JPH0949857A - 変動範囲の大きく変わる現象の測定方法と装置 - Google Patents

変動範囲の大きく変わる現象の測定方法と装置

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JPH0949857A
JPH0949857A JP7201182A JP20118295A JPH0949857A JP H0949857 A JPH0949857 A JP H0949857A JP 7201182 A JP7201182 A JP 7201182A JP 20118295 A JP20118295 A JP 20118295A JP H0949857 A JPH0949857 A JP H0949857A
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measuring
recording
signal
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measuring means
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JP7201182A
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Akira Otsuki
晃 大月
Yasuo Kojima
泰雄 小島
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F M T KK
Fujikura Ltd
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F M T KK
Fujikura Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 比較的単純かつ安価な構成を用いて、測定レ
ベルが大きく変動する現象を、高精度で誤差無く測定す
ることができる測定方法と装置を提供すること。 【解決手段】 第1段目のアナライザーに設けられた測
定器3−1は、保護器/リミッター1−1およびアンプ
/アッテネーター2−1を介して印加された電圧を測定
する。A/Dコンバータ4−1は、上記測定値をA/D
変換する。記録メモリ5−1は、複数周期分のフレーム
メモリを有し、A/D変換された測定値を、複数周期に
わたって順次記録していく。同様に、第2段目〜第N段
目のアナライザーにおいても、測定値の記録が行われ
る。一方、各段の保護器/リミッターは、それぞれの印
加電圧が所定の測定範囲を越えた場合には、オーバーフ
ロー信号を出力する。制御システム6は、オーバーフロ
ーを起こしておらず、かつ、その中で最も分解能の高い
測定器の測定値を読み出す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電気信号として
測定される現象の測定装置において、特に、該測定範囲
が大きく変動する現象の測定方法と装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電気信号として測定される現象(例え
ば、電圧,電流等)から、その測定結果としての出力が
電圧表示される場合の具体的な例として、送電線の短絡
事故等による電流,電圧,磁界等の変動を測定する場合
について考える。上記送電線の短絡事故としては、一
線地絡、線間短絡、地線間地短絡などがあり、その
測定範囲(測定レンジ)は、上記では0〜100V、
上記では0〜1000V、上記では0〜10000
Vと言うように、それぞれの事故のケースによって大き
く異なる。また、当然のことであるが、上記短絡事故
〜の内、どのケースの事故が発生するのかは予測不可
能である。
【0003】したがって、このような場合において、上
記電流,電圧,磁界等の変動を測定する場合、測定範囲
の低いレンジに測定装置を設定しておいても、高電流,
高電圧等により測定不能となる場合が考えられるので、
結局、上記に対応する最大レンジを用いて測定装置を
設置し、とりあえず、あらゆる事故の発生に備えるとい
う方法が従来は採られてきた。また、上記〜の各ケ
ースに際し、測定機器側に、上記現象よりはるかに高速
なフィードバック回路を設け、該フィードバックによっ
て、どのケースの短絡事故が起こったかを素早く検出
し、該検出結果に基づいて測定器の測定範囲を切り替え
る、という方法も考えられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した最
大測定レンジを用いる従来の測定方法においては、発生
した短絡事故の波形変動レベルが予想に反して低いもの
である場合、すなわち、上記ケースにおけるやであ
る場合には、ケースに対する測定レンジが0〜100
00Vであるのに対して、実際に発生した変動レベルは
