JPH10134430A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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- JPH10134430A JPH10134430A JP29090596A JP29090596A JPH10134430A JP H10134430 A JPH10134430 A JP H10134430A JP 29090596 A JP29090596 A JP 29090596A JP 29090596 A JP29090596 A JP 29090596A JP H10134430 A JPH10134430 A JP H10134430A
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- magnetization
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Abstract
(57)【要約】
【課題】オーバーライトのための昇温時にint.層を
TMリッチとして交換結合力が強く作用するようにし、
確実かつ充分なオーバーライト動作を可能とする。 【解決手段】M層はTMリッチの垂直磁化膜で、W層は
M層との交換結合時にTMリッチの垂直磁化膜であり、
int.層は、室温でREリッチの面内磁気異方性を有
し、温度を上昇するにつれ面内磁気異方性を経由してT
Mリッチの垂直磁気異方性を示す。
TMリッチとして交換結合力が強く作用するようにし、
確実かつ充分なオーバーライト動作を可能とする。 【解決手段】M層はTMリッチの垂直磁化膜で、W層は
M層との交換結合時にTMリッチの垂直磁化膜であり、
int.層は、室温でREリッチの面内磁気異方性を有
し、温度を上昇するにつれ面内磁気異方性を経由してT
Mリッチの垂直磁気異方性を示す。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームをパ
ルス変調して照射する光強度変調方式等の熱磁気記録に
よりオーバーライト(重ね書き)可能で、カー効果等の
磁気光学効果によって情報の再生を行う光磁気記録媒体
に関する。
ルス変調して照射する光強度変調方式等の熱磁気記録に
よりオーバーライト(重ね書き)可能で、カー効果等の
磁気光学効果によって情報の再生を行う光磁気記録媒体
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光磁気記録媒体の部分断面図を図
5に示す。同図において、1はプリグルーブ(トラッキ
ング用の溝)が設けられた透光性の基板で、2〜4は第
1〜第3磁性層である。第1磁性層2〜第3磁性層4
は、希土類金属元素(Rare EarthMetal; 以下REとい
う)と遷移金属元素(Transition Metal; 以下TMとい
う)との非晶質合金からなり、例えば、GdCo(以
下、同様の分子式では原子比は省略する),GdFe,
TbFe,DyFe,GdTbFe,TbDyFe,G
dTbFeCo,TbFeCo,GdTbCo等であ
る。
5に示す。同図において、1はプリグルーブ(トラッキ
ング用の溝)が設けられた透光性の基板で、2〜4は第
1〜第3磁性層である。第1磁性層2〜第3磁性層4
は、希土類金属元素(Rare EarthMetal; 以下REとい
う)と遷移金属元素(Transition Metal; 以下TMとい
う)との非晶質合金からなり、例えば、GdCo(以
下、同様の分子式では原子比は省略する),GdFe,
TbFe,DyFe,GdTbFe,TbDyFe,G
dTbFeCo,TbFeCo,GdTbCo等であ
る。
【0003】そして、第1磁性層2は、第3磁性層4と
比較して相対的に低いキュリー点と高い保磁力を有し、
室温においてTM副格子磁化が主勢(TMリッチ)であ
る。第3磁性層4は、第1磁性層2と比較して相対的に
高いキュリー点と低い保磁力を有し、室温においてRE
副格子磁化が主勢(REリッチ)である。第1磁性層2
と第3磁性層4は、磁化容易軸が基板面に垂直である
が、第2磁性層3は室温において面内磁気異方性で、温
