JPH0980092A - スペクトラムアナライザのパラメータ自動設定方法 - Google Patents

スペクトラムアナライザのパラメータ自動設定方法

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JPH0980092A
JPH0980092A JP23167895A JP23167895A JPH0980092A JP H0980092 A JPH0980092 A JP H0980092A JP 23167895 A JP23167895 A JP 23167895A JP 23167895 A JP23167895 A JP 23167895A JP H0980092 A JPH0980092 A JP H0980092A
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frequency
spectrum analyzer
rbw
noise
signal
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Takamasa Fukui
孝昌 福井
Koichi Yamashita
孝一 山下
Takahiro Yamaguchi
隆弘 山口
Osamu Aoyama
修 青山
Takashi Kosuge
尚 小管
Yoshiaki Miyamae
義明 宮前
Toshiharu Kasahara
寿治 笠原
Hiroaki Takaoku
浩明 高奥
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 分解能を決める帯域通過フィルタの帯域幅R
BWを自動的に決定する。 【解決手段】 例えばC/N測定で、その搬送波周波数
fC と測定ノイズ周波数fN との差fOf(例えば40k
Hz)とダイナミックレンジ(またはノイズレベル)
(例えば100dB)とから、RBWをパラメータとす
るダイナミックレンジでオフセット周波数fof特性曲線
図中の点Aに近い左側の曲線のパラメータ3kHzをR
BWとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はスペクトラムアナ
ライザを用いて、入力信号の搬送波信号レベルの雑音
(ノイズ)レベルに対する比、いわゆるC/Nの測定、
入力信号の信号レベルのノイズレベルに対する比、いわ
ゆるS/Nの測定、2つの基本波入力に基づき発生し、
これらと同時に入力される相互変調歪の量の測定などを
行う場合に、入力信号を周波数変換した信号を取り出す
帯域通過フィルタの帯域幅RBW、更に必要に応じて検
波出力から表示信号を取り出す低域通過フィルタの帯域
幅VBW、表示画面の中心周波数、表示画面に表示され
る周波数スパンなどのパラメータを自動的に設定するス
ペクトラムアナライザのパラメータ自動設定方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図4にスペクトラムアナライザの一般的
構成例を示す。対象物11の出力信号を、入力信号とし
てスペクトラムアナライザ15に入力する。スペクトラ
ムアナライザ15では入力信号は入力可変減衰器16を
通り周波数混合器17へ供給され、周波数掃引発振器1
8よりの局部信号と周波数混合され、その混合出力が帯
域通過フィルタ19へ供給され、フィルタ19の出力は
増幅器21で増幅され、その増幅出力は周波数混合器2
2で局部発振器23よりの局部信号と周波数混合され、
その中間周波数信号が帯域通過フィルタ24で取り出さ
れ、そのフィルタ24の出力は検波器26で検波され、
その検波出力は低域通過フィルタ27を通された後、A
/D変換器28でデジタル信号に変換されてバッファメ
モリ29に格納される。制御部31はいわゆるCPUで
あり、パラメータ設定手段32により設定されたパラメ
ータに応じて減衰器16の減衰量の設定、タイミング制
御器33を通じてランプ電圧発生器34を制御すること
による掃引周波数発振器18の制御、つまり掃引周波数
帯域の設定、フィルタ19,24の帯域幅RBWの設
定、フィルタ27の帯域幅VBWの設定、A/D変換器
28の標本化周期の設定などを行い、またバッファメモ
リ29に格納されているデータの表示器35に対する表
示制御などを行う。
【0003】このスペクトラムアナライザを用いて入力
信号のC/Nを測定する場合は次のような操作を行って
いた。 1.周波数釦を押して、中心周波数を設定する。 2.測定すべき信号(搬送波)とノイズとの周波数間隔
(オフセット値)を設定する。
【0004】3.周波数スパン釦を押して周波数スパン
(表示画面に表示される周波数範囲)を設定する。 4.搬送波のピークを画面の中心周波数と一致させる。 5.搬送波のレベルと基準レベルを一致させる。 6.ピークサーチで信号のピーク点にマーカをあわせ
る。
