JPH0956549A - 防曇性鏡 - Google Patents

防曇性鏡

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JPH0956549A
JPH0956549A JP8156404A JP15640496A JPH0956549A JP H0956549 A JPH0956549 A JP H0956549A JP 8156404 A JP8156404 A JP 8156404A JP 15640496 A JP15640496 A JP 15640496A JP H0956549 A JPH0956549 A JP H0956549A
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JP
Japan
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mirror
optical semiconductor
refractive index
less
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JP8156404A
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English (en)
Inventor
Eiichi Kojima
栄一 小島
Makoto Chikuni
真 千国
Makoto Hayakawa
信 早川
Toshiya Watabe
俊也 渡部
Atsushi Kitamura
厚 北村
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Toto Ltd
Original Assignee
Toto Ltd
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  • Catalysts (AREA)
  • Road Signs Or Road Markings (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 親水性光半導体層による曇り止め処置の施さ
れた防曇性鏡において、この光半導体層の存在に起因す
る二重像や鏡面の暗化といった鏡像の劣化を防止する。 【解決手段】 本発明は以下の4つの解決手段を、個々
に、あるいは組み合わせて用いる。 (1)光反射面上に直接(実質的な介在層を設けること
なく)光半導体層を形成する(表面鏡)。 (2)裏面鏡の場合は、透明基材(ガラス等)の厚さを
0.5mm以下と薄くする。 (3)光半導体を含む表面層の屈折率を下げる。例え
ば、低屈折率のシリカ(SiO2 、屈折率1.50)を
酸化チタンに混ぜて光半導体層の屈折率を下げる。 (4)表面層に含まれる光半導体や低屈折率物質の粒子
径を0.1μm 以下と小さくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は曇り止め処置の施さ
れた防曇性鏡に関する。特には、表面に光半導体層を有
し、かつこの光半導体層の存在に起因する二重像や鏡面
の暗化といった鏡像の劣化を防止するような配慮のなさ
れた防曇性鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明者は、特願平7−182020号
において、光半導体を含む表面層を鏡上に形成して鏡表
面を超親水化し、同面に結露する水滴を水膜とすること
により曇りを無くすことを要旨とする防曇方法を提案し
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の技術に
は、次のような問題点があることが判明した。すなわ
ち、光半導体のTiO2 を鏡表面に形成すると、高い屈
折率のために表面の反射が大きく、銀鏡面からの反射像
と、二重の像を見ることになる。通常の鏡の二重像は、
ガラスを斜めから覗いた場合に、表面の反射による像と
銀鏡面で反射した像にずれが生じるために起こるもの
で、通常のガラスの場合は4%程度である。しかし高屈
折率のTiO2 の場合は数十%になるため、像のずれが
目立ってしまう。なお、二重像とは、鏡を斜めから見た
場合、酸化チタン膜表面で反射する光の像と、銀鏡面で
反射する光の像がずれて目に二重像となるものである。
【0004】屈折率n1 の物質Aから屈折率n2 の物質
Bに光が入るときに両物質の界面で反射される光の割合
である反射率Rは、 R=((n1 −n2 )/(n1 +n2 ))2 である。通常の鏡の場合は、空気(n1 =1.00)か
らガラス(n2 =1.52)に入射するので、その界面
の反射率は4%に過ぎない。一方、酸化チタン(TiO
2 )膜を有する防曇性鏡の場合、空気(n1 =1.0
0)からTiO2 (n2 =2.51)に入射する界面の
反射率は18.5%にも達する。したがって、通常の鏡
の場合は気にならない二重像が、酸化チタン膜を有する
防曇性鏡では目立ってしまうのである。
【0005】本発明は、親水性光半導体層による曇り止
め処置の施された防曇性鏡において、この光半導体層の
存在に起因する二重像や鏡面の暗化といった鏡像の劣化
を防止するような配慮のなされた防曇性鏡を提供するこ
とを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は以下の4つの解決手段を、個々に、あるい
は組み合わせて用いる。 (1)光反射面上に直接(実質的な介在層を設けること
なく)光半導体層を形成する(表面鏡)。これは、二重
像の原因となる二つの反射面の間の距離を短くするもの
である。通常の鏡ではガラスの厚さ(標準5mm)だけ、
鏡の表面とその反射面(銀鏡面)とは離れており、これ
に光の斜進角度θのサインを掛け、さらに2倍したもの
が二重像のずれとなる(5×sinθ×2)。ところ
が、光反射面上に直接光半導体層を形成すれば、二つの
反射面の間の距離は光反射面の厚さのみ(μm オーダー
以下)にできるので、人間の目で分るような二重像は生
じない。
【0007】(2)裏面鏡の場合は、透明基材(ガラス
等)の厚さを0.5mm以下と薄くする。(1)と同じ理
由により、二重像のずれをできるだけ小さくしてやれ
ば、見る人の違和感をできるだけ無くすことができる。
透明基材の厚さを0.5mm以下とすれば、像のずれは現
状標準の約1/10となる。
【0008】(3)光半導体を含む表面層の屈折率を下
げる。例えば、低屈折率のシリカ(SiO2 、屈折率
1.48)やフッ化マグネシウム(MgF2 、屈折率
1.378)、酸化スズ(1.90)、アルミナ(1.
