JPH10330939A - イオン注入装置、二重排気チューブ組立体及びその交換方法 - Google Patents
イオン注入装置、二重排気チューブ組立体及びその交換方法Info
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- JPH10330939A JPH10330939A JP10138243A JP13824398A JPH10330939A JP H10330939 A JPH10330939 A JP H10330939A JP 10138243 A JP10138243 A JP 10138243A JP 13824398 A JP13824398 A JP 13824398A JP H10330939 A JPH10330939 A JP H10330939A
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/18—Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/30—Electron or ion beam tubes for processing objects
- H01J2237/317—Processing objects on a microscale
- H01J2237/31701—Ion implantation
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Rigid Pipes And Flexible Pipes (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】電気的に完全な非導電性を維持することが容易
な二重壁面構造で、かつそこに集まる汚染物を最小にす
るための排気チューブ組立体を提供すること。 【解決手段】異なる電位にある装置部品を接続する二重
排気組立体28であって、第1,第2エンドマウントの内
側取付部分間に接続される処分可能な波状の内側チュー
ブ84と、その外側を取り囲む永久使用の外側チューブ82
を含み、これらのチューブ84,82 は、ポリテトラフルオ
ロエチレン、又は同様な絶縁材料から構成される。波状
の内側表面は、汚染物の蓄積を防ぐため、内側チューブ
の軸線87に向かって下方に下降する複数の表面(94)を有
し、電位差のある装置部品間のアークの発生を減少す
る。外側チューブは、内側チューブを取り囲むことによ
って、内側チューブの内面上に形成される汚染物のため
に生じる電気的放電により薄い内側チューブに孔が開い
ても毒性の流出物を封じ込める構造を備える。
な二重壁面構造で、かつそこに集まる汚染物を最小にす
るための排気チューブ組立体を提供すること。 【解決手段】異なる電位にある装置部品を接続する二重
排気組立体28であって、第1,第2エンドマウントの内
側取付部分間に接続される処分可能な波状の内側チュー
ブ84と、その外側を取り囲む永久使用の外側チューブ82
を含み、これらのチューブ84,82 は、ポリテトラフルオ
ロエチレン、又は同様な絶縁材料から構成される。波状
の内側表面は、汚染物の蓄積を防ぐため、内側チューブ
の軸線87に向かって下方に下降する複数の表面(94)を有
し、電位差のある装置部品間のアークの発生を減少す
る。外側チューブは、内側チューブを取り囲むことによ
って、内側チューブの内面上に形成される汚染物のため
に生じる電気的放電により薄い内側チューブに孔が開い
ても毒性の流出物を封じ込める構造を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般的に、イオン
注入装置の分野に関し、特に、イオン注入装置におい
て、真空ポンプと共に用いる改良された排気チューブに
関する。
注入装置の分野に関し、特に、イオン注入装置におい
て、真空ポンプと共に用いる改良された排気チューブに
関する。
【0002】
【従来の技術】イオン注入装置は、集積回路の大規模製
造において、半導体に不純物を混入させるために、産業
界に望ましい技術として発展してきた。一般的に、イオ
ン注入装置は、3つのブロックすなわちサブシステムを
有している。それらは、所望の電流とエネルギーのイオ
ンビームを発生させるイオン源を含むターミナルと、イ
オンビームによってイオンが注入される半導体ウエハを
含むターゲット室と、ターミナルとターゲット室の間に
配置され、イオン源から出力されるイオンビームを制御
し、目標のウエハに向けて制御されたビームを指向させ
るビームライン組立体である。
造において、半導体に不純物を混入させるために、産業
界に望ましい技術として発展してきた。一般的に、イオ
ン注入装置は、3つのブロックすなわちサブシステムを
有している。それらは、所望の電流とエネルギーのイオ
ンビームを発生させるイオン源を含むターミナルと、イ
オンビームによってイオンが注入される半導体ウエハを
含むターゲット室と、ターミナルとターゲット室の間に
配置され、イオン源から出力されるイオンビームを制御
し、目標のウエハに向けて制御されたビームを指向させ
るビームライン組立体である。
【0003】全体のイオン注入工程は、確実な注入を保
証しかつ粒子の汚染を防止するために真空下に行われ
る。高真空ポンプは、この目的のために設けられる。一
般的に、個別の高真空ポンプが、それぞれイオン源領
域、ビームライン組立体、及びターゲット室に設けられ
る。ターゲット室の領域では、ターゲット室における加
圧と減圧の繰り返しを避けるために、ターゲット室から
ウエハを挿入および取り出すためのロードロックが用い
られる。
証しかつ粒子の汚染を防止するために真空下に行われ
る。高真空ポンプは、この目的のために設けられる。一
般的に、個別の高真空ポンプが、それぞれイオン源領
域、ビームライン組立体、及びターゲット室に設けられ
る。ターゲット室の領域では、ターゲット室における加
圧と減圧の繰り返しを避けるために、ターゲット室から
ウエハを挿入および取り出すためのロードロックが用い
られる。
【0004】イオン注入装置のそれぞれの領域から空気
を排気するための真空システムは、エアを取り除くため
に各領域に接続されている。この排気は、一般的に安全
性と汚染の問題に関して適応できるように、イオン注入
装置の包囲体の外側の環境に向けてエア抜きが行われ
る。
を排気するための真空システムは、エアを取り除くため
に各領域に接続されている。この排気は、一般的に安全
性と汚染の問題に関して適応できるように、イオン注入
装置の包囲体の外側の環境に向けてエア抜きが行われ
る。
【0005】ターミナルは、イオン源からイオンを容易
に引き出すために必然的に高電圧で作動され、ターゲッ
ト室に向けてイオンを加速する。一般的に、この電圧
