JPH10106432A - 厚膜パターンの形成方法 - Google Patents
厚膜パターンの形成方法Info
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- JPH10106432A JPH10106432A JP8260606A JP26060696A JPH10106432A JP H10106432 A JPH10106432 A JP H10106432A JP 8260606 A JP8260606 A JP 8260606A JP 26060696 A JP26060696 A JP 26060696A JP H10106432 A JPH10106432 A JP H10106432A
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Abstract
ストの除去を簡単,確実にする。 【解決手段】余剰ペーストを基板50上から除去する前
に、樹脂層1表面、もしくは基板50の端面に接して余
剰ペースト受容部材となる保護フィルム膜2aや余剰ペ
ースト受容基板10を設け、ペースト充填に際して生じ
た余剰ペーストをこれら余剰ペースト受容部材上に移動
させたのち、余剰ペースト受容部材を基板50から取り
除くことで、余剰ペーストの除去を行う。
Description
示装置、ガス放電装置などにおいて厚膜パターンを形成
する方法に関する。
して注目されているプラズマディスプレイには、図3に
示すような構成とされたものがある。このプラズマディ
スプレイは、互いに対向して配置された背面基板50と
前面基板51を備えており、さらには、背面基板50と
前面基板51との間に隔壁49を介装している。背面基
板50には、画素毎に設けられた放電電極53と、放電
電極53に沿って図中、画素の垂直1ライン毎に設けら
れた陽極母線54と、陽極母線54と放電電極53とを
接続する抵抗体55とが形成され、その上に絶縁層52
が形成されている。絶縁層52には、放電空間となるコ
ンタクト穴56が形成されている。コンタクト穴56は
放電電極53上に形成されている。前面基板51は透明
基板からなっており、前面基板51の絶縁層側面には陰
極57が形成されている。陰極57は図中、画素の水平
ライン毎に設けられている。陰極57はコンタクト穴5
6と位置合わせされている。
イにおいても、昨今の高画質,大画面要望に応えるた
め、650μmピッチといった微細な画素形成ピッチで
対角20インチ以上の大画面を製造することが求められ
ている。
55の製法が上述した要求に応えるうえでの隘路となっ
ている。すなわち、最も一般的な厚膜パターン(抵抗体
55)の形成方法であるスクリーン印刷法では、スクリ
ーンが大型化するほどスクリーンの非線形な伸縮が甚だ
しくなり、作製した厚膜パターンの位置ズレ、膜厚や形
状のバラツキなどが大きくなってしまう。そのため、ス
クリーン印刷法により、対角20インチ以上の大画面
に、650μmピッチといった微細な形成ピッチで抵抗
体55を作製することは困難であった。
開平3−57138号公報に開示された厚膜リフトオフ
法が注目されている。以下、厚膜リフトオフ法を図4を
参照して説明する。
ルコータ法などにより、基板50’の上に感光性樹脂層
60を形成する。次に、図4(b)に示すように、厚膜
素子(抵抗体55)を形成する領域に対応した遮光領域
61aを有する遮光マスク61を用意し、この遮光マス
ク61を基板50’上に配置する。そして、遮光マスク
61越しに、感光性樹脂層60に紫外線を照射する。次
に、図4(c)に示すように、所定の現像液を用いて現
像することで、感光性樹脂層60中に開口部62を形成
する。
樹脂層60の開口部62に、厚膜形成用のペースト63
をスキージ64を用いて充填する。そして、図4(e)
に示すように、スキージ64を基板50’の片側に移動
させたのち、図4(f)に示すように、余剰ペースト6
3aを基板50’から除去する。さらに、図4(g)に
示すように、基板50’から感光性樹脂層60を取り除
くことで、基板50’に厚膜パターン55’を形成す
る。
成する厚膜リフトオフ法では、印刷画面を大型化して
も、感光性樹脂層60は非線形な伸縮を生じさせないの
で、対角20インチ以上の大画面に、650μmピッチ
