JPH10176989A - 赤外線水分測定方法及び赤外線水分測定装置 - Google Patents
赤外線水分測定方法及び赤外線水分測定装置Info
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- JPH10176989A JPH10176989A JP33950596A JP33950596A JPH10176989A JP H10176989 A JPH10176989 A JP H10176989A JP 33950596 A JP33950596 A JP 33950596A JP 33950596 A JP33950596 A JP 33950596A JP H10176989 A JPH10176989 A JP H10176989A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 間欠的に流れるロット製品等の各製品個々の
水分値を測定し、ロット製品等の平均水分値を正確に測
定する。 【解決手段】 測定ヘッドＡとコントローラＢとで赤外
線水分測定装置を構成する。測定ヘッドＡに、主波長が
１．４５μｍの近赤外線を測定光として出力する測定光
ＩＲＥＤと、主波長が１．３μｍの近赤外線を参照光と
して出力する参照光ＩＲＥＤ、反射光を受光するＩｎＧ
ａＡｓ検出素子を用いる。コントローラＢに測定対象物
の有無を検出する光電式のリミットスイッチＣを接続す
る。リミットスイッチＣからのＯＮ／ＯＦＦ信号を外部
ホールド信号として入力する。測定ヘッドＡからの受光
信号をＡ／Ｄコンバータ１０で測定光データおよび参照
光データとし、ＣＰＵ１１で水分値を演算する。外部ホ
ールド信号がＯＦＦのときの平均水分値を外部ホールド
信号がＯＮとなる毎にホールド表示する。
水分値を測定し、ロット製品等の平均水分値を正確に測
定する。 【解決手段】 測定ヘッドＡとコントローラＢとで赤外
線水分測定装置を構成する。測定ヘッドＡに、主波長が
１．４５μｍの近赤外線を測定光として出力する測定光
ＩＲＥＤと、主波長が１．３μｍの近赤外線を参照光と
して出力する参照光ＩＲＥＤ、反射光を受光するＩｎＧ
ａＡｓ検出素子を用いる。コントローラＢに測定対象物
の有無を検出する光電式のリミットスイッチＣを接続す
る。リミットスイッチＣからのＯＮ／ＯＦＦ信号を外部
ホールド信号として入力する。測定ヘッドＡからの受光
信号をＡ／Ｄコンバータ１０で測定光データおよび参照
光データとし、ＣＰＵ１１で水分値を演算する。外部ホ
ールド信号がＯＦＦのときの平均水分値を外部ホールド
信号がＯＮとなる毎にホールド表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象物の含水
量により赤外線吸収が変化する測定光の赤外線と測定対
象物の含水量により赤外線吸収が略変化しない参照光の
赤外線を測定対象物に照射し、各赤外線の反射光量に基
づいて測定対象物の含水量の水分値を測定する赤外線水
分測定方法および赤外線水分測定装置に関する。
量により赤外線吸収が変化する測定光の赤外線と測定対
象物の含水量により赤外線吸収が略変化しない参照光の
赤外線を測定対象物に照射し、各赤外線の反射光量に基
づいて測定対象物の含水量の水分値を測定する赤外線水
分測定方法および赤外線水分測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の赤外線水分測定装置は、
測定対象物の含水量により赤外線吸収が変化する測定光
の赤外線と、測定対象物の含水量により赤外線吸収が略
変化しない参照光の赤外線をそれぞれ測定対象物に照射
し、測定対象物からの各赤外線の反射光量に基づいて例
えば吸光度を求め、この吸光度を水分値に換算して水分
値を求めるものである。
測定対象物の含水量により赤外線吸収が変化する測定光
の赤外線と、測定対象物の含水量により赤外線吸収が略
変化しない参照光の赤外線をそれぞれ測定対象物に照射
し、測定対象物からの各赤外線の反射光量に基づいて例
えば吸光度を求め、この吸光度を水分値に換算して水分
値を求めるものである。
【０００３】また、従来の赤外線水分測定装置は、測定
光と参照光を発生するために次のような構成になってい
る。すなわち、干渉フィルタを配置したフィルタホイー
ルをモータで回転するとともに、この干渉フィルタにタ
ングステンランプ等の光源からの光を照射して測定光と
参照光を分光するようにしている。また、赤外線の反射
光を受光する検出素子としてはＰｂＳを用いている。さ
らに、使用する水の吸収波長すなわち測定光の波長は
１．９４μｍもしくは１．４５μｍである。
光と参照光を発生するために次のような構成になってい
る。すなわち、干渉フィルタを配置したフィルタホイー
ルをモータで回転するとともに、この干渉フィルタにタ
ングステンランプ等の光源からの光を照射して測定光と
参照光を分光するようにしている。また、赤外線の反射
光を受光する検出素子としてはＰｂＳを用いている。さ
らに、使用する水の吸収波長すなわち測定光の波長は
１．９４μｍもしくは１．４５μｍである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
従来の赤外線水分測定装置は応答が遅いため測定対象に
限度がある。例えば従来の装置は粉粒体やたばこの原料
などのようにコンベアで供給される原材料の水分値を測
定するのに用いられているが、この種の原材料はコンベ
ア上を連続して流れるので測定点に間隔があっても、原
材料全体の平均的な水分値を求めることはできる。しか
し、例えば菓子製品や錠剤などのロット製品のように測
定対象物が特に小さくしかも間欠的に流れる物について
は、従来の装置では応答の遅れから製品個々の水分値は
もとより、製品全体の平均的な水分値も正確に求めるこ
とができない。
従来の赤外線水分測定装置は応答が遅いため測定対象に
限度がある。例えば従来の装置は粉粒体やたばこの原料
などのようにコンベアで供給される原材料の水分値を測
定するのに用いられているが、この種の原材料はコンベ
ア上を連続して流れるので測定点に間隔があっても、原
材料全体の平均的な水分値を求めることはできる。しか
し、例えば菓子製品や錠剤などのロット製品のように測
定対象物が特に小さくしかも間欠的に流れる物について
は、従来の装置では応答の遅れから製品個々の水分値は
もとより、製品全体の平均的な水分値も正確に求めるこ
とができない。
【０００５】本発明は、高速サンプリングすなわち高速
応答を可能にして、間欠的に流れるロット製品等の水分
値を正確に測定できるようにすることを課題とする。
応答を可能にして、間欠的に流れるロット製品等の水分
値を正確に測定できるようにすることを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めになした本発明の請求項１記載の赤外線水分測定方法
は、測定光用赤外線発光ダイオードから放射した測定光
と参照光用赤外線発光ダイオードから放射した参照光と
を測定対象物に照射し、該測定光と参照光の反射光をＩ
ｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡｓ受光素子
の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を求める赤外
線水分測定方法であって、前記測定光用赤外線発光ダイ
オードと前記参照光用赤外線発光ダイオードを高速作動
