JPH10228995A - １次ダイヤフラム装置を含むｘ線装置 - Google Patents
１次ダイヤフラム装置を含むｘ線装置Info
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
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-
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- A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の露出制御システムは、測定場の一部が
露出されないように放射線ビームが厳しく制限されると
きＸ線量を増加させ、過剰露出されたＸ線像を生じる。 【解決手段】 Ｘ線装置は、Ｘ線ビームを制限する一次
ダイヤフラム装置(3) と、自動露出制御用の制御回路(1
0)とからなり、制御回路はＸ線量率を測定する少なくと
も一つの測定場(31)を備えた検出器(9) を有する。本発
明によるＸ線装置は、測定場の露出領域(33)の寸法に依
存し、測定場の一部が露出されていない場合でもＸ線量
の増加を防止するように制御回路に作用する補正値(K)
を決定する手段(12,14,15,16,17)が設けられている。
露出されないように放射線ビームが厳しく制限されると
きＸ線量を増加させ、過剰露出されたＸ線像を生じる。 【解決手段】 Ｘ線装置は、Ｘ線ビームを制限する一次
ダイヤフラム装置(3) と、自動露出制御用の制御回路(1
0)とからなり、制御回路はＸ線量率を測定する少なくと
も一つの測定場(31)を備えた検出器(9) を有する。本発
明によるＸ線装置は、測定場の露出領域(33)の寸法に依
存し、測定場の一部が露出されていない場合でもＸ線量
の増加を防止するように制御回路に作用する補正値(K)
を決定する手段(12,14,15,16,17)が設けられている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ビームを放出
するＸ線ソースと、Ｘ線を検出しＸ線像を形成するＸ線
像変換器と、Ｘ線ビームを制限するため放射線ソースと
被検査対象との間に設けられている一次ダイヤフラム装
置と、Ｘ線量率を測定する少なくとも一つの測定場を備
えた検出器を含む自動露出制御用の制御回路とからなる
Ｘ線装置に関する。
するＸ線ソースと、Ｘ線を検出しＸ線像を形成するＸ線
像変換器と、Ｘ線ビームを制限するため放射線ソースと
被検査対象との間に設けられている一次ダイヤフラム装
置と、Ｘ線量率を測定する少なくとも一つの測定場を備
えた検出器を含む自動露出制御用の制御回路とからなる
Ｘ線装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記の種類のＸ線装置は、ドイツ国特許
出願第30 06 774 号により公知である。その制御回路
は、２個のメモリ値を基準値に重ね合わせる加算器を含
み、第１のメモリ値は、電極電圧に対するＸ線像変換器
として使用されるＸ線像増倍器の変換率の依存性を具体
化し、第２のメモリ値は、像フォーマットを決定する一
次ダイヤフラム装置のアパーチャに対するＸ線像増倍器
の背景（残存輝度）の依存性を具体化する。Ｘ線像増倍
器によって歪められた自動露出制御のための測定値は、
かくして補正される。
出願第30 06 774 号により公知である。その制御回路
は、２個のメモリ値を基準値に重ね合わせる加算器を含
み、第１のメモリ値は、電極電圧に対するＸ線像変換器
として使用されるＸ線像増倍器の変換率の依存性を具体
化し、第２のメモリ値は、像フォーマットを決定する一
次ダイヤフラム装置のアパーチャに対するＸ線像増倍器
の背景（残存輝度）の依存性を具体化する。Ｘ線像増倍
器によって歪められた自動露出制御のための測定値は、
かくして補正される。
【０００３】Ｘ線像内の診断的な関心のある領域は、所
定の平均濃度を有する。検出器の測定場は、この関心の
ある領域と位置合わせされ、露出中に既に印加されたＸ
線量は、Ｘ線量率の測定によりこの測定場内で連続的に
測定される。平均濃度に対応した所定のＸ線量に達した
とき、自動露出制御はＸ線のスイッチを切る。
定の平均濃度を有する。検出器の測定場は、この関心の
ある領域と位置合わせされ、露出中に既に印加されたＸ
線量は、Ｘ線量率の測定によりこの測定場内で連続的に
測定される。平均濃度に対応した所定のＸ線量に達した
とき、自動露出制御はＸ線のスイッチを切る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】Ｘ線ビームによって通
過された領域の寸法を医学的要求条件に適合させ、必要
に応じて、散乱された放射線のコントラスト劣化の影響
を低減するため、Ｘ線ビームを制限する一次ダイヤフラ
ム装置がＸ線ソースと、被検査対象、例えば、患者との
間に設けられる。しかし、制限が非常に広い場合、即
ち、ダイヤフラムのアパーチャが非常に小さくされてい
る場合、測定場の部品は一次ダイヤフラム装置のシャッ
ターによって覆われるので、それらの部品が露出される
ことはなくなり、通常の露出制御システムが利用された
とき、過剰露出されたＸ線像が得られる。その理由は、
測定場の領域がシャッターで覆われて露出されない場合
でも、検出器が平均化によって全測定場内の線量を測定
