JPH097998A - プラズマアッシング処理装置 - Google Patents
プラズマアッシング処理装置Info
- Publication number
- JPH097998A JPH097998A JP7152995A JP15299595A JPH097998A JP H097998 A JPH097998 A JP H097998A JP 7152995 A JP7152995 A JP 7152995A JP 15299595 A JP15299595 A JP 15299595A JP H097998 A JPH097998 A JP H097998A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ashing
- microwave
- plasma
- chamber
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】マイクロ波を利用してアッシング処理室内に発
生させるプラズマの高密度領域を適宜設定して、試料を
高速・均一処理する。 【構成】マイクロ波アッシング処理装置において、マイ
クロ波発振器1によって生成されたマイクロ波をアッシ
ング処理室4に供給するマイクロ波伝播手段2に、マイ
クロ波を特定のモードに共振させる共振器24を取り付
け、この共振器 24からアッシング処理室4に、外周
高のマイクロ波電界強度分布のマイクロ波を供給し、ア
ッシングを高速で均一処理する。 【効果】ウェハ10にアッシング処理を行う際、アッシ
ング処理室4の外周部のプラズマを高密度とすることに
より、ウエハのアッシング速度を均一にすることができ
る。
生させるプラズマの高密度領域を適宜設定して、試料を
高速・均一処理する。 【構成】マイクロ波アッシング処理装置において、マイ
クロ波発振器1によって生成されたマイクロ波をアッシ
ング処理室4に供給するマイクロ波伝播手段2に、マイ
クロ波を特定のモードに共振させる共振器24を取り付
け、この共振器 24からアッシング処理室4に、外周
高のマイクロ波電界強度分布のマイクロ波を供給し、ア
ッシングを高速で均一処理する。 【効果】ウェハ10にアッシング処理を行う際、アッシ
ング処理室4の外周部のプラズマを高密度とすることに
より、ウエハのアッシング速度を均一にすることができ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマ処理装置およ
びプラズマ処理方法に係り、特にウエハにアッシングを
高速・均一に実施するのに好適なプラズマアッシング処
理装置に関するものである。
びプラズマ処理方法に係り、特にウエハにアッシングを
高速・均一に実施するのに好適なプラズマアッシング処
理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のプラズマアッシング処理装置は、
例えば、文献”半導体ドライエッチング技術(徳山巍
編著、産業図書発行、(1992)、P195)”に記
載のように、アッシング処理を施すウエハの上下あるい
は左右に対向電極を配置し、酸素プラズマ等でレジスト
を除去するものである。そのためには、アッシング中の
プラズマを高密度としなければならない。また、アッシ
ングプラズマにエネルギを供給する手段としてマイクロ
波を利用する手法もある。これらの手法により、エッチ
ング処理を施したウエハに残っているレジストを、二酸
化炭素あるいは水という形にして除去することを可能と
している。この内で、マイクロ波を利用した例として、
特開平5−267157号公報が挙げられる。
例えば、文献”半導体ドライエッチング技術(徳山巍
編著、産業図書発行、(1992)、P195)”に記
載のように、アッシング処理を施すウエハの上下あるい
は左右に対向電極を配置し、酸素プラズマ等でレジスト
を除去するものである。そのためには、アッシング中の
プラズマを高密度としなければならない。また、アッシ
ングプラズマにエネルギを供給する手段としてマイクロ
波を利用する手法もある。これらの手法により、エッチ
ング処理を施したウエハに残っているレジストを、二酸
化炭素あるいは水という形にして除去することを可能と
している。この内で、マイクロ波を利用した例として、
特開平5−267157号公報が挙げられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のプラズマ処理装
置では、マグネトロンから発振されたマイクロ波は、マ
イクロ波導波管を経由してアッシング処理室へ導入さ
れ、アッシング処理室内に導入されたマイクロ波のエネ