は、80,000〜100,000 ボルト(80〜100kV)の範
囲にある。しかしながら、イオン注入装置の外側ハウジ
ングは、安全のために電気的に接地されている。したが
って、イオン源の真空ポンプによりイオン源領域から排
気されたエアは、高電圧のターミナルから接地された包
囲体を介して外部環境へ排出されなければばならない。
に引き出すために必然的に高電圧で作動され、ターゲッ
ト室に向けてイオンを加速する。一般的に、この電圧
は、80,000〜100,000 ボルト(80〜100kV)の範
囲にある。しかしながら、イオン注入装置の外側ハウジ
ングは、安全のために電気的に接地されている。したが
って、イオン源の真空ポンプによりイオン源領域から排
気されたエアは、高電圧のターミナルから接地された包
囲体を介して外部環境へ排出されなければばならない。
【0006】一般的に、排気チューブは、イオン源の真
空ポンプに接続されて、イオン源領域からエアを外部に
排気する。排気チューブは、イオン源の真空ポンプか
ら、高電圧ターミナルハウジングを介して、また、接地
された外側包囲体を介して外部環境へと伸びている。こ
の排気チューブの一部分は、高電圧ターミナルハウジン
グと接地された外側包囲体の間に伸びており、非導電性
の絶縁材料で構成され、上記ハウジングと外側包囲体の
間の電気的接触を防止する。
空ポンプに接続されて、イオン源領域からエアを外部に
排気する。排気チューブは、イオン源の真空ポンプか
ら、高電圧ターミナルハウジングを介して、また、接地
された外側包囲体を介して外部環境へと伸びている。こ
の排気チューブの一部分は、高電圧ターミナルハウジン
グと接地された外側包囲体の間に伸びており、非導電性
の絶縁材料で構成され、上記ハウジングと外側包囲体の
間の電気的接触を防止する。
【0007】イオン注入装置の作動をさらに延長した
後、イオン源の真空排気チューブの内側壁面は、イオン
源工程の時に、残留物と、イオン源領域の脱気中に空気
伝達される他の材料により汚染する。これらの汚染物の
蓄積は、特に、炭化水素が、非導電性チューブの絶縁性
能を結果的に悪くする。そして、漏れ電流がターミナル
からアースへと流れる。さらに悪いことには、高電圧の
放電により、ターミナルと包囲体との間にアークが生じ
る。このような発生を防止するために、チューブは、洗
浄されるか、あるいは取り替えて、装置の安全性を回復
させる必要がある。チューブを洗浄することは、時間の
浪費であり、また、汚染物が露出する危険性があるため
に、チューブは、一般的に取り替えられる。
後、イオン源の真空排気チューブの内側壁面は、イオン
源工程の時に、残留物と、イオン源領域の脱気中に空気
伝達される他の材料により汚染する。これらの汚染物の
蓄積は、特に、炭化水素が、非導電性チューブの絶縁性
能を結果的に悪くする。そして、漏れ電流がターミナル
からアースへと流れる。さらに悪いことには、高電圧の
放電により、ターミナルと包囲体との間にアークが生じ
る。このような発生を防止するために、チューブは、洗
浄されるか、あるいは取り替えて、装置の安全性を回復
させる必要がある。チューブを洗浄することは、時間の
浪費であり、また、汚染物が露出する危険性があるため
に、チューブは、一般的に取り替えられる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明
は、電気的な絶縁性能を容易に維持できるようにしたイ
オン注入装置、およびこれに用いるために改良された排
気チューブを提供することを目的としている。
は、電気的な絶縁性能を容易に維持できるようにしたイ
オン注入装置、およびこれに用いるために改良された排
気チューブを提供することを目的としている。
【0009】また、本発明の更なる目的は、より実施で
きるように経済的に製造されたイオン注入装置において
使用するために、安価で交換可能かつ処分可能な内側チ
ューブと、永久的に再利用できる外側チューブを有する
構成からなる排気チューブ組立体、及びその交換方法を
提供することである。
きるように経済的に製造されたイオン注入装置において
使用するために、安価で交換可能かつ処分可能な内側チ
ューブと、永久的に再利用できる外側チューブを有する
構成からなる排気チューブ組立体、及びその交換方法を
提供することである。
【0010】この内側チューブは、汚染物を捕獲する手
段を備え、電気的漏洩、またはフラッシュオーバー(fla
shover) のための伸長した通路を備えるように、波状の
構造を有する。これにより、このような波状の構造がな
いものに比較してメンテナンス(取り替え)期間が伸び
る。
段を備え、電気的漏洩、またはフラッシュオーバー(fla
shover) のための伸長した通路を備えるように、波状の
構造を有する。これにより、このような波状の構造がな
いものに比較してメンテナンス(取り替え)期間が伸び
る。
【0011】さらに、本発明の目的は、電気的に完全な
非導電性を維持することが容易な二重壁面構造で、かつ
そこに集まる汚染物を最小にするための排気チューブ組
立体を提供することである。
非導電性を維持することが容易な二重壁面構造で、かつ
そこに集まる汚染物を最小にするための排気チューブ組
立体を提供することである。
【0012】さらに、本発明の別の目的は、汚染物を捕
獲する波状の内側チューブが、より丈夫な永久的な外側
チューブと比較して比較的薄い壁面を有し、内側チュー
ブに穴が開いた場合にもこの外側チューブにより有効的
に汚染物を捕獲できる二重壁面を有する排気チューブ組
立体を提供することである。
獲する波状の内側チューブが、より丈夫な永久的な外側
チューブと比較して比較的薄い壁面を有し、内側チュー
ブに穴が開いた場合にもこの外側チューブにより有効的
に汚染物を捕獲できる二重壁面を有する排気チューブ組
立体を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、請求項に記載の各構成を有する。本発明
の二重壁面を備えた排気チューブ組立体は、異なる電圧
下に置かれる装置の構成要素間を接続するために、イオ
ン注入装置に設けられる。
に、本発明は、請求項に記載の各構成を有する。本発明
の二重壁面を備えた排気チューブ組立体は、異なる電圧
下に置かれる装置の構成要素間を接続するために、イオ
ン注入装置に設けられる。
【0014】この組立体は、第1エンドマウントの内側
取付部分に接続される第1端部と、第2エンドマウント
の内側取付部分に接続される第2端部とを有する内側チ
ューブ;及び第1エンドマウントの外側取付部分に接続
される第1端部と、前記第2エンドマウントの外側取付
部分に接続される第2端部とを有する外側チューブ;を
含んでいる。
取付部分に接続される第1端部と、第2エンドマウント
の内側取付部分に接続される第2端部とを有する内側チ