63)を酸化チタンに混ぜて光半導体層の屈折率を下げ
てやれば、上述の理屈で光半導体層表面での光の反射率
が下がり、二重像の一方が弱くなる。このような観点か
ら、酸化チタンとしても屈折率の高いルチル型(2.
7)よりも屈折率の低いアナターゼ型(2.5)を用い
ることが好ましい。シリカ、シリコーンは屈折率が1.
5程度と小さく、かつシリカ及びシリコン原子に結合し
た有機基の少なくとも一部を水酸基に置換したシリコー
ンを添加すると、暗所での親水維持性能も向上するの
で、防曇性にも好影響をもたらす。
【0009】(4)表面層に含まれる光半導体や低屈折
率物質の粒子径を0.1μm 以下と小さくする。そうす
れば、粒子による光の散乱が生じにくくなるので、鏡像
が暗くなりにくい。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。 実施例1:シロキサン法による表面鏡 5mm厚のポリカーボネート板(基板)の表面にアルミ蒸
着によって光反射面を形成した。次に、基板の表面を平
滑化するため、予めシリコーン層で被覆した。このた
め、日本合成ゴム(東京)の塗料用組成物“グラスカ”
のA液(シリカゾル)とB液(トリメトキシメチルシラ
ン)を、重量の比が3になるように混合し、この混合液
を基板に塗布し、150℃の温度で硬化させ、膜厚3μ
m のシリコーンのベースコートで被覆された複数の基板
を得た。
【0011】次に、光触媒を含有する高分子塗料により
基板を被覆した。塗料の塗膜形成要素が光触媒の光酸化
作用によって劣化するのを防止するため、塗膜形成要素
としてシリコーンを選んだ。より詳しくは、アナターゼ
型チタニアゾル(日産化学、TA−15)56重量部と
上記“グラスカ”のA液(シリカゾル)33重量部を混
合し、エタノールで希釈後、さらに“グラスカ”の上記
B液11重量部を添加し、チタニア含有塗料用組成物を
調整した。この塗料用組成物を基板の表面に塗布し、1
50℃の温度で硬化させ、アナターゼ型チタニア粒子が
シリコーン塗膜中に分散されたトップコートを形成し
た。
【0012】実施例2:アルコキシド法による裏面鏡 0.5mm厚のソーダライムガラス板(基板)を準備し
た。次に、エタノールの溶媒86重量部に、テトラエト
キシシランSi(OC25)4 (和光純薬、大阪)6重
量部と純水6重量部とテトラエトキシシランの加水分解
抑制剤として36%塩酸2重量部を加えて混合し、シリ
カコーティング溶液を調整した。混合により溶液は発熱
するので、混合液を約1時間放置冷却した。この溶液を
フローコーティング法により基板の表面に塗布し、80
℃の温度で乾燥させた。乾燥に伴い、テトラエトキシシ
ランは加水分解を受けてまずシラノールSi(OH)4
なり、続いてシラノールの脱水縮重合により無定形シリ
カの薄膜が基板の表面に形成された。
【0013】次に、テトラエトキシチタンTi(OC2
5)4 (Merck) 1重量部とエタノール9重量部との混合
物に加水分解抑制剤として36%塩酸を0.1重量部添
加してチタニアコーティング溶液を調整し、この溶液を
基板の表面に乾燥空気中でフローコーティング法により
塗布した。塗布量はチタニアに換算して45μg/cm2
した。テトラエトキシチタンの加水分解速度は極めて早
いので、塗布の段階でテトラエトキシチタンの一部は加
水分解され、水酸化チタンTi(OH)4が生成し始め
た。
【0014】次に、この基板を1〜10分間約150℃
の温度に保持することにより、テトラエトキシチタンの
加水分解を完了させるとともに、生成した水酸化チタン
を脱水縮重合に付し、無定形チタニアを生成させた。こ
うして、無定形シリカの上に無定形チタニアがコーティ
ングされたガラス板を得た。
