JPH095060A - 真直度干渉計 - Google Patents
真直度干渉計Info
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- JPH095060A JPH095060A JP7150152A JP15015295A JPH095060A JP H095060 A JPH095060 A JP H095060A JP 7150152 A JP7150152 A JP 7150152A JP 15015295 A JP15015295 A JP 15015295A JP H095060 A JPH095060 A JP H095060A
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Abstract
渉計の提供。 【構成】 干渉計は、枠体10と、枠体10に回転自在
に支持されたプリズムホルダー12と、ウォラストンプ
リズムとを有している。ホルダー12の前円板部12b
には、回転中心に対して同心円上に位置するレーザ光の
入射部12gと出射部12hとが設けられている。ま
た、前円板部12bの表面には、十字状ターゲット16
が表示され、この十字状ターゲット16と対向するよう
にして反射ミラー18が設けられている。この十字状タ
ーゲット16と反射ミラー18とは、入射部12gと出
射部12hとの中心線と直交する線上にあって、その中
心が入射部12gと出射部12hの楕円の中心と同心円
上に位置している。反射ミラー18は、前円板部12b
に貫通形成された円形のミラー窓18aと、この背面側
に設けられた反射膜とから構成されている。
Description
し、特に、その使い勝手を向上させる技術に関するもの
である。
を行なう部分の真直性を測定する手段として、光の干渉
を利用する真直度測定装置が知られており、例えば、そ
の一例が米国特許第3790284号に開示されてい
る。この米国特許に示されている真直度測定装置は、同
じ光軸上に配置されるレーザ光線発射装置と、ウォラス
トンプリズムで構成された真直度干渉計と、平面鏡で構
成された反射ミラーとを有している。
たレーザ光は、真直度干渉計で、同一平面内において、
微小な角度間隔で拡がる2つの第1および第2レーザ光
に分光され、分光した第1および第2レーザ光が反射ミ
ラーに照射され、反射ミラーからのそれぞれの反射光
は、入射光と同一光路上に戻り、真直度干渉計で再び合
成されて、相互に干渉させられる。
させた時に、真直度干渉計と反射ミラーとの間に移動方
向に直交する方向の変位があると、真直度干渉計と反射
ミラーとの間で反射する第1および第2レーザ光に光路
差が発生する。このような光路差が発生すると、反射ミ
ラーで反射した第1および第2レーザ光の干渉縞が変化
し、この干渉縞の変化を求めることにより、真直度が測
定される。
テーブルなどの真直度を測る際には、まず、測定する軸
とレーザ光線発射装置から発射されるレーザ光との軸合
わせが行なわれ、この操作は、いわゆるアライメント作
業と呼ばれている。このアライメント作業と呼ばれる軸
合わせは、レーザ光と測定する軸とが平行になるように
するアライメント操作と、この後に行なわれる正対操作
とがある。アライメント操作は、真直度干渉計の前面
に、例えば、十字状のターゲットが表示されたターゲッ
ト板を磁石等により貼着し、レーザ光線発射装置に近い
位置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装
置を平行移動させて、レーザ光が十字状ターゲットを照
射するようにし、また、レーザ光線発射装置から遠い位
置に真直度干渉計を設置した時に、レーザ光線発射装置
の角度を調節して、レーザ光が十字状ターゲットを照射
するようにする作業を複数回繰り返して、レーザ光と測
定する軸とが平行になるように操作する。
直度干渉計が正対するように、真直度干渉計の角度を調
整する。しかしながら、このような従来のアライメント
作業においては、特に、測定する軸と平行が採られたレ
ーザ光に対して、真直度干渉計を正対させる際に、以下
に説明する問題があった。
ライメント作業における真直度干渉計の正対操作は、従
来、一般的には、目視により行なわれていた。ところ
が、この正対操作は、レーザ光に対して約±2°程度の
範囲内で正対させなければ、真直度干渉計のウォラスト
ンプリズムでのP波成分とS波成分との分離が不十分に
なり、真直度の測定精度に影響を及ぼすといわれてい
る。従って、このような角度範囲内に収めるために、慎
重な作業が要求され、面倒な上に、非常に時間がかかる
という問題があった。
てなされたものであって、その目的とするところは、正
対操作が簡単かつ確実に行なえる真直度干渉計を提供す
ることにある。
め、本発明は、枠体と、この枠体に回転自在に支持され
たプリズムホルダーと、このプリズムホルダーに保持さ
れたウォラストンプリズムと、前記プリズムホルダーの
回転軸を中心とする同心円上に設けられたレーザ光の入
射部および出射部とを備えた真直度干渉計において、前
記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダー
の回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと反
射ミラーとを設けたことを特徴とする。前記十字状ター
ゲットおよび反射ミラーが設けられた同心円は、前記入
射部および反射部が設けられた同心円と一致させること
ができる。また、前記反射ミラーは、前記プリズムホル
ダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背