ルギは、アッシング処理室上部でプラズマに効率良く供
給され、アッシング処理室内に高密度プラズマが生成さ
れる。また、アッシング処理室内に生成されたプラズマ
は、拡散によってアッシング処理が行なわれるウエハ側
へ輸送される。このため、ウエハを均一にアッシング処
理するためには、アッシング処理が行なわれるウエハ上
のプラズマ密度をなるべく広い範囲で均一とし、特にウ
エハ中央部より外周部のプラズマ密度を大きくするよう
なプラズマ密度分布にしなければならない。
置では、マグネトロンから発振されたマイクロ波は、マ
イクロ波導波管を経由してアッシング処理室へ導入さ
れ、アッシング処理室内に導入されたマイクロ波のエネ
ルギは、アッシング処理室上部でプラズマに効率良く供
給され、アッシング処理室内に高密度プラズマが生成さ
れる。また、アッシング処理室内に生成されたプラズマ
は、拡散によってアッシング処理が行なわれるウエハ側
へ輸送される。このため、ウエハを均一にアッシング処
理するためには、アッシング処理が行なわれるウエハ上
のプラズマ密度をなるべく広い範囲で均一とし、特にウ
エハ中央部より外周部のプラズマ密度を大きくするよう
なプラズマ密度分布にしなければならない。
【0004】上記従来技術のようなプラズマアッシング
処理装置において、アッシング処理室内に導入するマイ
クロ波のモード等は検討されておらず、高密度のプラズ
マを作成することのみに重点がおかれていた。その結
果、生成されたプラズマを均一にウエハまで拡散するた
めに、プラズマ室とアッシング処理室との間にプラズマ
制御板等を配置し、このプラズマ制御板にプラズマを均
一に拡散するための孔を設けていた。しかし、この方法
では、高密度のプラズマを制御してアッシングに使用す
るため、供給するエネルギに対してアッシングに使用す
るプラズマは効率的に生成されていないという問題があ
った。
処理装置において、アッシング処理室内に導入するマイ
クロ波のモード等は検討されておらず、高密度のプラズ
マを作成することのみに重点がおかれていた。その結
果、生成されたプラズマを均一にウエハまで拡散するた
めに、プラズマ室とアッシング処理室との間にプラズマ
制御板等を配置し、このプラズマ制御板にプラズマを均
一に拡散するための孔を設けていた。しかし、この方法
では、高密度のプラズマを制御してアッシングに使用す
るため、供給するエネルギに対してアッシングに使用す
るプラズマは効率的に生成されていないという問題があ
った。
【0005】本発明の目的は、上記従来技術の問題点を
解決するためになされたもので、アッシング処理室内に
発生させるプラズマ高密度領域を設定でき、ウエハを高
速・均一処理することのできるプラズマアッシング処理
装置を提供することにある。
解決するためになされたもので、アッシング処理室内に
発生させるプラズマ高密度領域を設定でき、ウエハを高
速・均一処理することのできるプラズマアッシング処理
装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、アッシング
処理装置において、マイクロ波発振器によって生成され
たマイクロ波をプラズマ発生空間に供給するマイクロ波
伝播手段に、マイクロ波を特定のモードに共振させる共
振器を取り付け、該マイクロ波を用いて処理ガスをプラ
ズマ化しウエハを処理することにより、達成される。
処理装置において、マイクロ波発振器によって生成され
たマイクロ波をプラズマ発生空間に供給するマイクロ波
伝播手段に、マイクロ波を特定のモードに共振させる共
振器を取り付け、該マイクロ波を用いて処理ガスをプラ
ズマ化しウエハを処理することにより、達成される。
【0007】
【作用】マイクロ波発振器によって生成されたマイクロ
波をプラズマ発生空間に供給する途中に、マイクロ波を
特定のモードに共振させる共振器を取り付ける。この共
振器からプラズマ発生空間に至る開口断面積を徐々に変
化させることにより、プラズマ発生空間に導入させるマ
イクロ波のモードを所望のモードに設定することが可能
となる。例えば、マイクロ波の進行方向の断面において
所望の大きさ(径方向)のリング状の強い電界強度を有
するTE01モードのマイクロ波をプラズマ発生空間に
供給することができる。これにより、マイクロ波電界強
度の最も強い部分をリング状とすることで、プラズマ室
中にリング上の分布を有する高密度プラズマを発生させ
ることができる。このプラズマの拡散によってウエハ上
で中高(凸状)のプラズマ分布から周辺高(凹状)のプ
ラズマ分布へと均一性の改善がなされたプラズマ分布を
得ることができ、ウエハのアッシング処理に対応して最
適なプラズマ分布での処理を行なうことが可能となり、
