JPH096689A - 情報処理装置におけるメモリ診断方法 - Google Patents
情報処理装置におけるメモリ診断方法Info
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- JPH096689A JPH096689A JP7150199A JP15019995A JPH096689A JP H096689 A JPH096689 A JP H096689A JP 7150199 A JP7150199 A JP 7150199A JP 15019995 A JP15019995 A JP 15019995A JP H096689 A JPH096689 A JP H096689A
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】キャッシュを使用することにより、情報処理装
置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断における診断
時間を短縮する。 【構成】メモリ診断手段７に処理が渡されると、キャッ
シュ２を初期化した後、キャッシュ２の動作を停止す
る。テストデータを設定し、このテストデータをメモリ
診断単位に書き込む。そしてキャッシュ２の動作を開始
させ、メモリ診断単位をループカウンタとして設定す
る。書き込んだテストデータをメモリ１から読み出し、
このメモリ情報とメモリ１を診断するテストデータとを
比較し、一致すれば診断単位が終了したかを判断し、診
断単位終了ならばすべての診断が終了したかを判断し、
診断終了でキャッシュ動作を停止して終了する。メモリ
情報とメモリ診断のためのテストデータとの比較結果が
不一致であればメモリ１の異常を示すエラーメッセージ
をディスプレイ８に表示する。
置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断における診断
時間を短縮する。 【構成】メモリ診断手段７に処理が渡されると、キャッ
シュ２を初期化した後、キャッシュ２の動作を停止す
る。テストデータを設定し、このテストデータをメモリ
診断単位に書き込む。そしてキャッシュ２の動作を開始
させ、メモリ診断単位をループカウンタとして設定す
る。書き込んだテストデータをメモリ１から読み出し、
このメモリ情報とメモリ１を診断するテストデータとを
比較し、一致すれば診断単位が終了したかを判断し、診
断単位終了ならばすべての診断が終了したかを判断し、
診断終了でキャッシュ動作を停止して終了する。メモリ
情報とメモリ診断のためのテストデータとの比較結果が
不一致であればメモリ１の異常を示すエラーメッセージ
をディスプレイ８に表示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は情報処理装置におけるメ
モリ診断方法に関し、特にキャッシュを利用した情報処
理装置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断方法に関
する。
モリ診断方法に関し、特にキャッシュを利用した情報処
理装置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の情報処理装置の初期化Ｒ
ＯＭプログラムのメモリ診断方法では、メモリ診断がキ
ャッシュメモリの診断とならないようにするため、メモ
リの診断中はキャッシュの動作を停止していた。
ＯＭプログラムのメモリ診断方法では、メモリ診断がキ
ャッシュメモリの診断とならないようにするため、メモ
リの診断中はキャッシュの動作を停止していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の情報処理装
置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断方法では、メ
モリの診断中はキャッシュの動作を停止していた。した
がって、情報処理装置にキャッシュがあってもそれを利
用できないので、情報処理装置の初期化ＲＯＭプログラ
ムのメモリ診断時間が長くなるという問題点があった。
置の初期化ＲＯＭプログラムのメモリ診断方法では、メ
モリの診断中はキャッシュの動作を停止していた。した
がって、情報処理装置にキャッシュがあってもそれを利
用できないので、情報処理装置の初期化ＲＯＭプログラ