【0005】7.マーカをデルタマーカにする。 8.デルタマーカを測定する雑音帯に一致させる。 9.ノイズ測定を選択する。 10.ノイズレベルの表示値を読み取る。 この操作で周波数スパンを設定する際に、帯域通過フィ
ルタ19,24の帯域幅RBW(通常はその設定可能幅
が予め決められている)を試行錯誤により設定して、信
号部分とノイズ部分とが正確に波形が表示されるように
していた。
【0006】入力信号に含まれている相互変調歪の測定
においても、その2つの入力基本波と、2つの例えば3
次歪との4つが明確に表示されるようにRBWを試行錯
誤により設定していた。スペクトラムアナライザを用い
るその他の測定においても、周波数領域で波形表示して
行う場合は、RBWを試行錯誤により設定していた。R
BWの他のパラメータ、つまり低域通過フィルタ27の
帯域幅VBW,表示画面の中心周波数、表示画面に表示
される周波数範囲(周波数スパン)などの設定も従来に
おいては手動で行っていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来においては、スペ
クトラムアナライザ内の各種パラメータを手動で設定
し、特に分解能を決める帯域幅RBWの設定は、試行錯
誤により各種のものを設定してみて決定しているため、
その設定に比較的時間がかかり、かつ操作も面倒であっ
た。また従来においてはS/Nをスペクトラムアナライ
ザで測定することは行われてなく、S/N測定ができる
ことが要望されていた。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明によれ
ば、スペクトラムアナライザの帯域通過フィルタの通過
帯域幅RBWをパラメータとし、表示したい波形の周波
数間隔とノイズレベルまたは入力信号のダイナミックレ
ンジとの関係特性を満たすように、表示波形の周波数間
隔からRBWを決定し、そのRBWを帯域通過フィルタ
に自動的に設定する。
【0009】以下では請求項1の発明を前提とし、請求
項2の発明によれば、低域通過フィルタの帯域幅VBW
をRBW/10とする。請求項3の発明では周波数間隔
の3倍を周波数スパンとする。請求項4の発明では入力
信号のピークレベルを中心周波数とする。S/N測定で
は信号部分の中心周波数と、ノイズ部分の一端の周波数
との差を周波数間隔とし、C/N測定では搬送波周波数
と測定ノイズ周波数との差を周波数間隔とし、相互変調
歪量測定では、両基本波周波数の差を周波数間隔とす
る。
【0010】
【発明の実施の形態】この発明をS/N測定に適用した
実施例を説明する。例えば図1Aに示すように、表示画
面上に表示された周波数領域での波形表示において、測
定したい信号部分の最低周波数fSLと最高周波数fSH,
またノイズ部分(測定帯域幅)の最高周波数fNHと最低
周波数fNLが手動設定されることは従来と同様である。
中心周波数決定図4に示したスペクトラムアナライザに
おいて、制御部31はバッファメモリ29から入力信号
のスペクトラムを読み出して、その最大値をもつ周波数
fC を検出し、これを中心周波数とする。この中心周波
数fC はパラメータ値記憶部36に保存される。対象物
11から出力される信号の中心周波数または搬送周波数
が予め知られている場合は、その周波数を中心周波数f
C として手動設定してもよい。中心周波数fC が決定さ
れると、これが表示画面の中心となるように、入力信号
を改めて取りなおしてバッファメモリ29に格納する。
周波数スパン決定測定すべきノイズ部分(周波数帯域)
の一端、例えばfNHと、信号部分の中心周波数(ピーク
周波数)fC との周波数間隔fNH−fC はオフセット値
fofとして手動設定されてあり、このオフセット値の3
倍3fofを周波数スパンとする。この周波数スパンはパ
ラメータ値記憶部36に保存される。RBW決定次に帯
域通過フィルタ19,24の通過帯域幅RBWを決定す
る。
【0011】この場合の表示したい波形の周波数間隔は
オフセット値fofであり、信号部分のスペクトラムの裾
が測定したいノイズ部分の端に影響を与えないようにR
BWを決める。これはRBWをパラメータとするダイナ
ミックレンジとオフセット値fofとの関係特性を示す図
2Aから一意に決る。つまり図2Aはフィルタ19,2
4の影響で測定対象、つまり信号部分スペクトラムの裾
がノイズ部分の端にかからない限界を表している。縦軸
の値は信号部分のピーク値を0dBとしたときのノイズレ
ベルをわす。従って、この縦軸の絶対値がダイナミック
レンジとなる。ダイナミックレンジとオフセット値fof
が与えられると、この点の近くの特性曲線の帯域幅RB
Wの小さい方を選択する。例えばノイズレベルが−10
0dBc/Hz,即ちダイナミックレンジが100d
B,オフセット値fofが40kHzの場合は図中A点と
なるが、この点Aより図において左の特性曲線の帯域幅
3kHzをRBWとする。なおRBWはこの3kHzよ
り小さければ、スペクトラムの重なりの問題は生じない
が周波数掃引時間(測定時間)が長くなるため、A点に
なるべく近い左側の曲線の帯域幅とする。
