JPH0980100A - スペクトラムアナライザによる測定方法 - Google Patents
スペクトラムアナライザによる測定方法Info
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- JPH0980100A JPH0980100A JP23169195A JP23169195A JPH0980100A JP H0980100 A JPH0980100 A JP H0980100A JP 23169195 A JP23169195 A JP 23169195A JP 23169195 A JP23169195 A JP 23169195A JP H0980100 A JPH0980100 A JP H0980100A
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- noise
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- rbw
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｃ／ＮまたはＳ／Ｎ測定で測定時間を短縮す
る。 【解決手段】 搬送波付近のスペクトルを表示画面の左
半分に表示し、その右半分に、指定したノイズの時間経
過を時間領域表示する。検波出力を通す低域通過フィル
タの帯域幅ＶＢＷを、帯域通過フィルタの帯域幅ＲＢＷ
と同一に広げ、従来の１０倍とすることにより、測定時
間を１／１０とする。
る。 【解決手段】 搬送波付近のスペクトルを表示画面の左
半分に表示し、その右半分に、指定したノイズの時間経
過を時間領域表示する。検波出力を通す低域通過フィル
タの帯域幅ＶＢＷを、帯域通過フィルタの帯域幅ＲＢＷ
と同一に広げ、従来の１０倍とすることにより、測定時
間を１／１０とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はスペクトラムアナ
ライザを用いて、連続波やバースト波などのＳ／Ｎ比
（信号雑音比）、Ｃ／Ｎ比（搬送波レベル／特定周波数
のノイズレベル）などを測定する方法に関する。
ライザを用いて、連続波やバースト波などのＳ／Ｎ比
（信号雑音比）、Ｃ／Ｎ比（搬送波レベル／特定周波数
のノイズレベル）などを測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４にスペクトラムアナライザの一般的
構成例を示す。対象物１１の出力信号を、入力信号とし
てスペクトラムアナライザ１５に入力する。スペクトラ
ムアナライザ１５では入力信号は入力可変減衰器１６を
通り周波数混合器１７へ供給され、周波数掃引発振器１
８よりの局部信号と周波数混合され、その混合出力が帯
域通過フィルタ１９へ供給され、フィルタ１９の出力は
増幅器２１で増幅され、その増幅出力は周波数混合器２
２で局部発振器２３よりの局部信号と周波数混合され、
その中間周波数信号が帯域通過フィルタ２４で取り出さ
れ、そのフィルタ２４の出力は検波器２６で検波され、
その検波出力は低域通過フィルタ２７を通された後、Ａ
／Ｄ変換器２８でデジタル信号に変換されてバッファメ
モリ２９に格納される。制御部３１はいわゆるＣＰＵで
あり、パラメータ設定手段３２により設定されたパラメ
ータに応じて減衰器１６の減衰量の設定、タイミング制
御器３３を通じてランプ電圧発生器３４を制御すること
による掃引周波数発振器１８の制御、つまり掃引周波数
帯域の設定、フィルタ１９，２４の帯域幅ＲＢＷの設
定、フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷの設定、Ａ／Ｄ変換器
２８の標本化周期の設定などを行い、またバッファメモ
リ２９に格納されているデータの表示器３５に対する表
示制御などを行う。
構成例を示す。対象物１１の出力信号を、入力信号とし
てスペクトラムアナライザ１５に入力する。スペクトラ
ムアナライザ１５では入力信号は入力可変減衰器１６を
通り周波数混合器１７へ供給され、周波数掃引発振器１
８よりの局部信号と周波数混合され、その混合出力が帯
域通過フィルタ１９へ供給され、フィルタ１９の出力は
増幅器２１で増幅され、その増幅出力は周波数混合器２
２で局部発振器２３よりの局部信号と周波数混合され、
その中間周波数信号が帯域通過フィルタ２４で取り出さ
