JPH10309657A - ウェーハの研削装置および該装置を用いたウェ−ハ研削方法 - Google Patents
ウェーハの研削装置および該装置を用いたウェ−ハ研削方法Info
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- JPH10309657A JPH10309657A JP13591397A JP13591397A JPH10309657A JP H10309657 A JPH10309657 A JP H10309657A JP 13591397 A JP13591397 A JP 13591397A JP 13591397 A JP13591397 A JP 13591397A JP H10309657 A JPH10309657 A JP H10309657A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 14
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 84
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 24
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 研削のスループットを高められるウェーハ
の研削装置および該装置を用いたウェーハ研削方法を提
供する。 【解決手段】 チャックテーブル12のチャック15内
に、張り合わせ基板11を搭載して吸着固定する。この
とき、チャック15上から活性層用ウェーハ11Aの上
側が研削代だけ突出する。次に横行基台16Aを移動
し、研削ヘッド13をテーブル12上に配置した後、回
転モータ17で砥石固定部18を回転しつつ、研削ヘッ
ド13を0.05〜1.0μm/secで下降する。結
果、回転中のカップ型砥石19でウェーハ11Aの表面
を研削する。カップ型砥石19の27個の部分砥石20
は、砥石固定部18の回転軸aを中心に真円配置されて
いるので、従来の砥石に比べて研削時間が短縮され、研
削スループットが高まる。
の研削装置および該装置を用いたウェーハ研削方法を提
供する。 【解決手段】 チャックテーブル12のチャック15内
に、張り合わせ基板11を搭載して吸着固定する。この
とき、チャック15上から活性層用ウェーハ11Aの上
側が研削代だけ突出する。次に横行基台16Aを移動
し、研削ヘッド13をテーブル12上に配置した後、回
転モータ17で砥石固定部18を回転しつつ、研削ヘッ
ド13を0.05〜1.0μm/secで下降する。結
果、回転中のカップ型砥石19でウェーハ11Aの表面
を研削する。カップ型砥石19の27個の部分砥石20
は、砥石固定部18の回転軸aを中心に真円配置されて
いるので、従来の砥石に比べて研削時間が短縮され、研
削スループットが高まる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、研削のスループ
ットを高められるウェーハの研削装置および該装置を用
いたウェーハ研削方法に関する。
ットを高められるウェーハの研削装置および該装置を用
いたウェーハ研削方法に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、シリコンウェーハは、各種の方法
により製造されている。例えば、単結晶インゴットから
切り出されたウェーハをスライス・面取りした後、ラッ
プ工程を経て、ウェーハ表面を片面ずつ研削する方法が
ある。従来、この片面研削装置として、例えばウェーハ
を搭載・固定するチャックテーブルと、チャックテーブ
ルにより固定されたウェーハの表面を砥石を用いて研削
する研削ヘッドとを備えたものが知られている。なお、
ここでいう砥石とは、研削ヘッドの下面外周部に多数個
の部分砥石を環状配置したカップ型の砥石である。従来
のカップ型砥石は、各部分砥石を底面視して、三角のお
むすび形や楕円形に配置されていた。ウェーハ研削時
は、ラップ工程後のウェーハをチャックテーブルに搭載
・固定し、回転する研削ヘッドのカップ型砥石を下降・
当接して、まずウェーハの表面を研削する。その後、ウ
ェーハを裏返して再固定し、それから研削ヘッドを下降
して、ウェーハの裏面を研削する。
により製造されている。例えば、単結晶インゴットから
切り出されたウェーハをスライス・面取りした後、ラッ
プ工程を経て、ウェーハ表面を片面ずつ研削する方法が