といった微細な形成ピッチで抵抗体55を作製すること
が可能となった。
フトオフ法による厚膜パターンの形成方法では、基板5
0’から余剰ペースト63aを手作業で除去するため、
余剰ペースト63aを完全に除去することができず、取
り切れなかった余剰ペースト63aを残したまま、樹脂
層60の除去を行わねばならず、そのために、次のよう
な課題があった。
再利用が不十分とならざるを得ない。抵抗体ペーストと
いった厚膜形成用ペースト63は高価な材料であり、厚
膜形成用ペーストの再利用が不十分であると、その分、
製造コストが上昇する。
て、ペースト63が付着してはいけない基板50’の部
分に余剰ペースト63aが付着し、このことが特性劣化
の原因となる。具体的には、この厚膜パターン形成方法
をプラズマディスプレイの製造に採用すると、クロスト
ークや不要な輝点などが発生する原因となる可能性があ
る。
おいて、余剰ペースト63aが感光性樹脂層60を除去
する薬品や容器等を汚染させるので、薬品や容器の寿命
を縮め、このことが製造コストを上昇させる原因とな
る。
決するために、基板上に開口部を有する被覆層を形成し
たうえで、前記開口部に厚膜形成用のペーストを充填
し、さらに、ペースト充填により生じた余剰ペーストを
基板上から除去したうえで、被覆層を基板から取り除く
ことで、基板上に厚膜パターンを形成する厚膜パターン
の形成方法において、余剰ペーストを基板上から除去す
る前に、被覆層表面、もしくは基板端面に接して余剰ペ
ースト受容部材を設け、ペースト充填に際して生じた前
記余剰ペーストを余剰ペースト受容部材上に移動させた
のち、余剰ペースト受容部材を基板から取り除くことに
特徴を有している。
は、基板上に開口部を有する被覆層を形成したうえで、
開口部に厚膜形成用のペーストを充填し、さらに、ペー
スト充填により生じた余剰ペーストを基板上から除去し
たうえで、被覆層を基板から取り除くことで、基板上に
厚膜パターンを形成する厚膜パターンの形成方法におい
て、余剰ペーストを基板上から除去する前に、被覆層表
面、もしくは基板端面に接して余剰ペースト受容部材を
設け、ペースト充填に際して生じた余剰ペーストを余剰
ペースト受容部材上に移動させたのち、余剰ペースト受
容部材を基板から取り除いており、これにより次のよう
な作用を有する。すなわち、余剰ペーストを乗せた状態
で余剰ペースト受容部材を取り除くので、余剰ペースト
は確実に被覆層上から除去される。しかも、余剰ペース
ト受容部材を基板から分離させた状態で、余剰ペースト
受容部材から余剰ペーストを取り除くことができるので
余剰ペーストを確実に回収することができるうえ、余剰
ペーストを取り除く作業中、余剰ペーストで基板等が汚
れる恐れもない。
1に係る厚膜パターンの形成方法において、余剰ペース
トを基板上から除去する前に、被覆層上に薄膜体を形成
し、この薄膜体を余剰ペースト受容部材として用いてお
り、これにより次のような作用を有する。すなわち、薄
膜体からなる余剰ペースト受容部材に余剰ペーストを移
動させるので、余剰ペーストを確実に余剰ペースト受容
部材上に移動させることができる。しかも、薄膜体から
なる余剰ペースト受容部材を基板から分離した状態で、
余剰ペースト受容部材から余剰ペーストを取り除くこと
ができるので余剰ペーストを確実に回収することができ
るうえ、余剰ペーストの取り除き作業中、余剰ペースト
で基板等が汚れる恐れもない。
1に係る厚膜パターンの形成方法において、余剰ペース
トを基板上から除去する前に、平板材を前記基板の端面
に接した状態に配設し、この平板材を余剰ペースト受容
部材として用いており、これにより次のような作用を有
する。すなわち、基板の端面に接した状態に配設した平
板からなる余剰ペースト受容部材に余剰ペーストを移動
させるので、余剰ペーストを確実に余剰ペースト受容部
材上に移動させることができる。しかも、平板材からな
る余剰ペースト受容部材を基板から分離した状態で、余
剰ペースト受容部材から余剰ペーストを取り除くことが
できるので余剰ペーストを確実に回収することができる
うえ、余剰ペーストの取り除き作業中、余剰ペーストで
基板等が汚れる恐れもない。
化した実施の形態について説明する。
55の製造において本発明を実施したものである。以
下、抵抗体55の製造の各工程を、図1を参照して説明