ウエハを高速、均一処理することができる。
波をプラズマ発生空間に供給する途中に、マイクロ波を
特定のモードに共振させる共振器を取り付ける。この共
振器からプラズマ発生空間に至る開口断面積を徐々に変
化させることにより、プラズマ発生空間に導入させるマ
イクロ波のモードを所望のモードに設定することが可能
となる。例えば、マイクロ波の進行方向の断面において
所望の大きさ(径方向)のリング状の強い電界強度を有
するTE01モードのマイクロ波をプラズマ発生空間に
供給することができる。これにより、マイクロ波電界強
度の最も強い部分をリング状とすることで、プラズマ室
中にリング上の分布を有する高密度プラズマを発生させ
ることができる。このプラズマの拡散によってウエハ上
で中高(凸状)のプラズマ分布から周辺高(凹状)のプ
ラズマ分布へと均一性の改善がなされたプラズマ分布を
得ることができ、ウエハのアッシング処理に対応して最
適なプラズマ分布での処理を行なうことが可能となり、
ウエハを高速、均一処理することができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1及び図2を用
いて説明する。図1は、プラズマ処理装置の縦断面図で
ある。図1において、符号1はマイクロ波発振器である
マグネトロンであり、例えば、2.45GHzのマイク
ロ波を発振する。符号2はマグネトロン1から発振した
マイクロ波を伝播させるためのマイクロ波伝播手段であ
り、この場合、矩形導波管21、円矩形変換導波管2
2、円形導波管23および共振器24をマグネトロン1
に順次連結して構成されている。矩形導波管21は、こ
の場合、矩形TE11モードのマイクロ波を伝播する大
きさに設定されており、途中にマイクロ波のインピーダ
ンス整合を図るための整合器27を有している。円形導
波管23は、この場合、円形TE11モードのマイクロ
波を伝播する大きさに設定されている。共振器24は縮
小導波管26との間にスリット板25を有し、この場
合、図2に示すように放射状に配置された複数のスリッ
ト孔が形成されている。共振器24は、この場合、例え
ばTE01モードのように外周部の外周部のマイクロ波
電界強度が高いマイクロ波を共振させるとともに、スリ
ット板25から例えばTE01モードのように外周部の
外周部のマイクロ波電界強度が高いマイクロ波を放射す
るように設定されている。
いて説明する。図1は、プラズマ処理装置の縦断面図で
ある。図1において、符号1はマイクロ波発振器である
マグネトロンであり、例えば、2.45GHzのマイク
ロ波を発振する。符号2はマグネトロン1から発振した
マイクロ波を伝播させるためのマイクロ波伝播手段であ
り、この場合、矩形導波管21、円矩形変換導波管2
2、円形導波管23および共振器24をマグネトロン1
に順次連結して構成されている。矩形導波管21は、こ
の場合、矩形TE11モードのマイクロ波を伝播する大
きさに設定されており、途中にマイクロ波のインピーダ
ンス整合を図るための整合器27を有している。円形導
波管23は、この場合、円形TE11モードのマイクロ
波を伝播する大きさに設定されている。共振器24は縮
小導波管26との間にスリット板25を有し、この場
合、図2に示すように放射状に配置された複数のスリッ
ト孔が形成されている。共振器24は、この場合、例え
ばTE01モードのように外周部の外周部のマイクロ波
電界強度が高いマイクロ波を共振させるとともに、スリ
ット板25から例えばTE01モードのように外周部の
外周部のマイクロ波電界強度が高いマイクロ波を放射す
るように設定されている。
【0009】符号4はプラズマ発生空間を形成する室
で、この場合アッシング処理を兼ねたアッシング処理室
である。アッシング処理室4は導電体であり、例えば、
純度の高いアルミ等で作られ、内面は硬質アルマイト処
理等が施されており、マイクロ波の導波管の役目もして
いる。アッシング処理室4は導波管26との間に石英板
3を設けて形成され、導波管26側の空間と処理室内空
間とが隔離されている。アッシング処理室4は真空室5
に連通して接続されている。真空室5の底部には電気的
絶縁材を介して試料台8が支持されている。試料台8は
アッシング処理室4および真空室5によって形成された
空間内で、アッシング等の処理を行うウエハ10を保持
している。この場合、ウエハ10の配置面を石英板3に
対向させて設けてあり、ウエハ10と石英板3の間にウ
エハのチャージアップを防止する目的で、多孔板30を
取り付けている。
で、この場合アッシング処理を兼ねたアッシング処理室
である。アッシング処理室4は導電体であり、例えば、
純度の高いアルミ等で作られ、内面は硬質アルマイト処