ある。従来、この片面研削装置として、例えばウェーハ
を搭載・固定するチャックテーブルと、チャックテーブ
ルにより固定されたウェーハの表面を砥石を用いて研削
する研削ヘッドとを備えたものが知られている。なお、
ここでいう砥石とは、研削ヘッドの下面外周部に多数個
の部分砥石を環状配置したカップ型の砥石である。従来
のカップ型砥石は、各部分砥石を底面視して、三角のお
むすび形や楕円形に配置されていた。ウェーハ研削時
は、ラップ工程後のウェーハをチャックテーブルに搭載
・固定し、回転する研削ヘッドのカップ型砥石を下降・
当接して、まずウェーハの表面を研削する。その後、ウ
ェーハを裏返して再固定し、それから研削ヘッドを下降
して、ウェーハの裏面を研削する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のウェーハの研削装置においては、以下の課題が生じ
ていた。すなわち、研削ヘッドに設けられたカップ型砥
石の形状が、三角のおむすび形や楕円形であったので、
研削表面に独特のうねり、すなわち研削痕が発生してい
た。その結果、この研削痕の発生防止のために、加工速
度を低めに設定する必要があり、また、これを除去する
ためにスパークアウトが長時間必要という理由により、
研削に時間がかかり、研削のスループットが低下すると
いう問題点があった。
来のウェーハの研削装置においては、以下の課題が生じ
ていた。すなわち、研削ヘッドに設けられたカップ型砥
石の形状が、三角のおむすび形や楕円形であったので、
研削表面に独特のうねり、すなわち研削痕が発生してい
た。その結果、この研削痕の発生防止のために、加工速
度を低めに設定する必要があり、また、これを除去する
ためにスパークアウトが長時間必要という理由により、
研削に時間がかかり、研削のスループットが低下すると
いう問題点があった。
【0004】ところで、支持基板用ウェーハ上に活性層
用ウェーハを張り合わせた張り合わせ基板では、張り合
わせ熱処理後、活性層用ウェーハを500〜600μm
程度の量を研削・研磨して除去している。具体的には、
上記片面研削装置のチャックテーブルに、支持基板用ウ
ェーハ側を下向きにした張り合わせ基板を搭載・固定
し、同じようにして回転中の研削ヘッドにより活性層用
ウェーハの表面を研削していた。この際にも、研削ヘッ
ドに装着されるカップ型砥石の形状は、三角のおむすび
形などであり、この結果、同様の問題点があった。
用ウェーハを張り合わせた張り合わせ基板では、張り合
わせ熱処理後、活性層用ウェーハを500〜600μm
程度の量を研削・研磨して除去している。具体的には、
上記片面研削装置のチャックテーブルに、支持基板用ウ
ェーハ側を下向きにした張り合わせ基板を搭載・固定
し、同じようにして回転中の研削ヘッドにより活性層用
ウェーハの表面を研削していた。この際にも、研削ヘッ
ドに装着されるカップ型砥石の形状は、三角のおむすび
形などであり、この結果、同様の問題点があった。
【0005】
【発明の目的】そこで、この発明は、研削のスループッ
トを高められるウェーハの研削装置および該装置を用い
たウェーハ研削方法を提供することを、その目的として
いる。また、この発明は、研削時の砥石の焼きつきを防
止できるウェーハの研削装置を提供することを、その目
的としている。
トを高められるウェーハの研削装置および該装置を用い
たウェーハ研削方法を提供することを、その目的として
いる。また、この発明は、研削時の砥石の焼きつきを防
止できるウェーハの研削装置を提供することを、その目
的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、単結
晶インゴットから切り出されたウェーハをチャックテー
ブルに搭載・固定し、回転する研削ヘッドを下降・当接
して、該研削ヘッドの下面外周部に環状配置された多数
個の部分砥石からなるカップ型砥石により、ウェーハ表
面を研削するウェーハの研削装置において、上記カップ
型砥石が、上記各部分砥石を、上記研削ヘッドの回転軸
を中心に真円配置させたものであるウェーハの研削装置
である。
晶インゴットから切り出されたウェーハをチャックテー
ブルに搭載・固定し、回転する研削ヘッドを下降・当接
して、該研削ヘッドの下面外周部に環状配置された多数
個の部分砥石からなるカップ型砥石により、ウェーハ表
面を研削するウェーハの研削装置において、上記カップ
型砥石が、上記各部分砥石を、上記研削ヘッドの回転軸
を中心に真円配置させたものであるウェーハの研削装置
である。