する。
程である。すなわち、まえもって、背面基板50に、例
えば膜厚5μm,電極幅100μm、電極ギャップ10
0μmの形状を有する陽極母線54と放電電極53とを
形成しておく。陽極母線54と放電電極53とはスパッ
タや蒸着といった製法で形成することができる。
覆われた感光性樹脂層材を用意する。感光性樹脂層材と
しては、例えば、膜厚10μmの保護フィルム膜2で被
覆された膜厚50μmのネガ型の固体状感光性樹脂層材
(東京応化株式会社製、型番α−450T)を用いるこ
とができる。
た感光性樹脂層材をラミネート装置(図示省略)を用い
て背面基板50に貼着させて、感光性樹脂層1を形成す
る。この際、感光性樹脂層材は、背面基板50上におい
て、保護フィルム膜2が露出する向きに貼着する。
性樹脂層1と保護フィルム膜2とを同時に積層形成する
のであるが、この他、保護フィルム膜2を有しない固体
状感光性樹脂層材を背面基板50に配設することで感光
性樹脂層1’を形成した後、感光性樹脂層1’をポリエ
チレンテレフタレート(PET)やポリプロピレンから
なる保護フィルム2’によって被覆するようにしてもよ
い。また、感光性樹脂層としては、上述したように、取
り扱いの容易な固体状感光性樹脂材を用いるほか、液状
感光性樹脂層材を用いてもよい。液状感光性樹脂層材を
用いる場合には、液状感光性樹脂層材を背面基板50に
塗布した後に乾燥させることにより、感光性樹脂層1を
形成する。
一部を、現像液に不溶な物質に変化させる工程である。
すなわち、感光性樹脂層1を形成した背面基板50を約
80℃で20分間プリベークした後、図1(b)に示す
ように、ガラス製の遮光マスク3を介して露光量(25
mJ/cm2)で紫外線を照射する。遮光マスク3には
感光性樹脂層1の不要な部分に対応した遮光領域3aが
形成されており、紫外線を照射された感光性樹脂層1で
は、遮光領域3aに対向する層領域1aは、そのままの
樹脂状態(現像液に溶解する状態)を維持する一方、遮
光領域3a以外の遮光マスク3の領域に対向する層領域
1bは、現像液に不溶な物質に化学変化する。
スト受容フィルムを形成する工程である。すなわち、図
1(c)に示すように、層領域1aから十分離れた保護
フィルム2のフィルム領域2aとそれ以外のフィルム領
域とをカッター等により切断したのち、フィルム領域2
a以外の保護フィルム膜2を感光性樹脂層1上から除去
する。保護フィルム2の切除により残存させたフィルム
領域2aが、余剰ペースト受容部材となる。
てもよい。すなわち、上述した第1工程を行ったのち、
まず第3工程を行い、そのうえで第2工程を行うように
してもよい。
の切断動作を、余分な保護フィルム2の除去動作の直前
に行うように説明したが、保護フィルム2の切断動作と
除去動作とを分割し、上述した第1工程の直後に切断動
作を行う一方、第2工程の直後に除去動作を行うように
してもよい。さらには、切断しやすいような切目等の加
工を予め保護フィルム2に施すことで、保護フィルム2
の切断動作を削除してもよい。
光性樹脂層1に形成する工程である。すなわち、図1
(d)に示すように、フィルム領域2aを残存させた背
面基板50に対し、現像液(0.5wt%の炭酸水素ナ
トリウム水溶液)を噴霧し、感光性樹脂層1のうち紫外
線露光されていない層領域1aのみを選択的に除去す
る。層領域1aを除去した後、純水を噴霧することによ
り、残余の現像液を背面基板50上から洗い流す。これ
により、感光性樹脂層1に開口部1cを形成する。
膨潤などの変化がある場合には、後述する抵抗体ペース
ト4の除去動作に支障を来す。そのような場合には、例
えば、次のようにすればよい。すなわち、現像液を塗布
する感光性樹脂層1の層領域1aからフィルム領域2a
をできるだけ離間させたうえで、層領域1a上に選択的
に現像液を噴霧することで、現像液がフィルム領域2a
に接触しないようにすればよい。
線硬化樹脂によるパターニングの例(いわゆるネガ型)
を述べた。紫外線硬化樹脂の利用は、容易に厚膜パター
ニングが形成できる点でもっとも望ましいが、本発明
は、紫外線分解樹脂(いわゆるポジ型)によるパターニ
ングや、電子線によるパターニング、熱によるパターニ
ングなど、樹脂をパターニングできれば、パターニング
の手法は問わない。