【0012】更に、次のようにしてダイナミックレンジ
を決定する。ダイナミックレンジを大きくすると、つま
りノイズレベルを小さくすると、スペクトラムアナライ
ザ内部の周波数混合器17,22の影響で歪やスプリア
スが生じてしまう。通常はこのような歪やスプリアスが
生じないダイナミックレンジの最大値(ノイズレベルの
最小値)の限界を予め測定により求めてその限界値に余
裕を加えてスペクトラムアナライザ内に記憶してある。
これは例えば図2Aの破線曲線で与えられる。測定可能
な範囲は図2Aにおいてこの破線曲線より上側の範囲で
ある。例えば、オフセット値が40kHzの場合は40
kHzでの破線曲線上の値(B点)113dBよりダイ
ナミックレンジを小さく、つまりノイズレベルを−11
3dBc/Hzより以上とする必要がある。
【0013】RBWが大きいとノイズレベルが大きくな
るから、ダイナミックレンジは小さくなる。スペクトラ
ムアナライザ内で発生するノイズをNS とし、入力減衰
器16の減衰量をATTとすると、ノイズレベルNLは
次式で表わせる。 NL=NS +10 log(RBW)+ATT 入力できる最大の信号レベルをSLとすると測定限界
は、SL−NLとなる。この限界線を図2Bのノイズレ
ベル−オフセット値特性図中に点線で示す。これよりも
ダイナミックレンジの絶対値が大きいと、信号が歪むか
ピークが表示面からはみ出す。従ってダイナミックレン
ジDRは、 DR<SL−NS −10 log(RBW)−ATT となる。これよりRBWの設定値と、ダイナミックレン
ジの設定可能範囲(ただし縦軸はダイナミックレンジの
反転値であるノイズレベルの値)を図2Bに示す。内部
発生ノイズレベルNS が大きくなると下限値も大きくな
るからノイズレベルの点線は上に移り、NS が小さくな
ると下限値が小さくなるからノイズレベルの点線は下に
移る。オフセット値fofに対するダイナミックレンジ設
定可能範囲は図2Bに斜線を施した範囲となり、ダイナ
ミックレンジを設定できる。なおこの範囲でダイナミッ
クレンジを設定すると、RBWの値が一意にもとまるこ
とにもなる。
【0014】以上のようにして求められたRBW値もパ
ラメータ値記憶部36に保持される。低域通過フィルタ
(ビデオフィルタ)27の帯域幅VBWの下限値は経験
則からVBW=RBW/10とされる。更に基準レベル
としては、最大ピーク値が表示面の上端と一致するよう
に、入力減衰器16を制御する。これらVBW、基準レ
ベルもパラメータ値記憶部36に記憶される。
【0015】以上のようにして各種のパラメータ値が自
動的に決定された後、これらパラメータ値がそれぞれ制
御部31により対応する各部に設定され、また掃引時間
TSが周波数スパン(Hz)/{RBW(Hz)× min
(RBW,VBW)(Hz)×0.5}(sec) の演算に
より決定設定される。 min(RBW,VBW)はRBW
とVBWとの小さい方を表す。
【0016】その後、入力信号が取り込まれてバッファ
メモリ29に格納され、そのバッファメモリ29から信
号部分の最低周波数fSLと最大周波数fSHとの間の各デ
ータが取り出されて、その各レベル値(リニア値、つま
りdB値でない)が全て加算され、その加算値がデータ数
で割算される。この割算結果GS を信号帯域の大きさの
ものとするため次の演算を行って信号部分のレベルLs
とする。
【0017】Ls =10 logGS +10 log(( fSH− fSL)/
(1.2×RBW))+2.5 RBWを1.2倍するのは、帯域通過フィルタ19、2
4がガウシアン特性であることにもとづく補正、2.5
の加算は検波器26の前段で行っている対数増幅による
レベル低下を補正するためである。また測定周波数帯
域、つまりノイズ帯域の最低周波数fNLと信号部分の最
低周波数fSNとの間、また信号部分の最高周波数fSHと
ノイズ帯域の最高周波数fNHとの間の各データをバッフ
ァメモリ29から取り出され、その各レベル値(リニア
値)が全て加算され、その加算値がデータ数で割算され
る。この割算結果GN をノイズ帯域の大きさのものとす
るため、次の演算を行ってノイズ部分のレベルLN とす
る。
【0018】LN =10 logGN +10 log(( fSL− fNL+
fNH− fSH )/(1.2 ×RBW))+2.5 測定S/NとしてLS /LN が表示画面に表示される。
バースト波のS/N測定も同様にパラメータの自動設定
がなされる。この場合はその入力信号の中心周波数を取
り込むべく掃引周波数を固定して信号の取込みを行い、
これをバッファメモリ29から読み出して図3Aに示す
ような入力バースト信号と同期したトリガ信号(図3
B)が作られ、このトリガ信号を利用して表示画面上に
図3Dに示すようにバースト波形が時間領域表示され、
その表示波形に対し、測定したい範囲41をマーカで指
定し、これに応じたゲート信号42が図3Cに示すよう
に作られる。この入力バースト信号の繰返し周期T
r と、パルス幅Tw とは利用者に予め知られている。測