れ、そのフィルタ２４の出力は検波器２６で検波され、
その検波出力は低域通過フィルタ２７を通された後、Ａ
／Ｄ変換器２８でデジタル信号に変換されてバッファメ
モリ２９に格納される。制御部３１はいわゆるＣＰＵで
あり、パラメータ設定手段３２により設定されたパラメ
ータに応じて減衰器１６の減衰量の設定、タイミング制
御器３３を通じてランプ電圧発生器３４を制御すること
による掃引周波数発振器１８の制御、つまり掃引周波数
帯域の設定、フィルタ１９，２４の帯域幅ＲＢＷの設
定、フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷの設定、Ａ／Ｄ変換器
２８の標本化周期の設定などを行い、またバッファメモ
リ２９に格納されているデータの表示器３５に対する表
示制御などを行う。
【０００３】従来において、例えば連続波入力信号のＣ
／Ｎを測定する場合は測定したい信号の搬送周波数と、
この信号に対して知りたいノイズレベルの周波数ｆ
N （通常は信号の例えば変調形式に応じて規定されてい
る）を設定入力し、メモリ２９をデータより取り出し、
例えば図１Ｂに示すように表示し、かつその搬送周波数
のデータの値ＬC と、ノイズ周波数ｆN のデータの値Ｌ
N との比ＬC ／ＬN を表示画面に表示する。この場合、
ノイズレベルＬN はランダムに変化している点から、低
域通過フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷは通常は帯域通過フ
ィルタ１９，２４の帯域幅ＲＢＷの１／１０程度と比較
的狭くして測定ノイズのレベルが平均化されるようにし
ている。
／Ｎを測定する場合は測定したい信号の搬送周波数と、
この信号に対して知りたいノイズレベルの周波数ｆ
N （通常は信号の例えば変調形式に応じて規定されてい
る）を設定入力し、メモリ２９をデータより取り出し、
例えば図１Ｂに示すように表示し、かつその搬送周波数
のデータの値ＬC と、ノイズ周波数ｆN のデータの値Ｌ
N との比ＬC ／ＬN を表示画面に表示する。この場合、
ノイズレベルＬN はランダムに変化している点から、低
域通過フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷは通常は帯域通過フ
ィルタ１９，２４の帯域幅ＲＢＷの１／１０程度と比較
的狭くして測定ノイズのレベルが平均化されるようにし
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来においては、ノイ
ズレベルをなるべく正確に知るために、低域通過フィル
タ２７の帯域幅ＶＢＷを小さくしていた。一方、測定時
間、つまり周波数掃引時間ＴS は、周波数スパン（測定
周波数範囲）をＳpan （Hz) とすると次式で表せる。
ズレベルをなるべく正確に知るために、低域通過フィル
タ２７の帯域幅ＶＢＷを小さくしていた。一方、測定時
間、つまり周波数掃引時間ＴS は、周波数スパン（測定
周波数範囲）をＳpan （Hz) とすると次式で表せる。
【０００５】 ＴS ＝Ｓpan (Hz)／｛ＲＢＷ(Hz)×min(ＲＢＷ，ＶＢＷ）(Hz)×0.５｝(sec) ……… （１） min(ＲＢＷ，ＶＢＷ）はＲＢＷ，ＶＢＷの小さい方を表
す。前述したように、ＶＢＷ＝ＲＢＷ／１０程度にされ
ているため、測定時間ＴS は、ＴS ＝１０×Ｓ pan ／
｛（ＲＢＷ)2×0.５｝(sec) となり、測定時間が比較的
長いという問題があった。
す。前述したように、ＶＢＷ＝ＲＢＷ／１０程度にされ
ているため、測定時間ＴS は、ＴS ＝１０×Ｓ pan ／
｛（ＲＢＷ)2×0.５｝(sec) となり、測定時間が比較的
長いという問題があった。
【０００６】また図１Ｂに示すように表示しているた
め、ノイズは周波数ｆN の１点で表示され、そのレベル
が上下動するが、低域通過フィルタ２７の積分と表示器
３５の表示積分効果により、ほぼ一定のレベルとして表
示され、ランダムに変化する状態を知ることができなか
った。
め、ノイズは周波数ｆN の１点で表示され、そのレベル
が上下動するが、低域通過フィルタ２７の積分と表示器
３５の表示積分効果により、ほぼ一定のレベルとして表
示され、ランダムに変化する状態を知ることができなか
った。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明によれば、入力