させるとともに、測定対象物を検出して、該測定対象物
が検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の
受光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定
対象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間
欠的に測定するようにしたことを特徴とする。
めになした本発明の請求項１記載の赤外線水分測定方法
は、測定光用赤外線発光ダイオードから放射した測定光
と参照光用赤外線発光ダイオードから放射した参照光と
を測定対象物に照射し、該測定光と参照光の反射光をＩ
ｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡｓ受光素子
の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を求める赤外
線水分測定方法であって、前記測定光用赤外線発光ダイ
オードと前記参照光用赤外線発光ダイオードを高速作動
させるとともに、測定対象物を検出して、該測定対象物
が検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の
受光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定
対象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間
欠的に測定するようにしたことを特徴とする。
【０００７】また、本発明の請求項２記載の赤外線水分
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出されているときは前記
測定した水分値を逐次表示するとともに、該測定対象物
が検出されていないときは、上記測定した水分値の最後
の水分値をホールド表示するようにしたことを特徴とす
る。
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出されているときは前記
測定した水分値を逐次表示するとともに、該測定対象物
が検出されていないときは、上記測定した水分値の最後
の水分値をホールド表示するようにしたことを特徴とす
る。
【０００８】また、本発明の請求項３記載の赤外線水分
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出されている間に測定し
た水分値の平均水分値を、該測定対象物が検出されなく
なった時点から次の測定対象物が検出されなくなるまで
ホールド表示することにより、測定対象物個々の平均水
分値を更新して表示するようにしたことを特徴とする。
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出されている間に測定し
た水分値の平均水分値を、該測定対象物が検出されなく
なった時点から次の測定対象物が検出されなくなるまで
ホールド表示することにより、測定対象物個々の平均水
分値を更新して表示するようにしたことを特徴とする。
【０００９】また、本発明の請求項４記載の赤外線水分
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、前記ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号を高速サンプリングすることによ
り、上記測定対象物の水分値を測定し、前記測定した水
分値が所定範囲のときに該測定した水分値の平均水分値
を、該測定した水分値が該所定範囲から外れた時点から
次に該所定範囲から外れた時点までホールド表示するこ
とにより、測定対象物個々の平均水分値を更新して表示
するようにしたことを特徴とする。
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、前記ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号を高速サンプリングすることによ
り、上記測定対象物の水分値を測定し、前記測定した水
分値が所定範囲のときに該測定した水分値の平均水分値
を、該測定した水分値が該所定範囲から外れた時点から
次に該所定範囲から外れた時点までホールド表示するこ
とにより、測定対象物個々の平均水分値を更新して表示
するようにしたことを特徴とする。
【００１０】また、本発明の請求項５記載の赤外線水分
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出され、かつ、前記測定
した水分値が所定範囲であるという条件を満足したとき
に該測定した水分値の平均水分値を、該条件が満足され
なくなった時点から次に該条件が満足されなくなった時
点までホールド表示することにより、測定対象物個々の
平均水分値を更新して表示するようにしたことを特徴と
する。
測定方法は、請求項１と同様に測定対象物の水分値を求
めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値表
示を行う赤外線水分測定方法であって、該測定対象物が
検出されているときに、前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受
光信号を高速サンプリングすることにより、上記測定対
象物の検出状態に対応して該測定対象物の水分値を間欠
的に測定し、該測定対象物が検出され、かつ、前記測定
した水分値が所定範囲であるという条件を満足したとき
に該測定した水分値の平均水分値を、該条件が満足され
なくなった時点から次に該条件が満足されなくなった時
点までホールド表示することにより、測定対象物個々の
平均水分値を更新して表示するようにしたことを特徴と
する。
【００１１】また、本発明の請求項６記載の赤外線水分
測定装置は、測定対象物の含水量により赤外線吸収が変
化する測定光の赤外線を放射する測定光用の赤外線発光
ダイオードと、測定対象物の含水量により赤外線吸収が
略変化しない参照光の赤外線を放射する参照光用の赤外
線発光ダイオードと、上記各赤外線発光ダイオードが放
射する前記測定光および参照光の赤外線を測定対象物に
照射するとともに該測定対象物からのこれら赤外線の反
射光を集光する光学系と、上記光学系で集光された赤外
線を受光して該受光量に応じた受光信号を出力するＩｎ
ＧａＡｓ受光素子と、測定対象物を検出している状態の
ときに前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サン
プリングすることにより、上記測定対象物の検出状態に
対応して該測定対象物の水分値を測定する制御手段と、
を備えたことを特徴とする。
測定装置は、測定対象物の含水量により赤外線吸収が変
化する測定光の赤外線を放射する測定光用の赤外線発光
ダイオードと、測定対象物の含水量により赤外線吸収が
略変化しない参照光の赤外線を放射する参照光用の赤外
線発光ダイオードと、上記各赤外線発光ダイオードが放
射する前記測定光および参照光の赤外線を測定対象物に
照射するとともに該測定対象物からのこれら赤外線の反
射光を集光する光学系と、上記光学系で集光された赤外
線を受光して該受光量に応じた受光信号を出力するＩｎ
ＧａＡｓ受光素子と、測定対象物を検出している状態の