理等が施されており、マイクロ波の導波管の役目もして
いる。アッシング処理室4は導波管26との間に石英板
3を設けて形成され、導波管26側の空間と処理室内空
間とが隔離されている。アッシング処理室4は真空室5
に連通して接続されている。真空室5の底部には電気的
絶縁材を介して試料台8が支持されている。試料台8は
アッシング処理室4および真空室5によって形成された
空間内で、アッシング等の処理を行うウエハ10を保持
している。この場合、ウエハ10の配置面を石英板3に
対向させて設けてあり、ウエハ10と石英板3の間にウ
エハのチャージアップを防止する目的で、多孔板30を
取り付けている。
【0010】真空室5には、この場合、試料台8上のウ
エハ10に対し、アッシング処理室4上部の内面の周囲
からアッシング処理用の処理ガスを均等に供給可能なガ
ス供給手段12が設けてあると共に、真空室5内を所定
圧力に減圧排気可能な真空排気手段11が連結してあ
る。試料台8には試料台8へのバイアス電圧印加用の電
源である、例えば、高周波電源9が接続されている。な
お、符号28は真空室5を仕切り、アッシング処理室4
に連結して処理室を構成するゲート弁である。
エハ10に対し、アッシング処理室4上部の内面の周囲
からアッシング処理用の処理ガスを均等に供給可能なガ
ス供給手段12が設けてあると共に、真空室5内を所定
圧力に減圧排気可能な真空排気手段11が連結してあ
る。試料台8には試料台8へのバイアス電圧印加用の電
源である、例えば、高周波電源9が接続されている。な
お、符号28は真空室5を仕切り、アッシング処理室4
に連結して処理室を構成するゲート弁である。
【0011】上記のように構成されたプラズマ処理装置
において、マグネトロン1から発せられたマイクロ波は
矩形導波管21,整合器27,円矩形変換導波管22,
円形導波管23を経てマイクロ波の共振器24に導かれ
る。共振器24に導かれたマイクロ波は、内部で特定の
マイクロ波のモードに共振させられるとともに、該特定
モードで放出させるスリット板25を介して導波管26
に導かれる。導波管26を通過したマイクロ波は石英板
3を介してアッシング処理室4内に導かれる。アッシン
グ処理室4内に導かれたマイクロ波は、アッシング処理
室4内の処理ガスをプラズマ化する。このとき、マグネ
トロン1から発せられたマイクロ波がマイクロ波の共振
器24および導波管26を介してアッシング処理室4内
に導入されることにより、アッシング処理室4内に生成
されるプラズマの密度及び分布は高密度で均一なものに
改善される。
において、マグネトロン1から発せられたマイクロ波は
矩形導波管21,整合器27,円矩形変換導波管22,
円形導波管23を経てマイクロ波の共振器24に導かれ
る。共振器24に導かれたマイクロ波は、内部で特定の
マイクロ波のモードに共振させられるとともに、該特定
モードで放出させるスリット板25を介して導波管26
に導かれる。導波管26を通過したマイクロ波は石英板
3を介してアッシング処理室4内に導かれる。アッシン
グ処理室4内に導かれたマイクロ波は、アッシング処理
室4内の処理ガスをプラズマ化する。このとき、マグネ
トロン1から発せられたマイクロ波がマイクロ波の共振
器24および導波管26を介してアッシング処理室4内
に導入されることにより、アッシング処理室4内に生成
されるプラズマの密度及び分布は高密度で均一なものに
改善される。
【0012】本実施例によれば、共振器で設定した特定
モードのマイクロ波を導波管を用いてプラズマ処理室に
導入させることにより、プラズマの高密度分布領域を従
来の中高状態から周辺方向の最適な位置へ変えることが
でき、アッシング処理に最適なプラズマ状態を作り出す
ことができるので、ウエハを均一に処理、また高速処理
することができる。
モードのマイクロ波を導波管を用いてプラズマ処理室に
導入させることにより、プラズマの高密度分布領域を従
来の中高状態から周辺方向の最適な位置へ変えることが
でき、アッシング処理に最適なプラズマ状態を作り出す
ことができるので、ウエハを均一に処理、また高速処理
することができる。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、プラズマ発生空間へマ
イクロ波を供給するマイクロ波伝播手段に、特定のモー
ドのマイクロ波を共振,放射させる共振器と、この共振
器からプラズマ発生空間に至る開口断面積を徐々に変化
させる導波管とを設けることにより、アッシング処理室
内に発生させるプラズマの高密度領域を適宜設定でき、
ウエハ上でのプラズマをウエハのアッシング処理に対し
て最適なプラズマ状態にできウエハを均一処理すること
