JPH10228606A - 磁気ヘッドおよびその製造方法 - Google Patents

磁気ヘッドおよびその製造方法

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JPH10228606A
JPH10228606A JP9031594A JP3159497A JPH10228606A JP H10228606 A JPH10228606 A JP H10228606A JP 9031594 A JP9031594 A JP 9031594A JP 3159497 A JP3159497 A JP 3159497A JP H10228606 A JPH10228606 A JP H10228606A
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Shunsaku Muraoka
俊作 村岡
Noboru Ito
昇 伊藤
Hiromi Takeda
裕美 武田
Takeshi Takahashi
健 高橋
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    • B32B17/10009Layered products essentially comprising sheet glass, or glass, slag, or like fibres comprising glass as the main or only constituent of a layer, next to another layer of a specific material of synthetic resin laminated safety glass or glazing characterized by the number, the constitution or treatment of glass sheets
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  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 MIGヘッドのギャップ精度をより向上させ
ることで、歩留まりが高く、信頼性の高いMIGヘッド
およびその製造方法を提供する。 【解決手段】 少なくとも片側の磁気コアが強磁性酸化
物のギャップ対向面上に金属磁性膜が形成されたMIG
ヘッドの磁気ギャップが、Cr23、あるいはCr23
をSiO2を主成分とする非磁性酸化物で挟持した構造
のギャップ材で形成されていることを特徴とする磁気ヘ
ッドである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はデジタルVTRやデ
ータストリーマ等のシステムに用いられる高保磁力の磁
気記録媒体に高密度に情報を記録再生するのに適した磁
気ヘッド、及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】VTRやデータストリーマ等の磁気記録
システムの高密度化が要求される中、高密度磁気記録再
生に適した磁気ヘッドとして、従来のフェライト材料よ
りも飽和磁束密度Bsの高い材料であるCo系アモルフ
ァス膜やFe系窒化膜等の金属磁性材料を用いた磁気ヘ
ッド、その中でも特にMIGヘッドの開発が盛んに行わ
れている。
【0003】従来のMIGヘッドの構造としては、おも
に図1に示すように磁気コアであるフェライト2の磁気
ギャップ対向面上に飽和磁束密度の高い金属磁性膜1を
形成し、金属磁性膜間に磁気ギャップ6を設けた構造が
主流で、その磁気ギャップは主にCr8をSiO27で
挟持した構造となっていた。
【0004】また、従来のMIGヘッドの製造方法を図
2ー(a)〜(f)に示す。まず、一対のフェライトコ
ア2に巻線溝12及びバックガラス溝13を形成し、次
にトラック溝14を形成する。次にギャップ対向面15
を研磨した後に金属磁性膜1をギャップ対向面上に形成
し、その上にギャップ材として、SiO27とCr8を
順次スパッタリングで形成する。そして一対のコア半体
をギャップ面で突き合わせ、低融点鉛ガラス4を熱処理
によりCr8上にモールドしてコアをギャップで接合
し、一つのギャップドバーを作成する。
【0005】また、従来は熱処理中の雰囲気を不活性ガ
スであるN2フロー中としている。その理由としては使
用している金属磁性膜の熱処理による酸化を防ぐためで
ある。その後、所定のヘッドチップコア幅、アジマス角
度でヘッドチップに切断し、摺動面を研磨してヘッドチ