ときに前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サン
プリングすることにより、上記測定対象物の検出状態に
対応して該測定対象物の水分値を測定する制御手段と、
を備えたことを特徴とする。
【００１２】本発明の赤外線水分測定方法および赤外線
水分測定装置は、測定光を放射するための測定光用赤外
線発光ダイオードと、参照光を放射するための参照光用
赤外線発光ダイオードと、この測定対象物からの反射光
を受光するためのＩｎＧａＡｓ受光素子を用いており、
測定光用赤外線発光ダイオードと参照光用赤外線発光ダ
イオードを高速作動させるとともに、例えば外部ホール
ド信号に基づいて測定対象物が検出されているときにＩ
ｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリングする
ことにより、該測定対象物の検出状態に対応して前記測
定対象物の水分値を間欠的に測定するので、ロット製品
等の各製品個々の水分値を測定することができる。
水分測定装置は、測定光を放射するための測定光用赤外
線発光ダイオードと、参照光を放射するための参照光用
赤外線発光ダイオードと、この測定対象物からの反射光
を受光するためのＩｎＧａＡｓ受光素子を用いており、
測定光用赤外線発光ダイオードと参照光用赤外線発光ダ
イオードを高速作動させるとともに、例えば外部ホール
ド信号に基づいて測定対象物が検出されているときにＩ
ｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリングする
ことにより、該測定対象物の検出状態に対応して前記測
定対象物の水分値を間欠的に測定するので、ロット製品
等の各製品個々の水分値を測定することができる。
【００１３】特に、請求項２、請求項３または請求項５
記載の赤外線水分測定方法によれば、測定対象物が検出
されていないときの水分値表示は、測定対象物の検出状
態での最後の水分値または測定対象物個々の平均水分値
をホールド表示したものとなるので、間欠的に測定して
も常に水分値を確認することができる。なお、測定対象
物の検出状態での水分値表示は、請求項２の赤外線水分
測定方法ではサンプリング毎の瞬時値となり、請求項３
および請求項４の赤外線水分測定方法では直前の測定対
象物の平均水分値となる。
記載の赤外線水分測定方法によれば、測定対象物が検出
されていないときの水分値表示は、測定対象物の検出状
態での最後の水分値または測定対象物個々の平均水分値
をホールド表示したものとなるので、間欠的に測定して
も常に水分値を確認することができる。なお、測定対象
物の検出状態での水分値表示は、請求項２の赤外線水分
測定方法ではサンプリング毎の瞬時値となり、請求項３
および請求項４の赤外線水分測定方法では直前の測定対
象物の平均水分値となる。
【００１４】また、請求項４記載の赤外線水分測定方法
によれば、測定した水分値が所定範囲外すなわち異常な
値のときには、その水分値を平均水分値の演算に用いな
いので正しい平均水分値となる。
によれば、測定した水分値が所定範囲外すなわち異常な
値のときには、その水分値を平均水分値の演算に用いな
いので正しい平均水分値となる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図１は本発明の実施の形態の赤外線水分測
定装置を示すブロック図、図２は同赤外線水分測定装置
の測定ヘッドＡのブロック図である。図１に示したよう
に、この実施例の赤外線水分測定装置は、測定ヘッドＡ
とコントローラＢとで構成されており、コントローラＢ
には、測定対象物であるコンベア上の製品の有無を検出
する光電式のリミットスイッチＣが接続されている。ま
た、コントローラＢにはパーソナルコンピュータＤが接
続され、パーソナルコンピュータＤで測定対象物に応じ
た検量線のデータ等を作成し、この作成された検量線の
データや、測定対象物に応じて予め求められている検量
線のデータ等がコントローラＢに設定される。
て説明する。図１は本発明の実施の形態の赤外線水分測
定装置を示すブロック図、図２は同赤外線水分測定装置
の測定ヘッドＡのブロック図である。図１に示したよう
に、この実施例の赤外線水分測定装置は、測定ヘッドＡ
とコントローラＢとで構成されており、コントローラＢ
には、測定対象物であるコンベア上の製品の有無を検出
する光電式のリミットスイッチＣが接続されている。ま
た、コントローラＢにはパーソナルコンピュータＤが接
続され、パーソナルコンピュータＤで測定対象物に応じ
た検量線のデータ等を作成し、この作成された検量線の
データや、測定対象物に応じて予め求められている検量
線のデータ等がコントローラＢに設定される。
【００１６】コントローラＢは、Ａ／Ｄコンバータ１０
を備えたマイクロコンピュータで構成されており、ＣＰ
Ｕ１１はプログラムメモリ１２に記憶されている制御プ
ログラムに基づいて演算メモリ１３を使用しながら各種
の演算処理を行う。また、Ｉ／Ｏインターフェイス１４
を介して、Ａ／Ｄコンバータ１０、表示器１５およびパ
ーソナルコンピュータＤとの間でデータの入出力を行
い、さらに、リミットスイッチＣからのＯＮ／ＯＦＦ信
号を外部ホールド信号として入力する。
を備えたマイクロコンピュータで構成されており、ＣＰ
Ｕ１１はプログラムメモリ１２に記憶されている制御プ
ログラムに基づいて演算メモリ１３を使用しながら各種
の演算処理を行う。また、Ｉ／Ｏインターフェイス１４
を介して、Ａ／Ｄコンバータ１０、表示器１５およびパ
ーソナルコンピュータＤとの間でデータの入出力を行
い、さらに、リミットスイッチＣからのＯＮ／ＯＦＦ信
号を外部ホールド信号として入力する。
【００１７】図２に示したように、測定ヘッドＡは光学
系１を備えており、この光学系１は、測定光集光レンズ
１ａ、参照光集光レンズ１ｂ、ハーフミラー１ｃ、照射
光集光レンズ１ｄおよび反射光集光レンズ１ｅを備えて
いる。参照光集光レンズ１ｂと照射光集光レンズ１ｄの
光軸は一致され、その光軸に対して４５°の角度でハー
フミラー１ｃが配設されている。
系１を備えており、この光学系１は、測定光集光レンズ
１ａ、参照光集光レンズ１ｂ、ハーフミラー１ｃ、照射
光集光レンズ１ｄおよび反射光集光レンズ１ｅを備えて
いる。参照光集光レンズ１ｂと照射光集光レンズ１ｄの
光軸は一致され、その光軸に対して４５°の角度でハー
フミラー１ｃが配設されている。
【００１８】また、測定光集光レンズ１ａは、その光軸
がハーフミラー１ｃの反射面において参照光集光レンズ
１ｂの光軸と直交するように配置されている。そして、
測定光集光レンズ１ａの後ろには、主波長が１．４５μ
ｍの近赤外線すなわち測定対象物の含水量により赤外線
吸収が変化する近赤外線を測定光として出力する測定光
ＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード）２が配設されてお
り、参照光集光レンズ１ｂの後ろには、主波長が１．３
μｍの近赤外線すなわち測定対象物の含水量により赤外
線吸収が変化しない近赤外線を参照光として出力する参
照光ＩＲＥＤ３が配設されている。さらに、反射光集光
レンズ１ｅの集光点にはＩｎＧａＡｓ（インジューム・
ガリュウム・砒素）検出素子４が配設されている。
がハーフミラー１ｃの反射面において参照光集光レンズ
１ｂの光軸と直交するように配置されている。そして、
測定光集光レンズ１ａの後ろには、主波長が１．４５μ