【0007】研削されるウェーハは、例えばシリコンウ
ェーハ、表面にSiO2膜が形成されたウェーハ、表面
にポリシリコン膜が形成されたウェーハなど、どのよう
な品種のウェーハでも2段研削を前提とした場合は可能
である。また、ウェーハは、片面だけを研削しても、両
面を研削してもよい。また、支持基板用ウェーハ上に活
性層用ウェーハを張り合わせた張り合わせ基板でもよ
い。ここでいう張り合わせ基板は、ウェーハ同士を張り
合わせる基板であればその品種に限定されない。例え
ば、Si/Si基板、SOI(Silicon on
Insulator)基板やSiO2/SiO2基板など
でもよい。
ェーハ、表面にSiO2膜が形成されたウェーハ、表面
にポリシリコン膜が形成されたウェーハなど、どのよう
な品種のウェーハでも2段研削を前提とした場合は可能
である。また、ウェーハは、片面だけを研削しても、両
面を研削してもよい。また、支持基板用ウェーハ上に活
性層用ウェーハを張り合わせた張り合わせ基板でもよ
い。ここでいう張り合わせ基板は、ウェーハ同士を張り
合わせる基板であればその品種に限定されない。例え
ば、Si/Si基板、SOI(Silicon on
Insulator)基板やSiO2/SiO2基板など
でもよい。
【0008】また、研削ヘッドの下降速度は、砥石の相
対的な移動距離が3000〜4000m/分の場合にお
いて、0.05〜1.0μm/sec、特に0.5〜
0.8μm/secが好ましい。0.05μm/sec
未満では、ウェーハの研削面への研削痕は発生しないも
のの、研削時間が長くなり過ぎる。一方、1.0μm/
secを超えると、研削時間は短縮されるが、研削痕が
大きくなり、研削後の研磨工程におけるウェーハ表面の
研磨量が大きくなる。ウェーハ表面の切り込み深さは、
最大値で砥粒の平均粒径の1/3程度が好ましい。すな
わち、例えば#2000の砥石では、平均粒径が4〜6
μmであるので、この最大切り込み深さは1.33〜2
μmとなる。ここでいう切り込み深さは、研削ヘッドの
下降速度とチャックテーブルの回転速度により決定され
る。なお、チャックテーブルは、通常、ウェーハを搭載
面に真空吸着するが、必ずしもこれに限定されない。な
お、これらの事項は、請求項3にも適用される。
対的な移動距離が3000〜4000m/分の場合にお
いて、0.05〜1.0μm/sec、特に0.5〜
0.8μm/secが好ましい。0.05μm/sec
未満では、ウェーハの研削面への研削痕は発生しないも
のの、研削時間が長くなり過ぎる。一方、1.0μm/
secを超えると、研削時間は短縮されるが、研削痕が
大きくなり、研削後の研磨工程におけるウェーハ表面の
研磨量が大きくなる。ウェーハ表面の切り込み深さは、
最大値で砥粒の平均粒径の1/3程度が好ましい。すな
わち、例えば#2000の砥石では、平均粒径が4〜6
μmであるので、この最大切り込み深さは1.33〜2
μmとなる。ここでいう切り込み深さは、研削ヘッドの
下降速度とチャックテーブルの回転速度により決定され
る。なお、チャックテーブルは、通常、ウェーハを搭載
面に真空吸着するが、必ずしもこれに限定されない。な
お、これらの事項は、請求項3にも適用される。
【0009】請求項2の発明は、上記カップ型砥石の粗
さが#1500〜#3000である請求項1に記載のウ
ェーハの研削装置である。カップ型砥石を構成する各部
分砥石の好ましい粗さは、#1500〜#2500であ
る。#1500未満ではウェーハにクラックが発生した
り、研削による加工変質層が深くなる。一方、#300
0を超えると、研削時の摩擦熱により砥石が焼きついて
しまう。
さが#1500〜#3000である請求項1に記載のウ
ェーハの研削装置である。カップ型砥石を構成する各部
分砥石の好ましい粗さは、#1500〜#2500であ
る。#1500未満ではウェーハにクラックが発生した
り、研削による加工変質層が深くなる。一方、#300
0を超えると、研削時の摩擦熱により砥石が焼きついて
しまう。
【0010】請求項3の発明は、単結晶インゴットから
切り出されたウェーハをチャックテーブルに搭載・固定
する工程と、次いで回転する研削ヘッドを下降・当接し
て、該研削ヘッドの下面外周部に真円配置された多数個
の部分砥石からなるカップ型砥石により、ウェーハのウ
ェーハ表面を研削する工程とを備えたウェーハの研削装
置を用いたウェーハ研削方法である。
切り出されたウェーハをチャックテーブルに搭載・固定
する工程と、次いで回転する研削ヘッドを下降・当接し