ップが完成する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の構造
のMIGヘッドは、ギャップ長精度が悪く特性が安定し
ないという問題や、ギャップ長を光学顕微鏡で測定する
際にギャップ材として使用しているCrに光が反射し
て、ギャップ長を精度良く測定しにくい等の製造上の問
題が生じた。
【0007】そこで、原因を解析した結果、従来のギャ
ップ材構成では、図3に示すようにギャップ材として使
用したCrが熱処理中の残留酸素や低融点鉛ガラス4中
の酸素により、部分的に酸化して不均一なCr酸化物9
となって体積膨張し、膜厚が不均一になるために、ギャ
ップ長10が安定しないことがわかった。
【0008】また、従来Crをギャップ材として使用し
ている目的は、低融点鉛ガラスの濡れ性を向上させるた
めであり、Crを用いずSiO2等の酸化物だけでは、
図4に示すように低融点鉛カラス4の流れが悪くチップ
強度も大きく劣化するという課題があった。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の磁気ヘッドは、少なくとも片側の磁気コア
が強磁性酸化物のギャップ対向面上に金属磁性膜が形成
されたMIGヘッドの磁気ギャップが、Cr23からな
るギャップ材で形成されていることを特徴とする、ある
いは、少なくとも片側の磁気コアが強磁性酸化物のギャ
ップ対向面上に金属磁性膜が形成されたMIGヘッドの
磁気ギャップが、Cr23をSiO2を主成分とする非
磁性酸化物で挟持した構造のギャップ材で形成されてい
ることを特徴とするものである。
【0010】また、その磁気ヘッドの製造方法は、一対
の強磁性酸化物に溝を形成し、その後上記強磁性酸化物
の少なくとも片側のギャップ対向面上に金属磁性膜を形
成して、一対のコア半体を作製する工程と、上記コア半
体のギャップ対向面及び溝の表面にCr23を形成、あ
るいはSiO2を主成分とする非磁性酸化物とCr2 3
を形成し、一対のコア半体同士をギャップ対向面上のC
23面で突き合わせ、PbOを主成分とする低融点ガ
ラスを上記溝中のCr23上に熱処理によりモールド
し、コアを接合する工程とを有するMIGヘッドの製造
において、上記熱処理の昇温過程で、少なくとも、 Tgー85℃≦T≦Tgー35℃ (但し、Tgは上記低融点ガラスのガラス転移点であ
る)の温度範囲Tでは酸素を含有する雰囲気中で熱処理
することを特徴とするものである。
【0011】図5に、MIGヘッドの製造に用いている
電気炉でCrとCr23を熱処理した後のそれぞれの膜
厚の変化を示す。520℃10min.の熱処理ではCrが
約70%膜厚増加しているのに対して、Cr23はほと
んど膜厚の変化がないことがわかる。これは、Crが熱
処理中の残留酸素により酸化して、Cr酸化物になり体
積膨張しているのに対して、Cr23は初めから酸化し
ているので熱処理による新たな酸化はなく、体積が一定
しているためである。
【0012】このことから、MIGヘッドの磁気ギャッ
プをCr23、あるいはCr23をSiO2を主成分と
する非磁性酸化物で挟持した構造のギャップ材で形成す
ることにより、熱処理による膜厚変化がなく、安定した
ギャップ長が実現できる。
【0013】さらに、Crと異なりCr23は透明であ
るので、従来Crで課題であった光のCrによる反射に
よりギャップ長を精度良く測定できない等の製造上の問
題がなくなる。
【0014】ところが、現状のCrをCr23にするだ
けでは、Cr23上でのガラスの流れはSiO2上に比
べ良いものの、従来のCr上に比べ悪く、MIGヘッド
のギャップ強度が充分でないという課題がある。
【0015】そこで、Cr23上にガラスを充分に流す
手段について説明する。従来は熱処理中の雰囲気はN2
フローとしていたが、ガラスの濡れ性を改善することを
目的に、熱処理の昇温過程で一部大気(酸素を約20%
含有)中熱処理を施こす検討を行った。図6は、熱処理
(最高温度510℃で10min.キープ)の昇温過程
で、ある温度Tcまでは大気中熱処理を行い、その後N
2フロー中熱処理を行った時のCr上及びCr23上で
の低融点鉛ガラス(ガラス転移点Tg=385℃)の濡
れ角を調べたものである。この結果より、低融点鉛ガラ
スはCr23上でも大気置換温度Tc=350℃以上の
熱処理を行うことで、Cr上とほぼ同等の濡れ性が実現
できることがわかった。したがって、Cr23上に低融
点鉛ガラスを流すには、熱処理の昇温過程で少なくとも
300℃(ガラス転移点Tgー85℃)〜350℃(ガ
ラス転移点Tgー35℃)の温度範囲では大気中での熱
処理が必要である。また、SiO2においても同等の検
討を行ったが、Tcを510℃まで上げてもCrと同等