0〜100V程度のものとなるので、測定の精度(分解
能)が非常に悪くなる、という欠点があった。また、上
述したフィードバックによる従来の測定方法において
は、被測定現象との間における誤差の増大や、特に、現
象の位相面等での影響が大きくなる場合が多く、更に、
これを除去するには高価な装置を設ける必要がある、と
いう欠点があった。
【0005】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、比較的単純かつ安価な構成を用いて、その測
定レベルが大きく変動する現象を、高精度で誤差無く測
定することができる測定方法と装置を提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
一定の周期を有する現象の測定方法において、測定範囲
が互いに異なるN個(但し、Nは2以上の整数)の測定
手段について、その測定値が該測定範囲を越えた場合に
はオーバーフロー信号を出力する第1の過程と、前記N
個の測定手段が測定した測定値を、記録手段が複数の周
期にわたって時系列に順次記録していく第2の過程と、
所定のトリガ信号が入力されると、オーバーフローして
いない測定手段を前記オーバーフロー信号に基づいて選
別し、該測定手段のうちで最も測定分解能の高い測定手
段を選択する第3の過程と、前記第3の過程で選択され
た測定手段の測定値について、前記トリガ信号入力時点
の前後所定周期にわたる測定値を、前記記録手段より読
み出す第4の過程とを具備することを特徴とする。
【0007】請求項2記載の発明は、一定の周期を有す
る現象の測定装置において、測定範囲が互いに異なり、
その測定値が該測定範囲を越えた場合にはオーバーフロ
ー信号を出力するN個(但し、Nは2以上の整数)の測
定手段と、前記N個の測定手段が測定した測定値を、複
数の周期にわたって時系列に順次記録していく記録手段
と、所定のトリガ信号が入力されると、オーバーフロー
していない測定手段を前記オーバーフロー信号に基づい
て選別し、該測定手段のうちで最も測定分解能の高い測
定手段を選択する選択手段と、前記選択手段が選択した
測定手段の測定値について、前記トリガ信号入力時点の
前後所定周期にわたる測定値を、前記記録手段より読み
出す読出手段とを具備することを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】
§1.概要 上述した従来の問題点を解決するためには、(電気的測
定回路として)可能な限り単純化された方法および装置
が最適と考えられる。本発明の特徴を簡潔に述べると、
測定レンジの異なる波形アナライザーをN段階(Nは2
以上の整数)にわたって配置し、そのN段階の波形アナ
ライザーのうちで、測定時にオーバーフローを起こさな
かった最大効率的分解能(精度)の段数M(MはN以下
の整数)のデータを測定値として採用することである。
このとき、上記波形アナライザーの例としては、特願平
4−291798に示した異常監視装置,特願平7−1
75255に示した事故時波形記録装置,特願平7−1
76282に示した送電線等の事故時波形の記録装置な
どが考えられる。
【0009】§2.実施形態 以下、図面を参照して、この発明の実施形態について説
明する。図1は、この発明の一実施形態による測定装置
の構成例を示すブロック図である。この図において、1
−1,1−2,1−Nは保護器/リミッター、2−1,
2−2,2−Nはアンプ/アッテネーター、3−1,3
−2,3−Nは測定器、4−1,4−2,4−NはA/
Dコンバータ、5−1,5−2,5−Nは記録メモリで
あり、これらは、それぞれ、第1段目から第N段目まで
のN段階の波形アナライザーを構成する(ただし、Nは
2以上の整数とする)。また、各波形アナライザーは、
CT,磁界センサー,圧力センサー等のセンサーに接続
されており、本実施形態では、その一例として、図2に
示すように、上記センサーとしてCTを用いている。
【0010】保護器/リミッター1−1,1−2,1−
Nは、内部スイッチを有しており、該保護器/リミッタ
ーに対する印加電圧が、該保護器/リミッターに予め設
定された電圧値を越えると、上記内部スイッチはOFF
状態となり、それより先の回路に上記印加電圧が印加さ
れるのを防ぐ。むろん、上記設定電圧は、N個の保護器
/リミッター毎に異なる任意の値に設定可能である。ま
た、保護器/リミッター1−1,1−2,1−Nは、常
時、”L”レベルのオーバーフロー信号を出力してお
り、上記印加電圧が上記設定電圧を越えると、上記オー
バーフロー信号を”H”レベルにする。
【0011】アンプ/アッテネーター2−1,2−2,
2−Nは、印加された電圧を増幅または減衰させ、その
振幅レベルを調整する。測定器3−1,3−2,3−N
は、印加電圧の電圧値を示すアナログデータを出力する
測定装置である。そして、一例として数字を挙げると、