信号のスペクトル波形を表示画面の一半部に表示すると
共に、入力信号と関連した周波数の雑音（ノイズ）を時
間領域で表示画面の他半部に表示する。
信号のスペクトル波形を表示画面の一半部に表示すると
共に、入力信号と関連した周波数の雑音（ノイズ）を時
間領域で表示画面の他半部に表示する。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１Ａにこの発明をＣ／Ｎの測定
に適用した場合の表示画面上の表示例を示す。この例で
は表示画面の左半分に、その中心に搬送波周波数を、両
端に搬送波周波数からオフセット値ｆofだけ上下に離れ
た周波数を位置させて、これら間の各スペクトラムを表
示し、つまりスペクトラム波形（周波数領域）を表示
し、表示画面の右半分に、搬送波周波数から上にオフセ
ット値ｆofだけ離れた周波数ｆNのノイズのレベルを時
間領域表示している。
に適用した場合の表示画面上の表示例を示す。この例で
は表示画面の左半分に、その中心に搬送波周波数を、両
端に搬送波周波数からオフセット値ｆofだけ上下に離れ
た周波数を位置させて、これら間の各スペクトラムを表
示し、つまりスペクトラム波形（周波数領域）を表示
し、表示画面の右半分に、搬送波周波数から上にオフセ
ット値ｆofだけ離れた周波数ｆNのノイズのレベルを時
間領域表示している。
【０００９】つまり、左半分の周波数領域でのスペクト
ラム波形表示は、入力信号について少なくともｆc ±ｆ
ofの間を周波数掃引してバッファメモリ２９に取り込ん
だデータから必要部分を取り出して表示し、また局部発
振器１８の発振周波数を取り込まれる信号周波数がｆN
＝ｆc ＋ｆofとなるように固定して、バッファメモリ２
９に取り込んだデータを読み出して、表示画面上の右半
分において、そのレベルの大きさに応じた縦軸位置で、
横軸を各データごとに順次右へずらして表示し、表示が
右端に達すると、左端から再び表示する。この左部分表
示のためのデータの取込み表示と、右部分表示のための
データの取込み表示とを交互に行う。
ラム波形表示は、入力信号について少なくともｆc ±ｆ
ofの間を周波数掃引してバッファメモリ２９に取り込ん
だデータから必要部分を取り出して表示し、また局部発
振器１８の発振周波数を取り込まれる信号周波数がｆN
＝ｆc ＋ｆofとなるように固定して、バッファメモリ２
９に取り込んだデータを読み出して、表示画面上の右半
分において、そのレベルの大きさに応じた縦軸位置で、
横軸を各データごとに順次右へずらして表示し、表示が
右端に達すると、左端から再び表示する。この左部分表
示のためのデータの取込み表示と、右部分表示のための
データの取込み表示とを交互に行う。
【００１０】この場合、低域通過フィルタ２７の帯域幅
ＶＢＷは、帯域通過フィルタ１９の帯域幅ＲＢＷとほぼ
等しくされる。このような測定を行う場合、スペクトラ
ムアナライザの各種パラメータを自動的に決定し、かつ
それを自動的に設定するようにすることもできる。つま
り、中心周波数はスペクトラム波形（搬送波部分）を取
り込むときは設定した搬送波周波数ｆC とされ、ノイズ
の時間軸表示の際の中心周波数はｆN ＝ｆ c ＋ｆofとさ
れる。これら決定された中心周波数はパラメータ値記憶
部３６に保持される。
ＶＢＷは、帯域通過フィルタ１９の帯域幅ＲＢＷとほぼ
等しくされる。このような測定を行う場合、スペクトラ
ムアナライザの各種パラメータを自動的に決定し、かつ
それを自動的に設定するようにすることもできる。つま
り、中心周波数はスペクトラム波形（搬送波部分）を取
り込むときは設定した搬送波周波数ｆC とされ、ノイズ
の時間軸表示の際の中心周波数はｆN ＝ｆ c ＋ｆofとさ
れる。これら決定された中心周波数はパラメータ値記憶
部３６に保持される。
【００１１】周波数スパンは搬送波部分の取り込み時に
は２ｆofとされ、ノイズの時間軸表示の際はゼロとされ
る。帯域通過フィルタ１９，２４の通過帯域幅ＲＢＷの
決定は次のようにする。測定搬送波部分のスペクトラム
の裾が測定周波数ｆN のノイズに影響を与えないように
ＲＢＷを決める。これはＲＢＷをパラメータとするダイ
ナミックレンジとオフセット値ｆofとの関係特性を示す
図２Ａから一意に決る。つまり図２Ａはフィルタ１９，
２４の影響で搬送波部分のスペクトラムの裾が測定ノイ
ズにかからない限界を表している。縦軸の搬送波のピー
ク値を０ｄＢとしたときのノイズレベルを表す。従っ