ｍの近赤外線すなわち測定対象物の含水量により赤外線
吸収が変化する近赤外線を測定光として出力する測定光
ＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード）２が配設されてお
り、参照光集光レンズ１ｂの後ろには、主波長が１．３
μｍの近赤外線すなわち測定対象物の含水量により赤外
線吸収が変化しない近赤外線を参照光として出力する参
照光ＩＲＥＤ３が配設されている。さらに、反射光集光
レンズ１ｅの集光点にはＩｎＧａＡｓ（インジューム・
ガリュウム・砒素）検出素子４が配設されている。
【００１９】測定光ＩＲＥＤ２および参照光ＩＲＥＤ３
はＩＲＥＤ駆動回路５によってそれぞれ時分割に駆動さ
れ、測定光と参照光を交互に放射する。測定光ＩＲＥＤ
２から放射された測定光は、測定光集光レンズ１ａで平
行光束にされてハーフミラー１ｃにより、その５０％の
光が直角に反射され、照射光集光レンズ１ｄで測定対象
物の測定面Ｍに照射される。また、参照光ＩＲＥＤ３か
ら放射された参照光は、参照光集光レンズ１ｂで平行光
束にされてハーフミラー１ｃにより、その５０％の光が
透過され、照射光集光レンズ１ｄで測定対象物の測定面
Ｍに照射される。すなわち、ハーフミラー１ｃで反射さ
れた測定光とハーフミラー１ｃを透過した参照光はそれ
ぞれの光軸を同軸にして測定対象物に照射される。
はＩＲＥＤ駆動回路５によってそれぞれ時分割に駆動さ
れ、測定光と参照光を交互に放射する。測定光ＩＲＥＤ
２から放射された測定光は、測定光集光レンズ１ａで平
行光束にされてハーフミラー１ｃにより、その５０％の
光が直角に反射され、照射光集光レンズ１ｄで測定対象
物の測定面Ｍに照射される。また、参照光ＩＲＥＤ３か
ら放射された参照光は、参照光集光レンズ１ｂで平行光
束にされてハーフミラー１ｃにより、その５０％の光が
透過され、照射光集光レンズ１ｄで測定対象物の測定面
Ｍに照射される。すなわち、ハーフミラー１ｃで反射さ
れた測定光とハーフミラー１ｃを透過した参照光はそれ
ぞれの光軸を同軸にして測定対象物に照射される。
【００２０】測定対象物の測定面Ｍで反射された測定光
および参照光は、反射光集光レンズ１ｅでＩｎＧａＡｓ
検出素子４に集光され、このＩｎＧａＡｓ検出素子４で
測定光と参照光の受光量の強度に応じたレベルの電流が
受光信号として交互に出力される。このＩｎＧａＡｓ検
出素子４から出力される受光信号は、Ｉ／Ｖ変換器６に
より電圧信号に変換された後、ＡＣアンプ７で増幅され
て同期整流回路８に入力される。
および参照光は、反射光集光レンズ１ｅでＩｎＧａＡｓ
検出素子４に集光され、このＩｎＧａＡｓ検出素子４で
測定光と参照光の受光量の強度に応じたレベルの電流が
受光信号として交互に出力される。このＩｎＧａＡｓ検
出素子４から出力される受光信号は、Ｉ／Ｖ変換器６に
より電圧信号に変換された後、ＡＣアンプ７で増幅され
て同期整流回路８に入力される。
【００２１】測定光ＩＲＥＤ２と参照光ＩＲＥＤ３を駆
動するためにＩＲＥＤ駆動回路５から出力される各駆動
信号は同期パルス生成回路９にも入力され、同期パルス
生成回路９は入力される駆動信号に同期したパルス信号
を発生して同期整流回路８に出力する。
動するためにＩＲＥＤ駆動回路５から出力される各駆動
信号は同期パルス生成回路９にも入力され、同期パルス
生成回路９は入力される駆動信号に同期したパルス信号
を発生して同期整流回路８に出力する。
【００２２】同期整流回路８は、ＡＣアンプ７から出力
される電圧信号を整流するとともに、この整流した直流
信号を同期パルス生成回路９からのパルス信号に同期し
て測定光と参照光の各電圧信号に分離し、各電圧信号を
測定光および参照光にそれぞれ対応して設けられた出力
端子からコントローラＢのＡ／Ｄコンバータ１０（図
１）に出力する。
される電圧信号を整流するとともに、この整流した直流
信号を同期パルス生成回路９からのパルス信号に同期し
て測定光と参照光の各電圧信号に分離し、各電圧信号を
測定光および参照光にそれぞれ対応して設けられた出力
端子からコントローラＢのＡ／Ｄコンバータ１０（図
１）に出力する。
【００２３】ここで、測定対象物においては、その含水
量およびその他の要因に応じて測定光の吸収が生じ、ま
た、上記その他の要因に応じて参照光の吸収が生じる。
したがって、参照光と測定光のそれぞれ反射光の受光量
の比等やその対数によって、上記その他の要因の影響を
相殺した吸光度換算値を求めることができ、この吸光度
換算値を予め設定した検量線の式等から水分値に換算す
ることができる。
量およびその他の要因に応じて測定光の吸収が生じ、ま
た、上記その他の要因に応じて参照光の吸収が生じる。
したがって、参照光と測定光のそれぞれ反射光の受光量
の比等やその対数によって、上記その他の要因の影響を
相殺した吸光度換算値を求めることができ、この吸光度
換算値を予め設定した検量線の式等から水分値に換算す
ることができる。
【００２４】すなわち、図１において、Ａ／Ｄコンバー
タ１０はアナログの電圧信号をデジタル信号（数値デー
タ）に変換し、このデジタル信号がＣＰＵ１１に取り込
まれる。そして、ＣＰＵ１１は、測定光に対応する測定
光データＳおよび参照光に対応する参照光データＲに基
づいて吸光度を演算し、この吸光度と設定された検量線
のデータから水分値を演算して表示器１５に表示する。
なお、この実施例では、後述説明する測定モードに応じ
て、演算した水分値の測定対象物個々の平均水分値を表
示器１５に表示する場合もある。また、この実施例で
は、測定光ＩＲＥＤ２の近傍に温度センサ２０を備えて
おり、この温度センサ２０の出力電圧すなわち温度に応
じた電圧信号をＡ／Ｄコンバータ１０でデジタル信号に
変換し、この温度のデジタル信号に基づいてＣＰＵ１１
で温度補正等を行う。
タ１０はアナログの電圧信号をデジタル信号（数値デー
タ）に変換し、このデジタル信号がＣＰＵ１１に取り込
まれる。そして、ＣＰＵ１１は、測定光に対応する測定
光データＳおよび参照光に対応する参照光データＲに基
づいて吸光度を演算し、この吸光度と設定された検量線
のデータから水分値を演算して表示器１５に表示する。
なお、この実施例では、後述説明する測定モードに応じ
て、演算した水分値の測定対象物個々の平均水分値を表
示器１５に表示する場合もある。また、この実施例で
は、測定光ＩＲＥＤ２の近傍に温度センサ２０を備えて
おり、この温度センサ２０の出力電圧すなわち温度に応
じた電圧信号をＡ／Ｄコンバータ１０でデジタル信号に
変換し、この温度のデジタル信号に基づいてＣＰＵ１１
で温度補正等を行う。
【００２５】なお、以上の実施の形態において、測定光
ＩＲＥＤ２および参照光ＩＲＥＤ３で測定光の赤外線お
よび参照光の赤外線を生成するようにしているが、これ
らのＩＲＥＤとともに各波長に応じたフィルタを併用し
て、測定光および参照光を単色化することも可能であ
る。
ＩＲＥＤ２および参照光ＩＲＥＤ３で測定光の赤外線お
よび参照光の赤外線を生成するようにしているが、これ
らのＩＲＥＤとともに各波長に応じたフィルタを併用し
て、測定光および参照光を単色化することも可能であ
る。
【００２６】この実施例の赤外線水分測定装置は、「モ
ード０」〜「モード３」の４種類の測定モードを備えて
おり、パーソナルコンピュータＤもしくはコントローラ
Ｂからモードが指定される。また、この実施例では、リ
ミットスイッチＣからの外部ホールド信号がＯＦＦのと
きに測定対象物が検出されているものとし、「モード
