JPH095400A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

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Publication number
JPH095400A
JPH095400A JP7155917A JP15591795A JPH095400A JP H095400 A JPH095400 A JP H095400A JP 7155917 A JP7155917 A JP 7155917A JP 15591795 A JP15591795 A JP 15591795A JP H095400 A JPH095400 A JP H095400A
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JP
Japan
Prior art keywords
inspection
boundary scan
scan inspection
electronic device
start switch
Prior art date
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Pending
Application number
JP7155917A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Ishizuka
晋 石塚
Atsushi Kukutsu
厚士 久々津
Takao Ogawara
敬生 大河原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP7155917A priority Critical patent/JPH095400A/ja
Publication of JPH095400A publication Critical patent/JPH095400A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、電子機器使用前、あるいは使用者
が望む時に、電子機器のデジタル回路について正常か否
かを容易かつ完全に検査することにより、使用に際して
信頼性の高い電子機器を提供することを目的とする。 【構成】 電子機器が自身のデジタル回路を自己診断で
きるよう、IEEE1149.1−1990規格として
定められているバウンダリースキャン検査を行うのに必
要な装置3〜11を全て電子機器(本例ではビデオカメ
ラ本体13)に内蔵し、電源を入れると自動的にバウン
ダリースキャン検査が行われるように、電源スイッチ1
2を閉にすると検査開始スイッチ11も閉になるよう連
動させる。また、電源スイッチ12とは無関係に、検査
開始スイッチ11の単独操作によって、必要なときにい
つでもバウンダリースキャン検査を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アイ・イー・イー・イ
ー(IEEE)1149.1−1990規格に定められ
ているバウンダリースキャン検査装置を有する集積回路
を用いた全ての電子機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ビデオカメラやスチールカメラ等は二度
と無い瞬間を捉える、あるいは費用と時間をかけてロケ
ーションに行き撮影を行うので、いざ使用しようとした
時に故障が発見されるのは最悪の事態である。コンサー
トにおける音響機器なども同様である。しかし、経年劣
化などによる故障を完全に根絶することは不可能であ
る。このことは特に使用に際して故障が許されない放送
用、業務用など、プロフェッショナル用機器について大
きな問題であった。これを最大限避けるためには、万一
故障が発生した場合でも修理を行える、あるいはスペア
の機器に交換できる時点で、使用する電子機器を検査す
ることが必要である。このため、従来は電子機器の機能
を使用者が一つ一つ実際に動作させてみて、異常がない
か検査していた。しかし、これを行うには手間と時間を
必要とし、特に電子機器が多機能、高機能になるほど負
担は大きい。また電子機器内部の小さな故障等を完全に
カバーすることは難しい。また映像、音声信号のデジタ
ル化が進むにつれて、データラインの最下位ビットの欠
落という問題が生じる。これによる不具合などは通常の
使用では発見が困難であるが映像や音声の品質にとって
は重要な点である。
【0003】ここで電子回路の不良検査の一方法とし
て、IEEE1149.1−1990規格として定めら
れているバウンダリースキャン検査が知られている。こ
れは検査装置をデジタル集積回路内部に設け、これを用
いて実装基板上において、デジタル回路の配線およびデ
ジタル集積回路の内部論理回路の検査を行うものであ
る。以下、バウンダリースキャン検査について図2を用
いて説明する。
【0004】電子機器33内の基板22にバウンダリー
スキャン検査装置(図示せず)を内蔵した集積回路21
が実装されている。この電子機器33に、バウンダリー
スキャン検査を実行するための装置群から成る検査器3
4を接続する。詳細には、集積回路21へ、バウンダリ
ースキャン検査装置を制御する検査バス制御装置23
を、4本ないし5本の検査バス24を介して接続する。
検査バス制御装置23は、バウンダリースキャン検査装
置に入力する検査信号を保持する第一の記憶装置25、
および信号の値を比較する比較器26に接続している。
比較器26はバウンダリースキャン検査の期待値を保持
する第二の記憶装置27、および不良の診断を行う診断
装置28に接続している。診断装置28は診断結果を視
覚的に表示する表示装置29に接続している。更に、検
査バス制御装置23、比較器26、診断装置28、表示
装置29はこれらを制御する主制御装置30に接続さ
れ、主制御装置30は操作部31を用いて操作を行う。
【0005】検査は、まず検査バス制御装置23が集積
回路21内のバウンダリースキャン検査装置を検査状態
にさせる。次に検査バス制御装置23が第一の記憶装置
25から検査用入力信号を読み取り、それをバウンダリ
ースキャン検査装置へ送信する。検査バス制御装置23
により制御されたバウンダリースキャン検査装置はデジ
タル回路の検査を行い、その結果を検査バス制御装置2
3へ出力する。検査結果は比較器26へ送信され、そこ
で第二の記憶装置27から読みとった検査の期待値と比
較される。比較結果を診断装置28に送信し、ここで不
良状況、不良箇所などを診断し、表示装置29に表示す
る。検査バス制御装置23、比較器26、診断装置2