ムのメモリ診断時間が長くなるという問題点があった。
【０００４】本発明の目的は、キャッシュを使用するこ
とにより、情報処理装置の初期化ＲＯＭプログラムのメ
モリ診断時間を短縮した情報処理装置におけるメモリ診
断方法を提供することにある。
とにより、情報処理装置の初期化ＲＯＭプログラムのメ
モリ診断時間を短縮した情報処理装置におけるメモリ診
断方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、内蔵す
るＲＯＭと、このＲＯＭに書き込まれた電源投入時の初
期化プログラムの１つであるメモリ診断手段によって診
断されるメモリと、シーケンシャルにアクセスした前記
メモリの情報がファーストインファーストアウトされそ
の記憶容量は診断される前記メモリよりも小さく且つシ
ーケンシャルな前記メモリの情報を一時的に蓄える少な
くとも１つのラインと前記ラインに入力される前記メモ
リの情報のアドレスを示す少なくとも１つのタグと前記
ラインおよび前記タグの情報の有効・無効を示す少なく
とも１つの有効無効情報とが１対１対１に対応するキャ
ッシュと、前記メモリに異常があったときにそれを表示
するディスプレイとを備える情報処理装置において、前
記メモリ診断手段はその診断の単位が前記キャッシュに
含まれる前記ラインの大きさの総和と前記ラインの大き
さの和以上であり、診断は前記メモリのアドレスの下位
方向または上位方向からシーケンシャルにアクセスして
行われることを特徴とする情報処理装置におけるメモリ
診断方法が得られる。
るＲＯＭと、このＲＯＭに書き込まれた電源投入時の初
期化プログラムの１つであるメモリ診断手段によって診
断されるメモリと、シーケンシャルにアクセスした前記
メモリの情報がファーストインファーストアウトされそ
の記憶容量は診断される前記メモリよりも小さく且つシ
ーケンシャルな前記メモリの情報を一時的に蓄える少な
くとも１つのラインと前記ラインに入力される前記メモ
リの情報のアドレスを示す少なくとも１つのタグと前記
ラインおよび前記タグの情報の有効・無効を示す少なく
とも１つの有効無効情報とが１対１対１に対応するキャ
ッシュと、前記メモリに異常があったときにそれを表示
するディスプレイとを備える情報処理装置において、前
記メモリ診断手段はその診断の単位が前記キャッシュに
含まれる前記ラインの大きさの総和と前記ラインの大き
さの和以上であり、診断は前記メモリのアドレスの下位
方向または上位方向からシーケンシャルにアクセスして
行われることを特徴とする情報処理装置におけるメモリ
診断方法が得られる。
【０００６】また、前記メモリ診断手段は前記キャッシ
ュを初期化する第１のステップと、前記メモリにメモリ
診断用のテストデータを書き込む第２のステップと、前
記テストデータを書き込む際に前記キャッシュを停止す
る第３のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テス
トデータを読み出す第４のステップと、前記テストデー
タを読み出す際に前記キャッシュを動作可能とする第５
のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テストデー
タと前記メモリから読み込んだ値とが一致するか判断す
る第６のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テス
トデータと前記メモリから読み込んだ値とが不一致のと
きに前記メモリの異常を示すエラーメッセージを前記デ
ィスプレイに表示する第７のステップとを備えることを
特徴とする情報処理装置におけるメモリ診断方法が得ら
れる。
ュを初期化する第１のステップと、前記メモリにメモリ
診断用のテストデータを書き込む第２のステップと、前
記テストデータを書き込む際に前記キャッシュを停止す
る第３のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テス
トデータを読み出す第４のステップと、前記テストデー
タを読み出す際に前記キャッシュを動作可能とする第５
のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テストデー
タと前記メモリから読み込んだ値とが一致するか判断す
る第６のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テス