１」〜「モード３」のときに、この外部ホールド信号に
基づいて水分値測定を間欠的に行う。
ード０」〜「モード３」の４種類の測定モードを備えて
おり、パーソナルコンピュータＤもしくはコントローラ
Ｂからモードが指定される。また、この実施例では、リ
ミットスイッチＣからの外部ホールド信号がＯＦＦのと
きに測定対象物が検出されているものとし、「モード
１」〜「モード３」のときに、この外部ホールド信号に
基づいて水分値測定を間欠的に行う。
【００２７】例えば、コンベア上を測定対象物が間隔を
あけて搬送される場合、この測定対象物の搬送路と交叉
するように光束を投射し、この光束を光電検出器で受光
することによりリミットスイッチＣが構成される。そし
て、測定対象物がこの光束を遮ることによりリミットス
イッチＣはＯＦＦとなり、測定対象物が通過してしまう
とリミットスイッチＣはＯＮとなる。そこで、このリミ
ットスイッチＣのＯＦＦ状態のときに測定対象物の水分
値を測定する。なお、「モード０」のときは、外部ホー
ルド信号に関係なく、測定光データＳと参照光データＲ
をサンプリングする毎に、常時、水分値の演算を行って
その水分値を表示器１５に表示する。
あけて搬送される場合、この測定対象物の搬送路と交叉
するように光束を投射し、この光束を光電検出器で受光
することによりリミットスイッチＣが構成される。そし
て、測定対象物がこの光束を遮ることによりリミットス
イッチＣはＯＦＦとなり、測定対象物が通過してしまう
とリミットスイッチＣはＯＮとなる。そこで、このリミ
ットスイッチＣのＯＦＦ状態のときに測定対象物の水分
値を測定する。なお、「モード０」のときは、外部ホー
ルド信号に関係なく、測定光データＳと参照光データＲ
をサンプリングする毎に、常時、水分値の演算を行って
その水分値を表示器１５に表示する。
【００２８】次に、図３〜図５の各タイミングチャート
に基づいて、「モード１」〜「モード３」の動作につい
て説明する。なお、各タイミングチャートにおいて、斜
線で示したブロックは例えばコンベア上を間欠的に流れ
る測定対象物を示しており、リミットスイッチＣからの
外部ホールド信号ａは測定対象物のないところでＯＮと
なり測定対象物のあるところでＯＦＦとなる。
に基づいて、「モード１」〜「モード３」の動作につい
て説明する。なお、各タイミングチャートにおいて、斜
線で示したブロックは例えばコンベア上を間欠的に流れ
る測定対象物を示しており、リミットスイッチＣからの
外部ホールド信号ａは測定対象物のないところでＯＮと
なり測定対象物のあるところでＯＦＦとなる。
【００２９】図３は「モード１」の場合を示し、この
「モード１」では、外部ホールド信号ａがＯＦＦのとき
には、逐次得られる測定光データＳと参照光データＲで
水分演算値Ｙを求めて逐次更新し、その更新した値をそ
のまま表示器１５に表示する。一方、外部ホールド信号
ａがＯＮとなると、その直前の水分演算値Ｙを、次に外
部ホールド信号ａがＯＦＦとなるまで表示器１５にホー
ルド表示する。
「モード１」では、外部ホールド信号ａがＯＦＦのとき
には、逐次得られる測定光データＳと参照光データＲで
水分演算値Ｙを求めて逐次更新し、その更新した値をそ
のまま表示器１５に表示する。一方、外部ホールド信号
ａがＯＮとなると、その直前の水分演算値Ｙを、次に外
部ホールド信号ａがＯＦＦとなるまで表示器１５にホー
ルド表示する。
【００３０】図４は「モード２」の場合を示し、この
「モード２」では、外部ホールド信号ａがＯＦＦのとき
には、逐次得られる測定光データＳと参照光データＲで
水分演算値Ｙを求めるとともに平均水分値を演算し、こ
のＯＦＦの期間の平均水分値を外部ホールド信号がＯＮ
になった時点で表示器１５に表示する。すなわち、外部
ホールド信号ａがＯＦＦの間は一つ前の測定対象物の平
均水分値をホールド表示し、外部ホールド信号ａがＯＮ
すなわち測定対象物が検出されなくなるとその測定対象
物の平均水分値をホールド表示する。これにより、測定
対象物個々の平均水分値が、次の測定対象物の測定が終
了する時点まで表示される。
「モード２」では、外部ホールド信号ａがＯＦＦのとき
には、逐次得られる測定光データＳと参照光データＲで
水分演算値Ｙを求めるとともに平均水分値を演算し、こ
のＯＦＦの期間の平均水分値を外部ホールド信号がＯＮ
になった時点で表示器１５に表示する。すなわち、外部
ホールド信号ａがＯＦＦの間は一つ前の測定対象物の平
均水分値をホールド表示し、外部ホールド信号ａがＯＮ
すなわち測定対象物が検出されなくなるとその測定対象
物の平均水分値をホールド表示する。これにより、測定
対象物個々の平均水分値が、次の測定対象物の測定が終
了する時点まで表示される。
【００３１】図５は「モード３」でリミットスイッチＣ
を接続しない場合を示し、この「モード３」では、水分
演算値Ｙに対する予め決められたしきい値に応じて、演
算と表示の切り換えを制御する。すなわち、しきい値に
は上限値と下限値があり、水分演算値Ｙが上限値と下限
値の間にあるとき（下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値）だ
け、水分演算値Ｙの平均水分値の演算を行い、この水分
演算値Ｙが上限値と下限値の間にあるときの平均水分値
を、上限値または下限値から外れた時点で表示器１５に
表示する。また、上限値または下限値から外れたときに
は、平均水分値の演算を停止する。これにより、例えば
図５にで示したように水分値が異常な値（この場合は
異常に高い値）のときには、その値が平均水分値に影響
しないようにすることができる。なお、この「モード
３」の場合も、「モード２」の場合と同様に、測定対象
物個々の平均水分値が、次の測定対象物の測定が終了す
る時点まで表示される。
を接続しない場合を示し、この「モード３」では、水分
演算値Ｙに対する予め決められたしきい値に応じて、演
算と表示の切り換えを制御する。すなわち、しきい値に
は上限値と下限値があり、水分演算値Ｙが上限値と下限
値の間にあるとき（下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値）だ
け、水分演算値Ｙの平均水分値の演算を行い、この水分
演算値Ｙが上限値と下限値の間にあるときの平均水分値
を、上限値または下限値から外れた時点で表示器１５に
表示する。また、上限値または下限値から外れたときに
は、平均水分値の演算を停止する。これにより、例えば
図５にで示したように水分値が異常な値（この場合は
異常に高い値）のときには、その値が平均水分値に影響
しないようにすることができる。なお、この「モード
３」の場合も、「モード２」の場合と同様に、測定対象
物個々の平均水分値が、次の測定対象物の測定が終了す
る時点まで表示される。
【００３２】図６は「モード３」でリミットスイッチＣ
を接続した場合を示し、この「モード３」では、外部ホ
ールド信号ａの状態と、前記同様に水分演算値Ｙに対す
る予め決められたしきい値とに応じて、演算と表示の切
り換えを制御する。すなわち、外部ホールド信号ａがＯ
ＦＦで、かつ、水分演算値Ｙが上限値と下限値の間にあ
るとき（下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値）だけ、水分演
算値Ｙの平均水分値の演算を行い、このＯＦＦの期間
で、かつ、水分演算値Ｙが上限値と下限値の間にあると
きの平均水分値を、外部ホールド信号がＯＮになった時
点あるいは平均水分値が上限または下限値から外れた時