度が上昇すると垂直磁気異方性を示す。
比較して相対的に低いキュリー点と高い保磁力を有し、
室温においてTM副格子磁化が主勢(TMリッチ)であ
る。第3磁性層4は、第1磁性層2と比較して相対的に
高いキュリー点と低い保磁力を有し、室温においてRE
副格子磁化が主勢(REリッチ)である。第1磁性層2
と第3磁性層4は、磁化容易軸が基板面に垂直である
が、第2磁性層3は室温において面内磁気異方性で、温
度が上昇すると垂直磁気異方性を示す。
【0004】前記第2磁性層3は、室温において第1磁
性層2と第3磁性層4間の交換結合を妨げる効果を有
し、つまり、第1磁性層2と第3磁性層4が第2磁性層
3を介して交換力により結合していることにより現れる
実効的なバイアス磁界(記録磁界)の大きさが、室温に
比べて昇温時に大きくなるように変化するという効果を
有する。従って、小さなバイアス磁界でオーバーライト
が可能になり、また、記録ビットの安定性が向上すると
いうものである(特公平5−22303号参照)。
性層2と第3磁性層4間の交換結合を妨げる効果を有
し、つまり、第1磁性層2と第3磁性層4が第2磁性層
3を介して交換力により結合していることにより現れる
実効的なバイアス磁界(記録磁界)の大きさが、室温に
比べて昇温時に大きくなるように変化するという効果を
有する。従って、小さなバイアス磁界でオーバーライト
が可能になり、また、記録ビットの安定性が向上すると
いうものである(特公平5−22303号参照)。
【0005】図5に示す第2磁性層3は、一般的に、交
換結合力調整層(Interface wall energy layer;以下i
nt.層という)と呼ばれ、室温付近の比較的低温では
面内磁気異方性で、第1磁性層2と第3磁性層4間の交
換結合を妨げ、室温よりも高温では垂直磁気異方性を示
し、第1磁性層2と第3磁性層4の交換結合をサポート
する。
換結合力調整層(Interface wall energy layer;以下i
nt.層という)と呼ばれ、室温付近の比較的低温では
面内磁気異方性で、第1磁性層2と第3磁性層4間の交
換結合を妨げ、室温よりも高温では垂直磁気異方性を示
し、第1磁性層2と第3磁性層4の交換結合をサポート
する。
【0006】また、他の従来例として、低いキュリー点
と高い保磁力を有する第1磁性層と、第1磁性層に比べ
て相対的に高いキュリー点と低い保磁力を有する第2磁
性層とが交換結合した、2層構造の垂直磁化膜を基板上
に有してなるものであって、第1磁性層と第2磁性層の
間に、これらの磁性層に比べて相対的に小さな磁壁エネ
ルギーを有する垂直磁化膜である第3磁性層を設けたも
のが知られていた(特開平1−211343号参照)。
と高い保磁力を有する第1磁性層と、第1磁性層に比べ
て相対的に高いキュリー点と低い保磁力を有する第2磁
性層とが交換結合した、2層構造の垂直磁化膜を基板上
に有してなるものであって、第1磁性層と第2磁性層の
間に、これらの磁性層に比べて相対的に小さな磁壁エネ
ルギーを有する垂直磁化膜である第3磁性層を設けたも
のが知られていた(特開平1−211343号参照)。
【0007】この例においては、外部磁界なしで第1磁
性層と第2磁性層間の界面磁壁を安定に保持し、かつ外
部磁界によって第2磁性層の磁化を容易に反転させるた
めに、第3磁性層が所望の小さな磁壁エネルギーを有す
るようにしたものである。
性層と第2磁性層間の界面磁壁を安定に保持し、かつ外
部磁界によって第2磁性層の磁化を容易に反転させるた
めに、第3磁性層が所望の小さな磁壁エネルギーを有す
るようにしたものである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5の
第2磁性層3は、全動作温度範囲においてREリッチで
あるのに対し、オーバーライトの昇温時に第1磁性層2
と第3磁性層4ともTMリッチである。即ち、オーバー
ライトの昇温時に第2磁性層3がTMリッチである方が
交換結合力が強く働くが、REリッチであるため交換結
合力が弱くなっている。また、上記他の従来例において
は、第3磁性層の副格子磁化の温度依存性については全
く言及されておらず、オーバーライト動作が充分可能な