8、表示装置29の動作は主制御装置30によって制御
され、主制御装置30の操作は操作部31で行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のバウンダリースキャン検査は製造時の不良発見および
修理補修時の不良箇所特定を目的としたものであり、こ
の検査を行うには、上に示したように集積回路に内蔵さ
れたバウンダリースキャン検査装置を制御する装置を被
検査機器に外部から接続する必要があった。従って、電
子機器使用者が容易にバウンダリースキャン検査を行う
ことは不可能であった。
【0007】本発明は、上記課題を解決するものであ
り、電子機器使用前あるいは使用者が望む時に、電子機
器のデジタル回路について正常か否かを容易かつ完全に
検査することにより、使用に際して信頼性の高い電子機
器を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】そのために本発明の電子
機器は、自身のデジタル回路を自己診断できるよう、I
EEE1149.1−1990規格として定められてい
るバウンダリースキャン検査を行うのに必要な装置を全
て電子機器に内蔵し、電子機器の電源を入れると自動的
にバウンダリースキャン検査が行われるように、電源ス
イッチを閉にするとバウンダリースキャン検査開始スイ
ッチも閉になるよう連動させる構成としたものである。
【0009】
【作用】バウンダリースキャン検査を行うのに必要な装
置が全て電子機器に内蔵されているため、外部からなん
ら装置を接続する事無く、自身のデジタル回路の自己診
断を行うことができる。また、電源スイッチとバウンダ
リースキャン検査開始スイッチを連動させることによ
り、電子機器の電源を入れると自動的にバウンダリース
キャン検査が行われ、なんら特別な操作を行うことなく
電子機器使用前にバウンダリースキャン検査を行うこと
ができる。
【0010】
【実施例】本発明の一実施例を図1を用いて説明する。
ここでは、放送用デジタルビデオカメラを例に挙げる。
バウンダリースキャン検査装置(図示せず)を内蔵した
集積回路1が基板2に実装されており、バウンダリース
キャン検査装置を制御する検査バス制御装置3が、4本
ないし5本の検査バス4を介して集積回路1に接続され
ている。検査バス制御装置3はまた、バウンダリースキ
ャン検査装置に入力する検査信号を保持する第一の記憶
装置5、および信号の値を比較する比較器6に接続して
いる。比較器6はバウンダリースキャン検査の期待値を
保持する第二の記憶装置7、および不良の診断を行う診
断装置8に接続している。診断装置8は診断結果を視覚
的に表示する表示装置9に接続している。更に、検査バ
ス制御装置3、比較器6、診断装置8、表示装置9はこ
れらを制御する主制御装置10に接続され、主制御装置
10にはバウンダリースキャン検査を開始させる検査開
始スイッチ11が接続される。検査開始スイッチ11は
ビデオカメラ本体の電源スイッチ12と接続している。
以上記した装置は全てビデオカメラ本体13に内蔵され
ている。
【0011】検査は、まず検査バス制御装置3が第一の
記憶装置5から検査用入力信号を読み取り、それをバウ
ンダリースキャン検査装置へ送信する。検査バス制御装
置3により制御されたバウンダリースキャン検査装置は
デジタル回路の検査を行い、その結果を検査バス制御装
置3へ出力する。検査結果は比較器6へ送信され、そこ
で第二の記憶装置7から読みとった検査の期待値と比較
される。比較結果を診断装置8に送信し、ここで不良状
況、不良箇所などを診断し、表示装置9に表示する。検
査バス制御装置3、比較器6、診断装置8、表示装置9
の動作は主制御装置10によって制御される。ビデオカ
メラ本体の電源スイッチ12を閉にすると検査開始スイ
ッチ11も閉になるため、電源を入れると自動的にバウ
ンダリースキャン検査が行われる。また、検査開始スイ
ッチ11を操作することにより、任意の時にバウンダリ
ースキャン検査を行うことができる。検査開始スイッチ
11を設けず、電源スイッチ12が検査開始スイッチ1
1を兼ねても良いが、独立に検査開始スイッチ11を設
けることにより、電源の入切を行わなくともバウンダリ
ースキャン検査ができるため、より有効である。
【0012】以上により、本ビデオカメラの使用者は使
用前あるいは所望のときにいつでも、そのデジタル回路
の検査を容易に行うことができ、不慮の故障発生を低減
することができる。また、電源を入れる毎にデジタル回
路の検査が行われるので、定期検査の効果を有する。バ
ウンダリースキャン検査は不良箇所の特定も行えるた
め、故障が発見された場合にもメーカーのサービスマン
は迅速に修理を行うことが可能である。
【0013】なお、ここでは放送用デジタルビデオカメ
ラを例に挙げたが、本発明は、IEEE1149.1−
1990規格に定められているバウンダリースキャン検
査装置を有する集積回路を用いた全ての電子機器に対し
て有効である。更に、現在IEEEで審議中の114
9.4(デジタル回路検査用のバウンダリースキャン検
査をアナログ回路及びアナログ・デジタル混在回路に拡
張したアナログバウンダリースキャン検査)が規格化、
実現されれば、この発明を用いることによって電子機器
の大部分の回路を検査することが可能である。
【0014】
【発明の効果】電子機器の電源を入れる毎に自動的にバ
ウンダリースキャン検査が行われるため、デジタル回路
について定期検査を行っていることと等価であり、信頼
性向上につながる。また電子機器使用者はバウンダリー
スキャン検査開始スイッチによりいつでも希望の時にデ
ジタル回路検査を行うことができ、高信頼性が得られ
る。さらに特別な検査装置無しに、電子機器のデジタル
回路の検査が容易かつ完全に行えるため、電子機器準備
中、あるいは使用中に故障が発見される事態の起こる確
率を低減する。またディジタルのビット落ちなどの通常
は容易に検出できない故障に対してもこの検査は有効で
ある。更に、バウンダリースキャン検査は不良箇所の特
定も行えるため、故障が発見された場合にもメーカーの
サービスマンは迅速に修理を行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるバウンダリースキャ
ン検査を行う装置の構成を示すブロック図
【図2】従来のバウンダリースキャン検査を行う装置の
構成を示すブロック図
【符号の説明】
1 集積回路 2 基板 3 検査バス制御装置 4 検査バス 5 第一記憶装置 6 比較器 7 第二記憶装置 8 診断装置 9 表示装置 10 主制御装置 11 検査開始スイッチ 12 電源スイッチ 13 ビデオカメラ本体