て、該研削ヘッドの下面外周部に真円配置された多数個
の部分砥石からなるカップ型砥石により、ウェーハのウ
ェーハ表面を研削する工程とを備えたウェーハの研削装
置を用いたウェーハ研削方法である。
【0011】
【作用】請求項1〜請求項3に記載のウェーハの研削装
置および該装置を用いたウェーハ研削方法によれば、ウ
ェーハをチャックテーブルに搭載・固定し、回転する研
削ヘッドを下降・当接して、この研削ヘッドの下面外周
部に環状配置されたカップ型砥石により、ウェーハ表面
を研削する。この際、カップ型砥石が、研削ヘッドの回
転軸を中心にして多数個の部分砥石を真円配置したもの
であるので、瞬時的な研削状態の変動が少なく、したが
ってうねりが発生しにくい。そのため、加工速度の維持
とスパークアウトの低減が可能となり、比較的研削時間
が短くなり、研削のスループットが高まる。
置および該装置を用いたウェーハ研削方法によれば、ウ
ェーハをチャックテーブルに搭載・固定し、回転する研
削ヘッドを下降・当接して、この研削ヘッドの下面外周
部に環状配置されたカップ型砥石により、ウェーハ表面
を研削する。この際、カップ型砥石が、研削ヘッドの回
転軸を中心にして多数個の部分砥石を真円配置したもの
であるので、瞬時的な研削状態の変動が少なく、したが
ってうねりが発生しにくい。そのため、加工速度の維持
とスパークアウトの低減が可能となり、比較的研削時間
が短くなり、研削のスループットが高まる。
【0012】特に、請求項2に記載のウェーハの研削装
置によれば、カップ型砥石の粗さを#1500〜#30
00としたので、研削時にウェーハにクラックが生じる
のを防止できたり、研削加工によるウェーハの変質層を
浅くでき、しかも研削時に発生する摩擦熱で砥石が焼き
つくのも防げる。
置によれば、カップ型砥石の粗さを#1500〜#30
00としたので、研削時にウェーハにクラックが生じる
のを防止できたり、研削加工によるウェーハの変質層を
浅くでき、しかも研削時に発生する摩擦熱で砥石が焼き
つくのも防げる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照して説明する。なお、ここでは張り合わせ基板の活性
層用ウェーハの研削を例に説明する。図1はこの発明の
一実施例に係るウェーハの研削装置の全体斜視図、図2
は研削ヘッドの拡大斜視図、図3は研削ヘッドの拡大底
面図、図4は部分砥石によるウェーハ研削工程を示す説
明図である。図1において、10はウェーハの研削装置
であり、このウェーハの研削装置10は、ウェーハの一
例である張り合わせ基板11が搭載・固定されるチャッ
クテーブル12と、この固定された張り合わせ基板11
の活性層用ウェーハ11Aの表面を研削する研削ヘッド
13とを備えている。
照して説明する。なお、ここでは張り合わせ基板の活性
層用ウェーハの研削を例に説明する。図1はこの発明の
一実施例に係るウェーハの研削装置の全体斜視図、図2
は研削ヘッドの拡大斜視図、図3は研削ヘッドの拡大底
面図、図4は部分砥石によるウェーハ研削工程を示す説
明図である。図1において、10はウェーハの研削装置
であり、このウェーハの研削装置10は、ウェーハの一
例である張り合わせ基板11が搭載・固定されるチャッ
クテーブル12と、この固定された張り合わせ基板11
の活性層用ウェーハ11Aの表面を研削する研削ヘッド
13とを備えている。
【0014】張り合わせ基板11は、表面にSiO2膜
が形成された支持基板用ウェーハ11B上に、単結晶イ
ンゴットから切り出されたままの活性層用ウェーハ11
Aが室温で張り合わされ、その後、張り合わせ熱処理さ
れたものである。もちろん、前述したように、張り合わ
せ基板11に代えて、通常の各種1枚ウェーハでもよ
い。チャックテーブル12は、図外の駆動モータを内蔵
する平面視して円形の回転テーブル14を有している。
回転テーブル14上には、ウェーハ吸着固定用のリング
状のチャック15が設けられている。この回転テーブル
14の回転方向は、図1において時計回りであり、回転
速度は10〜50rpmである。
が形成された支持基板用ウェーハ11B上に、単結晶イ
ンゴットから切り出されたままの活性層用ウェーハ11
Aが室温で張り合わされ、その後、張り合わせ熱処理さ
れたものである。もちろん、前述したように、張り合わ
せ基板11に代えて、通常の各種1枚ウェーハでもよ
い。チャックテーブル12は、図外の駆動モータを内蔵
する平面視して円形の回転テーブル14を有している。