構成が開示されているとはいえない。
第2磁性層3は、全動作温度範囲においてREリッチで
あるのに対し、オーバーライトの昇温時に第1磁性層2
と第3磁性層4ともTMリッチである。即ち、オーバー
ライトの昇温時に第2磁性層3がTMリッチである方が
交換結合力が強く働くが、REリッチであるため交換結
合力が弱くなっている。また、上記他の従来例において
は、第3磁性層の副格子磁化の温度依存性については全
く言及されておらず、オーバーライト動作が充分可能な
構成が開示されているとはいえない。
【0009】従って、本発明は上記事情に鑑みて完成さ
れたものであり、その目的はオーバーライトのための昇
温時にint.層をTMリッチとして交換結合力が強く
作用するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバー
ライト動作を可能とすることにある。
れたものであり、その目的はオーバーライトのための昇
温時にint.層をTMリッチとして交換結合力が強く
作用するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバー
ライト動作を可能とすることにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の光磁気記録媒体
は、基板上に、記録層と、交換結合力調整層と、書込み
層とを順次積層して成る光磁気記録媒体であって、前記
記録層は室温で遷移金属の副格子磁化が主勢の垂直磁化
で、前記書込み層は記録層との交換結合時に遷移金属の
副格子磁化が主勢の垂直磁化であり、かつ前記交換結合
力調整層は、室温で希土類金属の副格子磁化が主勢の面
内磁気異方性を有するとともに、前記交換結合時に遷移
金属の副格子磁化が主勢の垂直磁気異方性を有すること
を特徴とする。
は、基板上に、記録層と、交換結合力調整層と、書込み
層とを順次積層して成る光磁気記録媒体であって、前記
記録層は室温で遷移金属の副格子磁化が主勢の垂直磁化
で、前記書込み層は記録層との交換結合時に遷移金属の
副格子磁化が主勢の垂直磁化であり、かつ前記交換結合
力調整層は、室温で希土類金属の副格子磁化が主勢の面
内磁気異方性を有するとともに、前記交換結合時に遷移
金属の副格子磁化が主勢の垂直磁気異方性を有すること
を特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明を図1〜図4により説明す
る。図1はオーバーライトの昇温時の各磁性層の磁化の
変化を示す説明図、図2は比較例におけるオーバーライ
トの昇温時の各磁性層の磁化の変化を示す説明図、図3
はint.層の磁核発生磁界の温度依存性のグラフ、図
4は比較例におけるint.層の磁核発生磁界の温度依
存性のグラフである。
る。図1はオーバーライトの昇温時の各磁性層の磁化の
変化を示す説明図、図2は比較例におけるオーバーライ
トの昇温時の各磁性層の磁化の変化を示す説明図、図3
はint.層の磁核発生磁界の温度依存性のグラフ、図
4は比較例におけるint.層の磁核発生磁界の温度依
存性のグラフである。
【0012】本発明の光磁気記録媒体の層構成は、ガラ
ス,プラスチック等の透光性の材料からなりトラッキン
グ用及びピット(磁区)記録用のランド・グルーブ(プ
リグルーブ)が形成された基板上に、記録層又はメモリ
ー層(以下M層とする)、int.層、書込み層(Writ
ing layer;以下W層とする)が順次積層されたものであ
り、少なくとも前記3つの磁性層を有する。
ス,プラスチック等の透光性の材料からなりトラッキン
グ用及びピット(磁区)記録用のランド・グルーブ(プ
リグルーブ)が形成された基板上に、記録層又はメモリ
ー層(以下M層とする)、int.層、書込み層(Writ
ing layer;以下W層とする)が順次積層されたものであ
り、少なくとも前記3つの磁性層を有する。
【0013】これらの磁性層は、Nd,Gd,Tb,D
y,Ho等のREとCr,Fe,Co,Ni,Cu等の
TMとを含む非晶質のRE−TM合金から成り、例え
ば、M層はTbFeCo(以下、同様の分子式で原子比
は省略する)等、W層はGdDyFeCo等、int.