トデータと前記メモリから読み込んだ値とが不一致のと
きに前記メモリの異常を示すエラーメッセージを前記デ
ィスプレイに表示する第７のステップとを備えることを
特徴とする情報処理装置におけるメモリ診断方法が得ら
れる。
【０００７】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００８】図１は本発明の一実施例を示す情報処理装
置のブロック図である。図１を参照すると、本実施例の
情報処理装置は、メモリ１と、キャッシュ２と、ＲＯＭ
診断プログラムが書き込まれたＲＯＭ６と、メモリ１が
異常のときにその旨のメッセージを表示するディスプレ
イ８とを備えている。
置のブロック図である。図１を参照すると、本実施例の
情報処理装置は、メモリ１と、キャッシュ２と、ＲＯＭ
診断プログラムが書き込まれたＲＯＭ６と、メモリ１が
異常のときにその旨のメッセージを表示するディスプレ
イ８とを備えている。
【０００９】キャッシュ２には、複数のライン（本実施
例では１つのライン３のみが示されている）と、各ライ
ンに記憶されるメモリ１の情報のアドレス情報を記憶す
る複数のタグ（ライン３と対であるため本実施例では１
つのみが示されている）４と、ライン３とタグ４に入っ
ている情報が有効な情報か無効な情報かを示す有効無効
情報（ライン３，タグ４と対であるため本実施例では１
つのみが示されている）５が含まれている。なお、ライ
ンはメモリ１の情報を一時的に記憶するバッファであ
る。
例では１つのライン３のみが示されている）と、各ライ
ンに記憶されるメモリ１の情報のアドレス情報を記憶す
る複数のタグ（ライン３と対であるため本実施例では１
つのみが示されている）４と、ライン３とタグ４に入っ
ている情報が有効な情報か無効な情報かを示す有効無効
情報（ライン３，タグ４と対であるため本実施例では１
つのみが示されている）５が含まれている。なお、ライ
ンはメモリ１の情報を一時的に記憶するバッファであ
る。
【００１０】また、ＲＯＭ６にはメモリ１を診断するメ
モリ診断手段７が書き込まれており、メモリ診断手段７
はメモリの異常を示すメッセージのディスプレイ８への
表示制御も行う。
モリ診断手段７が書き込まれており、メモリ診断手段７
はメモリの異常を示すメッセージのディスプレイ８への
表示制御も行う。
【００１１】そして、メモリ１の出力はキャッシュ２の
第１の入力に接続される。また、キャッシュ２の第１の
出力はメモリ１の入力に接続され、第２の出力はメモリ
診断手段７の入力に接続される。さらに、メモリ診断手
段７の第１の出力はキャッシュ２の第２の入力に接続さ
れ、第２の出力はディスプレイ８に接続されている。
第１の入力に接続される。また、キャッシュ２の第１の
出力はメモリ１の入力に接続され、第２の出力はメモリ
診断手段７の入力に接続される。さらに、メモリ診断手
段７の第１の出力はキャッシュ２の第２の入力に接続さ
れ、第２の出力はディスプレイ８に接続されている。
【００１２】続いて、本実施例の動作について図２を併
用して説明する。
用して説明する。
【００１３】図２は図１におけるメモリ診断手段の処理
の流れを示すフローチャートである。
の流れを示すフローチャートである。
【００１４】メモリ診断手段７に制御が渡ると、まずキ
ャッシュ２の初期化が実行される（ステップＳ２０
１）。すなわち、メモリ診断手段７からキャッシュ初期
化信号がキャッシュ２に出力され、キャッシュ２は有効
無効情報５を“無効”にセットする。
ャッシュ２の初期化が実行される（ステップＳ２０
１）。すなわち、メモリ診断手段７からキャッシュ初期
化信号がキャッシュ２に出力され、キャッシュ２は有効
無効情報５を“無効”にセットする。
【００１５】次に、キャッシュ動作停止信号がキャッシ
ュ２に出力されると、キャッシュ２は動作を停止して
（Ｓ２０２）、メモリ１を書込みまたは読込みアクセス
する時の情報をキャッシングせず、メモリ診断手段７と
メモリ１とが直接アクセスできるように情報をスルーさ
せる。
ュ２に出力されると、キャッシュ２は動作を停止して
（Ｓ２０２）、メモリ１を書込みまたは読込みアクセス
する時の情報をキャッシングせず、メモリ診断手段７と
メモリ１とが直接アクセスできるように情報をスルーさ
せる。
【００１６】そして、メモリ１を診断するテストデータ
を設定する（Ｓ２０３）。例えば、８ビットすべてをオ