ューブ;及び第1エンドマウントの外側取付部分に接続
される第1端部と、前記第2エンドマウントの外側取付
部分に接続される第2端部とを有する外側チューブ;を
含んでいる。
【0015】さらに、本発明の請求項によれば、内側チ
ューブと外側チューブが、好ましくは、ポリテトラフル
オロエチレンから構成されている。また、内側チューブ
の波状内表面が、汚染物の蓄積を防止するために内側チ
ューブの軸線に向かって下方に下降する複数の表面を有
している。この波状表面は、漏れ電流がチューブの高電
圧源端部から接地された端部へと横切るのに必要となる
接地通路の長さを増大させるので、異なる電圧レベルに
ある装置の構成要素間で発生するアークを減少する。
ューブと外側チューブが、好ましくは、ポリテトラフル
オロエチレンから構成されている。また、内側チューブ
の波状内表面が、汚染物の蓄積を防止するために内側チ
ューブの軸線に向かって下方に下降する複数の表面を有
している。この波状表面は、漏れ電流がチューブの高電
圧源端部から接地された端部へと横切るのに必要となる
接地通路の長さを増大させるので、異なる電圧レベルに
ある装置の構成要素間で発生するアークを減少する。
【0016】外側チューブは、内側チューブの内表面上
に形成される汚染物の結果として、発生するかもしれな
いアークにより丈夫な内側チューブに裂け目が生じる場
合に解き放される、空気伝搬する物質を閉じ込めるため
の封じ込め機構を備えている。また、外側チューブは、
そこにはめ込まれる内側チューブの整合とその位置とを
維持する機能を有する。この適切な位置と整合は、汚染
物が内側チューブから絶えず放出されるようにするため
に必要であり、また、内側チューブの不必要な動き、そ
の結果のひずみ、あるいは、経年変化による品質劣化を
防止できる。
に形成される汚染物の結果として、発生するかもしれな
いアークにより丈夫な内側チューブに裂け目が生じる場
合に解き放される、空気伝搬する物質を閉じ込めるため
の封じ込め機構を備えている。また、外側チューブは、
そこにはめ込まれる内側チューブの整合とその位置とを
維持する機能を有する。この適切な位置と整合は、汚染
物が内側チューブから絶えず放出されるようにするため
に必要であり、また、内側チューブの不必要な動き、そ
の結果のひずみ、あるいは、経年変化による品質劣化を
防止できる。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。図1はイオンビーム注入装置10を示し
ており、この注入装置は、ターミナル12、ビームライ
ン組立体14、およびターゲットすなわち端部ステーシ
ョン16とを含み、これらのすべては、電気的に接地さ
れた外側包囲体18内に置かれている。ターミナルは、
ガス室22、イオン源24、及び質量分析磁石26を備
える高電圧ハウジング20を含んでいる。本発明の原理
にしたがって構成された排気チューブ組立体28は、以
下で説明するように、この高電圧ハウジング20を外側
包囲体18に連結している。
いて説明する。図1はイオンビーム注入装置10を示し
ており、この注入装置は、ターミナル12、ビームライ
ン組立体14、およびターゲットすなわち端部ステーシ
ョン16とを含み、これらのすべては、電気的に接地さ
れた外側包囲体18内に置かれている。ターミナルは、
ガス室22、イオン源24、及び質量分析磁石26を備
える高電圧ハウジング20を含んでいる。本発明の原理
にしたがって構成された排気チューブ組立体28は、以
下で説明するように、この高電圧ハウジング20を外側
包囲体18に連結している。
【0018】イオン源24から放射されるイオンビーム
29は、質量分析磁石26を通ってターミナル12を出
る制御されたビーム通路に従って進み、さらに、ビーム
ライン組立体を通過して端部ステーション16に進む。
そして、この端部ステーションにおいて、イオンビーム
はここにある半導体ウエハに注入される。制御されたビ
ーム通路に沿って、イオンビーム29は、形作られ、評
価されて所望の注入エネルギーに加速される。
29は、質量分析磁石26を通ってターミナル12を出
る制御されたビーム通路に従って進み、さらに、ビーム
ライン組立体を通過して端部ステーション16に進む。
そして、この端部ステーションにおいて、イオンビーム
はここにある半導体ウエハに注入される。制御されたビ
ーム通路に沿って、イオンビーム29は、形作られ、評
価されて所望の注入エネルギーに加速される。
【0019】イオン源24は、プラズマ室32とイオン
引出し組立体34を形成するハウジング30を有する。
直接的にガス室22から圧縮されたガスとして、または
間接的に固体のドーパント材料を気化させることにより
得られるイオン可能なドーパントガスが、プラズマ室3
2内に放射される。一般的に、イオン源のイオン種は、
ボロン(B)、燐(P)、ガリウム(Ga)、インジウ
ム(In)、アンチモン(Sb)、ひ素(As)であ
る。これらのいオン種は、ガス状の三フッ化ホウ素(bor
on trifluoride) またはジボラン(diborane)の形式で一
般的に与えられるボロンを除いて固体形状で与えられ
る。
引出し組立体34を形成するハウジング30を有する。
直接的にガス室22から圧縮されたガスとして、または
間接的に固体のドーパント材料を気化させることにより
得られるイオン可能なドーパントガスが、プラズマ室3
2内に放射される。一般的に、イオン源のイオン種は、
ボロン(B)、燐(P)、ガリウム(Ga)、インジウ
ム(In)、アンチモン(Sb)、ひ素(As)であ
る。これらのいオン種は、ガス状の三フッ化ホウ素(bor
on trifluoride) またはジボラン(diborane)の形式で一
般的に与えられるボロンを除いて固体形状で与えられ
る。
【0020】エネルギーは、イオン化可能なドーパント
ガスに分配され、プラズマ室32内でイオンを発生す
る。本発明は、負イオンがイオン源により発生する装置
に利用できるものであるが、一般的には、正イオンが発
生する。正イオンは、複数の電極からなるイオン引出し
組立体34によってプラズマ室32に設けたスリットを
通って引き出される。
ガスに分配され、プラズマ室32内でイオンを発生す
る。本発明は、負イオンがイオン源により発生する装置
に利用できるものであるが、一般的には、正イオンが発
生する。正イオンは、複数の電極からなるイオン引出し
組立体34によってプラズマ室32に設けたスリットを
通って引き出される。
【0021】電極は、負電位に荷電され、プラズマ室の
スリットからの距離が増加するほどその大きさが増加す
る。したがって、イオン引出し組立体34は、プラズマ
室からの正イオンのビーム29を引出し、質量分析磁石
26内で引き出されたイオンを加速するように機能す
る。
スリットからの距離が増加するほどその大きさが増加す