の濡れ性は実現できなかった。
【0016】したがって、Cr23上では、熱処理にお
ける昇温過程で少なくとも(Tgー85℃)〜(Tgー
35℃)の温度範囲では大気中で熱処理を行う方法で、
Cr上と同等のガラスの濡れ性が実現できることがわか
る(但しTgは用いるガラスのガラス転移点である)。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の磁気ヘッドの実施形態に
ついて、図面を参照しながら説明する。
【0018】(実施例1)図7は本発明の実施例1の磁
気ヘッドの斜視図、及び摺動面から見た磁気ギャップ近
傍の拡大図を示す。磁気コアであるフェライト2の磁気
ギャップ対向面上に飽和磁束密度の高い金属磁性膜1が
形成され、金属磁性膜間にCr23からなる磁気ギャッ
プ6が形成されている。また、コアのギャップにおける
接合は低融点鉛ガラス4で行われている。本実施例で
は、フェライトはMnーZnフェライト、金属磁性膜は
飽和磁束密度Bs=1.6TのFeTaN膜を用いた。
また、コアの接合に用いるガラスはPbOを主成分とす
る低融点ガラスで、ガラス転移点Tg=385℃のもの
を用いた。このヘッドの製造方法で従来と異なる点は、
図2に示した従来の磁気ヘッドの製造方法の中で、ギャ
ップ材をCr23のみに変えてスパッタリングで形成す
る点と、その後低融点鉛ガラスを熱処理によりモールド
し、コアをギャップで接合する熱処理工程では、図6に
示すように、昇温時にTc=350℃まで大気中で熱処
理し、その後はN2フロー中で熱処理を行う方法に変え
ている点である。本実施例ではCr23の厚みは100
0Åとした。図8に従来のCrギャップ(a)の磁気ヘ
ッドと本発明のCr23ギャップ(b)の磁気ヘッドを
試作した時のGL(ギャップ長)分布を示す。本発明の
Cr 23ギャップの磁気ヘッドはGL分布が従来品に比
べ非常にシャープでバラツキが小さいことがわかる。ま
た、Cr23と金属磁性膜であるFeTaNとの反応も
ないことがわかった。このように本実施例の結果、GL
精度が向上し、安定したヘッド特性を得ることができ、
ヘッド製造歩留まりが大きく向上した。また、従来のC
rギャップに比べギャップ長も精度良く測定することが
可能となり、従来のようなヘッド製造上の課題を解決す
ることができた。
【0019】(実施例2)図9は本発明の実施例2の磁
気ヘッドの斜視図、及び摺動面から見た磁気ギャップ近
傍の拡大図を示す。磁気コアであるフェライト2の磁気
ギャップ対向面上に飽和磁束密度の高い金属磁性膜1が
形成され、金属磁性膜間にCr23をSiO2で挟持し
た構造からなる磁気ギャップ6が形成されている。その
他の部分及び製造方法は実施例1と同様である。本実施
例ではSiO2の膜厚は600Å、Cr23の膜厚は4
00Åとし、それぞれスパッタリングで形成した。その
結果、このヘッドのGL分布は実施例1とほぼ同様で、
従来に比べGL精度が向上し、安定したヘッド特性を得
ることができ、ヘッド製造歩留まりが大きく向上した。
また、ギャップ長の測定も精度良く測定することがで
き、従来のようなヘッド製造上の課題を解決することが
できた。
【0020】次に本実施例特有の効果を説明する。実施
例1のCr23のみのギャップでは、熱処理温度が35
0℃以上でのN2フロー雰囲気中に残留酸素があると、
雰囲気内の残留酸素と金属磁性膜であるFeTaNが反
応を起こし、ヘッド特性が劣化する場合があることがわ
かった。その原因としては、1000ÅのCr23のみ
では雰囲気中の残留酸素とFeTaNとの反応を抑制す
る効果が小さいことが考えられる。しかし、本実施例で
は、熱処理温度が350℃以上のN2フロー雰囲気中に
残留酸素があっても、雰囲気内の残留酸素と金属磁性膜
であるFeTaNとは反応を起こさないことがわかっ
た。この原因は600ÅのSiO2が雰囲気中の残留酸
素とFeTaNとの反応を防止するためであると考えら
れる。したがってこの実施例2は実施例1に比べ熱処理
中の雰囲気に対する余裕度が大きく、製造上有利である
ことがわかった。
【0021】(実施例3)図10に本発明の実施例3の
摺動面のギャップ近傍の拡大図を示す。実施例1、2と
異なる点はトラック幅の規制を放電加工により行ってい
る点である。
【0022】このようなヘッドにおいてもCr23ある
いは、Cr23をSiO2で挟持した構造のギャップ材
により実施例1、2と同等の高精度の磁気ギャップを実
現することができた。
【0023】またこれらヘッドの製造方法は、図2−
(e)において、まずバック溝中に低融点鉛ガラスをモ
ールドし、その後トラック規制の放電加工を施し、その
後トラック溝中に低融点鉛ガラスをモールドするという