面側に設けられ、前記ウォラストンプリズムの前面を覆
う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成することが
できる。
ルダーの前面側に、当該プリズムホルダーの回転軸を中
心とする同心円上に十字状ターゲットと反射ミラーとが
設けられているので、レーザ光と測定対象軸とを平行に
するアライメント操作の際には、十字状ターゲットを使
用することができ、この操作が終了すると、プリズムホ
ルターを回転させて、レーザ光が反射ミラーを照射する
ようにすると、レーザ光の反射状態が目視により確認で
きるので、レーザ光に対して真直度干渉計を正確かつ簡
単に正対させることができる。また、請求項2の構成に
よれば、十字状ターゲットおよび反射ミラーが設けられ
た同心円は、レーザ光の入射部および反射部が設けられ
た同心円と一致させてあるので、正対操作が完了する
と、プリズムホルダーを回転させて、入射部にレーザ光
を入射させると、直ちに真直度の測定が行なえる。さら
に、請求項3の構成によれば、反射ミラーは、プリズム
ホルダーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓
の背面側に設けられ、ウォラストンプリズムの前面を覆
う防塵ガラスに設けられた反射膜とから構成されている
ので、ウォラストンプリズム側へ塵埃が侵入することも
防止できる。
を参照して詳細に説明する。図1から図5は、本発明に
かかる真直度干渉計の一実施例を示している。同図に示
す真直度干渉計は、枠体10と、プリズムホルダー12
と、ウォラストンプリズム14とを有している。
10aと、この本体10aの水平方向の中心に貫通形成
された円形の孔部10bと、この孔部10bの中心に突
設された環状の回転ガイド10cとから構成されてい
る。プリズムホルダー12は、両端が開口した円筒部1
2aと、この円筒部12aの両端にあって、同軸上に固
設される一対の前,後円板部12b,12cとから構成
されている。
部10bの内径とほぼ同じ寸法に形成されていて、その
長手軸方向の中心外周には、枠体10の回転ガイド10
cと嵌合する環状溝12dが設けられている。なお、こ
の円筒部12aは、その長手方向の中心で2分割され、
孔部10b内には、その両側から挿入されて一体化さ
れ、この状態において、円筒部12aが枠体10に対し
て、回転自在に支持される。
形状に形成されていて、その中心の背面側には、孔部1
0bの内径と同じ大きさの円筒形凹部12e,12fが
形成されている。また、前円板部12bには、レーザ光
の入射部12gと出射部12hとが設けられている。こ
の入射部12gと出射部12hとは、略楕円状に穿設さ
れた貫通孔であって、これらの楕円の中心は、円板部1
2bの回転軸を中心とする同心円上に位置している。
ないが、前円板部12bと同様な楕円貫通孔で構成され
た入射部と出射部とが、前円板部12bの入射部12g
と出射部12hとに対応して設けられており、これらの
後円板部12cの入射部と出射部とは、前円板部12b
の入射部12gに対応する部分が出射部となり、出射部
12hに対応する部分が入射部となる。
なる複数のプリズムを組み合わせたものであって、円筒
状に形成されて、プリズムホルダー12の円筒部12a
の内周に保持されている。このウォラストンプリズム1
4は、前円板部12bの入射部12gから入射したレー
ザ光を、微小な角度間隔で2方向に拡がる2つのレーザ
光に分光して、後円板部12cの出射部から送出すると
ともに、このブリズム14の後方に設置される反射鏡か
ら反射した2つのレーザ光が、後円板部12cの入射部
から入射すると、この2つのレーザ光を合成して干渉さ
せて前円板部12bの出射部12hから出射させる。
2bの表面には、十字状ターゲット16が表示され、こ
の十字状ターゲット16と対向するようにして反射ミラ
ー18が設けられている。この十字状ターゲット16と
反射ミラー18とは、入射部12gと出射部12hとの
中心線と直交する線上にあって、その中心が入射部12
gと出射部12hの楕円の中心と同心円上に位置してい
る。
板部12bに貫通形成された円形のミラー窓18aと、
この円板部12bの背面側に設けられた円筒形凹部12
eに配置された防塵ガラス20の表面に設けられた反射
膜18bとから構成されている。防塵ガラス20は、後
円板部12cの円筒形凹部12f内にも設置されてい
て、対向する表裏面が平行なものであって、ウォラスト
ンプリズム14の前後面を覆うように設置されている。
20の前面側には、ミラー窓18aに一対応して、円形
の反射膜18bが形成されるとともに、その全面に反射
防止膜22が設けられている。同様に、後円板部12b
に円形ミラー窓18aが設けられている。また、後円板
部12b側に設けられた防塵ガラス20の前面側には、
ミラー窓18aに対応して円形の反射膜18bが形成さ
れるとともに、その全面に反射防止膜22が設けられて
いる。
は、まず、アライメント操作を行なう際には、図1に示
すように、矢印で示したレーザ光が十字状ターゲット1
6を照射するように、プリズムホルダー12を回転させ
て行なわれる。そして、レーザ光に対して、真直度干渉
計を近接ないしは離間する方向に移動させて、レーザ光
の軸と真直度干渉計の移動軸とが平行になると、図2に
示すように、今度は、プリズムホルダー12を180°
回転させて、ミラー窓18aをレーザ光が照射するよう
にし、レーザ光に対して真直度干渉計が正対するように
角度調整が行なわれる。
射すると、レーザ光が反射膜18bに当たって反射し、
正対が取れていない場合には、入射レーザ光と反射レー
ザ光との角度が異なり、その方向が目視できるので、簡