【0015】この試料を500℃の温度で焼成して、無
定形チタニアをアナターゼ型チタニアに変換させた。無
定形チタニアコーティングの下層には無定形シリカのコ
ーティングが施されているので、焼成の最中にガラス板
中のナトリウムのようなアルカリ網目修飾イオンがガラ
ス基材からチタニアコーティング中に拡散していないと
考えられる。次に、このガラス板の裏面に銀鏡反応によ
り銀の反射コーティングを形成して鏡を製作した。
【0016】実施例3:TEOS法による裏面鏡 日本板硝子製の鏡(MFL3)(ガラス厚5mm)の表面
に実施例2と同様の方法で無定形シリカの薄膜を形成し
た。
【0017】次に、テトラエトキシシラン0.69g
(和光純薬)とアナターゼ型チタニアゾル1.07g
(日産化学、TA−15、平均粒径0.01μm 、Ti
2 濃度15%)とがTiO2 :SiO2 =20:80
(重量比)となるように混合した。そして、エタノール
29.88gと純水0.36gを混合し、コーティング
溶液を調整した。このコーティング溶液をフローコーテ
ィング法により鏡の表面に塗布した。この鏡を約20分
間約150℃の温度に保持することにより、テトラエト
キシシランを加水分解と脱水縮重合に付し、アナターゼ
型チタニア粒子が無定形シリカのバインダーで結着され
たコーティングを鏡の表面に形成した。
【0018】この鏡を数日間暗所に放置した後、BLB
蛍光灯を用いて0.5mW/cm2の照度で約1時間紫外線を
照射した。この鏡の表面の水との接触角を接触角測定器
で測定したところ、接触角の読みは0°であった。光半
導体層の屈折率は1.69であった。
【0019】実施例4:実施例2と同じ方法で、無定形
シリカ薄膜を形成する。次にテトラエトキシチタン1重
量部とエタノール9重量部との混合液に加水分解抑制剤
として36%HClを0.1重量部添加し、チタニア溶
液とした。さらにシリカ溶液としては、日産化学製メタ
ノールシリカゾル(SiO2 濃度30%)を16.7重
量部とエタノール83.3重量部を混合し、SiO2
度5wt%とするシリカ溶液を調整した。これらチタニア
溶液5gとシリカ溶液0.21gをエタノール23gに
混合し、コーティング溶液を調整した後、フローコート
法により塗布した。次に実施例2と同様に150℃、5
00℃の熱処理と銀鏡反応を経て、アナターゼ型TiO
2 にシリカ粒子が分散されたコーティングの施された鏡
を得た。
【0020】この鏡を数日間暗所に放置した後、BLB
蛍光灯を用いて0.5mW/cm2の照度で約1時間紫外線を
照射した。この鏡の表面の水との接触角を接触角測定器
で測定したところ、接触角の読みは0°であった。光半
導体層の屈折率は1.69であった。
【0021】実施例5:実施例2と同じ方法で0.5mm
厚のガラス基板上に無定形シリカ薄膜を形成した。次い
で、その上にTiO2 ターゲットを用い、酸素雰囲気中
でスパッタリング法により無定形TiO2 からなる膜厚
50μm の薄膜を形成した。この段階で水との接触角を
測定すると47°であった。その後紫外線照度0.15
mW/cm2のBLBランプを2日照射したが依然42°であ
った。また、この段階で呼気法による曇りの有無を調べ
ると明らかに曇りが生じた。次にこの試料を400℃、
450℃、500℃で熱処理し、無定形TiO2 を結晶
化させアナターゼ型とした。これらの試料について1日
暗所に放置後、紫外線照度0.15mW/cm2のBLBラン
プを2日照射した。その後水との接触角を測定したとこ
ろ、それぞれ400℃焼成品では4.6°、450℃焼
成品では4.5°、500℃の焼成品では4.1°とな
った。また呼気法による曇りの有無の測定の結果、曇り