ンにする“２５５”、またはすべてをオフにする“０”
がこれに当たる。
を設定する（Ｓ２０３）。例えば、８ビットすべてをオ
ンにする“２５５”、またはすべてをオフにする“０”
がこれに当たる。
【００１７】次に、このテストデータをメモリ診断の単
位に、つまりメモリ１のライン３の記憶容量の大きさの
総和とライン３の記憶容量の大きさの和以上の範囲に書
き込む（Ｓ２０４）。本実施例ではライン数は１つなの
でライン３の記憶容量の大きさの２倍以上の範囲とな
る。
位に、つまりメモリ１のライン３の記憶容量の大きさの
総和とライン３の記憶容量の大きさの和以上の範囲に書
き込む（Ｓ２０４）。本実施例ではライン数は１つなの
でライン３の記憶容量の大きさの２倍以上の範囲とな
る。
【００１８】この単位の値は後述するＳ２０７でメモリ
情報を読み出したときにライン３に蓄えられるメモリ１
の情報の最初に蓄えられた情報をクリアするために、ラ
インの記憶容量の大きさの総和とラインの記憶容量の大
きさの和以上の大きさが設定される。
情報を読み出したときにライン３に蓄えられるメモリ１
の情報の最初に蓄えられた情報をクリアするために、ラ
インの記憶容量の大きさの総和とラインの記憶容量の大
きさの和以上の大きさが設定される。
【００１９】キャッシュ２はシーケンシャルにメモリ１
をアクセスしたときにファーストインファーストアウト
するため、最初にライン３に蓄えられたメモリの情報は
ラインの記憶容量の大きさの総和以上の範囲のメモリを
アクセスすると最初に読み込まれたメモリ情報より順番
に消すことができる。
をアクセスしたときにファーストインファーストアウト
するため、最初にライン３に蓄えられたメモリの情報は
ラインの記憶容量の大きさの総和以上の範囲のメモリを
アクセスすると最初に読み込まれたメモリ情報より順番
に消すことができる。
【００２０】もし、最初に読み込まれたメモリ情報を消
しておかないと、テストパターンを変更したＳ２０７で
メモリからメモリ情報を読み出したつもりが、キャッシ
ュから読み取ることになりメモリの診断とはならない。
しておかないと、テストパターンを変更したＳ２０７で
メモリからメモリ情報を読み出したつもりが、キャッシ
ュから読み取ることになりメモリの診断とはならない。
【００２１】このテストデータはキャッシュ２のライン
３には入らずにメモリ１に直接書き込まれる。そして、
キャッシュ２の動作を開始させる（Ｓ２０５）。
３には入らずにメモリ１に直接書き込まれる。そして、
キャッシュ２の動作を開始させる（Ｓ２０５）。
【００２２】メモリ診断手段７からキャッシング開始信
号がキャッシュ２に出力され、キャッシュ２はこれ以降
メモリ１とメモリ診断手段７との間の情報をキャッシン
グする。
号がキャッシュ２に出力され、キャッシュ２はこれ以降
メモリ１とメモリ診断手段７との間の情報をキャッシン
グする。
【００２３】次に、メモリ診断の単位をループカウンタ
として設定し（Ｓ２０６）、メモリ１に書き込んだテス
トデータを読み出す（Ｓ２０７）。本実施例では、Ｓ２
０７で１度に読み取る範囲はライン３の大きさの約数と
する。
として設定し（Ｓ２０６）、メモリ１に書き込んだテス
トデータを読み出す（Ｓ２０７）。本実施例では、Ｓ２
０７で１度に読み取る範囲はライン３の大きさの約数と
する。
【００２４】最初の１バイトのテストデータを読み出す
と、有効無効情報５は“無効”を指しているので、キャ
ッシュ２はメモリ１からメモリの情報をライン３の大き
さ分取り出してライン３に格納する。
と、有効無効情報５は“無効”を指しているので、キャ
ッシュ２はメモリ１からメモリの情報をライン３の大き
さ分取り出してライン３に格納する。
【００２５】同じ情報の中の最初の１バイトをメモリ診
断手段７に出力する。このライン３にメモリ１の情報が
入るときにタグ４にはメモリ１のどの部分の情報が入っ
たのかを示すアドレス情報が入る。また、有効無効情報
５は“有効”にセットされる。
断手段７に出力する。このライン３にメモリ１の情報が
入るときにタグ４にはメモリ１のどの部分の情報が入っ
たのかを示すアドレス情報が入る。また、有効無効情報
５は“有効”にセットされる。
【００２６】２バイト目を読み出すと、有効無効情報５
は“有効”を指しているので、メモリ診断手段７から入
力されたメモリのアドレス情報とタグ４のアドレス情報
とを比較してライン３にメモリ１の情報が存在している
のかが判定される。