層はGdFeCo等のフェリ磁性体から成る。また、W
層の上に制御層又はスイッチング層(以下S層とす
る)、S層の上に初期化層(Initializing layer; 以下
I層とする)を積層してもよい。S層及びI層がない場
合は、W層の初期化は外部磁界によって行えばよいが、
初期化用のもう一つの磁石が必要になるのでS層及びI
層がある方が好適である。
y,Ho等のREとCr,Fe,Co,Ni,Cu等の
TMとを含む非晶質のRE−TM合金から成り、例え
ば、M層はTbFeCo(以下、同様の分子式で原子比
は省略する)等、W層はGdDyFeCo等、int.
層はGdFeCo等のフェリ磁性体から成る。また、W
層の上に制御層又はスイッチング層(以下S層とす
る)、S層の上に初期化層(Initializing layer; 以下
I層とする)を積層してもよい。S層及びI層がない場
合は、W層の初期化は外部磁界によって行えばよいが、
初期化用のもう一つの磁石が必要になるのでS層及びI
層がある方が好適である。
【0014】そして、int.層以外は全て垂直磁化を
有し、int.層が室温でREリッチの面内磁気異方性
を有し、温度を上昇するにつれ面内磁気異方性を経由し
てTMリッチの垂直磁気異方性を示すためには、GdF
eCoの場合Gd25-35 Fe35-65 Co5-35という原子
比の範囲が好適であり、特にGd30Fe50Co20がよ
い。更に、基板とM層間及びI層上に、酸化防止のため
に窒化ケイ素(アモルファスのSiN),酸化ケイ素等
から成る保護層を形成してもよい。
有し、int.層が室温でREリッチの面内磁気異方性
を有し、温度を上昇するにつれ面内磁気異方性を経由し
てTMリッチの垂直磁気異方性を示すためには、GdF
eCoの場合Gd25-35 Fe35-65 Co5-35という原子
比の範囲が好適であり、特にGd30Fe50Co20がよ
い。更に、基板とM層間及びI層上に、酸化防止のため
に窒化ケイ素(アモルファスのSiN),酸化ケイ素等
から成る保護層を形成してもよい。
【0015】かくして、本発明は、室温付近ではin
t.層を面内磁気異方性として交換結合力調整層として
機能させ、オーバーライトのための昇温時にint.層
をTMリッチの垂直磁気異方性として交換結合力が強く
作用するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバー
ライト動作を可能とするという作用効果を有する。
t.層を面内磁気異方性として交換結合力調整層として
機能させ、オーバーライトのための昇温時にint.層
をTMリッチの垂直磁気異方性として交換結合力が強く
作用するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバー
ライト動作を可能とするという作用効果を有する。
【0016】更に、本発明のオーバーライト動作につい
て、図1を用いて以下に説明する。磁性層はM層,in
t.層,W層,S層,I層の5層からなり、各層のキュ
リー点をTM ,Ti ,TW ,TS ,TI とすると、TS
<TM <Ti <TW <TI であるのが、オーバーライト
を行ううえで好適である。また、int.層の副格子磁
化がREリッチからTMリッチとなる温度をTicomと
し、W層が補償温度(Compensation temperature)を有
する場合にそれをTWcom、I層が補償温度を有する場合
にそれをTIcomとすると、Ticom<TS <TWcom<TM
<Ti <TW <TI であるのが、同様に好ましい。具体
的には、Ticom=約120℃、TS =約150℃、T
Wcom=約180℃、TM =約200℃、Ti =約240
℃、TW =約280℃、TI =約350℃、TIcom=約
120〜220℃とする。
て、図1を用いて以下に説明する。磁性層はM層,in
t.層,W層,S層,I層の5層からなり、各層のキュ
リー点をTM ,Ti ,TW ,TS ,TI とすると、TS
<TM <Ti <TW <TI であるのが、オーバーライト
を行ううえで好適である。また、int.層の副格子磁
化がREリッチからTMリッチとなる温度をTicomと
し、W層が補償温度(Compensation temperature)を有
する場合にそれをTWcom、I層が補償温度を有する場合