る。したがって、イオン引出し組立体34は、プラズマ
室からの正イオンのビーム29を引出し、質量分析磁石
26内で引き出されたイオンを加速するように機能す
る。
【0022】質量分析磁石26は、ビームライン組立体
14に適切な荷電質量比(charage to mass rate)を有す
るイオンのみを通過させる。この質量分析磁石26は、
イオン源24において、適切な荷電質量比のイオンを発
生することに加えて、所望よりも大きなあるいは小さな
荷電質量比のイオンを発生させるために必要である。不
適当な荷電質量比のイオンがウエハ内に注入されること
は好ましくない。
14に適切な荷電質量比(charage to mass rate)を有す
るイオンのみを通過させる。この質量分析磁石26は、
イオン源24において、適切な荷電質量比のイオンを発
生することに加えて、所望よりも大きなあるいは小さな
荷電質量比のイオンを発生させるために必要である。不
適当な荷電質量比のイオンがウエハ内に注入されること
は好ましくない。
【0023】質量分析磁石26は、湾曲したビーム通路
を含み、この通路はアルミニウム製のビームガイド38
によって形成され、真空ポンプ36によってこのガイド
内部の脱気が行われる。この通路に沿って伝搬するイオ
ンビーム29は、質量分析磁石26によって発生する磁
界により影響される。
を含み、この通路はアルミニウム製のビームガイド38
によって形成され、真空ポンプ36によってこのガイド
内部の脱気が行われる。この通路に沿って伝搬するイオ
ンビーム29は、質量分析磁石26によって発生する磁
界により影響される。
【0024】磁石26を通過した後イオンビーム29
は、4極レンズ40により集束され、このレンズは、ビ
ーム内のイオンを相互に直交する平面において偏向させ
る。4極レンズ40によって十分に偏向かつ集束されな
いイオンビーム内のイオンは、イオンビームから飛び出
して端部ステーション16に到達することができない。
イオンビーム内に残っているイオンは、加速/減速電極
42により、加速または減速されて、排気チューブ44
を通り、端部ステーションに向かって、所望の最終の注
入エネルギーとなる。チューブ44からの排気は、ビー
ムライン領域の真空ポンプ46によって与えられる。
は、4極レンズ40により集束され、このレンズは、ビ
ーム内のイオンを相互に直交する平面において偏向させ
る。4極レンズ40によって十分に偏向かつ集束されな
いイオンビーム内のイオンは、イオンビームから飛び出
して端部ステーション16に到達することができない。
イオンビーム内に残っているイオンは、加速/減速電極
42により、加速または減速されて、排気チューブ44
を通り、端部ステーションに向かって、所望の最終の注
入エネルギーとなる。チューブ44からの排気は、ビー
ムライン領域の真空ポンプ46によって与えられる。
【0025】端部ステーション16は、移動可能なペデ
スタル50に取付けられたターゲット室48を含み、イ
オンビームに対してターゲット室に位置を合わせるよう
になっている。イオンビームは、ウエハ支持体52上に
支持された1つまたはそれ以上の半導体ウエハに注入さ
れる。ウエハ支持体は、モータ56の軸54の回りに回
転できるように取付られている。リニア駆動機構58に
よって、ターゲット室48内でウエハ支持体52を前後
方向にインデックスさせる。
スタル50に取付けられたターゲット室48を含み、イ
オンビームに対してターゲット室に位置を合わせるよう
になっている。イオンビームは、ウエハ支持体52上に
支持された1つまたはそれ以上の半導体ウエハに注入さ
れる。ウエハ支持体は、モータ56の軸54の回りに回
転できるように取付られている。リニア駆動機構58に
よって、ターゲット室48内でウエハ支持体52を前後
方向にインデックスさせる。
【0026】半導体ウエハは、真空ポート62を介して
ロボットアーム60によりターゲット室48内に挿入さ
れる。ターゲット室48は、排気チューブ44内の圧力
にほぼ等しくなる低い圧力にまでターゲット室の真空ポ
ンプ64によって脱気される。真空ポンプ36,46,
及び64は、一般的に「ラフィングポンプ(roughingpum
ps)」として知られている。ロボットアーム60は、カ
セット66とターゲット室48の間でウエハを往復させ
る。この搬送を完了させるための機構は、従来から良く
知られている。
ロボットアーム60によりターゲット室48内に挿入さ
れる。ターゲット室48は、排気チューブ44内の圧力
にほぼ等しくなる低い圧力にまでターゲット室の真空ポ
ンプ64によって脱気される。真空ポンプ36,46,
及び64は、一般的に「ラフィングポンプ(roughingpum
ps)」として知られている。ロボットアーム60は、カ
セット66とターゲット室48の間でウエハを往復させ
る。この搬送を完了させるための機構は、従来から良く
知られている。
【0027】図1のイオン注入装置10の作動は、2つ
の高電圧源(図示略)により行われ、この電圧源の各々
は、出力が80kV〜100kVである。第1の高電圧
源は、加速/減速電極42のための電力を供給し、この
電極を装置の包囲体18(アース接地)の電位に対して
100kVまで上げることができる。これと同一の10
0kVの電位は、ターミナルの高電圧ハウジング20に
も与えられており、このハウジングは、加速/減速電極
と同一電圧で作動する。絶縁ブッシュ68は、装置の包
囲体(アース接地)とターミナルの高電圧ハウジング
(100kV)の間を電気的に絶縁する。また、加速/
減速電極42からビームライン組立体内の排気チューブ
44を絶縁する絶縁ブッシュ70も同様の目的を達成す
る。
の高電圧源(図示略)により行われ、この電圧源の各々
は、出力が80kV〜100kVである。第1の高電圧
源は、加速/減速電極42のための電力を供給し、この
電極を装置の包囲体18(アース接地)の電位に対して
100kVまで上げることができる。これと同一の10
0kVの電位は、ターミナルの高電圧ハウジング20に
も与えられており、このハウジングは、加速/減速電極
と同一電圧で作動する。絶縁ブッシュ68は、装置の包
囲体(アース接地)とターミナルの高電圧ハウジング
(100kV)の間を電気的に絶縁する。また、加速/
減速電極42からビームライン組立体内の排気チューブ
44を絶縁する絶縁ブッシュ70も同様の目的を達成す
る。
【0028】第2の高電圧源は、引出し電極34のため
の電力を供給し、この引出し電極も加速/減速電極に対
して100kVまで上げることができる。したがって、
ガス室22とイオン源24は、アース電位に対して20
0kVにまで上げられて作動する。絶縁ブッシュ72
は、ターミナルの高電圧ハウジング20(電位:100
kV)とガス室/イオン源(電位:200kV)間を電