は“有効”を指しているので、メモリ診断手段７から入
力されたメモリのアドレス情報とタグ４のアドレス情報
とを比較してライン３にメモリ１の情報が存在している
のかが判定される。
【００２７】例えば、入力されたメモリのアドレス情報
とタグ４のアドレス情報との差がライン３の大きさより
小さければライン３にメモリ情報が有り、等しいかまた
は大きければメモリ情報が無いことになる。
とタグ４のアドレス情報との差がライン３の大きさより
小さければライン３にメモリ情報が有り、等しいかまた
は大きければメモリ情報が無いことになる。
【００２８】この２バイト目からライン３の記憶容量の
大きさ分のメモリ情報に関しては、ライン３の中にメモ
リ１の情報が存在するのでライン３の中からメモリ情報
を取り出してメモリ診断手段７に出力する。
大きさ分のメモリ情報に関しては、ライン３の中にメモ
リ１の情報が存在するのでライン３の中からメモリ情報
を取り出してメモリ診断手段７に出力する。
【００２９】２バイト目からライン３の記憶容量の大き
さ分のメモリ情報はメモリ１からメモリ情報を取り出さ
ずにライン３から取り出すため、読出し時間は短くな
る。
さ分のメモリ情報はメモリ１からメモリ情報を取り出さ
ずにライン３から取り出すため、読出し時間は短くな
る。
【００３０】次に、キャッシュ２からメモリ診断手段７
に出力されたメモリ情報とメモリ診断をするテストデー
タとを比較し、両者が等しいか（値が正しいか）を判断
する（Ｓ２０８）。
に出力されたメモリ情報とメモリ診断をするテストデー
タとを比較し、両者が等しいか（値が正しいか）を判断
する（Ｓ２０８）。
【００３１】Ｓ２０８でＹｅｓ、つまり診断手段７の出
力メモリ情報とテストデータとが等しければ、診断単位
が終了しているかの確認を行う（Ｓ２０９）。
力メモリ情報とテストデータとが等しければ、診断単位
が終了しているかの確認を行う（Ｓ２０９）。
【００３２】また、Ｓ２０８でＮｏ、つまり等しくなけ
れば、Ｓ２１１に進んでメモリの異常を示すエラーメッ
セージをディスプレイ８に表示してＳ２１２に進む。
れば、Ｓ２１１に進んでメモリの異常を示すエラーメッ
セージをディスプレイ８に表示してＳ２１２に進む。
【００３３】Ｓ２０９の診断単位の終了の判定では、診
断単位の大きさのメモリが診断されているかを確認する
が、ここで診断単位が終了していれば（Ｙｅｓ）診断終
了の判定に進む。
断単位の大きさのメモリが診断されているかを確認する
が、ここで診断単位が終了していれば（Ｙｅｓ）診断終
了の判定に進む。
【００３４】また、Ｓ２０９でＮｏ、つまり診断単位が
終了していなければＳ２０７に戻り、次のアドレスのメ
モリの読出しを行う。
終了していなければＳ２０７に戻り、次のアドレスのメ
モリの読出しを行う。
【００３５】Ｓ２１０の診断終了の判定では、診断すべ
きすべてのメモリの診断が終了しているか、テストデー
タのパターンがすべて終了しているかを確認し、この条
件を満たしていなければ（Ｎｏ）Ｓ２０２に戻る。
きすべてのメモリの診断が終了しているか、テストデー
タのパターンがすべて終了しているかを確認し、この条
件を満たしていなければ（Ｎｏ）Ｓ２０２に戻る。
【００３６】また、Ｓ２１０でＹｅｓ、つまり上記の条
件を満たしていればＳ２１２に進み、キャッシュ２にキ
ャッシュ動作停止信号を出力して終了する（ＥＮＤ）。
件を満たしていればＳ２１２に進み、キャッシュ２にキ
ャッシュ動作停止信号を出力して終了する（ＥＮＤ）。
【００３７】Ｓ２０９またはＳ２１０でＮｏのため手順
が戻って再度Ｓ２０７を実行したときは、最初の１バイ
トのテストデータを読み出す。
が戻って再度Ｓ２０７を実行したときは、最初の１バイ
トのテストデータを読み出す。
【００３８】ここで有効無効情報５は“有効”を指して
いるので、メモリ診断手段７から入力されたアドレス情
報とタグ４のアドレス情報とを比較する。もしライン３
に情報が有ればライン３からメモリ診断手段７にメモリ
情報を出力する。また、ライン３に情報が無いときには
キャッシュ２はメモリ１からメモリ情報をライン３の大
きさ分取り出してライン３に格納する。
いるので、メモリ診断手段７から入力されたアドレス情
報とタグ４のアドレス情報とを比較する。もしライン３
に情報が有ればライン３からメモリ診断手段７にメモリ
情報を出力する。また、ライン３に情報が無いときには
キャッシュ２はメモリ１からメモリ情報をライン３の大