ト4(例えば、イー・エス・エル社製、品番3100)
を充填する工程である。すなわち、図1(e)に示すよ
うに、開口部1cを挟んでフィルム領域2aと対向する
感光性樹脂層1の表面部位に抵抗体ペースト4を置き、
さらに開口部1cに対して抵抗体ペースト4よりも離間
する側にスキージ5の端部を配置する。
ジ5をゆっくりとした一定の速度で、感光性樹脂層1の
表面を開口部1cに向かって掃引させて、開口部1cに
抵抗体ペースト4を充填する。そして、開口部1cを抵
抗体ペースト4によって充填したのち、スキージ5の掃
引を継続して余剰の抵抗体ペースト4aをフィルム領域
2a上まで移動させる。
去する工程である。すなわち、スキージ5によって余剰
の抵抗体ペースト4aをフィルム領域2aまで移動させ
たのち、図1(g)に示すように、フィルム領域2aを
余剰の抵抗体ペースト4aごと背面基板50から除去す
る。
ら、背面基板50及びその周辺部を余剰の抵抗体ペース
ト4aにより汚すことがない。また、余剰の抵抗体ペー
スト4aは、フィルム領域2aごと確実に背面基板50
上から取り去ることができるうえ、背面基板から取り去
ったのち、余剰の抵抗体ペースト4a自体をフィルム領
域2aから分離することも容易にかつ確実に行うことが
可能であり、除去した余剰の抵抗体ペースト4aの再利
用効率は高まる。しかも、フィルム領域2aから余剰の
抵抗体ペースト4aを取り除く作業中において背面基板
50等が余剰の抵抗体ペースト4aによって汚れる恐れ
もない。
工程である。すなわち、図1(h)に示すように、フィ
ルム領域2aを余剰の抵抗体ペースト4aごと背面基板
50から取り去ったのち、感光性樹脂層1を選択的に剥
離させる任意の剥離液を噴霧することによって残存して
いる感光性樹脂層1(層領域1b)を除去する。このと
き、余剰の抵抗体ペースト4aが背面基板50およびそ
の周辺部に残存していないので、感光性樹脂層除去工程
に利用する薬品、容器等が余剰の抵抗体ペースト4aで
汚染することはない。
ースト4を焼成する工程である。すなわち、抵抗体ペー
スト4がパターニングされた背面基板50を580℃に
焼成処理することで、抵抗体ペースト4を抵抗体55に
する。これにより全工程は終了する。
5のパターニングのために望ましい工程であるが、本発
明に必須の工程ではなく、必要に応じ、第5工程で終了
してもかまわない。
去できる感光性樹脂層1を形成して本発明を実施してい
たが、特定の溶解液によって溶解することで除去でき
る、いわゆる溶解タイプの感光性樹脂層や、高温加熱に
よる消失によって除去できる、いわゆるバーンアウトタ
イプの感光性樹脂層など、種々の感光性樹脂層を形成す
ることで本発明を実施することができるのはいうまでも
ない。なお、バーンアウトタイプの感光性樹脂層を用い
れば、第7工程を省略することができる。
ズマディスプレイの抵抗体55の製造において本発明を
実施したものである。以下、抵抗体55の製造の各工程
を、図2を参照して説明する。
程である。
5μm,電極幅100μm、電極ギャップ100μmの
形状を有する陽極母線54と放電電極53とを形成して
おく。陽極母線54と放電電極53とはスパッタや蒸着
といった製法で形成することができる。
覆われた感光性樹脂層材を用意する。感光性樹脂層材と
しては、第1の実施の形態と同様、膜厚10μmの保護
フィルム膜2で被覆された膜厚50μmのネガ型の固体
状感光性樹脂層材(東京応化株式会社製、型番α−45
0T)を用いることができる。
た感光性樹脂層材をラミネート装置(図示省略)を用い
て背面基板50に貼着させて、感光性樹脂層1を形成す
る。この際、感光性樹脂層材は、背面基板50上におい
て、保護フィルム膜2が露出する向きに貼着する。な
お、本実施の形態では、保護フィルム膜2は必ずしも必
要としないため、保護フィルム膜2を有しない感光性樹
脂層材を用いてもよいし、液状感光性樹脂層材を塗布し
た後に乾燥させることによって得られる感光性樹脂層を
利用してもかまわない。
一部を、現像液に不溶な物質に変化させる工程である。
すなわち、感光性樹脂層1を形成した背面基板50を約
80℃で20分間プリベークした後、図2(b)に示す
ように、ガラス製の遮光マスク3を介して紫外線を露光
量(25mJ/cm2)で照射する。遮光マスク3には
感光性樹脂層1の不要な部分に対応した遮光領域3aが