するからである。従って、広い制限の場合に、全測定場
に亘って平均された線量は測定場の露出領域で得られた
線量よりも少ない。通常の自動露出制御システムは、所
定のＸ線量に達するまで、Ｘ線量を増加する。このた
め、殆どの場合に重要な像情報が失われた過剰露出され
たＸ線像が生じ、患者に対する線量が増加する。
過された領域の寸法を医学的要求条件に適合させ、必要
に応じて、散乱された放射線のコントラスト劣化の影響
を低減するため、Ｘ線ビームを制限する一次ダイヤフラ
ム装置がＸ線ソースと、被検査対象、例えば、患者との
間に設けられる。しかし、制限が非常に広い場合、即
ち、ダイヤフラムのアパーチャが非常に小さくされてい
る場合、測定場の部品は一次ダイヤフラム装置のシャッ
ターによって覆われるので、それらの部品が露出される
ことはなくなり、通常の露出制御システムが利用された
とき、過剰露出されたＸ線像が得られる。その理由は、
測定場の領域がシャッターで覆われて露出されない場合
でも、検出器が平均化によって全測定場内の線量を測定
するからである。従って、広い制限の場合に、全測定場
に亘って平均された線量は測定場の露出領域で得られた
線量よりも少ない。通常の自動露出制御システムは、所
定のＸ線量に達するまで、Ｘ線量を増加する。このた
め、殆どの場合に重要な像情報が失われた過剰露出され
たＸ線像が生じ、患者に対する線量が増加する。
【０００５】従って、本発明の目的は、改良された画質
を有するＸ線像を生成する上記の種類のＸ線装置を提供
することである。
を有するＸ線像を生成する上記の種類のＸ線装置を提供
することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の種類のＸ線装置を
用いる場合、上記目的は、制御回路に影響を与え、測定
場の露出領域の寸法に依存した補正値を決定し、測定場
の一部が露出されていない場合でもＸ線量が実質的に同
じに保たれるように制御回路に影響を与える手段を設け
ることにより達成される。
用いる場合、上記目的は、制御回路に影響を与え、測定
場の露出領域の寸法に依存した補正値を決定し、測定場
の一部が露出されていない場合でもＸ線量が実質的に同
じに保たれるように制御回路に影響を与える手段を設け
ることにより達成される。
【０００７】かくして、一次ダイヤフラム装置のアパー
チャの値は限界値よりも下がるので、制御において測定
場の非露出部分が直接考慮に入れられる。その場合、重
要な像情報が失われる過剰露出されたＸ線像の形成を防
止するため、補正値による介入が制御回路で直接行われ
る。制御は、小形一次ダイヤフラムアパーチャ（及び、
完全に露出された測定場）の場合に、Ｘ線量が実質的に
一定に保たれるように行われる。この制御は、一次ダイ
ヤフラムアパーチャが小さい時にＸ線量が実質的に増加
される一般的な制御と比べて対照的である。かくして、
本発明はビーム制限が厳しい場合に放射線量の増加を防
止する。
チャの値は限界値よりも下がるので、制御において測定
場の非露出部分が直接考慮に入れられる。その場合、重
要な像情報が失われる過剰露出されたＸ線像の形成を防
止するため、補正値による介入が制御回路で直接行われ
る。制御は、小形一次ダイヤフラムアパーチャ（及び、
完全に露出された測定場）の場合に、Ｘ線量が実質的に
一定に保たれるように行われる。この制御は、一次ダイ
ヤフラムアパーチャが小さい時にＸ線量が実質的に増加
される一般的な制御と比べて対照的である。かくして、
本発明はビーム制限が厳しい場合に放射線量の増加を防
止する。
【０００８】本発明によるＸ線装置の一実施例における
制御回路は、線量実際値と、線量基準値とを決定し、上
記線量実際値と上記線量基準値とを比較することによっ
てＸ線ソースを制御する制御信号を決定する手段を含
む。本発明によれば、制御回路は、一次ダイヤフラムア
パーチャが小さいため測定場が部分的に覆われている場
合に、上記線量基準値が所与の線量標準基準値及び／又
は測定場内で検出器によって検出された線量実際値から
減少されるように、補正値による影響を受ける。線量基
準値は、メモリに格納され、予め決定され、又は、Ｘ線
装置の異なるセッティング、例えば、Ｘ線ソースとＸ線
像変換器との間の距離、及び、Ｘ線像変換器の倍率に依
存して選択若しくは決定してもよい。計算された制御信
号は、管電流、管電圧及び／又は露出時間を動かすこと
により、Ｘ線ソース又はＸ線発生器を制御する役目を果
たす。
制御回路は、線量実際値と、線量基準値とを決定し、上
記線量実際値と上記線量基準値とを比較することによっ
てＸ線ソースを制御する制御信号を決定する手段を含
む。本発明によれば、制御回路は、一次ダイヤフラムア
パーチャが小さいため測定場が部分的に覆われている場
合に、上記線量基準値が所与の線量標準基準値及び／又
は測定場内で検出器によって検出された線量実際値から
減少されるように、補正値による影響を受ける。線量基
準値は、メモリに格納され、予め決定され、又は、Ｘ線
装置の異なるセッティング、例えば、Ｘ線ソースとＸ線
像変換器との間の距離、及び、Ｘ線像変換器の倍率に依
存して選択若しくは決定してもよい。計算された制御信
号は、管電流、管電圧及び／又は露出時間を動かすこと
により、Ｘ線ソース又はＸ線発生器を制御する役目を果
たす。
【０００９】本発明によるＸ線装置の他の一実施例にお