にそれをTIcomとすると、Ticom<TS <TWcom<TM
<Ti <TW <TI であるのが、同様に好ましい。具体
的には、Ticom=約120℃、TS =約150℃、T
Wcom=約180℃、TM =約200℃、Ti =約240
℃、TW =約280℃、TI =約350℃、TIcom=約
120〜220℃とする。
【0017】ここで、上記補償温度とは、RE副格子磁
化の大きさとTM副格子磁化の大きさがほぼ同じにな
り、見かけ上の正味の磁化が0になる温度をいい、その
前後でRE副格子磁化とTM副格子磁化の大小関係が反
転する。
化の大きさとTM副格子磁化の大きさがほぼ同じにな
り、見かけ上の正味の磁化が0になる温度をいい、その
前後でRE副格子磁化とTM副格子磁化の大小関係が反
転する。
【0018】上記磁性層の磁化方向は、フェリ磁性体の
場合RE副格子磁化とTM副格子磁化が反平行で、フェ
ロ磁性体の場合平行となるが、正味の磁化方向はRE副
格子磁化とTM副格子磁化のベクトル和で表され、補償
温度の前後ではRE副格子磁化とTM副格子磁化の大小
関係が反転する。int.層以外の各磁性層は、図1で
は各磁性層ともフェリ磁性体で、M層とS層は室温でT
Mリッチで、W層とI層は室温でREリッチとされてい
る。尚、カー効果による情報の再生には、TM副格子磁
化が関与する。
場合RE副格子磁化とTM副格子磁化が反平行で、フェ
ロ磁性体の場合平行となるが、正味の磁化方向はRE副
格子磁化とTM副格子磁化のベクトル和で表され、補償
温度の前後ではRE副格子磁化とTM副格子磁化の大小
関係が反転する。int.層以外の各磁性層は、図1で
は各磁性層ともフェリ磁性体で、M層とS層は室温でT
Mリッチで、W層とI層は室温でREリッチとされてい
る。尚、カー効果による情報の再生には、TM副格子磁
化が関与する。
【0019】図1において、(a)は低温プロセスの冷
却過程、(b)は高温プロセスの冷却過程である。昇温
過程では磁化方向が若干異なる部分もあるが、磁化を決
定するのは冷却過程であるので昇温過程は省略した。
(a)では、温度は室温Troom〜Ti 付近間で変化す
る。低温プロセスにおいて、M層はTM 付近でW層の磁
化が転写され、W層はTWcom付近でRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小関係が反転し、TS 付近でS層を通
じてI層と交換結合する。S層はTS 付近でI層と交換
結合し、TS 超では磁化が消失してW層とI層の磁気的
結合を遮断する。I層は大部分の動作温度範囲で最も保
磁力が大きいので、その磁化は変化しない。
却過程、(b)は高温プロセスの冷却過程である。昇温
過程では磁化方向が若干異なる部分もあるが、磁化を決
定するのは冷却過程であるので昇温過程は省略した。
(a)では、温度は室温Troom〜Ti 付近間で変化す
る。低温プロセスにおいて、M層はTM 付近でW層の磁
化が転写され、W層はTWcom付近でRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小関係が反転し、TS 付近でS層を通
じてI層と交換結合する。S層はTS 付近でI層と交換
結合し、TS 超では磁化が消失してW層とI層の磁気的
結合を遮断する。I層は大部分の動作温度範囲で最も保
磁力が大きいので、その磁化は変化しない。
【0020】そして、int.層はTM 付近でW層の磁
化をM層に結合させ、TWcom付近でTMリッチの面内磁
気異方性となり、Ticom付近でREリッチになる。in
t.層は、Troom〜TWcom付近間ではW層とM層の交換
結合を防止している。
化をM層に結合させ、TWcom付近でTMリッチの面内磁
気異方性となり、Ticom付近でREリッチになる。in
t.層は、Troom〜TWcom付近間ではW層とM層の交換
結合を防止している。
【0021】室温では、I層,S層,W層が磁気的に結
合(交換結合)している。低温プロセス終了後にはM層
のTM副格子磁化は下向きであり、例えばこの状態をデ
ジタル信号の”1”とする。また、オーバーライトする
以前のM層の磁化方向が逆方向であったとしても、低温
プロセス終了後には(a)のように揃えられ、以前の情
報に関係なく記録される。
合(交換結合)している。低温プロセス終了後にはM層
のTM副格子磁化は下向きであり、例えばこの状態をデ