きさ分取り出してライン３に格納する。
【００３９】同じ情報の中の最初の１バイトをメモリ診
断手段７に出力する。このライン３にメモリ１の情報が
入るときにタグ４にはメモリ１のどの部分の情報が入っ
たのかを示すアドレス情報が入る。２バイト目以降は１
回目にＳ２０７を実行したときの処理と同様である。
断手段７に出力する。このライン３にメモリ１の情報が
入るときにタグ４にはメモリ１のどの部分の情報が入っ
たのかを示すアドレス情報が入る。２バイト目以降は１
回目にＳ２０７を実行したときの処理と同様である。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、内蔵する
ＲＯＭと、このＲＯＭに書き込まれた電源投入時の初期
化プログラムの１つであるメモリ診断手段によって診断
されるメモリと、シーケンシャルにアクセスしたメモリ
の情報がファーストインファーストアウトされその記憶
容量は診断されるメモリよりも小さく且つシーケンシャ
ルなメモリの情報を一時的に蓄える少なくとも１つのラ
インとラインに入力されるメモリの情報のアドレスを示
す少なくとも１つのタグとラインおよびタグの情報の有
効・無効を示す少なくとも１つの有効無効情報とが１対
１対１に対応するキャッシュと、メモリに異常があった
ときにそれを表示するディスプレイとを備える情報処理
装置において、メモリ診断手段はその診断の単位がキャ
ッシュに含まれるラインの大きさの総和とラインの大き
さの和以上であり、診断はメモリのアドレスの下位方向
または上位方向からシーケンシャルにアクセスして行わ
れることにより、また、メモリ診断手段はキャッシュを
初期化する第１のステップと、メモリにメモリ診断用の
テストデータを書き込む第２のステップと、テストデー
タを書き込む際にキャッシュを停止する第３のステップ
と、メモリに書き込んだテストデータを読み出す第４の
ステップと、テストデータを読み出す際にキャッシュを
動作可能とする第５のステップと、メモリに書き込んだ
テストデータとメモリから読み込んだ値とが一致するか
判断する第６のステップと、メモリに書き込んだテスト
データとメモリから読み込んだ値とが不一致のときにメ
モリの異常を示すエラーメッセージをディスプレイに表
示する第７のステップとを備えることにより、初期化Ｒ
ＯＭプログラムのメモリ診断時間を大幅に短縮すること
ができるという効果を有する。
ＲＯＭと、このＲＯＭに書き込まれた電源投入時の初期
化プログラムの１つであるメモリ診断手段によって診断
されるメモリと、シーケンシャルにアクセスしたメモリ
の情報がファーストインファーストアウトされその記憶
容量は診断されるメモリよりも小さく且つシーケンシャ
ルなメモリの情報を一時的に蓄える少なくとも１つのラ
インとラインに入力されるメモリの情報のアドレスを示
す少なくとも１つのタグとラインおよびタグの情報の有
効・無効を示す少なくとも１つの有効無効情報とが１対
１対１に対応するキャッシュと、メモリに異常があった
ときにそれを表示するディスプレイとを備える情報処理
装置において、メモリ診断手段はその診断の単位がキャ
ッシュに含まれるラインの大きさの総和とラインの大き
さの和以上であり、診断はメモリのアドレスの下位方向
または上位方向からシーケンシャルにアクセスして行わ
れることにより、また、メモリ診断手段はキャッシュを
初期化する第１のステップと、メモリにメモリ診断用の
テストデータを書き込む第２のステップと、テストデー
タを書き込む際にキャッシュを停止する第３のステップ
と、メモリに書き込んだテストデータを読み出す第４の
ステップと、テストデータを読み出す際にキャッシュを
動作可能とする第５のステップと、メモリに書き込んだ
テストデータとメモリから読み込んだ値とが一致するか
判断する第６のステップと、メモリに書き込んだテスト
データとメモリから読み込んだ値とが不一致のときにメ
モリの異常を示すエラーメッセージをディスプレイに表
示する第７のステップとを備えることにより、初期化Ｒ
ＯＭプログラムのメモリ診断時間を大幅に短縮すること
ができるという効果を有する。
【図１】本発明の一実施例を示す情報処理装置のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】図１におけるメモリ診断手段の処理の流れを示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