いて補正値を決定する手段は、測定場の総表面積に対す
る測定場の露出領域の表面積の割合を形成することによ
り補正値を決定する演算ユニットを含み、制御回路は、
一定の線量標準基準値を補正値で乗算することにより線
量基準値を決定する乗算ユニットを含む。これにより、
補正値及び線量基準値を決定する簡単な解決手段が構成
され、高速露出制御が可能になる。
いて補正値を決定する手段は、測定場の総表面積に対す
る測定場の露出領域の表面積の割合を形成することによ
り補正値を決定する演算ユニットを含み、制御回路は、
一定の線量標準基準値を補正値で乗算することにより線
量基準値を決定する乗算ユニットを含む。これにより、
補正値及び線量基準値を決定する簡単な解決手段が構成
され、高速露出制御が可能になる。
【００１０】補正値が一定の限界値を超えないことを保
証するため、本発明によるＸ線装置の他の一実施例にお
いて補正値を決定する手段は、補正値を所定の最小値と
最大値１とに制限する制限器ユニットを含む。制限器ユ
ニットは、ある種の境界の場合に制御の不正確な動作を
防止するように機能する。一次ダイヤフラムアパーチャ
が非常に小さく、例えば、測定場の中の２０％未満の非
常に小さい部分だけが露出されるときに、例えば、０．
２０に達する最小値が適用される。補正値の最大値は１
に達するべきであり、一次ダイヤフラムアパーチャが非
常に大きく、測定場全体が露出されるときに適用され
る。
証するため、本発明によるＸ線装置の他の一実施例にお
いて補正値を決定する手段は、補正値を所定の最小値と
最大値１とに制限する制限器ユニットを含む。制限器ユ
ニットは、ある種の境界の場合に制御の不正確な動作を
防止するように機能する。一次ダイヤフラムアパーチャ
が非常に小さく、例えば、測定場の中の２０％未満の非
常に小さい部分だけが露出されるときに、例えば、０．
２０に達する最小値が適用される。補正値の最大値は１
に達するべきであり、一次ダイヤフラムアパーチャが非
常に大きく、測定場全体が露出されるときに適用され
る。
【００１１】本発明の他の一実施例における補正値を決
定する手段は、一次ダイヤフラム装置のアパーチャの値
を決定するセンサを含む。その結果として、この測定値
は、例えば、線量基準値を決定するため制御回路に直接
適用してもよい。本発明の他の一実施例における補正値
を決定する装置は、Ｘ線ソースとＸ線像変換器との間の
距離を決定するセンサを含む。
定する手段は、一次ダイヤフラム装置のアパーチャの値
を決定するセンサを含む。その結果として、この測定値
は、例えば、線量基準値を決定するため制御回路に直接
適用してもよい。本発明の他の一実施例における補正値
を決定する装置は、Ｘ線ソースとＸ線像変換器との間の
距離を決定するセンサを含む。
【００１２】本発明によるＸ線装置の好ましい一実施例
は、パルス型蛍光透視のため構成され、補正値を決定す
る手段は、補正値が各蛍光透視パルス毎に決定されるよ
うに構成されている。本発明によるＸ線装置は、特に簡
単かつ高速な制御システムを含んでいるので、特にパル
ス型蛍光透視に適している。
は、パルス型蛍光透視のため構成され、補正値を決定す
る手段は、補正値が各蛍光透視パルス毎に決定されるよ
うに構成されている。本発明によるＸ線装置は、特に簡
単かつ高速な制御システムを含んでいるので、特にパル
ス型蛍光透視に適している。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１には、Ｘ線発生器２により給
電されるＸ線管１が示されている。Ｘ線管１の放射線出
口開口部の前面に、放射するＸ線を制限し、Ｘ線ビーム
のアパーチャ角を決定し得る一次ダイヤフラム３が設け
られている。更にビーム路には、被検査対象４が配置さ
れ、その次に、光学装置６及びテレビジョンカメラ７と
組み合わされて一つのユニットを形成するＸ線像増倍器
５が置かれる。Ｘ線像の表示用のモニタ８はテレビジョ
ンカメラ７に接続されている。
電されるＸ線管１が示されている。Ｘ線管１の放射線出
口開口部の前面に、放射するＸ線を制限し、Ｘ線ビーム
のアパーチャ角を決定し得る一次ダイヤフラム３が設け
られている。更にビーム路には、被検査対象４が配置さ
れ、その次に、光学装置６及びテレビジョンカメラ７と
組み合わされて一つのユニットを形成するＸ線像増倍器
５が置かれる。Ｘ線像の表示用のモニタ８はテレビジョ
ンカメラ７に接続されている。
【００１４】自動露出制御のため、Ｘ線発生器２に供給
される制御信号Ｓを発生させ、管電流、管電圧及び／又
はＸ線のスイッチオン時間を制御するため機能する制御
回路１０が設けられている。制御回路１０は、例えば、
ビームスプリッタ又は部分的に透明なミラーを用いて、
Ｘ線増倍器５の出口スクリーン上に形成された像の光線
の一部分が光学装置６から結合されている光センサ９を
有する。光センサ９は、分離された光学像の輝度値を光
信号に変換する。光センサ９の固定領域は、露出制御用
の線量が画像の輝度を用いて間接的に測定される測定場
として作用する。このため、平均画像輝度は、測定場全
体に関する積分により測定され、線量実際値Ｄi は出力
値として決定される。この線量実際値Ｄi は、比較ユニ
ット１１において線量基準値Ｄs と比較され、そのた
め、例えば、線量実際値Ｄi 及び線量基準値Ｄs の二つ
の値は一方が他方から減算される。線量基準値Ｄs は、