て、この縦軸の絶対値がダイナミックレンジとなる。ダ
イナミックレンジとオフセット値ｆofが与えられると、
この点の近くの特性曲線の帯域幅ＲＢＷの小さい方を選
択する。例えばノイズレベルが−１００ｄＢｃ／Ｈｚ、
即ちダイナミックレンジが１００ｄＢ、オフセット値ｆ
ofが４０ｋＨｚの場合は図中Ａ点となるが、この点Ａよ
り図において左の特性曲線の帯域幅３ｋＨｚをＲＢＷと
する。なおＲＢＷはこの３ｋＨｚより小さければ、スペ
クトラムの重なりの問題は生じないが周波数掃引時間
（測定時間）が長くなるため、Ａ点になるべく近い左側
の曲線の帯域幅とする。
は２ｆofとされ、ノイズの時間軸表示の際はゼロとされ
る。帯域通過フィルタ１９，２４の通過帯域幅ＲＢＷの
決定は次のようにする。測定搬送波部分のスペクトラム
の裾が測定周波数ｆN のノイズに影響を与えないように
ＲＢＷを決める。これはＲＢＷをパラメータとするダイ
ナミックレンジとオフセット値ｆofとの関係特性を示す
図２Ａから一意に決る。つまり図２Ａはフィルタ１９，
２４の影響で搬送波部分のスペクトラムの裾が測定ノイ
ズにかからない限界を表している。縦軸の搬送波のピー
ク値を０ｄＢとしたときのノイズレベルを表す。従っ
て、この縦軸の絶対値がダイナミックレンジとなる。ダ
イナミックレンジとオフセット値ｆofが与えられると、
この点の近くの特性曲線の帯域幅ＲＢＷの小さい方を選
択する。例えばノイズレベルが−１００ｄＢｃ／Ｈｚ、
即ちダイナミックレンジが１００ｄＢ、オフセット値ｆ
ofが４０ｋＨｚの場合は図中Ａ点となるが、この点Ａよ
り図において左の特性曲線の帯域幅３ｋＨｚをＲＢＷと
する。なおＲＢＷはこの３ｋＨｚより小さければ、スペ
クトラムの重なりの問題は生じないが周波数掃引時間
（測定時間）が長くなるため、Ａ点になるべく近い左側
の曲線の帯域幅とする。
【００１２】更に、次のようにしてダイナミックレンジ
を決定する。ダイナミックレンジを大きくすると、つま
りノイズレベルを小さくすると、スペクトラムアナライ
ザ内部の周波数混合器１７，２２の影響で歪やスプリア
スが生じてしまう。通常はこのような歪やスプリアスが
生じないダイナミックレンジの最大値（ノイズレベルの
最小値）の限界を予め測定により求めてその限界値に余
裕を加えてスペクトラムアナライザ内に記憶してある。
これは例えば図２Ａの破線曲線で与えられる。測定可能
な範囲は図２Ａにおいてこの破線曲線より上側の範囲で
ある。例えば、オフセット値が４０ｋＨｚの場合は４０
ｋＨｚでの破線曲線上の値（Ｂ点）１１３ｄＢよりダイ
ナミックレンジを小さく、つまりノイズレベルを−１１
３ｄＢｃ／Ｈｚより以上とする必要がある。
を決定する。ダイナミックレンジを大きくすると、つま
りノイズレベルを小さくすると、スペクトラムアナライ
ザ内部の周波数混合器１７，２２の影響で歪やスプリア
スが生じてしまう。通常はこのような歪やスプリアスが
生じないダイナミックレンジの最大値（ノイズレベルの
最小値）の限界を予め測定により求めてその限界値に余
裕を加えてスペクトラムアナライザ内に記憶してある。
これは例えば図２Ａの破線曲線で与えられる。測定可能
な範囲は図２Ａにおいてこの破線曲線より上側の範囲で
ある。例えば、オフセット値が４０ｋＨｚの場合は４０
ｋＨｚでの破線曲線上の値（Ｂ点）１１３ｄＢよりダイ
ナミックレンジを小さく、つまりノイズレベルを−１１
３ｄＢｃ／Ｈｚより以上とする必要がある。
【００１３】ＲＢＷが大きいとノイズレベルが大きくな
るから、ダイナミックレンジは小さくなる。スペクトラ
ムアナライザ内で発生するノイズをＮS とし、入力減衰
器１６の減衰量をＡＴＴとすると、ノイズレベルＮＬは
次式で表わせる。 ＮＬ＝ＮS ＋１０ log（ＲＢＷ）＋ＡＴＴ 入力できる最大の信号レベルをＳＬとすると測定限界
は、ＳＬ−ＮＬとなる。この限界線を図２Ｂのノイズレ
ベル−オフセット値特性図中に点線で示す。これよりも
ダイナミックレンジの絶対値が大きいと、信号が歪むか
ピークが表示面からはみ出す。従ってダイナミックレン
ジＤＲは、 ＤＲ＜ＳＬ−ＮS −１０ log（ＲＢＷ）−ＡＴＴ となる。これよりＲＢＷの設定値と、ダイナミックレン
ジの設定可能範囲（ただし縦軸はダイナミックレンジの
反転値であるノイズレベルの値）を図２Ｂに示す。内部
発生ノイズレベルＮS が大きくなると下限値が大きくな
るからノイズレベルの点線は上に移り、ＮS が小さくな