定帯域を示す周波数fNL,fNH,信号部分を示す周波数
fSL,fSHの入力は、連続波信号のS/N測定と同様で
あり、各種パラメータの自動設定においては、低域通過
フィルタ27の帯域幅VBWを1/TG (TG は入力バ
ースト信号中から取り出すためのゲート信号42のパル
ス幅)とする点以外は先に述べた連続波入力信号のS/
N測定の場合と同様に行われる。
【0019】次にこの発明を搬送波レベルのノイズレベ
ルに対する比、いわゆるC/Nの測定に適用する場合に
ついて述べる。この場合の中心周波数fC の決定はS/
Nの測定の場合と同様に行われる。この場合も搬送波周
波数が既知の場合はその値が中心周波数fC として手動
入力されることもある。更にノイズ周波数fN は測定し
たい変調信号の種類などにより、搬送波からどれだけ離
れた周波数におけるノイズを測定するかが規定されてい
る場合が一般であり、その測定するべきノイズ周波数f
N と搬送波周波数fC との周波数間隔がオフセット値f
ofとして入力設定される。この場合波形表示されるべ
き、2つの周波数は搬送波周波数とノイズ周波数とであ
る。
【0020】周波数スパンはS/N測定と同様に3fof
とされる。RBW、VBW、基準レベルの各決定もS/
N測定と同様に行われる。測定は決定された各パラメー
タ値を対応する部分に設定して、入力信号の取込みを行
い、バッファメモリ29中の搬送波周波数fc のデータ
のレベルLC と、ノイズ周波数fN (この例ではfc+
f0f)のデータのレベルLN とを取り出し、これらの比
LC /LN を表示画面に表示する。この場合の周波数領
域の波形表示は、例えば図1Cに示すようになる。
【0021】バースト信号のC/N測定も、前述したバ
ースト信号のS/N測定と同様にバースト波形中の一部
を取り出し、パラメータ決定も同様に行って測定するこ
とができる。2つの基本波と、その相互変調波、例えば
3次歪波とが入力され、その3次歪波レベルを測定する
場合にも、前述したこの発明によるRBW、VBWの決
定を適用できる。この場合は、2つの基本波の周波数f
1 ,f2 とを2つの表示波形の周波数とし、従って前述
したオフセット値fofとして周波数間隔f2 −f1 を用
いればよい。
【0022】図1Bに示すように、表示画面の左半分に
信号部分を周波数領域で表示し、表示画面の右半分にノ
イズ部分の特定の周波数、例えばfNHのノイズを時間領
域で表示することも行われる。この信号の周波数領域表
示のためのバッファメモリ29への取込み、ノイズの時
間領域表示のためのバッファメモリ29への取込みは交
互に行われる。この場合の信号部分の取込みにおける周
波数スパンはオフセット値fofとし、RBWは先のS/
N測定の場合と同様に決定し、VBWはRBWと等しく
する。
【0023】時間領域表示のためのノイズの取込みにお
ける周波数スパンはゼロであり、掃引発振器18の発振
周波数を、指示した周波数成分、この例ではfNH成分の
みを取り込むように固定とし、RBWは信号部分の取込
みと同一とし、VBWはRBWと等しくする。このノイ
ズデータの取込みは少なくとも表示画面の右半分の時間
軸上の各点について表示できる程度取込み、この表示画
面に表示した全データのレベル値(リニア値)を加算
し、その加算値をデータ数で割算し、この割算結果GN1
のノイズがノイズ部分で一様に分布していると仮定し
て、次式によりノイズレベルLN を求める。
【0024】LN =10 logGN1+10 log(( fSL− fNL+
fNH− fSH )/RBW)) +2.5 信号部分のレベルLS は先に述べたようにして行い、L
S /LN を求める。このような測定ではVBWが図1A
に示した表示測定に対し10倍となり、従って掃引時間
(測定時間)が前記掃引時間の演算式より明らかなよう
に10分の1になる。
【0025】この図1Bに示した表示測定は、C/Nの
測定にも適用される。更にバースト波のS/N,C/N
の測定にも適用されるが、これらの場合のVBWは1/
TGとされ、測定時間の短縮にはならない。以上述べた
パラメータの自動決定、その決定されたパラメータの自
動設定は、スペクトラムアナライザを用いる測定の一般
に適用できる。
【0026】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によるれば
スペクトラムアナライザの各種パラメータが自動的に決
定され、特にRBWが自動的に決定され、従来のように
試行錯誤により決める場合と比較して、短時間で決定で
き、かつ利用者も面倒な操作をする必要がない。またス
ペクトラムアナライザを用いてS/Nの測定を行うこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】AはS/N測定時の表示画面の表示例を示す
図、Bは信号部分を周波数領域表示し、ノイズを時間領
域表示した例を示す図、CはC/N測定時の表示画面の
表示例を示す図である。