Ｘ線像が測定場の領域で平均濃度値に到達し、Ｘ線像が
実現可能な最高画質を有することを保証するために、露
出の値が取るべき値に関する情報を含む。比較ユニット
１１における比較は、線量基準値Ｄs に達していない場
合にＸ線量を更に増加させるための情報を含み、それ以
外の場合にＸ線を切るための情報を含む制御信号Ｓを発
生させる。
される制御信号Ｓを発生させ、管電流、管電圧及び／又
はＸ線のスイッチオン時間を制御するため機能する制御
回路１０が設けられている。制御回路１０は、例えば、
ビームスプリッタ又は部分的に透明なミラーを用いて、
Ｘ線増倍器５の出口スクリーン上に形成された像の光線
の一部分が光学装置６から結合されている光センサ９を
有する。光センサ９は、分離された光学像の輝度値を光
信号に変換する。光センサ９の固定領域は、露出制御用
の線量が画像の輝度を用いて間接的に測定される測定場
として作用する。このため、平均画像輝度は、測定場全
体に関する積分により測定され、線量実際値Ｄi は出力
値として決定される。この線量実際値Ｄi は、比較ユニ
ット１１において線量基準値Ｄs と比較され、そのた
め、例えば、線量実際値Ｄi 及び線量基準値Ｄs の二つ
の値は一方が他方から減算される。線量基準値Ｄs は、
Ｘ線像が測定場の領域で平均濃度値に到達し、Ｘ線像が
実現可能な最高画質を有することを保証するために、露
出の値が取るべき値に関する情報を含む。比較ユニット
１１における比較は、線量基準値Ｄs に達していない場
合にＸ線量を更に増加させるための情報を含み、それ以
外の場合にＸ線を切るための情報を含む制御信号Ｓを発
生させる。
【００１５】上記実施例において、線量基準値Ｄs は、
本発明に従って、乗算ユニット１２において線量標準基
準値Ｄs0を補正値Ｋで乗ずることによって計算される。
線量標準基準値Ｄs0は、異なる画像増倍器フォーマット
と、ユーザにより選択された線量レベルと、異なる検査
モードと、異なるパルスレート（パルス型蛍光透視の場
合）とに対して線量標準基準値Ｄs0が格納されたメモリ
ユニット１３によって供給される。
本発明に従って、乗算ユニット１２において線量標準基
準値Ｄs0を補正値Ｋで乗ずることによって計算される。
線量標準基準値Ｄs0は、異なる画像増倍器フォーマット
と、ユーザにより選択された線量レベルと、異なる検査
モードと、異なるパルスレート（パルス型蛍光透視の場
合）とに対して線量標準基準値Ｄs0が格納されたメモリ
ユニット１３によって供給される。
【００１６】補正値Ｋの計算には多数の因子が含まれ
る。センサ１５は、一次ダイヤフラム装置３のアパーチ
ャの値を判定し、Ｘ線ソース１とＸ線像像倍器５との間
の距離はセンサ１７を用いて判定される。これらの値
は、算術ユニット１６に供給される。算術ユニット１６
は、光センサ９の測定場の寸法と関係し、並びに、Ｘ線
像倍器５に関する測定場の相対位置に関係した情報を格
納する。
る。センサ１５は、一次ダイヤフラム装置３のアパーチ
ャの値を判定し、Ｘ線ソース１とＸ線像像倍器５との間
の距離はセンサ１７を用いて判定される。これらの値
は、算術ユニット１６に供給される。算術ユニット１６
は、光センサ９の測定場の寸法と関係し、並びに、Ｘ線
像倍器５に関する測定場の相対位置に関係した情報を格
納する。
【００１７】上記値に基づいて、算術ユニット１６は、
露出され、かつ、一次ダイヤフラム装置３のシャッター
により覆われていない測定場の表面の部分の寸法を決定
する。測定場の露出され（覆われていない）部分とは、
Ｘ線が選択された測定場の露出領域と関連したＸ線像像
倍器５の入口スクリーンの領域に入射し、画像輝度がそ
こで生成されることを意味する。同様に、測定場の露出
されていない（覆われた）領域とは、一次ダイヤフラム
装置３のアパーチャが非常に小さいことに起因してＸ線
像像倍器の入口スクリーンの関連した領域に入射するＸ
線が無く、画像輝度が生成されないと言うことを意味す
る。測定場の露出領域の寸法は、測定場の位置及び寸
法、並びに、一次ダイヤフラム装置３のアパーチャの値
に依存して変化する。
露出され、かつ、一次ダイヤフラム装置３のシャッター
により覆われていない測定場の表面の部分の寸法を決定
する。測定場の露出され（覆われていない）部分とは、
Ｘ線が選択された測定場の露出領域と関連したＸ線像像
倍器５の入口スクリーンの領域に入射し、画像輝度がそ
こで生成されることを意味する。同様に、測定場の露出
されていない（覆われた）領域とは、一次ダイヤフラム
装置３のアパーチャが非常に小さいことに起因してＸ線
像像倍器の入口スクリーンの関連した領域に入射するＸ
線が無く、画像輝度が生成されないと言うことを意味す
る。測定場の露出領域の寸法は、測定場の位置及び寸
法、並びに、一次ダイヤフラム装置３のアパーチャの値
に依存して変化する。
【００１８】この点について図２を参照して説明する。
環状光センサの表面は参照番号３０で示されている。破
線で囲まれた領域３１は、図示された例では、光センサ
３の全画像表面積の約５０％に達する測定場を形成す
る。一次ダイヤフラム装置３のアパーチャが小さいた
め、一次ダイヤフラムシャッターによって覆われた表面
積は参照番号３２で示されている。かくして、表面積３
２は露出されない。露出は、測定場３１の表面積の中の
（陰影付き）一部分３３だけで生じ、この部分３３で平
均化により測定されたＸ線量が露出制御を左右するべき