回転テーブル14上には、ウェーハ吸着固定用のリング
状のチャック15が設けられている。この回転テーブル
14の回転方向は、図1において時計回りであり、回転
速度は10〜50rpmである。
【0015】研削ヘッド13は、図外の昇降モータおよ
び垂直方向へ延びるLMガイド16aを介して、横行基
台16Aに昇降可能に設けられている。この横行基台1
6Aは、図外の横行モータおよび水平方向へ延びるLM
ガイド16bを介して、チャックテーブル12に近接し
たり離反したりする。回転モータ17の下向きの出力軸
には、肉厚円板の砥石固定部18が固着されている。こ
の砥石固定部18の下面外周部に、直径200mmのカ
ップ型砥石19が装着されている。
び垂直方向へ延びるLMガイド16aを介して、横行基
台16Aに昇降可能に設けられている。この横行基台1
6Aは、図外の横行モータおよび水平方向へ延びるLM
ガイド16bを介して、チャックテーブル12に近接し
たり離反したりする。回転モータ17の下向きの出力軸
には、肉厚円板の砥石固定部18が固着されている。こ
の砥石固定部18の下面外周部に、直径200mmのカ
ップ型砥石19が装着されている。
【0016】図2、図3に示すように、カップ型砥石1
9は、それぞれ円弧状をした27個の部分砥石20を、
研削ヘッド13の回転軸aを中心に真円配置した環状砥
石である。各部分砥石20は番手#2000の粗さであ
り、砥粒の平均粒径は4〜6μmである。カップ型砥石
の粗さを#2000としたので、研削時の活性層用ウェ
ーハ11Aのクラックを防止できるとともに、研削加工
によるウェーハの変質層を浅くできる。しかも、#20
00くらいでは研削時にそれほど高い摩擦熱が発生しな
いので、カップ型砥石19が焼きつくのも防止できる。
なお、砥粒の保持力を高めるために、人造ダイヤにニッ
ケルメッキしたものを採用してもよい。部分砥石20の
寸法は、長さ20mm、厚さ2〜4mmである。また、
各部分砥石20間の隙間は1mmである。そして、回転
モータ17による砥石固定部18の回転方向は、回転テ
ーブル14とは反対の図1において反時計回りであり、
回転速度は5500rpmである。なお、カップ型砥石
19の相対的な移動距離は、3000〜4000m/分
である。
9は、それぞれ円弧状をした27個の部分砥石20を、
研削ヘッド13の回転軸aを中心に真円配置した環状砥
石である。各部分砥石20は番手#2000の粗さであ
り、砥粒の平均粒径は4〜6μmである。カップ型砥石
の粗さを#2000としたので、研削時の活性層用ウェ
ーハ11Aのクラックを防止できるとともに、研削加工
によるウェーハの変質層を浅くできる。しかも、#20
00くらいでは研削時にそれほど高い摩擦熱が発生しな
いので、カップ型砥石19が焼きつくのも防止できる。
なお、砥粒の保持力を高めるために、人造ダイヤにニッ
ケルメッキしたものを採用してもよい。部分砥石20の
寸法は、長さ20mm、厚さ2〜4mmである。また、
各部分砥石20間の隙間は1mmである。そして、回転
モータ17による砥石固定部18の回転方向は、回転テ
ーブル14とは反対の図1において反時計回りであり、
回転速度は5500rpmである。なお、カップ型砥石
19の相対的な移動距離は、3000〜4000m/分
である。
【0017】次に、この発明の一実施例に係るウェーハ
の研削装置10を用いた張り合わせ基板の活性層用ウェ
ーハ研削方法を説明する。図1に示すように、活性層用
ウェーハ11Aの研削時には、まずチャックテーブル1
2のチャック15内に、張り合わせ基板11を支持基板
用ウェーハ11Bを下向きにして搭載する。次いで、チ
ャック15を作動し、張り合わせ基板11を真空吸着で
固定する。
の研削装置10を用いた張り合わせ基板の活性層用ウェ
ーハ研削方法を説明する。図1に示すように、活性層用
ウェーハ11Aの研削時には、まずチャックテーブル1
2のチャック15内に、張り合わせ基板11を支持基板
用ウェーハ11Bを下向きにして搭載する。次いで、チ
ャック15を作動し、張り合わせ基板11を真空吸着で
固定する。
【0018】次いで、LMガイド16bを介して、横行
基台16Aをチャックテーブル12側へ移動し、研削ヘ
ッド13をこのテーブル12上に配置する。その後、回
転モータ17により砥石固定部18を回転しながら、L
Mガイド16aを介して、0.5〜1.0μm/sec
の速度で下降する。これにより、回転中のカップ型砥石
19で活性層用ウェーハ11Aの表面を研削する(図4
参照)。なお、活性層用ウェーハ11Aの表面からの各