気的に絶縁する。また、引出し電極34をガス室/イオ
ン源から絶縁する絶縁ブッシュ74も同様の同様の目的
を達成する。
の電力を供給し、この引出し電極も加速/減速電極に対
して100kVまで上げることができる。したがって、
ガス室22とイオン源24は、アース電位に対して20
0kVにまで上げられて作動する。絶縁ブッシュ72
は、ターミナルの高電圧ハウジング20(電位:100
kV)とガス室/イオン源(電位:200kV)間を電
気的に絶縁する。また、引出し電極34をガス室/イオ
ン源から絶縁する絶縁ブッシュ74も同様の同様の目的
を達成する。
【0029】イオン源領域の真空ポンプ36は、排気チ
ューブ組立体28に接続され、この組立体は、ポンプ3
6からターミナルの高電圧ハウジング20と接地された
装置包囲体18の両方を通過して伸びている。排気チュ
ーブは、ビームライン領域の真空ポンプ46とターゲッ
ト室の真空ポンプ64に対しては図示されていない。こ
の理由は、本発明の排気チューブ組立体は、このような
ポンプとともに使用することができるけれども、イオン
源領域の真空ポンプが作動する場所等の高電圧環境にお
いて特に利用されることによる。
ューブ組立体28に接続され、この組立体は、ポンプ3
6からターミナルの高電圧ハウジング20と接地された
装置包囲体18の両方を通過して伸びている。排気チュ
ーブは、ビームライン領域の真空ポンプ46とターゲッ
ト室の真空ポンプ64に対しては図示されていない。こ
の理由は、本発明の排気チューブ組立体は、このような
ポンプとともに使用することができるけれども、イオン
源領域の真空ポンプが作動する場所等の高電圧環境にお
いて特に利用されることによる。
【0030】この排気チューブ組立体28は、図2にお
いて、より明瞭に示されており、接地された包囲体18
と高電圧ハウジング20との間に接続される。排気チュ
ーブ組立体28は、波状の内側チューブ(図2の剥離部
分に図示された)84を取り囲む円筒状の外側チューブ
82を含んでいる。波状の内側チューブ84は、軸線8
7に沿って排気チューブ組立体28の全長に伸びる通路
85を備えている。
いて、より明瞭に示されており、接地された包囲体18
と高電圧ハウジング20との間に接続される。排気チュ
ーブ組立体28は、波状の内側チューブ(図2の剥離部
分に図示された)84を取り囲む円筒状の外側チューブ
82を含んでいる。波状の内側チューブ84は、軸線8
7に沿って排気チューブ組立体28の全長に伸びる通路
85を備えている。
【0031】好ましい実施の形態では、円筒状の外側チ
ューブ82及び内側チューブ84は、ポリテトラフルオ
ロエチレン(PTFE)即ちE.I.デュポン社の登録
商標であるテフロンから作られている。このPTFE
は、電気的に非導電性であり、加熱状態において、かな
りの機械的強度を維持している。PTFE以外の材料
も、同様の構造と電気的導電性能を有する限りは、チュ
ーブ82,84の材料として使用することができる。
ューブ82及び内側チューブ84は、ポリテトラフルオ
ロエチレン(PTFE)即ちE.I.デュポン社の登録
商標であるテフロンから作られている。このPTFE
は、電気的に非導電性であり、加熱状態において、かな
りの機械的強度を維持している。PTFE以外の材料
も、同様の構造と電気的導電性能を有する限りは、チュ
ーブ82,84の材料として使用することができる。
【0032】排気チューブ組立体28は、下側エンドマ
ウント86と上側エンドマウント88をそれぞれ有し、
これらは、電気的絶縁する必要がないので、好ましく
は、金属(例えば、ステンレス鋼)で作られている。下
側エンドマウント86は、付加的なエア抜き構造(例え
ば、図示を省略したチューブ)によって排気チューブ組
立体28をイオン源領域の真空ポンプ36に接続する。
そして、上側エンドマウント88もまた、付加的なエア
抜き構造によって排気チューブ組立体28を外部環境に
したチューブ)によって接続される。下側エンドマウン
ト86は、テーパー状の接続部90を有し、上側エンド
マウントは、これらの接続用としてフランジ92を有し
ている。
ウント86と上側エンドマウント88をそれぞれ有し、
これらは、電気的絶縁する必要がないので、好ましく
は、金属(例えば、ステンレス鋼)で作られている。下
側エンドマウント86は、付加的なエア抜き構造(例え
ば、図示を省略したチューブ)によって排気チューブ組
立体28をイオン源領域の真空ポンプ36に接続する。
そして、上側エンドマウント88もまた、付加的なエア
抜き構造によって排気チューブ組立体28を外部環境に
したチューブ)によって接続される。下側エンドマウン
ト86は、テーパー状の接続部90を有し、上側エンド
マウントは、これらの接続用としてフランジ92を有し
ている。
【0033】図3,図4,図5の各々において、内側チ
ューブ84、下側エンドマウント86、及び上側エンド
マウント88がそれぞれ詳細に示されている。波状の内
側チューブ84は、波状の中間部分94と、下側エンド
部分(第1端部)96と、上側エンド部分(第2端部)
98とを含んでいる。波状のチューブ84の波状となっ
た内側表面を形成する個々の起伏99は、軸線87に向
けて下方に傾いている。このため、この内側表面には棚
や窪みが形成されないので、汚染物の蓄積が促進されな
いようになっている。さらに、集積ボール(collection
bowl) がチューブ組立体28の下方のエア抜き構造内に
設けられ、通路85から落ちる汚染物を集めることがで
きる。
ューブ84、下側エンドマウント86、及び上側エンド
マウント88がそれぞれ詳細に示されている。波状の内
側チューブ84は、波状の中間部分94と、下側エンド
部分(第1端部)96と、上側エンド部分(第2端部)
98とを含んでいる。波状のチューブ84の波状となっ
た内側表面を形成する個々の起伏99は、軸線87に向
けて下方に傾いている。このため、この内側表面には棚
や窪みが形成されないので、汚染物の蓄積が促進されな
いようになっている。さらに、集積ボール(collection
bowl) がチューブ組立体28の下方のエア抜き構造内に
設けられ、通路85から落ちる汚染物を集めることがで
きる。
【0034】波状チューブの波状となった内側表面に設
けた起伏は、漏れ電流が、チューブ84の高電圧(下
側)の端部から接地された(上側)の端部にリークする
ために横切るのに必要な接地通路の長さを増加する機能
を有する。この接地通路の長さを増加させることは重要
なことであり、その理由は、一般的に、接地通路の全長
を有効に横切る漏れ電流が高電圧ハウジング20と接地
された包囲体18の間にアークを生じて、イオン注入装
置10の作動を停止させる状態となるためである。こう
して、波状の内側チューブ84は、ハウジング20と包
囲体18の間にアークが生じる危険性を有効に減少す
る。