ジタル信号の”1”とする。また、オーバーライトする
以前のM層の磁化方向が逆方向であったとしても、低温
プロセス終了後には(a)のように揃えられ、以前の情
報に関係なく記録される。
【0022】(b)では、温度はTroom〜TW 付近間で
変化する。高温プロセスにおいて、M層はTM 付近でW
層の磁化が転写され、W層はTW 付近で記録磁界Hbの
磁化方向に揃えられ、TWcom付近でRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小関係が反転し、Troom付近でS層を
通じてI層と交換結合して磁化方向が反転する。S層は
TS 付近でI層と交換結合し、TS 超では磁化が消失し
てW層とI層の磁気的結合を遮断する。I層は大部分の
動作温度範囲で最も保磁力が大きいので、他の磁化の影
響を受けない。int.層はTM 付近でW層の磁化をM
層に結合させ、TWcom付近でTMリッチの面内磁気異方
性となり、Ticom付近でREリッチになる。int.層
は、Troom〜TWcom付近間ではM層とW層の交換結合を
防止している。
変化する。高温プロセスにおいて、M層はTM 付近でW
層の磁化が転写され、W層はTW 付近で記録磁界Hbの
磁化方向に揃えられ、TWcom付近でRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小関係が反転し、Troom付近でS層を
通じてI層と交換結合して磁化方向が反転する。S層は
TS 付近でI層と交換結合し、TS 超では磁化が消失し
てW層とI層の磁気的結合を遮断する。I層は大部分の
動作温度範囲で最も保磁力が大きいので、他の磁化の影
響を受けない。int.層はTM 付近でW層の磁化をM
層に結合させ、TWcom付近でTMリッチの面内磁気異方
性となり、Ticom付近でREリッチになる。int.層
は、Troom〜TWcom付近間ではM層とW層の交換結合を
防止している。
【0023】室温ではI層,S層,W層が交換結合して
おり、高温プロセス終了後にはM層のTM副格子磁化は
上向きであり、例えばこの状態をデジタル信号の”0”
とする。また、オーバーライトする以前のM層の磁化方
向が逆方向であったとしても、高温プロセス終了後には
(b)のように揃えられ、以前の情報に関係なく記録さ
れる。
おり、高温プロセス終了後にはM層のTM副格子磁化は
上向きであり、例えばこの状態をデジタル信号の”0”
とする。また、オーバーライトする以前のM層の磁化方
向が逆方向であったとしても、高温プロセス終了後には
(b)のように揃えられ、以前の情報に関係なく記録さ
れる。
【0024】図2は比較例を示し、int.層の磁化が
図1と異なり、Troom〜TWcom付近間でREリッチの面
内磁気異方性で、TWcom〜Ti 付近間でREリッチの垂
直磁気異方性である。尚、図1,2において、TI は1
20〜220℃程度の範囲内にあればよいので、特に図
示しておらず、I層の補償温度でのRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小の反転は前記TI の前後で生じるの
は無論である。
図1と異なり、Troom〜TWcom付近間でREリッチの面
内磁気異方性で、TWcom〜Ti 付近間でREリッチの垂
直磁気異方性である。尚、図1,2において、TI は1
20〜220℃程度の範囲内にあればよいので、特に図
示しておらず、I層の補償温度でのRE副格子磁化とT
M副格子磁化の大小の反転は前記TI の前後で生じるの
は無論である。
【0025】図3は図1のint.層の磁核発生磁界H
N の温度による変化を示し、Troom〜TS 付近間ではH
N はマイナスであり、TS 〜TWcomでプラスに転じて垂
直磁化の交換結合層となり、Ti でHN は0となる。図
4は図2のint.層のHNの温度による変化を示し、
HN の変化はプラスの部分は図3とほぼ同様であるが、
マイナスの部分はTicomがないためなだらかに減少し続
ける。
N の温度による変化を示し、Troom〜TS 付近間ではH
N はマイナスであり、TS 〜TWcomでプラスに転じて垂
直磁化の交換結合層となり、Ti でHN は0となる。図
4は図2のint.層のHNの温度による変化を示し、
HN の変化はプラスの部分は図3とほぼ同様であるが、
マイナスの部分はTicomがないためなだらかに減少し続