ると下限値が小さくなるからノイズレベルの点線は下に
移る。オフセット値ｆofに対するダイナミックレンジ設
定可能範囲は図２Ｂに斜線を施した範囲となり、ダイナ
ミックレンジを設定できる。なおこの範囲でダイナミッ
クレンジを設定すると、ＲＢＷの値が一意に求まること
にもなる。
るから、ダイナミックレンジは小さくなる。スペクトラ
ムアナライザ内で発生するノイズをＮS とし、入力減衰
器１６の減衰量をＡＴＴとすると、ノイズレベルＮＬは
次式で表わせる。 ＮＬ＝ＮS ＋１０ log（ＲＢＷ）＋ＡＴＴ 入力できる最大の信号レベルをＳＬとすると測定限界
は、ＳＬ−ＮＬとなる。この限界線を図２Ｂのノイズレ
ベル−オフセット値特性図中に点線で示す。これよりも
ダイナミックレンジの絶対値が大きいと、信号が歪むか
ピークが表示面からはみ出す。従ってダイナミックレン
ジＤＲは、 ＤＲ＜ＳＬ−ＮS −１０ log（ＲＢＷ）−ＡＴＴ となる。これよりＲＢＷの設定値と、ダイナミックレン
ジの設定可能範囲（ただし縦軸はダイナミックレンジの
反転値であるノイズレベルの値）を図２Ｂに示す。内部
発生ノイズレベルＮS が大きくなると下限値が大きくな
るからノイズレベルの点線は上に移り、ＮS が小さくな
ると下限値が小さくなるからノイズレベルの点線は下に
移る。オフセット値ｆofに対するダイナミックレンジ設
定可能範囲は図２Ｂに斜線を施した範囲となり、ダイナ
ミックレンジを設定できる。なおこの範囲でダイナミッ
クレンジを設定すると、ＲＢＷの値が一意に求まること
にもなる。
【００１４】以上のようにして求められたＲＢＷ値もパ
ラメータ値記憶部３６に保持される。低域通過フィルタ
（ビデオフィルタ）２７の帯域幅ＶＢＷをＲＢＷと等し
くする。掃引時間の設定は式（１）に min（ＲＢＷ，Ｖ
ＢＷ）としてＲＢＷを用い、Ｔ S ＝Ｓpan ／｛（ＲＢ
Ｗ）2 ×0.５｝（sec)とする。
ラメータ値記憶部３６に保持される。低域通過フィルタ
（ビデオフィルタ）２７の帯域幅ＶＢＷをＲＢＷと等し
くする。掃引時間の設定は式（１）に min（ＲＢＷ，Ｖ
ＢＷ）としてＲＢＷを用い、Ｔ S ＝Ｓpan ／｛（ＲＢ
Ｗ）2 ×0.５｝（sec)とする。
【００１５】基準レベルは搬送波ピーク値が表示画面の
上端と一致するように設定する。このようにして各種パ
ラメータを決定し、一時的にパラメータ値記憶部３６に
保持し、これらを対応する各部に対して制御部３１によ
り設定して、前述した図１Ａの表示が得られる測定を行
う。この発明はＳ／Ｎの測定にも適用できる。つまりＳ
／Ｎ測定においては、従来においては図１Ｃに示すよう
に表示し、信号部分（周波数ｆSL〜ｆSH）の各スペクト
ルのレベルをバッファメモリ２９から読み出して、その
全てを加算し、その加算値をデータ数で割算して信号部
分のレベルＬS とし、ノイズ部分の最低周波数ｆNLから
信号部分の最低周波数ｆSLと、信号部分の最高周波数ｆ
SHからノイズ部分の最高周波数ｆNHの全スペクトルのレ
ベルを加算し、その加算値をデータ数で割算する。この
割算結果ＧS を信号帯域の大きさのものとするため次の
演算を行って信号部分のレベルＬs とする。
上端と一致するように設定する。このようにして各種パ
ラメータを決定し、一時的にパラメータ値記憶部３６に
保持し、これらを対応する各部に対して制御部３１によ
り設定して、前述した図１Ａの表示が得られる測定を行
う。この発明はＳ／Ｎの測定にも適用できる。つまりＳ
／Ｎ測定においては、従来においては図１Ｃに示すよう
に表示し、信号部分（周波数ｆSL〜ｆSH）の各スペクト
ルのレベルをバッファメモリ２９から読み出して、その
全てを加算し、その加算値をデータ数で割算して信号部
分のレベルＬS とし、ノイズ部分の最低周波数ｆNLから
信号部分の最低周波数ｆSLと、信号部分の最高周波数ｆ
SHからノイズ部分の最高周波数ｆNHの全スペクトルのレ
ベルを加算し、その加算値をデータ数で割算する。この
割算結果ＧS を信号帯域の大きさのものとするため次の
演算を行って信号部分のレベルＬs とする。
【００１６】Ｌs ＝10 logＧS ＋10 log(( fSH− fSL)/
(1.2×RBW))＋2.5 ＲＢＷを１．２倍するのは、帯域通過フィルタ１９、２
４がガウシアン特性であることにもとづく補正、２．５
の加算は検波器２６の前段で行っている対数増幅による
レベル低下を補正するためである。これらの比ＬS ／Ｌ