単かつ確実に、しかも迅速に正対をとることができる。
レーザ光に対して真直度干渉計が正対させられると、測
定の準備が終了するので、図3に示すように、プリズム
ホルダー12を90°回転させて、レーザ光が入射部1
2gを照射するようにする。真直度干渉計の枠体10に
は、プリズムホルダ12を回転させるため90°毎の指
標を設けて位置決めするようにしている。
真直度干渉計によれば、アライメントおよび正対操作が
簡単かつ迅速に行なえるだけでなく、以下の効果も得ら
れる。すなわち、本実施例の場合には、十字状ターゲッ
ト16および反射ミラー18が設けられた同心円は、レ
ーザ光の入射部12gおよび反射部12hが設けられた
同心円と一致させてあるので、アライメント操作が完了
すると、プリズムホルダー12を所定量だけ回転させる
だけの操作で、反射ミラー18および入射部12gにレ
ーザ光を照射でき、測定の能率を大幅に向上させること
ができる。
ー12の前面に貫設されたミラー窓18aと、このミラ
ー窓18aの背面側に設けられ、ウォラストンプリズム
14の前面を覆う防塵ガラス20に設けられた反射膜1
8bとから構成されているので、ウォラストンプリズム
14側へ塵埃が侵入することも防止できる。なお、上記
実施例では、入射部12g,反射部12h,十字状ター
ゲット16,反射ミラー18の各中心をプリズムホルダ
ー12の回転軸を中心とする同心円上に設けたものを例
示したが、本発明の実施は、これに限定されることはな
く、例えば、入射部12gおよび反射部12hの同心円
と、十字状ターゲット16および反射ミラー18の同心
円とを別の径にすることもできる。
成に限定されることはなく、例えば、前円板部12bの
円形ミラー窓18aの位置に直接反射膜18bを貼着し
てもよい。また、前後円板部12b,12cに十字状タ
ーゲットおよび反射ミラーを設けているので、前後方向
のいずれからも真直度干渉計により正対する調整を行な
うことができる。
本発明にかかる真直度干渉計によれば、正対操作が簡単
かつ確実に行なえる。
作を行なう際の説明図である。
う際の説明図である。
図である。
る。
Claims (3)
- 【請求項1】 枠体と、この枠体に回転自在に支持され
たプリズムホルダーと、このプリズムホルダーに保持さ
れたウォラストンプリズムと、前記プリズムホルダーの
回転軸を中心とする同心円上に設けられたレーザ光の入
射部および出射部とを備えた真直度干渉計において、 前記プリズムホルダーの前面側に、当該プリズムホルダ
ーの回転軸を中心とする同心円上に十字状ターゲットと
反射ミラーとを設けたことを特徴とする真直度干渉計。 - 【請求項2】 前記十字状ターゲットおよび反射ミラー
が設けられた同心円は、前記入射部および反射部が設け
られた同心円と一致することを特徴とする請求項1記載
の真直度干渉計。 - 【請求項3】 前記反射ミラーは、前記プリズムホルダ
ーの前面に貫設されたミラー窓と、このミラー窓の背面
側に設けられ、前記ウォラストンプリズムの前面を覆う
防塵ガラスに設けられた反射膜とからなることを特徴と
する請求項1また2記載の真直度干渉計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15015295A JP3540054B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 真直度干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15015295A JP3540054B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 真直度干渉計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095060A true JPH095060A (ja) | 1997-01-10 |
| JP3540054B2 JP3540054B2 (ja) | 2004-07-07 |
Family
ID=15490644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15015295A Expired - Fee Related JP3540054B2 (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 真直度干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3540054B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2023115356A (ja) * | 2019-05-24 | 2023-08-18 | キヤノン株式会社 | 計測装置、撮像装置、制御方法及びプログラム |
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-
1995
- 1995-06-16 JP JP15015295A patent/JP3540054B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2023115356A (ja) * | 2019-05-24 | 2023-08-18 | キヤノン株式会社 | 計測装置、撮像装置、制御方法及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3540054B2 (ja) | 2004-07-07 |
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