１ メモリ ２ キャッシュ ３ ライン ４ タグ ５ 有効無効情報 ６ ＲＯＭ ７ メモリ診断手段 ８ ディスプレイ
Claims (2)
- 【請求項１】 内蔵するＲＯＭと、このＲＯＭに書き込
まれた電源投入時の初期化プログラムの１つであるメモ
リ診断手段によって診断されるメモリと、シーケンシャ
ルにアクセスした前記メモリの情報がファーストインフ
ァーストアウトされその記憶容量は診断される前記メモ
リよりも小さく且つシーケンシャルな前記メモリの情報
を一時的に蓄える少なくとも１つのラインと前記ライン
に入力される前記メモリの情報のアドレスを示す少なく
とも１つのタグと前記ラインおよび前記タグの情報の有
効・無効を示す少なくとも１つの有効無効情報とが１対
１対１に対応するキャッシュと、前記メモリに異常があ
ったときにそれを表示するディスプレイとを備える情報
処理装置において、前記メモリ診断手段はその診断の単
位が前記キャッシュに含まれる前記ラインの大きさの総
和と前記ラインの大きさの和以上であり、診断は前記メ
モリのアドレスの下位方向または上位方向からシーケン
シャルにアクセスして行われることを特徴とする情報処
理装置におけるメモリ診断方法。 - 【請求項２】 前記メモリ診断手段は前記キャッシュを
初期化する第１のステップと、前記メモリにメモリ診断
用のテストデータを書き込む第２のステップと、前記テ
ストデータを書き込む際に前記キャッシュを停止する第
３のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テストデ
ータを読み出す第４のステップと、前記テストデータを
読み出す際に前記キャッシュを動作可能とする第５のス
テップと、前記メモリに書き込んだ前記テストデータと
前記メモリから読み込んだ値とが一致するか判断する第
６のステップと、前記メモリに書き込んだ前記テストデ
ータと前記メモリから読み込んだ値とが不一致のときに
前記メモリの異常を示すエラーメッセージを前記ディス
プレイに表示する第７のステップとを備えることを特徴
とする請求項１記載の情報処理装置におけるメモリ診断
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7150199A JPH096689A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 情報処理装置におけるメモリ診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7150199A JPH096689A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 情報処理装置におけるメモリ診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH096689A true JPH096689A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15491691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7150199A Pending JPH096689A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 情報処理装置におけるメモリ診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH096689A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634359A (ja) * | 1986-06-24 | 1988-01-09 | Nec Corp | 主記憶装置の試験方式 |
-
1995
- 1995-06-16 JP JP7150199A patent/JPH096689A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS634359A (ja) * | 1986-06-24 | 1988-01-09 | Nec Corp | 主記憶装置の試験方式 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980331 |