N を測定Ｓ／Ｎとして算出表示する。
(1.2×RBW))＋2.5 ＲＢＷを１．２倍するのは、帯域通過フィルタ１９、２
４がガウシアン特性であることにもとづく補正、２．５
の加算は検波器２６の前段で行っている対数増幅による
レベル低下を補正するためである。これらの比ＬS ／Ｌ
N を測定Ｓ／Ｎとして算出表示する。
【００１７】この発明では図１Ｄに示すように信号部分
を表示画面の左半分にスペクトル波形表示し、特定のノ
イズ、例えば周波数ｆNHの成分のみを受信し、前述と同
様にして、その時間経過を表示画面の右半分に表示す
る。この場合、信号部分のピーク値となる周波数とｆNL
またはｆNHとの差をオフセット値ｆofとして、前述のよ
うにして周波数スパン、ＲＢＷ、ＶＢＷなどを決定す
る。この場合のノイズレベルＬN は次のようにして求め
る。即ち表示画面の右半分に表示した各点のデータのレ
ベル値（リニア値）を全て加算し、その加算値をデータ
数で割算し、この割算結果ＧN1のノイズがノイズ部分で
一様に分布していると仮定して、次式によりノイズレベ
ルＬN を求める。
を表示画面の左半分にスペクトル波形表示し、特定のノ
イズ、例えば周波数ｆNHの成分のみを受信し、前述と同
様にして、その時間経過を表示画面の右半分に表示す
る。この場合、信号部分のピーク値となる周波数とｆNL
またはｆNHとの差をオフセット値ｆofとして、前述のよ
うにして周波数スパン、ＲＢＷ、ＶＢＷなどを決定す
る。この場合のノイズレベルＬN は次のようにして求め
る。即ち表示画面の右半分に表示した各点のデータのレ
ベル値（リニア値）を全て加算し、その加算値をデータ
数で割算し、この割算結果ＧN1のノイズがノイズ部分で
一様に分布していると仮定して、次式によりノイズレベ
ルＬN を求める。
【００１８】ＬN ＝10 logＧN1＋10 log(( fSL− fNL＋
fNH− fSH )/RBW)) ＋2.5 このＬN と前記Ｌs とからＬs ／ＬN を測定Ｓ／Ｎとす
る。バースト波のＣ／Ｎ測定や、Ｓ／Ｎ測定にもこの発
明を適用できる。この場合は入力信号の中心周波数成分
を取り込むべく掃引周波数を固定して信号の取込みを行
い、この取り込んだデータをバッファメモリ２９から読
み出して図３Ａに示すような入力バースト信号と同期し
たトリガ信号（図３Ｂ）が作られ、このトリガ信号を利
用して表示画面上に図３Ｄに示すように、バースト波形
が時間領域で表示され、その表示波形に対し、測定した
い範囲４１をマーカで指定し、これに応じたゲート信号
４２が図３Ｃに示すように作られる。この入力バースト
信号の繰り返し周期Ｔr と、パルス幅ＴW とは利用者に
予め知られている。測定搬送波周波数ｆC 、または信号
部分を示す周波数ｆSL，ｆSHも知られていて設定入力さ
れ、各種パラメータは前述と同様に決定されるが、低域
通過フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷは１／ＴG （ＴG はゲ
ート信号４２のパルス幅）とする。
fNH− fSH )/RBW)) ＋2.5 このＬN と前記Ｌs とからＬs ／ＬN を測定Ｓ／Ｎとす
る。バースト波のＣ／Ｎ測定や、Ｓ／Ｎ測定にもこの発
明を適用できる。この場合は入力信号の中心周波数成分
を取り込むべく掃引周波数を固定して信号の取込みを行
い、この取り込んだデータをバッファメモリ２９から読
み出して図３Ａに示すような入力バースト信号と同期し
たトリガ信号（図３Ｂ）が作られ、このトリガ信号を利
用して表示画面上に図３Ｄに示すように、バースト波形
が時間領域で表示され、その表示波形に対し、測定した
い範囲４１をマーカで指定し、これに応じたゲート信号
４２が図３Ｃに示すように作られる。この入力バースト
信号の繰り返し周期Ｔr と、パルス幅ＴW とは利用者に
予め知られている。測定搬送波周波数ｆC 、または信号
部分を示す周波数ｆSL，ｆSHも知られていて設定入力さ
れ、各種パラメータは前述と同様に決定されるが、低域
通過フィルタ２７の帯域幅ＶＢＷは１／ＴG （ＴG はゲ
ート信号４２のパルス幅）とする。
【００１９】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によればノ
イズの測定、表示は時間領域で行い、そのデータを加算
して平均値をとり、かつ時間領域表示であるため、ノイ
ズのレベル変化の時間経過がよくわかり、かつ平均的レ
