化した。この焼結
体を穴開け加工によりパイプ状に加工した後、上記中心
コア母材を延伸し、ロッドインコラップスして、中心コ
アと外周コアを持つ中間母材を作成した。該中間母材を
15mmに延伸した後、この外周にVAD法で純シリカ
の多孔質ガラス層を合成し、これをSiF4 を含むHe
雰囲気((SiF4 濃度3.5%)でフッ素ドープ焼結
することにより、Fが−0.27%ドープされたクラッ
ドを形成して光ファイバ用プリフォームとした。該プリ
フオームを線引きし、得られた光ファイバの伝送特性を
評価したところ、波長1.55μmでの損失が0.19
8dB/kmと優れた特性であった。
【0030】なお、本発明のファイバの断面における粘
度はファイバの断面の残留応力を測定することにより、
ほぼ整合していることを確認した。この残留応力の測定
は光弾性CT法により行った。従来法によるファイバの
場合200MPa程度の変動があるが、本発明によるフ
ァイバは20MPa程度の変動であり、ほぼ粘度が整合
しているものと考えられる。
【0031】〔実施例4〕例1と同様にGeO2 の最大
値が比屈折率差で0.6%となるようにして作成した多
孔質ガラス母材をゾーン炉に挿入し、炉内をCl2 を含
む雰囲気(Cl2:He=1:50)で満たしつつ、1
100℃に保持されたヒートゾーンに15mm/分の速
度で母材を送り込み脱水した。次いで炉内の雰囲気をH
e雰囲気としてヒートゾーンを1300℃に昇温し、1
0mm/分の速度で母材を送り込むことにより収縮させ
た後、炉内雰囲気をSiF4 を含むHe雰囲気(SiF
4 濃度3%)としてヒートゾーンを1500℃に昇温
し、8mm/分の速度で母材を送り込み透明ガラス化し
た。その結果、Fは最外周で−0.2%の比屈折率差と
なり、フッ素の浸透している範囲は外径比r/Rで中心
から0.3のところまでドープされていることが確認さ
れた。この焼結体をコアとし、実施例1と同様の方法で
ファイバ化したところ、伝送特性は波長1.55μmで
0.198dB/kmと良好であった。
【0032】〔比較例〕GeO2 の最大値が比屈折率差
で0.83%で2乗分布のGeO2 分布を持つ多孔質母
材を準備し、これをフッ素原料を添加しないこと以外は
例1と同じ方法で脱水、透明ガラス化した。その結果、
フッ素が添加されていないGeO2 分布が2乗分布の焼
結体を得た。この焼結体を中心コアとして実施例3と同
様な方法により光ファイバを得た。その結果、得られた
光ファイバの伝送特性は、波長1.55μmでの損失が
0.220dB/kmと大きいものであった。
【0033】
【発明の効果】このように、本発明によれば2乗分布型
のGeO2 濃度分布を持つコア母材にガラス粘度が概略
一定になるように外周部でフッ素濃度が高く中心部でフ
ッ素濃度が低くなるようにフッ素をドープすることがで
き、中心部で屈折率が高いような分布を持つ光ファイバ
でもガラス粘度を均一化することができ、低損失な特性
の優れた光ファイバを実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】は本発明光ファイバの一具体例におけるコア部
の半径方向におけるドーパント量分布構成(a)と屈折
率分布(b)の関係を示した模式図である。
【図2】は本発明光ファイバの他の具体例におけるコア
部の半径方向におけるドーパント量分布構成(a)と屈
折率分布(b)の関係を示した模式図である。
【図3】は本発明光ファイバのさらに他の具体例におけ
る中心コア部、外周コア部及びクラツド部における
【図4】は本発明方法の一実施態様の概略説明図であ
る。
【図5】は本発明の一具体例において多孔質ガラス母材
を均熱処理した昇温及び雰囲気条件を示すグラフ図であ
る。
【符号の説明】
1 多孔質ガラス母材、 2 炉心管、 3 ヒータ、
4 ガス導入口、5 ガス排気口。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 元宣 神奈川県横浜市栄区田谷町1番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 大橋 正治 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 田嶋 克介 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 屈折率の高いコアと該コアの外周に位置
    しコアより屈折率の低いクラッドからなる光ファイバに
    おいて、上記コアは少なくともGeO2 ドープ量が中心
    部から外周に向かって減少する中心領域を有し、該中心
    領域の外周から内側に向かう少なくとも一部の領域にお
    いてフッ素ドープ量が外周から中心に向かって減少する
    分布を有することによりファイバ横断面内のガラス粘度
    が略均一に調整されてなることを特徴とする光ファイ
    バ。
  2. 【請求項2】 屈折率の高いコアと該コアの外周に位置
    しコアより屈折率の低いクラッドからなる光ファイバに
    おいて、上記コアは少なくともGeO2 ドープ量が中心
    部から外周に向かって減少する中心領域を有し、該中心
    領域の外周から内側に向かう少なくとも一部の領域にお
    いてフッ素ドープ量が外周から中心に向かって減少する
    分布を有し、かつコアが中心領域の外周に中心領域の最
    大屈折率より屈折率の低い外周領域をもち、該外周領域
    においてはGeO2 のドープ量及びフッ素のドープ量が
    それぞれ半径方向においてほぼ均一であることによりフ
    ァイバ横断面内のガラス粘度が略均一に調整されてなる
    ことを特徴とする光ファイバ。
  3. 【請求項3】 屈折率の高いコアと該コアの外周に位置
    しコアより屈折率の低いクラッドからなる光ファイバに
    おいて、上記コアは少なくともGeO2 ドープ量が中心
    部から外周に向かって減少する中心領域を有し、該中心
    領域の外周から内側に向かう少なくとも一部の領域にお
    いてフッ素ドープ量が外周から中心に向かって減少する
    分布を有することによりファイバ横断面内のガラス粘度
    が略均一に調整されてなる光ファイバの製造において、
    中心領域のコアの合成は、(1)気相合成法によりGeO
    2 ドープ量が中心部で高くなるような組成分布を持つ多
    孔質ガラス母材を合成する工程、及び(2) 加熱炉内にお
    いて該多孔質ガラス母材を不活性ガス雰囲気で加熱して
    収縮させた後、フッ素原料を含む不活性ガス雰囲気で加
    熱して透明化する工程、を有することを特徴とする光フ
    ァイバの製造方法。
  4. 【請求項4】 上記加熱炉内雰囲気をフッ素原料を含む
    不活性ガス雰囲気に変更する温度が1250〜1500
    ℃であることを特徴とする請求項3に記載の光ファイバ
    の製造方法。
  5. 【請求項5】 上記加熱炉内において該多孔質ガラス母
    材を不活性ガス雰囲気で加熱して収縮させた後、フッ素
    原料を含む不活性ガス雰囲気で加熱して透明化する工程
    が、多孔質母材の全長を概略均熱に加熱できる均熱炉内
    において昇温しつつ該多孔質ガラス母材を透明化し、こ
    の際の炉内雰囲気を最初は不活性ガス雰囲気で、昇温の
    途中からはフッ素原料を含む不活性ガス雰囲気とする工
    程であることを特徴とする請求項3または請求項4記載
    の光ファイバの製造方法。
  6. 【請求項6】 上記加熱炉がゾーン炉であることを特徴
    とする請求項3または請求項4記載の光ファイバの製造
    方法。
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