は速やかにかき消え残留しなかった。さらに、ガラスの
厚さの影響により二重像も認められなかった。
【0022】比較例:5mm厚のソーダライムガラス板の
ガラス表面と裏面に、実施例2と同じ方法でそれぞれ光
半導体層及び銀の反射コーティングを形成した。
【0023】性能試験:防曇性については、上記実施例
1、2、3、4、5及び比較例ともに優れていた。二重
像については、比較例は非常に目立った。実施例2につ
いては、二重像があったが、あまり目立たなかった。実
施例1、3、4及び5については、二重像がほとんど観
察されず、きわめて良好な鏡像が得られた。
【0024】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の防曇性鏡は、表面に光半導体層を有するが、この光半
導体層の存在に起因する二重像や鏡面の暗化といった鏡
像の劣化なく、良好な鏡像が得られる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B32B 27/18 B32B 27/18 Z C03C 17/30 C03C 17/30 Z E01F 9/00 E01F 9/00 G02B 5/08 G02B 5/08 F // B60S 1/60 B60S 1/60 E (72)発明者 早川 信 福岡県北九州市小倉北区中島2丁目1番1 号 東陶機器株式会社内 (72)発明者 渡部 俊也 福岡県北九州市小倉北区中島2丁目1番1 号 東陶機器株式会社内 (72)発明者 北村 厚 福岡県北九州市小倉北区中島2丁目1番1 号 東陶機器株式会社内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光反射面を有する基材と、この基材の光
    反射面に形成された光半導体を含む表面層と、を備え;
    該光半導体の光励起に対応して表面が親水性を示すこと
    を特徴とする防曇性鏡。
  2. 【請求項2】 裏面に反射コート層を有する透明基材
    と、この透明基材の表面に形成された光半導体を含む表
    面層と、を備え、 該光半導体の光励起に対応して表面が親水性を示す防曇
    性鏡であって;上記透明基材の厚さが0.5mm以下であ
    ることを特徴とする防曇性鏡。
  3. 【請求項3】 裏面に反射コート層を有する透明基材
    と、この透明基材の表面に形成された光半導体を含む表
    面層と、を備え、 該光半導体の光励起に対応して表面が親水性を示す防曇
    性鏡であって;上記表面層の屈折率が2以下であること
    を特徴とする防曇性鏡。
  4. 【請求項4】 上記表面層が、酸化チタン粒子及び該層
    の屈折率を2以下とするための他の物質(低屈折率物
    質)を含む請求項3記載の防曇性鏡。
  5. 【請求項5】 上記低屈折率物質が、シリカ、シリコー
    ン又はこれらの混合物である請求項4記載の防曇性鏡。
  6. 【請求項6】 上記酸化チタン粒子がアナターゼ型であ
    る請求項4又は5記載の防曇性鏡。
  7. 【請求項7】 上記表面層が光半導体粒子を含み、その
    光半導体粒子の粒子径が0.1μm 以下である請求項1
    〜6いずれか1項記載の防曇性鏡。
  8. 【請求項8】 上記酸化チタン粒子及び低屈折率物質の
    粒子の粒径が0.1μm 以下である請求項4又は5記載
    の防曇性鏡。
  9. 【請求項9】 上記鏡が化粧鏡、浴室用鏡、車両用鏡、
    反射鏡又は道路鏡のいずれかである請求項1〜8いずれ
    か1項記載の防曇性鏡。
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