である。
環状光センサの表面は参照番号３０で示されている。破
線で囲まれた領域３１は、図示された例では、光センサ
３の全画像表面積の約５０％に達する測定場を形成す
る。一次ダイヤフラム装置３のアパーチャが小さいた
め、一次ダイヤフラムシャッターによって覆われた表面
積は参照番号３２で示されている。かくして、表面積３
２は露出されない。露出は、測定場３１の表面積の中の
（陰影付き）一部分３３だけで生じ、この部分３３で平
均化により測定されたＸ線量が露出制御を左右するべき
である。
【００１９】算術ユニット１６は、測定場の全表面３１
に対する覆われていない表面３３の割合から補正値Ｋを
計算し、これにより、図２に示された例の場合に約０．
７５のＫの値が得られる。しかし、測定場の覆われてい
ない表面３３の寸法は直接測定することができないの
で、算術ユニットに供給された一次ダイヤフラムアパー
チャの値、並びに、Ｘ線ソースとＸ線像変換器との間の
距離が、覆われていない表面積３３の準間接計算のため
使用される。
に対する覆われていない表面３３の割合から補正値Ｋを
計算し、これにより、図２に示された例の場合に約０．
７５のＫの値が得られる。しかし、測定場の覆われてい
ない表面３３の寸法は直接測定することができないの
で、算術ユニットに供給された一次ダイヤフラムアパー
チャの値、並びに、Ｘ線ソースとＸ線像変換器との間の
距離が、覆われていない表面積３３の準間接計算のため
使用される。
【００２０】次に、制限ユニット１４は、数学的な観点
から、Ｋに対して最小値よりも小さい値が得られた場合
に補正値Ｋを最小値に制限し、又は、全測定場３１が露
出された場合に値Ｋを値１に設定する。最小値と値１と
の間にあるＫの値はそのまま残される。次に、乗算ユニ
ット１２において、補正値Ｋは線量標準基準値Ｄs0によ
り乗算され、線量基準値Ｄs を生ずる。線量標準基準値
Ｄs0は、測定場３１が部分的に覆われている場合に減少
させられる。制御信号Ｓは、通常の露出制御のように、
未だ平均濃度値が達していないのでＸ線量を増加すべき
であるという情報を不当に格納することが防止され、平
均濃度値が測定場の露出領域で達成されたとき、Ｘ線は
既に切られている。かくして、本発明は、Ｘ線像の過剰
露出、従って、重要な像情報の損失を防止する。また、
本発明によれば、患者は最適ではない制御のために不必
要に高い線量に晒されることがないという利点が得られ
る。
から、Ｋに対して最小値よりも小さい値が得られた場合
に補正値Ｋを最小値に制限し、又は、全測定場３１が露
出された場合に値Ｋを値１に設定する。最小値と値１と
の間にあるＫの値はそのまま残される。次に、乗算ユニ
ット１２において、補正値Ｋは線量標準基準値Ｄs0によ
り乗算され、線量基準値Ｄs を生ずる。線量標準基準値
Ｄs0は、測定場３１が部分的に覆われている場合に減少
させられる。制御信号Ｓは、通常の露出制御のように、
未だ平均濃度値が達していないのでＸ線量を増加すべき
であるという情報を不当に格納することが防止され、平
均濃度値が測定場の露出領域で達成されたとき、Ｘ線は
既に切られている。かくして、本発明は、Ｘ線像の過剰
露出、従って、重要な像情報の損失を防止する。また、
本発明によれば、患者は最適ではない制御のために不必
要に高い線量に晒されることがないという利点が得られ
る。
【００２１】
【実施例】本発明によるＸ線装置は、測定場が部分的に
覆われている場合に、線量標準基準値を削減する代わり
に、線量実際値が補正値を用いて適切に増加されるよう
に構成することが可能である。放射線の一部を分離し、
露出を測定するビームスプリッタ及び光センサの代わり
に、例えば、被検査対象４とＸ線像像倍器５との間に設
けられた電離箱、又は、半導体放射線受信器のような他
の公知のセンサを利用することが可能である。Ｘ線像像
倍器、光学装置及びテレビジョンカメラの代わりに、一
般的なフィルムカセットをＸ線像変換器として使用して
もよい。
覆われている場合に、線量標準基準値を削減する代わり
に、線量実際値が補正値を用いて適切に増加されるよう
に構成することが可能である。放射線の一部を分離し、
露出を測定するビームスプリッタ及び光センサの代わり
に、例えば、被検査対象４とＸ線像像倍器５との間に設
けられた電離箱、又は、半導体放射線受信器のような他
の公知のセンサを利用することが可能である。Ｘ線像像
倍器、光学装置及びテレビジョンカメラの代わりに、一
般的なフィルムカセットをＸ線像変換器として使用して
もよい。
【００２２】また、特殊Ｘ線装置には測定場の寸法を変
化させる手段が設けられる。本発明を実施するため、こ
のようなＸ線装置には、瞬時的な測定場の寸法に関する
情報を算術ユニット１６に供給する手段、例えば、測定
場センサが設けられる。一方、Ｘ線ソースとＸ線像変換
器との間の距離が変化し得ないＸ線装置、例えば、Ｃ字
形アームが備え付けられたＸ線装置の場合には、センサ
１７を無しで済ますことが可能である。
化させる手段が設けられる。本発明を実施するため、こ
のようなＸ線装置には、瞬時的な測定場の寸法に関する
情報を算術ユニット１６に供給する手段、例えば、測定
場センサが設けられる。一方、Ｘ線ソースとＸ線像変換
器との間の距離が変化し得ないＸ線装置、例えば、Ｃ字
形アームが備え付けられたＸ線装置の場合には、センサ
１７を無しで済ますことが可能である。