ができるという効果がある。
イクロ波を供給するマイクロ波伝播手段に、特定のモー
ドのマイクロ波を共振,放射させる共振器と、この共振
器からプラズマ発生空間に至る開口断面積を徐々に変化
させる導波管とを設けることにより、アッシング処理室
内に発生させるプラズマの高密度領域を適宜設定でき、
ウエハ上でのプラズマをウエハのアッシング処理に対し
て最適なプラズマ状態にできウエハを均一処理すること
ができるという効果がある。
【図1】本発明の一実施例であるプラズマ処理装置を示
す縦断面図である。
す縦断面図である。
【図2】図1の装置におけるスリット板の詳細を示す説
明図である。
明図である。
1…マグネトロン、2…マイクロ波伝播手段、3…石英
板、4…アッシング処理室、5…真空室、8…試料台、
10…ウエハ、11…真空排気手段、12…ガス供給手
段、21…矩形導波管、22…円矩形変換導波管、23
…円形導波管、24…共振器、25…スリット板、26
…導波管、27…整合器、30…多孔板。
板、4…アッシング処理室、5…真空室、8…試料台、
10…ウエハ、11…真空排気手段、12…ガス供給手
段、21…矩形導波管、22…円矩形変換導波管、23
…円形導波管、24…共振器、25…スリット板、26
…導波管、27…整合器、30…多孔板。
Claims (3)
- 【請求項1】プラズマによりエッチング等の処理を施し
た後のウエハ上のレジストを取り除くアッシング処理を
行うプラズマ発生空間と、該プラズマ発生空間にマイク
ロ波等のエネルギを供給するプラズマ発生装置と、前記
プラズマ発生空間にマイクロ波等のエネルギを移送させ
るエネルギ伝達装置と、前記プラズマ発生空間を減圧状
態に保持することを可能とするアッシング処理室と、該
アッシング処理室にアッシング処理を行うガスを供給す
るアッシングガス供給装置と、アッシング処理を施すウ
エハを保持する試料台と、前記アッシング処理室を減圧
可能とする真空排気装置より成るプラズマ処理装置にお
いて、 前記アッシング処理室内の試料台上のプラズマ密度の分
布を、中央部より外周部で高くするように構成したこと
を特徴とするプラズマアッシング処理装置 - 【請求項2】請求項1記載において、アッシング処理を
施すガスにエネルギを供給するプラズマ発生装置にマイ
クロ波を用い、マイクロ波発振器より発振したマイクロ
波をマイクロ波伝播手段を介してプラズマ発生空間に導
き、前記マイクロ波伝播手段が、該手段を伝播するマイ
クロ波を特定のモードに共振させる共振器と、該共振器
から前記プラズマ発生空間に至る間の空間の開口断面積
が前記マイクロ波の伝播方向に徐々に変化する導波管と
を具備したことを特徴とするプラズマアッシング処理装
置。 - 【請求項3】請求項2記載において、前記共振器の前記
導波管側をスリット板としたことを特徴とするプラズマ
アッシング処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7152995A JPH097998A (ja) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | プラズマアッシング処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7152995A JPH097998A (ja) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | プラズマアッシング処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097998A true JPH097998A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15552659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7152995A Pending JPH097998A (ja) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | プラズマアッシング処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH097998A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002013249A1 (en) * | 2000-08-02 | 2002-02-14 | Tokyo Electron Limited | Radial antenna and plasma processing apparatus comprising the same |