点が実施例1、2とは異なり、低融点鉛ガラスをモール
ドする熱処理工程では、昇温時にTc=350℃まで大
気中で熱処理し、その後はN2フロー中で熱処理を行う
方法で行った。その結果、ガラスの流れは良好であり、
チップ強度が劣化するといった問題は見られなかった。
【0024】また実施例1〜3では、金属磁性膜とし
て、FeTaNを使用した時について述べたが、金属磁
性膜としてCo系アモルファス膜や、センダスト、Fe
GaSiRuの金属磁性膜を用いた磁気ヘッドに応用し
ても同様の効果が得られる。
【0025】また実施例2、3では、SiO2の代わり
にパイレックス等のSiO2を主成分とした非磁性酸化
物を用いても同様の効果が得られる。
【0026】
【発明の効果】本発明の磁気ヘッド及びその製造方法に
より、磁気ギャップの精度を大幅に向上させ、さらにギ
ャップ長の測定精度を改善することができ、磁気ヘッド
製造歩留まりを大きく上昇させることができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の磁気ヘッドの構造を示す斜視図及び摺動
面から見た磁気ギャップ近傍の拡大図
【図2】従来の磁気ヘッドの製造方法を示す斜視図
【図3】従来の磁気ヘッドの課題を示す図
【図4】従来の製造方法で作製した磁気ヘッドの斜視図
【図5】Cr及びCr23の熱処理後の膜厚変化を示す
【図6】熱処理条件によるCr及びCr23上での低融
点鉛ガラスの濡れ角を示す図
【図7】本発明の実施例1の磁気ヘッドの構造を示す斜
視図及び摺動面から見た磁気ギャップ近傍の拡大図
【図8】従来の磁気ヘッドと本発明の磁気ヘッドのGL
(ギャップ長)分布を示す図
【図9】本発明の実施例2の磁気ヘッドの構造を示す斜
視図及び摺動面から見た磁気ギャップ近傍の拡大図
【図10】本発明の実施例3の磁気ヘッドの摺動面から
見た磁気ギャップ近傍の拡大図
【符号の説明】
1 金属磁性膜 2 フェライト 3 Cr23 4 低融点鉛ガラス 6 磁気ギャップ 7 SiO2 8 Cr 9 Cr酸化物 10 ギャップ長 11 放電加工 12 巻線溝 13 バック溝 14 トラック溝 15 ギャップ面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 健 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも片側の磁気コアが強磁性酸化
    物のギャップ対向面上に金属磁性膜が形成されたMIG
    ヘッドの磁気ギャップが、Cr23からなるギャップ材
    で形成されていることを特徴とする磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 少なくとも片側の磁気コアが強磁性酸化
    物のギャップ対向面上に金属磁性膜が形成されたMIG
    ヘッドの磁気ギャップが、Cr23をSiO2を主成分
    とする非磁性酸化物で挟持した構造のギャップ材で形成
    されていることを特徴とする磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 一対の強磁性酸化物に溝を形成し、その
    後上記強磁性酸化物の少なくとも片側のギャップ対向面
    上に金属磁性膜を形成して一対のコア半体を作製する工
    程と、上記コア半体のギャップ対向面及び溝の表面にC
    23を形成、あるいはSiO2を主成分とする非磁性
    酸化物とCr23を形成し、一対のコア半体同士をギャ
    ップ対向面上のCr23面で突き合わせ、PbOを主成
    分とする低融点鉛ガラスを上記溝中のCr23上に熱処
    理によりモールドし、コアを接合する工程とを有するM
    IGヘッドの製造において、上記熱処理の昇温過程で、
    少なくとも、 Tgー85℃≦T≦Tgー35℃ (但し、Tgは上記低融点ガラスのガラス転移点であ
    る)の温度範囲Tでは酸素を含有する雰囲気中で熱処理
    することを特徴とする磁気ヘッドの製造方法。
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EP0273496B1 (en) * 1986-12-03 1991-04-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Magnetic head having an electro-chemically inert gap of hard material
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