0〜100V,0〜1000V,0〜10000Vとい
うように、測定器3−1と測定器3−2と測定器3−N
とでは、それぞれの測定範囲が異なる。A/Dコンバー
タ4−1,4−2,4−Nは、入力されたアナログデー
タを所定のビット数のデジタルデータにA/D変換す
る。
【0012】記録メモリ5−1,5−2,5−Nについ
て、それぞれの記録メモリは、X枚のフレームメモリか
ら構成される。図3は、それぞれの記録メモリ内のフレ
ームメモリの一例を示す説明図である。この図に示す例
では、それぞれの記録メモリは、10枚のフレームメモ
リで構成される。以下、本実施形態では、X番目のフレ
ームメモリをフレームメモリ{X}と称することにす
る。1枚のフレームメモリは、測定した電圧の波形につ
いて、1周期分のデジタル波形を記憶することができ
る。それぞれの記録メモリでは、外部から供給されるフ
ィールド信号(図1参照)によって、X枚のフレームメ
モリの中から順次1枚のフレームメモリがサイクリック
に選択され、選択された該フレームメモリに対し、最新
周期の電圧波形(デジタル波形)が書き込まれる。
【0013】6は制御システムであり、CPU(中央処
理装置),ROM(リードオンリメモリ),RAM(ラ
ンダムアクセスメモリ)等からなるコンピュータシステ
ムである。7はタイミング制御部であり、内部に水晶発
振器,タイマー等を有し、本装置内における各種タイミ
ング信号を生成する。
【0014】次に、上記構成による測定装置の動作を説
明する。図1において、送電線(図示略)に電流が流れ
ると、センサーは該電流を感知し、該電流に応じた電圧
を保護器/リミッター1−1,1−2,1−Nに印加す
る。そして、保護器/リミッター1−1は、該保護器/
リミッター1−1に印加された電圧が、該保護器/リミ
ッター1−1に予め設定されている測定範囲を越えてい
る場合には、内部スイッチをOFFにして、該印加電圧
が該保護器/リミッター1−1より先の回路(アンプ/
アッテネーター2−1,測定器3−1等)に印加されな
いようにする。また、該印加電圧が上記測定範囲を越え
ていない場合には、保護器/リミッター1−1は、上記
内部スイッチは接続したままにして、該印加電圧をその
まま出力する。
【0015】次に、アンプ/アッテネーター2−1は、
保護器/リミッター1−1を通して得られた電圧を、増
幅または減衰させ、その振幅レベルを調整する。そし
て、測定器3−1は、アンプ/アッテネーター2−1を
通して得られた電圧値を測定する。A/Dコンバータ4
−1は、測定器3−1が測定した電圧値(アナログ値)
を、タイミング制御部7から供給されるCLK信号に合
わせたタイミングでサンプリングし、所定のビット数の
デジタル値に変換する。また、A/Dコンバータ4−1
は、タイミング制御部7から供給されるフィールド信号
およびCLK信号に基づくタイミングで、変換した電圧
測定値(デジタル値)を出力する。
【0016】記録メモリ5−1は、タイミング制御部7
からスタート信号が供給されると、同じくタイミング制
御部7から供給されるフィールド信号に基づいて、該記
録メモリ5−1内に設けられたフレームメモリの中か
ら、該フィールド信号で指定される番号のフレームメモ
リを選択する。また、記録メモリ5−1は、タイミング
制御部7から供給されるCLK信号に基づいて、書き込
みアドレスを順次インクリメントする。そして、記録メ
モリ5−1は、タイミング制御部7から供給されるCL
K信号に同期してA/Dコンバータ4−1から供給され
る電圧測定値(デジタル値)を、該CLK信号に同期し
たタイミングで、該記録メモリ5−1内の記憶セルに書
き込む。このとき、該記憶セルは、タイミング制御部7
から供給される上記フィールド信号で指定されるフレー
ムメモリ内の、同タイミング制御部7から供給されるC
LK信号に基づいてインクリメントされた上記書き込み
アドレスによって指定される記憶セルとなる。
【0017】ここで、1枚のフレームメモリの全アドレ
スに対して電圧測定値の書き込みを完了するのに、wク
ロック分のCLK信号が必要であるとすると、タイミン
グ制御部7は、CLK信号をwクロック出力する度に、
フィールド信号が示すフレームメモリ番号指定値をイン
クリメントしていく。また、上記インクリメントの結
果、フィールド信号の示すフレーム番号値が、記録メモ
リ5−1が有するフレームメモリの枚数に等しくなる
と、タイミング制御部7は、この次に該フレーム番号値
をインクリメントするときには、フィールド信号が示す
フレームメモリ番号指定値をリセットする。これによ
り、電圧測定値が書き込まれるフレームメモリは、図3
に示すように、…{X1}→{X2}→…→{X9}→
{X10}→{X1}→……というように、順次繰り返
して選択される。そして、以上の動作により、A/Dコ
ンバータ4−1が出力する電圧測定値の波形は、1周期