けた起伏は、漏れ電流が、チューブ84の高電圧(下
側)の端部から接地された(上側)の端部にリークする
ために横切るのに必要な接地通路の長さを増加する機能
を有する。この接地通路の長さを増加させることは重要
なことであり、その理由は、一般的に、接地通路の全長
を有効に横切る漏れ電流が高電圧ハウジング20と接地
された包囲体18の間にアークを生じて、イオン注入装
置10の作動を停止させる状態となるためである。こう
して、波状の内側チューブ84は、ハウジング20と包
囲体18の間にアークが生じる危険性を有効に減少す
る。
【0035】下側及び上側のエンドマウント86,88
は、段部を備えて、そこに波状の内側チューブ84と円
筒状の外側チューブ82を取り付けて、真空排気チュー
ブ組立体28を完成する。図2ないし図5に示すよう
に、内側チューブ84の下端部96は、下側エンドマウ
ント(第1エンドマウント)86の内側段部(内側取付
部分)100上を越えてはめ込まれる。この内側段部1
00は、内側チューブ84と下側エンドマウント86の
間のスムーズな嵌合を容易にするリング状隆起部102
を備えている。このようにして、内側チューブ84と下
側エンドマウント86の間に、新たな締付具を不要にす
る接続が行われる。そのため、チューブ84は、熱によ
り収縮するPTFE材料で構成され、イオン注入装置の
作動時での、チューブ84と下側エンドマウント86の
間に得られる嵌合は改善される。
は、段部を備えて、そこに波状の内側チューブ84と円
筒状の外側チューブ82を取り付けて、真空排気チュー
ブ組立体28を完成する。図2ないし図5に示すよう
に、内側チューブ84の下端部96は、下側エンドマウ
ント(第1エンドマウント)86の内側段部(内側取付
部分)100上を越えてはめ込まれる。この内側段部1
00は、内側チューブ84と下側エンドマウント86の
間のスムーズな嵌合を容易にするリング状隆起部102
を備えている。このようにして、内側チューブ84と下
側エンドマウント86の間に、新たな締付具を不要にす
る接続が行われる。そのため、チューブ84は、熱によ
り収縮するPTFE材料で構成され、イオン注入装置の
作動時での、チューブ84と下側エンドマウント86の
間に得られる嵌合は改善される。
【0036】同様に、内側チューブ84の上端部98
は、上側エンドマウント(第2エンドマウント)88の
内側端部106を越えてはめ込まれる。この内側段部
(内側取付部分)106は、内側チューブ84と上側エ
ンドマウントの間のスムーズな嵌合を容易にするリング
状隆起部108を備えている。このようにして、内側チ
ューブ84は、両方のエンドマウントから取り外し可能
に作られている。
は、上側エンドマウント(第2エンドマウント)88の
内側端部106を越えてはめ込まれる。この内側段部
(内側取付部分)106は、内側チューブ84と上側エ
ンドマウントの間のスムーズな嵌合を容易にするリング
状隆起部108を備えている。このようにして、内側チ
ューブ84は、両方のエンドマウントから取り外し可能
に作られている。
【0037】外側チューブ82は、内側チューブ84の
全体を取り囲み、かつ下側及び内側のエンドマウント8
6,88の各外側段部(外側取付部分)112,114
を越えてはめ込まれる端部を有している。Oリング(第
1シール部材)116は、外側段部112の円周溝11
8にはめ込まれ、外側チューブ82と下側エンドマウン
ト86との間を気密にシールする。同様に、Oリング1
20は、外側段部114の円周溝122にはめ込まれ、
外側チューブ82と上側エンドマウント88との間を気
密にシールする。ねじ124,126は、下側及び内側
のエンドマウントの各外側段部を越える外側チューブ8
2の位置を確実に固定する。テーパー孔128,130
は、それぞれねじ124,126のために設けられてい
る。
全体を取り囲み、かつ下側及び内側のエンドマウント8
6,88の各外側段部(外側取付部分)112,114
を越えてはめ込まれる端部を有している。Oリング(第
1シール部材)116は、外側段部112の円周溝11
8にはめ込まれ、外側チューブ82と下側エンドマウン
ト86との間を気密にシールする。同様に、Oリング1
20は、外側段部114の円周溝122にはめ込まれ、
外側チューブ82と上側エンドマウント88との間を気
密にシールする。ねじ124,126は、下側及び内側
のエンドマウントの各外側段部を越える外側チューブ8
2の位置を確実に固定する。テーパー孔128,130
は、それぞれねじ124,126のために設けられてい
る。
【0038】本発明において開示する実施の形態では、
上側および下側のエンドマウント86,88を含んでい
るが、本発明では、個別のエンドマウントを用いても用
いなくても行うことができる。内側チューブを外側チュ
ーブにより取り囲んでいる二重壁面の構成は、エンドマ
ウントを用いることなく、例えば、互いに直接内側チュ
ーブと外側チューブを取り付ける手段を設けることによ
り、行うこともできる。
上側および下側のエンドマウント86,88を含んでい
るが、本発明では、個別のエンドマウントを用いても用
いなくても行うことができる。内側チューブを外側チュ
ーブにより取り囲んでいる二重壁面の構成は、エンドマ
ウントを用いることなく、例えば、互いに直接内側チュ
ーブと外側チューブを取り付ける手段を設けることによ
り、行うこともできる。
【0039】このような手段の1つは、内側または外側
チューブの一方の部分が内側または外側チューブの他方
の部分に、別の締付具を用いることなくはめ合わせるス
ナップ嵌合構造である。また代わりに、別個のエンドマ
ウントを用いない実施形態において、複数の締付具が、
内側および外側チューブを直接的に一緒に締め付けるの
に利用することもできる。このように、エンドマウント
という言葉は、ここでは、内側および外側チューブ8
2,84を有する組立体のいずれかの端部に接続される
構成を意味する。
チューブの一方の部分が内側または外側チューブの他方
の部分に、別の締付具を用いることなくはめ合わせるス
ナップ嵌合構造である。また代わりに、別個のエンドマ
ウントを用いない実施形態において、複数の締付具が、
内側および外側チューブを直接的に一緒に締め付けるの
に利用することもできる。このように、エンドマウント
という言葉は、ここでは、内側および外側チューブ8
2,84を有する組立体のいずれかの端部に接続される
構成を意味する。
【0040】円筒状の外側チューブ82は、波状の内側
チューブ84の形状及び長さを保護するとともに支持
し、さらに、内側チューブ84のみを用いて達成するこ
とができない強い組立体を提供することができる。好ま
しい実施形態では、外側チューブは、内側チューブより
もより厚い壁を有している。さらに、内側チューブを取