【００２３】
【発明の効果】本発明の用途は、特殊なＸ線装置又は動
作モードに限定されない。しかし、本発明による制御
は、非常に高速かつ簡単であり、従って、制御信号Ｓを
各蛍光透視パルス毎に決定することができるので、特
に、本発明はパルス型蛍光透視に使用することにより効
果が得られる。
作モードに限定されない。しかし、本発明による制御
は、非常に高速かつ簡単であり、従って、制御信号Ｓを
各蛍光透視パルス毎に決定することができるので、特
に、本発明はパルス型蛍光透視に使用することにより効
果が得られる。
【図１】本発明によるＸ線装置のブロック図である。
【図２】補正値の計算を説明するための検出器面を表わ
す図である。
す図である。
１ Ｘ線管 ２ Ｘ線発生器 ３ 一次ダイヤフラム ４ 被検査対象 ５ Ｘ線像増倍器 ６ 光学装置 ７ テレビジョンカメラ ８ モニタ ９ 光センサ １０ 制御回路 １１ 比較ユニット １２ 乗算ユニット １３ メモリユニット １４ 制限ユニット １５，１７ センサ １６ 算術ユニット
Claims (7)
- 【請求項１】 Ｘ線ビームを放出するＸ線ソース
（１）と、 Ｘ線を検出し、Ｘ線像を形成するＸ線像変換器（５，
６，７）と、 Ｘ線ビームを制限するため、上記Ｘ線ソース（１）と被
検査対象との間に設けられている一次ダイヤフラム装置
（３）と、 Ｘ線量率を測定する少なくとも一つの測定場（３１）を
備えた検出器（９）を含む自動露出制御用の制御回路
（１０）とからなるＸ線装置において、 上記制御回路（１０）に影響を与え、上記測定場（３
１）の露出領域（３３）の寸法に依存している補正値
（Ｋ）を決定し、上記測定場（３１）の一部が露出され
ていない場合でもＸ線量が実質的に同じに保たれるよう
に上記制御回路（１０）に影響を与える手段（１２，１
４，１５，１６，１７）が設けられていることを特徴と
するＸ線装置。 - 【請求項２】 上記制御回路（１０）は、線量実際値
（Ｄi ）と、線量基準値（Ｄs ）とを決定し、上記線量
実際値（Ｄi ）と上記線量基準値（Ｄs ）とを比較する
ことによって上記Ｘ線ソース（１）を制御する制御信号
（Ｓ）を決定する手段（９，１１，１２，１３）を含む
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線装置。 - 【請求項３】 上記補正値（Ｋ）を決定する手段は、上
記測定場（３１）の総表面積に対する上記測定場（３
１）の露出領域（３３）の表面積の割合を形成すること
により上記補正値（Ｋ）を決定する演算ユニット（１
６）を含み、 上記制御回路（１０）は、所与の線量標準基準値
（Ｄs0）を上記補正値（Ｋ）で乗算することにより上記
線量基準値（Ｄs ）を決定する乗算ユニット（１２）を
更に有することを特徴とする請求項１又は２記載のＸ線
装置。 - 【請求項４】 上記補正値（Ｋ）を決定する手段は、上
記補正値（Ｋ）を所定の最小値と最大値１とに制限する
制限器ユニット（１４）を更に有することを特徴とする
請求項１乃至３のうちいずれか１項記載のＸ線装置。 - 【請求項５】 上記補正値（Ｋ）を決定する手段は、上
記一次ダイヤフラム装置（３）のアパーチャの値を決定
するセンサ（１５）を更に有することを特徴とする請求
項１乃至４のうちいずれか１項記載のＸ線装置。 - 【請求項６】 上記補正値（Ｋ）を決定する手段は、上
記Ｘ線ソース（１）と上記Ｘ線像変換器（５，６，７）
との間の距離を決定するセンサ（１７）を更に有するこ
とを特徴とする請求項１乃至５のうちいずれか１項記載
のＸ線装置。 - 【請求項７】 パルス型蛍光透視用に構成され、 上記補正値（Ｋ）を決定する手段が補正値（Ｋ）が各蛍
光透視パルス毎に決定されるように構成されていること
を特徴とする請求項１乃至６のうちいずれか１項記載の
Ｘ線装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19702739A DE19702739A1 (de) | 1997-01-27 | 1997-01-27 | Röntgeneinrichtung mit einer Primärblendenanordnung |
| DE19702739:3 | 1997-01-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10228995A true JPH10228995A (ja) | 1998-08-25 |
| JP4267091B2 JP4267091B2 (ja) | 2009-05-27 |
Family
ID=7818396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01262498A Expired - Fee Related JP4267091B2 (ja) | 1997-01-27 | 1998-01-26 | １次ダイヤフラム装置を含むｘ線装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6067343A (ja) |
| EP (1) | EP0857009B1 (ja) |
| JP (1) | JP4267091B2 (ja) |