形成されている。そのため、紫外線を照射された感光性
樹脂層1では、遮光領域3aに対向する層領域1aは、
そのままの樹脂状態(現像液に溶解する状態)を維持す
る一方、遮光領域3a以外の遮光マスク3の領域に対向
する層領域1bは、現像液に不溶な物質に化学変化す
る。
わち、本実施の形態では、図2(c)に示すように、保
護フィルム2全体を感光性樹脂層1から取り除く。な
お、保護フィルム2を有しない感光性樹脂層材を用いた
り、液状感光性樹脂層材の塗布により感光性樹脂層1を
形成する場合には、この工程は省略できる。
脂層1に形成する工程である。すなわち、図2(d)に
示すように、背面基板50上の感光性樹脂層1に対し、
現像液(0.5wt%の炭酸水素ナトリウム水溶液)を
噴霧し、感光性樹脂層1のうち紫外線露光されていない
層領域1aのみを選択的に除去する。層領域1aを除去
した後、純水を噴霧することにより、残余の現像液を背
面基板50上から洗い流す。これにより、感光性樹脂層
1に開口1cを形成する。
線硬化樹脂によるパターニングの例(いわゆるネガ型)
を述べた。紫外線硬化樹脂の利用は、容易に厚膜パター
ニングが形成できる点でもっとも望ましいが、紫外線分
解樹脂(いわゆるポジ型)によるパターニングや、電子
線によるパターニング、熱によるパターニングなど、樹
脂をパターニングできれば、パターニングの手法は問わ
ない。
剰ペースト受容基板10を、背面基板50の端面に配置
する工程である。すなわち、図2(e)に示すように、
表面が平滑でかつ高い耐薬品性を有する余剰ペースト受
容基板10を、基板表面が背面基板50上の感光性樹脂
層1と同一面となるように配置する。このとき、余剰ペ
ースト受容基板10は、背面基板50の端面に接するこ
とが望ましい。
ト4(例えば、イー・エス・エル社製、品番3100)
を充填する工程である。すなわち、図2(e)に示すよ
うに、開口部1cを挟んで余剰ペースト受容基板10と
対向する感光性樹脂層1の表面位置に抵抗体ペースト4
を置き、さらに開口部1cに対して抵抗体ペースト4よ
りも離間する側にスキージ5の端部を配置する。
ジ5をゆっくりとした一定の速度で、感光性樹脂層1の
表面を開口部1cに向かって掃引させて、開口部1cを
抵抗体ペースト4によって充填する。開口部1cを抵抗
体ペースト4によって充填したのち、スキージ5の掃引
を継続して余剰の抵抗体ペースト4aを余剰ペースト受
容基板10上まで移動させる。
0を除去する工程である。すなわち、スキージ5によっ
て余剰の抵抗体ペースト4aを余剰ペースト受容基板1
0まで移動させたのち、図2(g)に示すように、余剰
ペースト受容基板10を余剰の抵抗体ペースト4aごと
背面基板50から取り去る。
ら、背面基板50及びその周辺部を余剰の抵抗体ペース
ト4aにより一切汚すことない。さらには、余剰の抵抗
体ペースト4aは、余剰ペースト受容基板10ごと確実
に背面基板50上から取り去ることができるうえ、背面
基板50から取り去ったのち、余剰の抵抗体ペースト4
a自体を余剰ペースト受容基板10から分離することも
容易にかつ確実に行うことが可能であり、除去した余剰
の抵抗体ペースト4aの再利用効率は高まる。しかも、
フィルム領域2aから余剰の抵抗体ペースト4aを取り
除く作業中において背面基板50等が余剰の抵抗体ペー
スト4aによって汚れる恐れもない。
工程である。すなわち、図2(h)に示すように、余剰
ペースト受容基板10を余剰の抵抗体ペースト4aごと
背面基板50から取り去ったのち、感光性樹脂層1を選
択的に剥離させる任意の剥離液を噴霧することによって
残存している感光性樹脂層1(層領域1b)を除去す
る。このとき、背面基板50及びその周辺部が余剰の抵
抗体ペースト4aによりほとんど汚れていないので、感
光性樹脂層除去工程に利用する薬品、容器等の汚染も起
きない。
ースト4を焼成する工程である。すなわち、抵抗体ペー
スト4がパターニングされた背面基板50を580℃に
焼成処理することで、抵抗体ペースト4を抵抗体55に
する。これにより全工程は終了する。
形成において本発明を実施していたが、本発明は、電
極、誘電体、絶縁体、半導体など、あらゆる厚膜パター
ニングに適用可能であることはいうまでもない。
しくは基板端面に接して設けた余剰ペースト受容部材に