り囲むことによって、内側チューブの内面上に形成され
る汚染物の結果として起こる電気的放電により薄い内側
チューブに孔が開けられた場合に、外側チューブは、毒
性の流出物を包含するための容器構造を与える。Oリン
グ116,120は、この容器構造に役立つ。
チューブ84の形状及び長さを保護するとともに支持
し、さらに、内側チューブ84のみを用いて達成するこ
とができない強い組立体を提供することができる。好ま
しい実施形態では、外側チューブは、内側チューブより
もより厚い壁を有している。さらに、内側チューブを取
り囲むことによって、内側チューブの内面上に形成され
る汚染物の結果として起こる電気的放電により薄い内側
チューブに孔が開けられた場合に、外側チューブは、毒
性の流出物を包含するための容器構造を与える。Oリン
グ116,120は、この容器構造に役立つ。
【0041】イオン注入装置10の長い作動の後、波状
の内側チューブ84は、イオン源領域の真空ポンプ36
によって排気された汚染物によってだんだん汚染され
る。本発明の排気チューブ組立体28は、内側チューブ
が外側チューブ82によって取り囲まれた二重壁面構造
を設けることにより、電気的に完全な非導電性を維持し
て経済的な再構成を可能にする。特に、全体の排気チュ
ーブ組立体28は、最初、高電圧ハウジング20と接地
された包囲体18との間に置かれた位置から取り除かれ
る。そして、円筒状の外側チューブ82は、ねじ12
4,126を緩めてエンドマウント86,88から取り
除かれる。内側チューブ84は、単にエンドマウントか
ら引き離す力を加えることによってエンドマウント8
6,88から取り除かれる。その後、新しく交換する波
状の内側チューブ84をエンドマウント上に設置するこ
とができる。外側チューブ82は、エンドマウントに再
度取付けられ、全体として新たな組立体28がイオン注
入装置10に再び取り付けられることになる。
の内側チューブ84は、イオン源領域の真空ポンプ36
によって排気された汚染物によってだんだん汚染され
る。本発明の排気チューブ組立体28は、内側チューブ
が外側チューブ82によって取り囲まれた二重壁面構造
を設けることにより、電気的に完全な非導電性を維持し
て経済的な再構成を可能にする。特に、全体の排気チュ
ーブ組立体28は、最初、高電圧ハウジング20と接地
された包囲体18との間に置かれた位置から取り除かれ
る。そして、円筒状の外側チューブ82は、ねじ12
4,126を緩めてエンドマウント86,88から取り
除かれる。内側チューブ84は、単にエンドマウントか
ら引き離す力を加えることによってエンドマウント8
6,88から取り除かれる。その後、新しく交換する波
状の内側チューブ84をエンドマウント上に設置するこ
とができる。外側チューブ82は、エンドマウントに再
度取付けられ、全体として新たな組立体28がイオン注
入装置10に再び取り付けられることになる。
【0042】従って、イオン注入装置に使用される改良
された真空ポンプ用の排気チューブ組立体の好ましい実
施形態をここに記載してきた。また、この組立体を経済
的に再構成し、電気的に非導電性を維持できる方法を説
明してきた。しかし、上記記載において、これら記載
は、例示として示されたものであり、本発明は、ここに
記載の特定の実施形態に限定されるものではなく、種々
の再構成、修正、及び置換は、付随する特許請求の範囲
及びこれらの同等のものによって限定された本発明の範
囲から逸脱しない範囲において包含できるものである。
された真空ポンプ用の排気チューブ組立体の好ましい実
施形態をここに記載してきた。また、この組立体を経済
的に再構成し、電気的に非導電性を維持できる方法を説
明してきた。しかし、上記記載において、これら記載
は、例示として示されたものであり、本発明は、ここに
記載の特定の実施形態に限定されるものではなく、種々
の再構成、修正、及び置換は、付随する特許請求の範囲
及びこれらの同等のものによって限定された本発明の範
囲から逸脱しない範囲において包含できるものである。
【図1】本発明の原理に従って構成された真空排気チュ
ーブ組立体の1実施形態を包含するイオン注入装置の側
部断面図である。
ーブ組立体の1実施形態を包含するイオン注入装置の側
部断面図である。
【図2】図1の一部を分離して見た、真空排気チューブ
組立体の拡大図である。
組立体の拡大図である。
【図3】図2に示す真空排気チューブ組立体の波状の内
側チューブの側部断面図である。
側チューブの側部断面図である。
【図4】図2に示す真空排気チューブ組立体の下側エン
ドマウントの側部断面図である。
ドマウントの側部断面図である。
【図5】図2に示す真空排気チューブ組立体の上側エン
ドマウントの側部断面図である。
ドマウントの側部断面図である。
10 イオン注入装置 12 ターミナル 14 ビームライン組立体 15 ビームライン組立体 16 端部ステーション 20 高電圧ハウジング 24 イオン源 28 排気チューブ組立体 29 イオンビーム 36,46,64 真空ポンプ 48 ターゲット室 82 外側チューブ 84 内側チューブ 86 第1エンドマウント 87 軸線 88 第2エンドマウント 100,106 内側段部 102 リング状隆起部 112,114 外側段部 116,102 Oリング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 390033020 Eaton Center,Clevel and,Ohio 44114,U.S.A. (72)発明者 ジェームズ パトリック クイル アメリカ合衆国 マサチューセッツ 01880−1205 ウエイクフィールド サン セット ドライブ 32 (72)発明者 アレック スチュアート デンホルム アメリカ合衆国 マサチューセッツ 01773−0083 リンカーン ピー.オー. ボックス 83
Claims (20)
- 【請求項1】第1エンドマウント(86)と、 第2エンドマウント(88)と、 前記第1エンドマウント(86)の内側取付部分(100) に接
続される第1端部(96)と、前記第2エンドマウント(86)
の内側取付部分(106) に接続される第2端部(98)とを有
する内側チューブ(84)と、 前記内側チューブを取り囲み、前記第1エンドマウント
(86)の外側取付部分(112) に接続される第1端部と、前
記第2エンドマウント(86)の外側取付部分(114) に接続
される第2端部とを有する外側チューブ(82)とを含んで
いる、二重壁面を備えた排気チューブ組立体。 - 【請求項2】前記内側チューブ(84)は、その長さ全体の
大部分にわたって延在する波状表面を有し、この波状表
面は、前記内側チューブの軸線(87)に向かって下方に下
降する複数の表面(94)を有していることを特徴とする請