の波形が1枚のフレームメモリに対応する形で、記録メ
モリ5−1に設けられたフレームメモリの枚数分だけ記
録される。
【0018】以上、保護器/リミッター1−1,アンプ
/アッテネーター2−1,測定器3−1,A/Dコンバ
ータ4−1,記録メモリ5−1から構成される第1段目
の波形アナライザーに関して、該波形アナライザーが電
圧測定値(電圧波形)を記録する動作を説明したが、他
段の波形アナライザー(第2段目〜第N段目)も同様の
動作を行い、電圧波形を記録する。ただし、上述したよ
うに、それぞれの波形アナライザーに設けられた保護器
/リミッターは、印加電圧が測定範囲を越えると、内部
スイッチをOFFにするので、この場合は電圧波形の記
録は行われない。
【0019】上記電圧波形の記録と並行して、保護器/
リミッター1−1に対する印加電圧が、該保護器/リミ
ッター1−1に予め設定されている測定範囲を越えてい
る場合には、保護器/リミッター1−1は、制御システ
ム6に供給するオーバーフロー信号を”H”レベルにし
て、オーバーフローが生じたことを示す。むろん、上記
印加電圧が測定範囲内である場合には、保護器/リミッ
ター1−1は、上記オーバーフロー信号を”L”レベル
のまま保持する。また、他の段数(2〜N)の波形アナ
ライザーに設けられた保護器/リミッターも、同様に、
制御システム6に対してオーバーフロー信号を供給す
る。
【0020】一方、本実施例による測定対象(すなわ
ち、送電線)において異常が発生すると、図示しない異
常現象検出装置は、制御システム6に対して異常発生信
号を送出する。なお、上記異常現象検出装置は、先に出
願人が、特願平4−291798において示した異常現
象検出装置,特願平7−175255において示した異
常検出回路,特願平7−176282において示した事
故検出回路と同じものである。制御システム6は、上記
異常発生信号を受け取ると、各段数の波形アナライザー
に設けられた保護器/リミッターから供給されるN個の
オーバーフロー信号をそれぞれ検査し、上記N個の保護
器/リミッターのうちで、どの保護器/リミッターでは
オーバーフローが起こっており、どの保護器/リミッタ
ーではオーバーフローが起こっていないかを判別する。
そして、制御システム6は、オーバーフローが起こって
いない保護器/リミッターのうちで、最も分解能の高い
保護器/リミッターを選択する。以下、この選択された
保護器/リミッターを具備する波形アナライザーの段数
番号を「選択段数番号」と称する。
【0021】制御システム6は、選択段数番号の記録メ
モリ(以下、選択記録メモリと称する)に記憶された電
圧測定値の読み出しを開始する。まず、制御システム6
は、上記選択記録メモリに対して、該選択記録メモリを
イネーブルにするために、Read信号を供給する。ま
た、制御システムは、上記選択記録メモリに対して、制
御システムと選択記憶メモリとの間におけるデータ送受
信タイミングの基準となるクロック信号(CLK)を供
給する。
【0022】そして、制御システム6は、選択記録メモ
リに対して、フィールド信号を供給する。このフィール
ド信号は、異常が発生した時点における電圧波形が記録
されているフレームメモリの番号(仮にxとする)か
ら、所定数aを引いた番号(x−a)のフレームメモリ
を指定する物である。上記所定数aは、任意の値に設定
可能であり、通常、オペレータは、異常発生時点から遡
って記録しておきたい過去の電圧測定波形が記録されて
いるフレームメモリの枚数を、上記所定数aとして設定
しておく。
【0023】そして、制御システム6は、選択記録メモ
リに対して、アドレス信号を供給する。これによって、
先に供給されたフィールド信号によってフレームメモリ
が指定され、さらに、上記アドレス信号によって該フレ
ームメモリ内のアドレスにおける記憶セルが指定され
る。そして、上記フレームメモリの上記アドレスで指定
された記憶セル内のメモリデータが読みだされる。
【0024】次に、制御システム6は、上記アドレス信
号によって指定されるアドレス値をインクリメントし、
そのインクリメントしたアドレス値を示すアドレス信号
を、選択記録メモリに供給する。そして、上記フレーム
メモリの上記アドレスで指定された記憶セル内のメモリ
データが読みだされる。以下、同様にして、アドレス値
がインクリメントされ、該アドレス値で指定されるアド
レスのメモリデータが、逐次読みだされる。
【0025】そして、選択されたフレームメモリ内のメ
モリデータ(電圧測定値)の読み出しが全て完了する
と、制御システム6は、フレームメモリを指定するフィ
ールド信号をインクリメントする。このインクリメント
によって、これまではフレームメモリ{x−a}がメモ
リデータ読み出しの対象となっていたが、今度は、フレ
ームメモリ{x−a+1}がメモリデータ読み出しの対
象となる。次に、制御システム6は、フレームメモリ
{x−a+1}に対して、先にフレームメモリ{x−