余剰ペーストを移動させたうえで、余剰ペースト受容部
材を基板から取り除くので、余剰のペーストの除去がき
わめて容易になると同時に、基板及び基板周辺部の汚染
を防止することが可能になり、高いペースト利用効率
と、高い作業効率という、顕著な効果が得られる。
ーン(抵抗体55)の形成方法の各工程を示す断面図で
ある。
ーン(抵抗体55)の形成方法の各工程を示す断面図で
ある。
面図である。
ある。
電極 54 陽極母線 55 抵抗
体 1 感光性樹脂層 1c 開口部 2 保護フィルム膜 3 遮光マ
スク 4 抵抗体ペースト 4a 余剰の
抵抗体ペースト 10 余剰ペースト受容基板
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に、開口部を有する被覆層を形成
したうえで、開口部に厚膜形成用ペーストを充填し、さ
らに、ペースト充填により生じた余剰ペーストを基板上
から除去したうえで、被覆層を基板から取り除くこと
で、基板上に厚膜パターンを形成する厚膜パターンの形
成方法であって、 余剰ペーストを基板上から除去する前に、被覆層表面、
もしくは基板端面に接して余剰ペースト受容部材を設
け、ペースト充填に際して生じた余剰ペーストを余剰ペ
ースト受容部材上に移動させたのち、余剰ペースト受容
部材を基板から取り除くことを特徴とする厚膜パターン
の形成方法。 - 【請求項2】 請求項1記載の厚膜パターンの形成方法
であって、余剰ペーストを基板上から除去する前に、被
覆層上に薄膜体を配置し、この薄膜体を余剰ペースト受
容部材として用いることを特徴とする厚膜パターンの形
成方法。 - 【請求項3】 請求項1記載の厚膜パターンの形成方法
であって、余剰ペーストを基板上から除去する前に、平
板材を基板の端面に接した状態に配設し、この平板材を
余剰ペースト受容部材として用いることを特徴とする厚
膜パターンの形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26060696A JP3655026B2 (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 厚膜パターンの形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26060696A JP3655026B2 (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 厚膜パターンの形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10106432A true JPH10106432A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3655026B2 JP3655026B2 (ja) | 2005-06-02 |
Family
ID=17350276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26060696A Expired - Fee Related JP3655026B2 (ja) | 1996-10-01 | 1996-10-01 | 厚膜パターンの形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3655026B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7284317B2 (en) | 2003-11-05 | 2007-10-23 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Method of producing printed circuit board with embedded resistor |
| KR100909225B1 (ko) | 2008-09-03 | 2009-07-23 | 정삼배 | 입체 인쇄 방법 |
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1996
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