点で表示器１５に表示する。また、これ以外の条件のと
きには、平均水分値の演算を停止する。これにより、前
記同様に水分値が異常な値のときには、その値が平均水
分値に影響しないようにすることができ、さらに、例え
ば図６にで示したように外部ホールド信号ａには影響
しないような異物によってある程度の水分演算値が発生
した場合もその値が平均水分値に影響しないようにする
ことができる。なお、この「モード３」の場合も、「モ
ード２」の場合と同様に、測定対象物個々の平均水分値
が、次の測定対象物の測定が終了する時点まで表示され
る。
を接続した場合を示し、この「モード３」では、外部ホ
ールド信号ａの状態と、前記同様に水分演算値Ｙに対す
る予め決められたしきい値とに応じて、演算と表示の切
り換えを制御する。すなわち、外部ホールド信号ａがＯ
ＦＦで、かつ、水分演算値Ｙが上限値と下限値の間にあ
るとき（下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値）だけ、水分演
算値Ｙの平均水分値の演算を行い、このＯＦＦの期間
で、かつ、水分演算値Ｙが上限値と下限値の間にあると
きの平均水分値を、外部ホールド信号がＯＮになった時
点あるいは平均水分値が上限または下限値から外れた時
点で表示器１５に表示する。また、これ以外の条件のと
きには、平均水分値の演算を停止する。これにより、前
記同様に水分値が異常な値のときには、その値が平均水
分値に影響しないようにすることができ、さらに、例え
ば図６にで示したように外部ホールド信号ａには影響
しないような異物によってある程度の水分演算値が発生
した場合もその値が平均水分値に影響しないようにする
ことができる。なお、この「モード３」の場合も、「モ
ード２」の場合と同様に、測定対象物個々の平均水分値
が、次の測定対象物の測定が終了する時点まで表示され
る。
【００３３】以上のように、「モード１」および「モー
ド２」において外部ホールド信号ａがＯＦＦのときの水
分演算値Ｙおよび平均水分演算値、または、「モード
３」でリミットスイッチＣを接続しない場合において、
「下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値」という条件が満足さ
れたときの平均水分演算値、または、「モード３」でリ
ミットスイッチＣを接続した場合において外部ホールド
信号ａがＯＦＦでかつ「下限値≦水分演算値Ｙ≦上限
値」という条件が満足されたときの平均水分演算値は、
例えばパーソナルコンピュータＤに転送され、これらの
水分演算値に基づいて、多数の測定対象物全体の平均の
水分値を求めることができる。このように、測定対象物
に同期して間欠的に水分値が測定されるので、同種の多
くの測定対象物、例えばロット製品について、その平均
水分値を正確に測定することができる。
ド２」において外部ホールド信号ａがＯＦＦのときの水
分演算値Ｙおよび平均水分演算値、または、「モード
３」でリミットスイッチＣを接続しない場合において、
「下限値≦水分演算値Ｙ≦上限値」という条件が満足さ
れたときの平均水分演算値、または、「モード３」でリ
ミットスイッチＣを接続した場合において外部ホールド
信号ａがＯＦＦでかつ「下限値≦水分演算値Ｙ≦上限
値」という条件が満足されたときの平均水分演算値は、
例えばパーソナルコンピュータＤに転送され、これらの
水分演算値に基づいて、多数の測定対象物全体の平均の
水分値を求めることができる。このように、測定対象物
に同期して間欠的に水分値が測定されるので、同種の多
くの測定対象物、例えばロット製品について、その平均
水分値を正確に測定することができる。
【００３４】なお、「モード３」において、水分演算値
Ｙが上限と下限の間にあるときは「測定対象物有り」と
判定することにも対応しているが、測定対象物の概ねの
水分値は通常は既知であるので、しきい値はこれら既知
な水分値から設定することができる。
Ｙが上限と下限の間にあるときは「測定対象物有り」と
判定することにも対応しているが、測定対象物の概ねの
水分値は通常は既知であるので、しきい値はこれら既知
な水分値から設定することができる。
【００３５】以上のように水分測定を行うが、測定ヘッ
ドＡの測定光ＩＲＥＤ２、参照光ＩＲＥＤ３、ＩｎＧａ
Ａｓ検出素子４の応答性は高く、例えば測定開始後０．
２秒程度で立ち上げることができ、さらに、測定光デー
タＳおよび参照光データＲのサンプリング周期を極めて
短くすることができる。したがって、例えば前記実施例
の外部ホールド信号ａがＯＦＦの期間（例えば１秒程度
あるいはそれ以下の時間）に多数点の水分演算値をサン
プリングすることができ、その測定対象物個々の正確な
水分代表値を得ることができる。
ドＡの測定光ＩＲＥＤ２、参照光ＩＲＥＤ３、ＩｎＧａ
Ａｓ検出素子４の応答性は高く、例えば測定開始後０．
２秒程度で立ち上げることができ、さらに、測定光デー
タＳおよび参照光データＲのサンプリング周期を極めて
短くすることができる。したがって、例えば前記実施例
の外部ホールド信号ａがＯＦＦの期間（例えば１秒程度
あるいはそれ以下の時間）に多数点の水分演算値をサン
プリングすることができ、その測定対象物個々の正確な
水分代表値を得ることができる。
【００３６】なお、上記のように、測定ヘッドＡに測定
光ＩＲＥＤ２、参照光ＩＲＥＤ３およびＩｎＧａＡｓ検
出素子４を用いているので、次のような効果も得られ
る。
光ＩＲＥＤ２、参照光ＩＲＥＤ３およびＩｎＧａＡｓ検
出素子４を用いているので、次のような効果も得られ
る。
【００３７】従来のようにフィルタホイールをモータで
回転させるような構成を必要としないので、装置自体が
コンパクトになるとともに、主要部品の点数も削減する
ことができ、コストも低減することができる。
回転させるような構成を必要としないので、装置自体が
コンパクトになるとともに、主要部品の点数も削減する
ことができ、コストも低減することができる。
【００３８】また、測定光ＩＲＥＤ２および参照光ＩＲ
ＥＤ３は赤外線発光ダイオードであるので、長寿命で、
消費電流が少なく発熱体ともならず、メンテナンス性の
向上、使用環境温度許容範囲の向上、低消費電力化が図
れる。
ＥＤ３は赤外線発光ダイオードであるので、長寿命で、
消費電流が少なく発熱体ともならず、メンテナンス性の
向上、使用環境温度許容範囲の向上、低消費電力化が図
れる。
【００３９】また、ＩｎＧａＡｓ検出素子４は、感度が
ＰｂＳの１０倍以上であり、なおかつ素子特性が安定で
応答性能が優れている。さらに、ＩｎＧａＡｓ検出素子
４は分光感度のピークが１．５５μｍで、検出感度がＰ
ｂＳより１桁高く、測定光としてその主波長が１．４５
μｍの赤外線を用いていいるので、低水分試料から高水
分試料まで広範囲な測定が可能となる。
ＰｂＳの１０倍以上であり、なおかつ素子特性が安定で
応答性能が優れている。さらに、ＩｎＧａＡｓ検出素子
４は分光感度のピークが１．５５μｍで、検出感度がＰ
ｂＳより１桁高く、測定光としてその主波長が１．４５
μｍの赤外線を用いていいるので、低水分試料から高水
分試料まで広範囲な測定が可能となる。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１〜
請求項５記載の赤外線水分測定方法または請求項６記載
の赤外線水分測定装置によれば、測定光を放射するため
の測定光用赤外線発光ダイオードと、参照光を放射する
ための参照光用赤外線発光ダイオードと、この測定対象