求項1記載の排気チューブ組立体。 - 【請求項3】前記内側チューブ(84)と外側チューブ(82)
は、電気的に非導電材料からなることを特徴とする請求
項2記載の排気チューブ組立体。 - 【請求項4】前記内側チューブ(84)と外側チューブ(82)
は、ポリテトラフルオロエチレンから構成されているこ
とを特徴とする請求項3記載の排気チューブ組立体。 - 【請求項5】前記波状の内側チューブ(84)は、締付具な
しの連結機構(102,108) によって、第1,第2エンドマ
ウントに接続されることを特徴とする請求項3記載の排
気チューブ組立体。 - 【請求項6】前記外側チューブの第1端部と前記第1エ
ンドマウント(86)の外側取付部分(112) との間に配置さ
れた第1シール部材(116) と、前記外側チューブの第2
端部と前記第2エンドマウント(88)の外側取付部分(11
4) との間に配置された第2シール部材(120) とをさら
に含んでいることを特徴とする請求項3記載の排気チュ
ーブ組立体。 - 【請求項7】外側排気チューブ(82)が内側排気チューブ
(84)を取り囲んで組み合わされ、前記内側チューブ及び
外側チューブは互いに固く連結され、それぞれのチュー
ブの通気構造体(86,88) に取付可能な第1端部及び第2
端部を有することを特徴とする真空排気装置。 - 【請求項8】前記内側チューブ(84)は、その長さの大部
分に渡り波状表面を有し、この波状表面は、内側チュー
ブの軸線(87)に向かって下方に下降する複数の表面(94)
を有していることを特徴とする請求項7記載の真空排気
装置。 - 【請求項9】前記内側チューブ(84)及び外側チューブ(8
2)の各々が、電気的に非導電材料からなることを特徴と
する請求項8記載の真空排気装置。 - 【請求項10】前記内側チューブ(84)及び外側チューブ
(82)の各々が、ポリテトラフルオロエチレンから構成さ
れていることを特徴とする請求項9記載の真空排気装
置。 - 【請求項11】イオンビーム(29)を発生するイオン源(2
4)、イオンビームを搬送するためのビームガイド(14)、
該ビームガイド内を排気するための真空ポンプ(36)とを
含む少なくとも部分的なハウジングからなる高電圧ハウ
ジング(20)を有するターミナルと、 前記高電圧ハウジング(20)を取り囲む電気的に接地され
た包囲体(18)と、 この包囲体(18)と前記高電圧ハウジング(20)の間に接続
された電気的に非導電性の排気チューブ組立体(28)とを
含み、 この排気チューブ組立体(28)が、 第1エンドマウント(86);第1エンドマウント(88);前
記第1エンドマウント(86)の内側取付部分(100) に接続
される第1端部(96)と、前記第2エンドマウント(86)の
内側取付部分(106) に接続される第2端部(98)とを有す
る内側チューブ(84);及び前記内側チューブを取り囲
み、前記第1エンドマウント(86)の外側取付部分(112)
に接続される第1端部と、前記第2エンドマウント(86)
の外側取付部分(114) に接続される第2端部とを有する
外側チューブ(82);を備えていることを特徴とするイオ
ン注入装置。 - 【請求項12】前記内側チューブ(84)は、その長さ全体
の大部分にわたって延在する波状表面を有し、この波状
表面は、前記内側チューブの軸線(87)に向かって下方に
下降する複数の表面(94)を有していることを特徴とする
請求項11記載のイオン注入装置。 - 【請求項13】前記内側チューブ(84)と外側チューブ(8
2)は、ポリテトラフルオロエチレンから構成されている
ことを特徴とする請求項12記載のイオン注入装置。 - 【請求項14】前記波状の内側チューブ(84)は、締付具
なしの連結機構(102,108) によって、第1,第2エンド
マウントに接続されることを特徴とする請求項12記載
のイオン注入装置。 - 【請求項15】前記外側チューブの第1端部と前記第1
エンドマウント(86)の外側取付部分(112) との間に配置
された第1シール部材(116) と、前記外側チューブの第
2端部と前記第2エンドマウント(88)の外側取付部分(1
14) との間に配置された第2シール部材(120) とをさら
に含んでいることを特徴とする請求項12記載のイオン
注入装置。 - 【請求項16】第1エンドマウント(86)の有する内側取
付部分(100) に接続される第1端部(96)と、第2エンド
マウント(86)の内側取付部分(106) に接続される第2端
部(98)とを有する処分可能な内側チューブ(84);および
前記第1エンドマウント(86)の外側取付部分(112) に接
続される第1端部と、前記第2エンドマウント(86)の外
側取付部分(114) に接続される第2端部とを有する外側
チューブ(82);を含んでいる二重壁面を備えた排気チュ
ーブ組立体(28)を再組立するための方法であって、 前記外側チューブ(82)を前記第1,第2エンドマウント
(86,88) の外側取付部分(112,114) から分離し、 前記処分可能な内側チューブ(84)を前記第1,第2エン
ドマウント(86,88) の内側取付部分(100,106) から分離
し、 前記処分可能な内側チューブ(84)を新たな内側チューブ
と交換し、さらに、この新たな内側チューブを前記第
1,第2エンドマウント(86,88) の内側取付部分(100,1
06) に接続し、 前記外側チューブ(82)を前記第1,第2エンドマウント
(86,88) の外側取付部分(112,114) に再接続する、各ス
テップを有することを特徴とする方法。 - 【請求項17】前記新たな内側チューブは、その長さ全
体の大部分にわたって延在する波状表面を有し、この波
状表面は、前記内側チューブの軸線(87)に向かって下方
に下降する複数の表面(94)を有していることを特徴とす
る請求項16記載の方法。 - 【請求項18】前記新たな内側チューブは、ポリテトラ
フルオロエチレンから構成されていることを特徴とする
請求項17記載の方法。 - 【請求項19】前記波状の新たな内側チューブは、締付
具なしの連結機構(102,108) によって、第1,第2エン
ドマウントに接続されることを特徴とする請求項17記
載の方法。 - 【請求項20】前記外側チューブと前記第1,第2エン
ドマウント(86,88) によって形成されるシール接続のス
テップを更に含み、 このステップは、前記外側チューブの第1端部と前記第
1エンドマウント(86)の外側取付部分(112) との間に第
1シール部材(116) を配置し、さらに、前記外側チュー
ブの第2端部と前記第2エンドマウント(88)の外側取付
部分(114) との間に第2シール部材(120) を配置するこ
とを含んでいる請求項17記載の方法。
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