ける。
【0026】ここで、磁核発生磁界HN とは、磁性体に
外部磁界をかけた場合の磁化の変化のヒステリシスルー
プにおいて、磁化の絶対値が最も大きくなった瞬間の2
点間外部磁界の幅に相当する。換言すれば、外部磁界に
より、磁性体中に磁区の核が生じた2状態(磁化方向が
反対の状態)間の外部磁界の幅である。そして、磁化が
正で絶対値が最大になるときの外部磁界が、磁化が負で
絶対値が最大になるときの外部磁界よりも大きい場合に
HN が正となり、逆の場合HN が負となる。
外部磁界をかけた場合の磁化の変化のヒステリシスルー
プにおいて、磁化の絶対値が最も大きくなった瞬間の2
点間外部磁界の幅に相当する。換言すれば、外部磁界に
より、磁性体中に磁区の核が生じた2状態(磁化方向が
反対の状態)間の外部磁界の幅である。そして、磁化が
正で絶対値が最大になるときの外部磁界が、磁化が負で
絶対値が最大になるときの外部磁界よりも大きい場合に
HN が正となり、逆の場合HN が負となる。
【0027】本発明において、各磁性層を基板の両面に
積層するか、片面に各磁性層を積層した2枚の基板を貼
り付けることにより、2倍の記録密度としてもよい。ま
た、レーザビームをパルス変調する光強度変調方式によ
るオーバーライトに限らず、熱磁気記録によるものであ
れば他の手段によってもオーバーライトできる。
積層するか、片面に各磁性層を積層した2枚の基板を貼
り付けることにより、2倍の記録密度としてもよい。ま
た、レーザビームをパルス変調する光強度変調方式によ
るオーバーライトに限らず、熱磁気記録によるものであ
れば他の手段によってもオーバーライトできる。
【0028】なお、本発明は上記の実施形態に限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種
々の変更は何等差し支えない。
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種
々の変更は何等差し支えない。
【0029】
【実施例】本発明の実施例を以下に示す。
【0030】(実施例)プラスチックからなりディスク
状の基板上に、RFスパッタリング装置を用いてM層,
int.層,W層,S層,I層の順に積層した。基板と
M層間及びI層上には、アモルファスのSiNからなる
保護層を、同様にRFスパッタリング装置を用いて積層
し、光磁気ディスクを作製した。各磁性層の特性を表1
に示す。
状の基板上に、RFスパッタリング装置を用いてM層,
int.層,W層,S層,I層の順に積層した。基板と
M層間及びI層上には、アモルファスのSiNからなる
保護層を、同様にRFスパッタリング装置を用いて積層
し、光磁気ディスクを作製した。各磁性層の特性を表1
に示す。
【0031】
【表1】
【0032】そして、以下の条件でオーバーライトし
た。光磁気ディスクの回転数を3000rpmとし、磁
界5kOeで、12mWのレーザビームを照射して初期
化した。次いで、5.8MHzの信号を、ピークパワー
レベル=10mW、ベースパワーレベル=3mWのレー
ザビームを照射して、記録磁界Hb=300Oeでオー
バーライトした。その後、1.5mWのレーザビームで
再生した。このとき、情報の記録誤り率が、従来の1×
10-4〜1×10-3から1×10-5に低減した。
た。光磁気ディスクの回転数を3000rpmとし、磁
界5kOeで、12mWのレーザビームを照射して初期
化した。次いで、5.8MHzの信号を、ピークパワー
レベル=10mW、ベースパワーレベル=3mWのレー
ザビームを照射して、記録磁界Hb=300Oeでオー
バーライトした。その後、1.5mWのレーザビームで
再生した。このとき、情報の記録誤り率が、従来の1×
10-4〜1×10-3から1×10-5に低減した。
【0033】(比較例)int.層をGd40Fe50Co
10という組成にし、図2及び図4の磁化及び磁核発生磁
界の特性となるようにした以外は、上記実施例と同様に
構成した。このとき、情報の記録誤り率は1×10-4〜
1×10-3であり、従来と同程度であった。
10という組成にし、図2及び図4の磁化及び磁核発生磁
界の特性となるようにした以外は、上記実施例と同様に
構成した。このとき、情報の記録誤り率は1×10-4〜
1×10-3であり、従来と同程度であった。
【0034】
【発明の効果】本発明は、交換結合力調整層が室温でR