物からの反射光を受光するためのＩｎＧａＡｓ受光素子
を用い、測定光用赤外線発光ダイオードと参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、例えば外
部ホールド信号に基づいて測定対象物が検出されている
ときにＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリ
ングすることにより、測定対象物の検出状態に対応して
この測定対象物の水分値を間欠的に測定するようにした
ので、間欠的に流れるロット製品等の各製品個々の水分
値を測定することができ、ロット製品等の平均水分値を
正確に測定することができる。
請求項５記載の赤外線水分測定方法または請求項６記載
の赤外線水分測定装置によれば、測定光を放射するため
の測定光用赤外線発光ダイオードと、参照光を放射する
ための参照光用赤外線発光ダイオードと、この測定対象
物からの反射光を受光するためのＩｎＧａＡｓ受光素子
を用い、測定光用赤外線発光ダイオードと参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、例えば外
部ホールド信号に基づいて測定対象物が検出されている
ときにＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリ
ングすることにより、測定対象物の検出状態に対応して
この測定対象物の水分値を間欠的に測定するようにした
ので、間欠的に流れるロット製品等の各製品個々の水分
値を測定することができ、ロット製品等の平均水分値を
正確に測定することができる。
【００４１】また、請求項２〜請求項５記載の赤外線水
分測定方法によれば、測定対象物が検出されていないと
きの水分値表示は、測定対象物の検出状態での最後の水
分値または測定対象物個々の平均水分値をホールド表示
したものとなるので、間欠的に測定しても常に水分値を
確認することができるとともに、請求項２の赤外線水分
測定方法ではサンプリング毎の瞬時値を知ることがで
き、請求項３〜請求項５の赤外線水分測定方法では平均
水分値を知ることができる。
分測定方法によれば、測定対象物が検出されていないと
きの水分値表示は、測定対象物の検出状態での最後の水
分値または測定対象物個々の平均水分値をホールド表示
したものとなるので、間欠的に測定しても常に水分値を
確認することができるとともに、請求項２の赤外線水分
測定方法ではサンプリング毎の瞬時値を知ることがで
き、請求項３〜請求項５の赤外線水分測定方法では平均
水分値を知ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の赤外線水分測定装置を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】同赤外線水分測定装置の測定ヘッドＡのブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】実施例におけるモード１のタイミングチャート
である。
である。
【図４】実施例におけるモード２のタイミングチャート
である。
である。
【図５】実施例におけるモード３でリミットスイッチを
接続しない場合のタイミングチャートである。
接続しない場合のタイミングチャートである。
【図６】実施例におけるモード３でリミットスイッチを
接続した場合のタイミングチャートである。
接続した場合のタイミングチャートである。
２，３ ＩＲＥＤ（赤外線発光ダイオード） ４ ＩｎＧａＡｓ検出素子 Ａ 測定ヘッド Ｂ コントローラ Ｃ リミットスイッチ
Claims (6)
- 【請求項１】 測定光用赤外線発光ダイオードから放射
した測定光と参照光用赤外線発光ダイオードから放射し
た参照光とを測定対象物に照射し、該測定光と参照光の
反射光をＩｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を
求める赤外線水分測定方法であって、 前記測定光用赤外線発光ダイオードと前記参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、測定対象
物を検出して、該測定対象物が検出されているときに、
前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリン
グすることにより、上記測定対象物の検出状態に対応し
て該測定対象物の水分値を間欠的に測定するようにした
ことを特徴とする赤外線水分測定方法。 - 【請求項２】 測定光用赤外線発光ダイオードから放射
した測定光と参照光用赤外線発光ダイオードから放射し
た参照光とを測定対象物に照射し、該測定光と参照光の
反射光をＩｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を
求めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値
表示を行う赤外線水分測定方法であって、 前記測定光用赤外線発光ダイオードと前記参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、測定対象
物を検出して、該測定対象物が検出されているときに、
前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリン
グすることにより、上記測定対象物の検出状態に対応し
て該測定対象物の水分値を間欠的に測定し、 該測定対象物が検出されているときは前記測定した水分
値を逐次表示するとともに、該測定対象物が検出されて
いないときは、上記測定した水分値の最後の水分値をホ
ールド表示するようにしたことを特徴とする赤外線水分
測定方法。 - 【請求項３】 測定光用赤外線発光ダイオードから放射
した測定光と参照光用赤外線発光ダイオードから放射し
た参照光とを測定対象物に照射し、該測定光と参照光の
反射光をＩｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を
求めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値
表示を行う赤外線水分測定方法であって、 前記測定光用赤外線発光ダイオードと前記参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、測定対象
物を検出して、該測定対象物が検出されているときに、
前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリン
グすることにより、上記測定対象物の検出状態に対応し
て該測定対象物の水分値を間欠的に測定し、 該測定対象物が検出されている間に測定した水分値の平
均水分値を、該測定対象物が検出されなくなった時点か
ら次の測定対象物が検出されなくなるまでホールド表示
することにより、測定対象物個々の平均水分値を更新し
て表示するようにしたことを特徴とする赤外線水分測定
方法。 - 【請求項４】 測定光用赤外線発光ダイオードから放射
した測定光と参照光用赤外線発光ダイオードから放射し
た参照光とを測定対象物に照射し、該測定光と参照光の
反射光をＩｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を
求めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値