部分砥石20の切り込み深さは、砥粒の平均粒径(4〜
6μm)の1/3(1.33〜2μm)以下としてい
る。
基台16Aをチャックテーブル12側へ移動し、研削ヘ
ッド13をこのテーブル12上に配置する。その後、回
転モータ17により砥石固定部18を回転しながら、L
Mガイド16aを介して、0.5〜1.0μm/sec
の速度で下降する。これにより、回転中のカップ型砥石
19で活性層用ウェーハ11Aの表面を研削する(図4
参照)。なお、活性層用ウェーハ11Aの表面からの各
部分砥石20の切り込み深さは、砥粒の平均粒径(4〜
6μm)の1/3(1.33〜2μm)以下としてい
る。
【0019】この際、カップ型砥石19が、研削ヘッド
13の回転軸aを中心にして、多数個の部分砥石20を
真円配置したものであるので、瞬時的な研削状態の変動
が少なく、うねりが発生し難い。そのため、加工速度の
維持とスパークアウトの低減が可能となり、従来砥石に
比べて研削時間が短くなって、研削のスループットが高
まる。実際に部分砥石20を三角のおむすび形や楕円形
に配置して比較実験を行ってみた。その結果、実施例の
ウェーハの研削装置10を使った方が、研削時間が短縮
され、スループットも1.5倍となった。この発明はこ
の実施例に限定されるものではなく、要旨を逸脱しない
範囲での設計変更などがあってもこの発明に含まれる。
13の回転軸aを中心にして、多数個の部分砥石20を
真円配置したものであるので、瞬時的な研削状態の変動
が少なく、うねりが発生し難い。そのため、加工速度の
維持とスパークアウトの低減が可能となり、従来砥石に
比べて研削時間が短くなって、研削のスループットが高
まる。実際に部分砥石20を三角のおむすび形や楕円形
に配置して比較実験を行ってみた。その結果、実施例の
ウェーハの研削装置10を使った方が、研削時間が短縮
され、スループットも1.5倍となった。この発明はこ
の実施例に限定されるものではなく、要旨を逸脱しない
範囲での設計変更などがあってもこの発明に含まれる。
【0020】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1〜請
求項3に記載のウェーハの研削装置および該装置を用い
たウェーハ研削方法によれば、チャックテーブルに搭載
・固定されたウェーハの表面に回転中の研削ヘッドを押
し当てて、真円配置されたカップ型砥石によりウェーハ
表面を研削するようにしたので、瞬時的な研削状態の変
動が少なく、うねりが発生しにくい。そのため、加工速
度の維持とスパークアウトの低減が可能となって、比較
的ウェーハの研削時間が短縮され、研削のスループット
が高まる。
求項3に記載のウェーハの研削装置および該装置を用い
たウェーハ研削方法によれば、チャックテーブルに搭載
・固定されたウェーハの表面に回転中の研削ヘッドを押
し当てて、真円配置されたカップ型砥石によりウェーハ
表面を研削するようにしたので、瞬時的な研削状態の変
動が少なく、うねりが発生しにくい。そのため、加工速
度の維持とスパークアウトの低減が可能となって、比較
的ウェーハの研削時間が短縮され、研削のスループット
が高まる。
【0021】特に、請求項2に記載のウェーハの研削装
置によれば、カップ型砥石の粗さを#1500〜#30
00としたので、研削時にウェーハにクラックが入るの
を防止できたり、研削加工によるウェーハの変質層を浅
くでき、しかも研削時の摩擦熱による砥石の焼きつきも
防止できる。
置によれば、カップ型砥石の粗さを#1500〜#30
00としたので、研削時にウェーハにクラックが入るの
を防止できたり、研削加工によるウェーハの変質層を浅
くでき、しかも研削時の摩擦熱による砥石の焼きつきも
防止できる。
【図1】この発明の一実施例に係るウェーハの研削装置
の全体斜視図である。
の全体斜視図である。
【図2】研削ヘッドの拡大斜視図である。
【図3】研削ヘッドの拡大底面図である。
【図4】部分砥石によるウェーハ研削工程を示す説明図
である。
である。
10 ウェーハの研削装置、 11 張り合わせ基板、 11A 活性層用ウェーハ、 11B 支持基板用ウェーハ、 12 チャックテーブル、 13 研削ヘッド、 19 カップ型砥石、 20 部分砥石、 a 回転軸。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 寺沢 昭浩 東京都千代田区大手町1丁目5番1号 三 菱マテリアルシリコン株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 単結晶インゴットから切り出されたウェ