べルも直感的にわかり易く、従来のように低域通過フィ
ルタ２７により積分して、ノイズレベルの表示がそれ程
変動しないようにする必要がなく、低域通過フィルタ２
７の帯域幅ＶＢＷをＲＢＷと一致させることができ、測
定時間（掃引時間）が従来の１０分の１と著しく短くな
る。
イズの測定、表示は時間領域で行い、そのデータを加算
して平均値をとり、かつ時間領域表示であるため、ノイ
ズのレベル変化の時間経過がよくわかり、かつ平均的レ
べルも直感的にわかり易く、従来のように低域通過フィ
ルタ２７により積分して、ノイズレベルの表示がそれ程
変動しないようにする必要がなく、低域通過フィルタ２
７の帯域幅ＶＢＷをＲＢＷと一致させることができ、測
定時間（掃引時間）が従来の１０分の１と著しく短くな
る。
【００２０】バースト波の測定の場合は、測定時間を短
くすることはできないが、時間領域表示のためノイズの
変動状態がよくわかる。何れの場合も、信号部分または
搬送波信号付近のスペクトルも同時に波形表示され、従
来と同様の観測をすることができる。
くすることはできないが、時間領域表示のためノイズの
変動状態がよくわかる。何れの場合も、信号部分または
搬送波信号付近のスペクトルも同時に波形表示され、従
来と同様の観測をすることができる。
【図１】ＡはＣ／Ｎ測定にこの発明を適用した表示例を
示す図、Ｂは従来のＣ／Ｎ測定の表示例を示す図、Ｃは
従来のＳ／Ｎ測定の表示例を示す図、ＤはＳ／Ｎ測定に
この発明を適用した表示例を示す図である。
示す図、Ｂは従来のＣ／Ｎ測定の表示例を示す図、Ｃは
従来のＳ／Ｎ測定の表示例を示す図、ＤはＳ／Ｎ測定に
この発明を適用した表示例を示す図である。
【図２】帯域通過フィルタの帯域幅をパラメータとした
ノイズレベルまたはダイナミックレンジとオフセット値
との関係特性を示す図。
ノイズレベルまたはダイナミックレンジとオフセット値
との関係特性を示す図。
【図３】Ａはバースト信号の波形例を示す図、Ｂはこの
バースト信号に同期したトリガを示す図、Ｃはバースト
信号中の一部を取り出すためのゲート信号を示す図、Ｄ
はバースト信号の時間領域表示例を示す図である。
バースト信号に同期したトリガを示す図、Ｃはバースト
信号中の一部を取り出すためのゲート信号を示す図、Ｄ
はバースト信号の時間領域表示例を示す図である。
【図４】スペクトラムアナライザの構成例を示すブロッ
ク図。
ク図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 修 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 小管 尚 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 宮前 義明 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 笠原 寿治 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 高奥 浩明 東京都練馬区旭町１丁目32番１号 株式会 社アドバンテスト内
Claims (3)
- 【請求項１】 表示画面の一半部に、入力信号のスペク
トル波形を表示すると共に、上記表示画面の他半部に、
上記入力信号と関連した周波数の雑音を時間領域表示す
ることを特徴とするスペクトラムアナライザによる測定
方法。 - 【請求項２】 上記スペクトラムアナライザの検波出力
を通す低域通過フィルタの帯域幅ＶＢＷを、周波数変換
信号を取り出す帯域通過フィルタの帯域幅ＲＢＷとほぼ
等しくすることを特徴とする請求項１記載のスペクトラ
ムアナライザによる測定方法。 - 【請求項３】 上記帯域通過フィルタの設定可能帯域幅
をパラメータとし、測定入力信号の中心周波数と、測定
ノイズの周波数の周波数間隔と、ノイズレベルまたは入
力信号ダイナミックレンジとの関係特性を満たすよう
に、上記入力信号の中心周波数と、上記ノイズの周波数
との差から上記ＲＢＷを決定することを特徴とする請求
項１または２記載のスペクトラムアナライザによる測定
方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23169195A JPH0980100A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | スペクトラムアナライザによる測定方法 |