表示を行う赤外線水分測定方法であって、 前記測定光用赤外線発光ダイオードと前記参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させて、前記ＩｎＧａＡｓ
受光素子の受光信号を高速サンプリングすることによ
り、上記測定対象物の水分値を測定し、 前記測定した水分値が所定範囲のときに該測定した水分
値の平均水分値を、該測定した水分値が該所定範囲から
外れた時点から次に該所定範囲から外れた時点までホー
ルド表示することにより、測定対象物個々の平均水分値
を更新して表示するようにしたことを特徴とする赤外線
水分測定方法。 - 【請求項５】 測定光用赤外線発光ダイオードから放射
した測定光と参照光用赤外線発光ダイオードから放射し
た参照光とを測定対象物に照射し、該測定光と参照光の
反射光をＩｎＧａＡｓ受光素子で受光して該ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号に基づいて測定対象物の水分値を
求めるとともに、該求められた水分値に基づいて水分値
表示を行う赤外線水分測定方法であって、 前記測定光用赤外線発光ダイオードと前記参照光用赤外
線発光ダイオードを高速作動させるとともに、測定対象
物を検出して、該測定対象物が検出されているときに、
前記ＩｎＧａＡｓ受光素子の受光信号を高速サンプリン
グすることにより、上記測定対象物の検出状態に対応し
て該測定対象物の水分値を間欠的に測定し、 該測定対象物が検出され、かつ、前記測定した水分値が
所定範囲であるという条件を満足したときに該測定した
水分値の平均水分値を、該条件が満足されなくなった時
点から次に該条件が満足されなくなった時点までホール
ド表示することにより、測定対象物個々の平均水分値を
更新して表示するようにしたことを特徴とする赤外線水
分測定方法。 - 【請求項６】 測定対象物の含水量により赤外線吸収が
変化する測定光の赤外線を放射する測定光用の赤外線発
光ダイオードと、 測定対象物の含水量により赤外線吸収が略変化しない参
照光の赤外線を放射する参照光用の赤外線発光ダイオー
ドと、 上記各赤外線発光ダイオードが放射する前記測定光およ
び参照光の赤外線を測定対象物に照射するとともに該測
定対象物からのこれら赤外線の反射光を集光する光学系
と、 上記光学系で集光された赤外線を受光して該受光量に応
じた受光信号を出力するＩｎＧａＡｓ受光素子と、 測定対象物を検出している状態のときに前記ＩｎＧａＡ
ｓ受光素子の受光信号を高速サンプリングすることによ
り、上記測定対象物の検出状態に対応して該測定対象物
の水分値を測定する制御手段と、を備えたことを特徴と
する赤外線水分測定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33950596A JPH10176989A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 赤外線水分測定方法及び赤外線水分測定装置 |
| EP97301636A EP0795743A3 (en) | 1996-03-15 | 1997-03-12 | Method and apparatus for infra-red moisture measurement |
| KR1019970008513A KR100231373B1 (ko) | 1996-03-15 | 1997-03-13 | 적외선 수분 측정장치 및 적외선 수분 측정방법 |
| US08/816,503 US5870926A (en) | 1996-03-15 | 1997-03-13 | Infrared moisture measuring apparatus and infrared moisture measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33950596A JPH10176989A (ja) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 赤外線水分測定方法及び赤外線水分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10176989A true JPH10176989A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18328123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33950596A Pending JPH10176989A (ja) | 1996-03-15 | 1996-12-19 | 赤外線水分測定方法及び赤外線水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10176989A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000097854A (ja) * | 1998-09-25 | 2000-04-07 | Nippon Koden Corp | 呼吸ガス濃度測定装置 |
| WO2019044253A1 (ja) * | 2017-08-30 | 2019-03-07 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 水分量検出装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03279846A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-11 | Okawara Mfg Co Ltd | 流動層処理装置における水分測定方法および被処理物の水分制御方法 |
| JPH06288906A (ja) * | 1993-04-01 | 1994-10-18 | Chino Corp | 水分計 |
| JPH06300680A (ja) * | 1993-04-14 | 1994-10-28 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 透過法による青果物の内部品質測定装置 |
| JPH08247935A (ja) * | 1995-03-13 | 1996-09-27 | Omron Corp | 光学装置および検出装置 |
-
1996
- 1996-12-19 JP JP33950596A patent/JPH10176989A/ja active Pending
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| JPWO2019044253A1 (ja) * | 2017-08-30 | 2020-04-23 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 水分量検出装置 |
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|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040511 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040921 |