Eリッチの面内磁気異方性を有し、温度を上昇するにつ
れ面内磁気異方性を経由してTMリッチの垂直磁気異方
性を示すように構成することにより、室温付近ではin
t.層を面内磁気異方性としてM層とW層の交換結合を
妨げ、オーバーライトのための昇温時にint.層をT
Mリッチの垂直磁気異方性として交換結合力が強く作用
するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバーライ
ト動作を可能とする。
Eリッチの面内磁気異方性を有し、温度を上昇するにつ
れ面内磁気異方性を経由してTMリッチの垂直磁気異方
性を示すように構成することにより、室温付近ではin
t.層を面内磁気異方性としてM層とW層の交換結合を
妨げ、オーバーライトのための昇温時にint.層をT
Mリッチの垂直磁気異方性として交換結合力が強く作用
するようにし、その結果、確実かつ充分なオーバーライ
ト動作を可能とする。
【0035】また、本発明の光磁気記録媒体は、光磁気
ディスク、光磁気カード、光磁気テープ等の、熱磁気記
録でオーバーライトし磁気光学効果(カー効果等)によ
り光磁気再生可能な媒体に適用できる。
ディスク、光磁気カード、光磁気テープ等の、熱磁気記
録でオーバーライトし磁気光学効果(カー効果等)によ
り光磁気再生可能な媒体に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のオーバーライトによる各磁性層の磁化
の変化を示す説明図で、(a)は低温プロセスにおける
磁化の変化、(b)は高温プロセスにおける磁化の変化
である。
の変化を示す説明図で、(a)は低温プロセスにおける
磁化の変化、(b)は高温プロセスにおける磁化の変化
である。
【図2】比較例のオーバーライトによる各磁性層の磁化
の変化を示す説明図で、(a)は低温プロセスにおける
磁化の変化、(b)は高温プロセスにおける磁化の変化
である。
の変化を示す説明図で、(a)は低温プロセスにおける
磁化の変化、(b)は高温プロセスにおける磁化の変化
である。
【図3】本発明の交換結合力調整層の磁核発生磁界の温
度による変化のグラフである。
度による変化のグラフである。
【図4】比較例の交換結合力調整層の磁核発生磁界の温
度による変化のグラフである。
度による変化のグラフである。
【図5】従来の光磁気記録媒体の部分断面図である。
1:基板 2:記録層 3:書込み層 4:交換結合力調整層
Claims (1)
- 【請求項1】基板上に、記録層と、交換結合力調整層
と、書込み層とを順次積層して成る光磁気記録媒体であ
って、前記記録層は室温で遷移金属の副格子磁化が主勢
の垂直磁化で、前記書込み層は記録層との交換結合時に
遷移金属の副格子磁化が主勢の垂直磁化であり、かつ前
記交換結合力調整層は、室温で希土類金属の副格子磁化
が主勢の面内磁気異方性を有するとともに、前記交換結
合時に遷移金属の副格子磁化が主勢の垂直磁気異方性を
有することを特徴とする光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29090596A JPH10134430A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29090596A JPH10134430A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10134430A true JPH10134430A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17762034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29090596A Pending JPH10134430A (ja) | 1996-10-31 | 1996-10-31 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10134430A (ja) |
-
1996
- 1996-10-31 JP JP29090596A patent/JPH10134430A/ja active Pending
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