ーハをチャックテーブルに搭載・固定し、回転する研削
ヘッドを下降・当接して、該研削ヘッドの下面外周部に
環状配置された多数個の部分砥石からなるカップ型砥石
により、ウェーハ表面を研削するウェーハの研削装置に
おいて、 上記カップ型砥石が、上記各部分砥石を、上記研削ヘッ
ドの回転軸を中心に真円配置させたものであるウェーハ
の研削装置。 - 【請求項2】 上記カップ型砥石の粗さが#1500〜
#2500である請求項1に記載のウェーハの研削装
置。 - 【請求項3】 単結晶インゴットから切り出されたウェ
ーハをチャックテーブルに搭載・固定する工程と、 次いで、回転する研削ヘッドを下降・当接して、該研削
ヘッドの下面外周部に真円配置された多数個の部分砥石
からなるカップ型砥石により、ウェーハの表面を研削す
る工程とを備えたウェーハの研削装置を用いたウェーハ
研削方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13591397A JPH10309657A (ja) | 1997-05-08 | 1997-05-08 | ウェーハの研削装置および該装置を用いたウェ−ハ研削方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13591397A JPH10309657A (ja) | 1997-05-08 | 1997-05-08 | ウェーハの研削装置および該装置を用いたウェ−ハ研削方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10309657A true JPH10309657A (ja) | 1998-11-24 |
Family
ID=15162774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13591397A Pending JPH10309657A (ja) | 1997-05-08 | 1997-05-08 | ウェーハの研削装置および該装置を用いたウェ−ハ研削方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10309657A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003257906A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp | 半導体ウェーハの研磨方法 |
| CN110405556A (zh) * | 2019-08-05 | 2019-11-05 | 安徽钟南人防工程防护设备有限公司 | 一种用于人防门生产的门面修磨装置及其工作方法 |
| CN112917311A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-08 | 朱爱萍 | 一种机械加工零件打磨装置 |
-
1997
- 1997-05-08 JP JP13591397A patent/JPH10309657A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003257906A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corp | 半導体ウェーハの研磨方法 |
| CN110405556A (zh) * | 2019-08-05 | 2019-11-05 | 安徽钟南人防工程防护设备有限公司 | 一种用于人防门生产的门面修磨装置及其工作方法 |
| CN110405556B (zh) * | 2019-08-05 | 2021-04-16 | 安徽钟南人防工程防护设备有限公司 | 一种用于人防门生产的门面修磨装置及其工作方法 |
| CN112917311A (zh) * | 2021-01-19 | 2021-06-08 | 朱爱萍 | 一种机械加工零件打磨装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050516 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050524 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20051014 |