| DE (2) | DE19702739A1 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001340321A (ja) * | 2000-03-29 | 2001-12-11 | Toshiba Medical System Co Ltd | Ｘ線診断装置 |
| WO2002078546A1 (en) * | 2001-03-29 | 2002-10-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnosing apparatus |
| JP2006334154A (ja) * | 2005-06-02 | 2006-12-14 | Toshiba Corp | Ｘ線透視撮影用自動露出制御装置 |
| JP2008517693A (ja) * | 2004-10-29 | 2008-05-29 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 携帯型のｘ線検出器装置 |
| JP2009100808A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-14 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2011143051A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2011239803A (ja) * | 2010-05-14 | 2011-12-01 | Shimadzu Corp | Ｘ線透視撮影装置 |
| JP2013176551A (ja) * | 2012-02-01 | 2013-09-09 | Toshiba Corp | 医用画像診断装置 |
| JP2013223814A (ja) * | 2013-08-09 | 2013-10-31 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
Families Citing this family (13)
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|---|---|---|---|---|
| US6222906B1 (en) * | 1998-01-29 | 2001-04-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray diagnostic apparatus using an X-ray flat panel detector and method for controlling the X-ray diagnostic apparatus |
| WO2003050567A1 (en) * | 2001-12-11 | 2003-06-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus and method |
| US7372942B2 (en) * | 2004-03-29 | 2008-05-13 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Medical imaging system with dosimetry for estimating circuit board life |
| DE102004017180B4 (de) * | 2004-04-07 | 2007-08-02 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung zur digitalen Radiographie |
| DE102005003226B4 (de) * | 2005-01-24 | 2014-02-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Einrichtung zur Wiedergabe eines Röntgenbildes |
| DE102005003225A1 (de) * | 2005-01-24 | 2006-07-27 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zum Erzeugen eines Röntgenbildes |
| DE102006025411B4 (de) * | 2006-05-31 | 2013-07-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Mobiler Röntgenempfänger für eine Röntgenvorrichtung |
| EP2408375B1 (en) | 2009-03-20 | 2017-12-06 | Orthoscan Incorporated | Moveable imaging apparatus |
| JP5443100B2 (ja) * | 2009-08-25 | 2014-03-19 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影方法 |
| WO2012082799A1 (en) | 2010-12-13 | 2012-06-21 | Orthoscan, Inc. | Mobile fluoroscopic imaging system |