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アイ・イー・イー・イー(IEEE)1
    149.1−1990規格に定められるバウンダリース
    キャン検査装置を内蔵する集積回路を有する電子機器に
    おいて、バウンダリースキャン検査用入力信号を保持す
    る第一の記憶装置と、バウンダリースキャン検査信号お
    よび前記バウンダリースキャン検査装置を制御し、バウ
    ンダリースキャン検査を実行する制御装置と、前記集積
    回路のバウンダリースキャン検査結果の期待値を保持す
    る第二の記憶装置と、前記期待値と前記集積回路のバウ
    ンダリースキャン検査結果を比較する比較装置と、前記
    比較装置の比較結果から前記電子機器の回路不良を診断
    する診断装置と、前記診断装置の診断結果を表示する表
    示装置と、前記制御装置を起動させ、バウンダリースキ
    ャン検査を開始する検査開始スイッチを有し、前記電子
    機器の電源スイッチを開から閉にしたとき、前記検査開
    始スイッチが開から閉になるよう連動させることを特徴
    とする電子機器。
JP7155917A 1995-06-22 1995-06-22 電子機器 Pending JPH095400A (ja)

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JP7155917A JPH095400A (ja) 1995-06-22 1995-06-22 電子機器

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JP7155917A JPH095400A (ja) 1995-06-22 1995-06-22 電子機器

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JPH095400A true JPH095400A (ja) 1997-01-10

Family

ID=15616342

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7870429B2 (en) 2007-06-22 2011-01-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Control apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7870429B2 (en) 2007-06-22 2011-01-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Control apparatus

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