| US10309899B2 (en) | 2003-06-04 | 2019-06-04 | Alere Switzerland Gmbh | Assay devices and methods |
-
1995
- 1995-06-20 JP JP7152995A patent/JPH097998A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002013249A1 (en) * | 2000-08-02 | 2002-02-14 | Tokyo Electron Limited | Radial antenna and plasma processing apparatus comprising the same |
| US7807019B2 (en) | 2000-08-02 | 2010-10-05 | Tokyo Electron Limited | Radial antenna and plasma processing apparatus comprising the same |
| US10309899B2 (en) | 2003-06-04 | 2019-06-04 | Alere Switzerland Gmbh | Assay devices and methods |
| US10830699B2 (en) | 2003-06-04 | 2020-11-10 | Abbott Rapid Diagnostics International Unlimited Company | Assay devices and methods |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI454186B (zh) | Plasma processing device | |
| KR970071945A (ko) | 플라즈마처리방법 및 장치 | |
| KR20020043446A (ko) | 플라즈마 프로세스 장치 | |
| JPH08274074A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH1074733A (ja) | 表面波プラズマ処理装置 | |
| JP3774965B2 (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH097998A (ja) | プラズマアッシング処理装置 | |
| CN1226777C (zh) | 等离子体装置及等离子体生成方法 | |
| JPH10294199A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
| JPH11111620A (ja) | プラズマ処理装置およびスパッタ装置 | |
| JPH11260594A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH07263188A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH1126189A (ja) | プラズマ処理方法及び装置 | |
| JPH08315998A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
| JP2920852B2 (ja) | マイクロ波プラズマ装置 | |
| JP2004031509A (ja) | マイクロ波を用いた大気圧プラズマ処理方法及び装置 | |
| JP2967681B2 (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 | |
| JP2002033307A (ja) | プラズマ発生装置及び同装置を備えたプラズマ処理装置 | |
| JPH11121198A5 (ja) | プラズマ生成装置及び基板表面処理方法 | |
| JP2001326216A (ja) | プラズマ処理装置 | |
| JPH09161993A (ja) | 2重コイルを用いた多段コイルを有するプラズマ処理装置及び方法 | |
| WO1996019096A1 (en) | Method and device for plasma processing | |
| JPH11251299A (ja) | プラズマ処理方法および装置 | |
| JPS6015931A (ja) | 反応性イオンエツチング方法 | |
| JPH07183095A (ja) | マイクロ波プラズマ処理装置 |