| DE102012216269A1 (de) * | 2012-09-13 | 2014-03-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgensystem und Verfahren zur Erzeugung von Bilddaten |
| JP5955896B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2016-07-20 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線撮像装置 |
| CN105528764B (zh) | 2015-12-01 | 2019-01-15 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 一种图像亮度调节方法、装置及设备 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2411630C2 (de) * | 1974-03-12 | 1982-01-14 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | "Röntgeneinrichtung mit einem Belichtungsautomaten mit automatischer Wahl und Einschaltung der Meßfelder" |
| DE3006774A1 (de) * | 1980-02-22 | 1981-09-03 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikeinrichtung |
| DE3310971A1 (de) * | 1983-03-25 | 1984-09-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikgeraet |
| US4573183A (en) * | 1984-06-29 | 1986-02-25 | General Electric Company | X-Ray image brightness control |
| DE3802351A1 (de) * | 1988-01-27 | 1989-08-10 | Siemens Ag | Roentgendiagnostikanlage |
| EP0480096B1 (de) * | 1990-10-12 | 1994-07-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikanlage mit einem Röntgenbildverstärker und einem Detektor für die Bildhelligkeit auf dessen Ausgangsschirm |
| NL9100019A (nl) * | 1991-01-09 | 1992-08-03 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat. |
| DE4106596C1 (ja) * | 1991-03-01 | 1992-04-30 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
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-
1997
- 1997-01-27 DE DE19702739A patent/DE19702739A1/de not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-01-20 DE DE59813789T patent/DE59813789D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-01-20 US US09/009,746 patent/US6067343A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-01-20 EP EP98200132A patent/EP0857009B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-01-26 JP JP01262498A patent/JP4267091B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0857009A1 (de) | 1998-08-05 |
| DE59813789D1 (de) | 2006-12-21 |
| US6067343A (en) | 2000-05-23 |
| EP0857009B1 (de) | 2006-11-08 |
| JP4267091B2 (ja) | 2009-05-27 |
| DE19702739A1 (de) | 1998-07-30 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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