| US08/707,032 US6229316B1 (en) | 1995-09-08 | 1996-09-03 | Measuring method by spectrum analyzer |
| DE19635890A DE19635890C2 (de) | 1995-09-08 | 1996-09-04 | Spektralanalysator und mit ihm durchgeführte Meßverfahren |
| TW086102036A TW345618B (en) | 1995-09-08 | 1997-02-20 | Method of measurement by spectrum analyzer |
| US09/248,110 US6191571B1 (en) | 1995-09-08 | 1999-02-11 | Measuring method by spectrum analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23169195A JPH0980100A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | スペクトラムアナライザによる測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0980100A true JPH0980100A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16927495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23169195A Withdrawn JPH0980100A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | スペクトラムアナライザによる測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0980100A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006019196A1 (ja) * | 2004-08-20 | 2008-05-08 | 日本電気株式会社 | 電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路 |
| JP2009150819A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Mitsubishi Electric Corp | 受信装置 |
| JP2015042960A (ja) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | 横河電機株式会社 | 光測定装置 |
-
1995
- 1995-09-08 JP JP23169195A patent/JPH0980100A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006019196A1 (ja) * | 2004-08-20 | 2008-05-08 | 日本電気株式会社 | 電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路 |
| US7953566B2 (en) | 2004-08-20 | 2011-05-31 | Nec Corporation | Electromagnetic interference reduction calculation method, device, and program, and its electronic circuit |
| JP2009150819A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Mitsubishi Electric Corp | 受信装置 |
| JP2015042960A (ja) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | 横河電機株式会社 | 光測定装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021203 |