【図2】RBWをパラメータとするノイズレベルとオフ
セット値との関係特性を示す図。
【図3】Aはバースト信号の波形例を示す図、Bはこの
バースト信号と同期したトリガを示す図、Cはバースト
信号中の一部を取り出すためのゲート信号の例を示す
図、Dはバースト信号の時間領域表示例を示す図であ
る。
【図4】スペクトラムアナライザの構成例を示すブロッ
ク図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 修 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 小管 尚 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 宮前 義明 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 笠原 寿治 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内 (72)発明者 高奥 浩明 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 株式会 社アドバンテスト内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スペクトラムアナライザにより周波数領
    域で波形表示する際のパラメータを設定する方法におい
    て、 上記スペクトラムアナライザの帯域通過フィルタの通過
    帯域幅RBWをパラメータとし、表示したい波形の周波
    数間隔とノイズレベルまたは入力信号のダイナミックレ
    ンジとの関係特性を満たすように、上記表示波形の周波
    数間隔から上記RBWを決定し、 そのRBWを上記帯域通過フィルタに自動的に設定する
    ことを特徴とするスペクトラムアナライザのパラメータ
    自動設定方法。
  2. 【請求項2】 上記スペクトラムアナライザの検波器出
    力が通される低域通過フィルタの帯域幅VBWをRBW
    /10とすることを特徴とする請求項1記載のスペクト
    ラムアナライザのパラメータ自動設定方法。
  3. 【請求項3】 上記周波数間隔の3倍を周波数スパンす
    ることを特徴とする請求項1または2記載のスペクトラ
    ムアナライザのパラメータ自動設定方法。
  4. 【請求項4】 入力信号のピークレベルの周波数を表示
    中心周波数とすることを特徴とする請求項1乃至3の何
    れかに記載のスペクトラムアナライザのパラメータ自動
    設定方法。
  5. 【請求項5】 S/N測定する際に、信号部分の中心周
    波数と、ノイズ部分の一端の周波数とを上記周波数間隔
    とすることを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載
    のスペクトラムアナライザのパラメータ自動設定方法。
  6. 【請求項6】 C/N測定する際に、入力信号搬送波周
    波数と測定ノイズ周波数との間隔を上記周波数間隔とす
    ることを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載のス
    ペクトラムアナライザのパラメータ自動設定方法。
  7. 【請求項7】 上記相互変調歪量を測定する際に、その
    入力信号の二つの基本波の周波数と、これと隣接する相
    互変調波の周波数との差を上記周波数間隔とすることを
    特徴とする請求項1または2記載のスペクトラムアナラ
    イザのパラメータ自動設定方法。
  8. 【請求項8】 上記スペクトラムアナライザ内で生じる
    歪やスプリアスが問題とならない限界により決まるダイ
    ナミックレンジ、及びノイズレベルと最大入力信号レベ
    ルとから決まる限界ダイナミックレンジの何れよりも入
    力信号のダイナミックレンジを小とすることを特徴とす
    る請求項1乃至7の何れかに記載のスペクトラムアナラ
    イザのパラメータ自動設定方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118534397A (zh) * 2024-06-04 2024-08-23 苏州徴格半导体有限公司 一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质

Cited By (1)

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CN118534397A (zh) * 2024-06-04 2024-08-23 苏州徴格半导体有限公司 一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质

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