a}に対して行ったのと同様の方法で、アドレス値をイ
ンクリメントしながら、メモリデータを全て読み出す。
以下、同様にして、フレーム番号がインクリメントさ
れ、該フレーム番号で指定されるフレームメモリ内の電
圧波形が読みだされる。
【0026】制御システム6は、フレーム番号が(x+
a)になるまで、リード信号,フィールド信号,CLK
信号の供給を続ける。これによって、選択記録メモリ内
に記録されている電圧波形は、異常発生時点における電
圧波形を記録したフレームメモリ{x}を中心として、
異常発生時点以前a枚および異常発生時点以後a枚の合
計(2a+1)のフレームメモリから読みだされる。以
上が、本実施形態による現象測定装置の動作である。
【0027】以上、この発明の実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の
設計の変更等があってもこの発明に含まれる。たとえ
ば、上述した一実施形態においては、本装置の適用例と
して、送電線の事故時波形の記録を示したが、この他の
適用例として、各段の波形アナライザーを特願平4−2
91798に示したような異常監視装置とすることで、
ビデオカメラ等を用いた異常監視システムにも適用する
ことができる。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
比較的単純かつ安価な構成を用いて、その測定レベルが
大きく変動する現象を、高精度で誤差無く測定すること
ができる、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施形態による現象測定装置の
構成を示すブロック図である。
【図2】 センサーとしてCTを用いた場合における、
該CTと本装置との接続を示す接続図である。
【図3】 記録メモリ内のフレームメモリを示す説明図
である。
【符号の説明】
1−1,1−2,1−N……保護器/リミッター、2−
1,2−2,2−N……アンプ/アッテネーター、3−
1,3−2,3−N……測定器、4−1,4−2,4−
N……A/Dコンバータ、5−1,5−2,5−N……
記録メモリ、6……制御システム、 7……タイミング
制御部、 8……CT

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定の周期を有する現象の測定方法にお
    いて、 測定範囲が互いに異なるN個(但し、Nは2以上の整
    数)の測定手段について、その測定値が該測定範囲を越
    えた場合にはオーバーフロー信号を出力する第1の過程
    と、 前記N個の測定手段が測定した測定値を、記録手段が複
    数の周期にわたって時系列に順次記録していく第2の過
    程と、 所定のトリガ信号が入力されると、オーバーフローして
    いない測定手段を前記オーバーフロー信号に基づいて選
    別し、該測定手段のうちで最も測定分解能の高い測定手
    段を選択する第3の過程と、 前記第3の過程で選択された測定手段の測定値につい
    て、前記トリガ信号入力時点の前後所定周期にわたる測
    定値を、前記記録手段より読み出す第4の過程とを具備
    することを特徴とする変動範囲の大きく変わる現象の測
    定方法。
  2. 【請求項2】 一定の周期を有する現象の測定装置にお
    いて、 測定範囲が互いに異なり、その測定値が該測定範囲を越
    えた場合にはオーバーフロー信号を出力するN個(但
    し、Nは2以上の整数)の測定手段と、 前記N個の測定手段が測定した測定値を、複数の周期に
    わたって時系列に順次記録していく記録手段と、 所定のトリガ信号が入力されると、オーバーフローして
    いない測定手段を前記オーバーフロー信号に基づいて選
    別し、該測定手段のうちで最も測定分解能の高い測定手
    段を選択する選択手段と、 前記選択手段が選択した測定手段の測定値について、前
    記トリガ信号入力時点の前後所定周期にわたる測定値
    を、前記記録手段より読み出す読出手段とを具備するこ
    とを特徴とする変動範囲の大きく変わる現象の測定装
    置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007027926A (ja) * 2005-07-13 2007-02-01 Canon Inc 放送用テレビレンズ装置及びテレビカメラシステム

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JP2007027926A (ja) * 2005-07-13 2007-02-01 Canon Inc 放送用テレビレンズ装置及びテレビカメラシステム

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