JPH103680A - 光学ピックアップの光学ベース - Google Patents
光学ピックアップの光学ベースInfo
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- JPH103680A JPH103680A JP8177485A JP17748596A JPH103680A JP H103680 A JPH103680 A JP H103680A JP 8177485 A JP8177485 A JP 8177485A JP 17748596 A JP17748596 A JP 17748596A JP H103680 A JPH103680 A JP H103680A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光学ベ−スへの光学要素の組み込みが容易な
光学ピックアップの光学ベースを提供すること。 【解決手段】 光学ピックアップを構成する複数の光学
要素を収容支持する光学ピックアップの光学ベース11
0に、前記光学要素の1つである光検出手段の基体部を
収容する第1の収容部112haと、前記光検出手段の
集光レンズ部を収容する第2の収容部112hbとを設
ける。
光学ピックアップの光学ベースを提供すること。 【解決手段】 光学ピックアップを構成する複数の光学
要素を収容支持する光学ピックアップの光学ベース11
0に、前記光学要素の1つである光検出手段の基体部を
収容する第1の収容部112haと、前記光検出手段の
集光レンズ部を収容する第2の収容部112hbとを設
ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えばMD、C
D、LDやデータストレージ等において、光ディスクの
信号を再生し、あるいは光ディスクに信号を記録する光
学ピックアップに係り、特にこのような光学ピックアッ
プを構成する光学要素もしくは光学素子を収容支持する
ための光学ベースの改良に関するものである。
D、LDやデータストレージ等において、光ディスクの
信号を再生し、あるいは光ディスクに信号を記録する光
学ピックアップに係り、特にこのような光学ピックアッ
プを構成する光学要素もしくは光学素子を収容支持する
ための光学ベースの改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の光学ピックアップは、一般的に
光学ベースと呼ばれる枠体もしくは支持体に収容支持さ
れた半導体レーザー素子、グレーティング、ビームスプ
リッタ、コリメータレンズ、プリズムミラー、対物レン
ズ、モニタ用フォトディテクタ及び信号検出用フォトデ
ィテクタ等の複数の光学要素並びに対物レンズの可動部
として働く2軸アクチュエータを備えている。
光学ベースと呼ばれる枠体もしくは支持体に収容支持さ
れた半導体レーザー素子、グレーティング、ビームスプ
リッタ、コリメータレンズ、プリズムミラー、対物レン
ズ、モニタ用フォトディテクタ及び信号検出用フォトデ
ィテクタ等の複数の光学要素並びに対物レンズの可動部
として働く2軸アクチュエータを備えている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した光学ピックア
ップは、光ディスクの信号を正確に再生し、あるいは光
ディスクに信号を正確に記録する必要があるため、各光
学要素を、半導体レーザー素子から出射される光ビ−ム
の光軸上に精度良く配置する必要がある。ここで、各光
学要素のうちのモニタ用フォトディテクタは、受光素子
を内蔵した角柱状の基体部及びこの基体部の一面に一体
的に設けられ、半導体レーザー素子から出射される光ビ
−ムを受光素子に集光するための半球状の集光レンズ部
から構成されている。
ップは、光ディスクの信号を正確に再生し、あるいは光
ディスクに信号を正確に記録する必要があるため、各光
学要素を、半導体レーザー素子から出射される光ビ−ム
の光軸上に精度良く配置する必要がある。ここで、各光
学要素のうちのモニタ用フォトディテクタは、受光素子
を内蔵した角柱状の基体部及びこの基体部の一面に一体
的に設けられ、半導体レーザー素子から出射される光ビ
−ムを受光素子に集光するための半球状の集光レンズ部
から構成されている。
【0004】このようなモニタ用フォトディテクタは、
従来は剥き出しの状態で集光レンズ部が光学ベースに押
し当てられて固定されるため、モニタ用フォトディテク
タを半導体レーザー素子から出射される光ビ−ムの光軸
上に精度良く位置決めすることが困難であり、また、モ
ニタ用フォトディテクタと光学ベースの隙間から外光が
入射して半導体レーザー素子の出力モニタが不正確にな
るという問題があった。
従来は剥き出しの状態で集光レンズ部が光学ベースに押
し当てられて固定されるため、モニタ用フォトディテク
タを半導体レーザー素子から出射される光ビ−ムの光軸
上に精度良く位置決めすることが困難であり、また、モ
ニタ用フォトディテクタと光学ベースの隙間から外光が
入射して半導体レーザー素子の出力モニタが不正確にな
るという問題があった。
【0005】この発明は、以上の点に鑑み、光学ベ−ス
への光学要素の組み込みが容易な光学ピックアップの光
学ベースを提供することを目的としている。
への光学要素の組み込みが容易な光学ピックアップの光
学ベースを提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、この発明に
よれば、光学ピックアップを構成する複数の光学要素を
収容支持する光学ピックアップの光学ベースにおいて、
前記光学要素の1つである光検出手段の基体部を収容す
る第1の収容部と、前記光検出手段の集光レンズ部を収
容する第2の収容部とを設けることにより達成される。
よれば、光学ピックアップを構成する複数の光学要素を
収容支持する光学ピックアップの光学ベースにおいて、
前記光学要素の1つである光検出手段の基体部を収容す
る第1の収容部と、前記光検出手段の集光レンズ部を収
容する第2の収容部とを設けることにより達成される。
【0007】上記構成によれば、光学要素の1つである
光検出手段の光学ベースにおける収容部が光検出手段を
包み込むようにして収容するので、光検出手段の位置決
めが容易となり、また、外光の入射を防止することがで
きる。
光検出手段の光学ベースにおける収容部が光検出手段を
包み込むようにして収容するので、光検出手段の位置決
めが容易となり、また、外光の入射を防止することがで
きる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下この発明の好適な実施形態を
添付図面を参照しながら詳細に説明する。尚、以下に述
べる実施の形態は、この発明の好適な具体例であるか
ら、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、こ
の発明の範囲は、以下の説明において特にこの発明を限
定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られるも
のではない。
添付図面を参照しながら詳細に説明する。尚、以下に述
べる実施の形態は、この発明の好適な具体例であるか
ら、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、こ
の発明の範囲は、以下の説明において特にこの発明を限
定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られるも
のではない。
【0009】図1は、この発明による光学ベースの実施
形態が適用されている光学ピックアップの一例を示す平
面図であり、 図2は、それを背面から見た平面図であ
る。この光学ピックアップ100は、2軸アクチュエー
タ120及び複数の光学要素130が、例えばダイキャ
スト等により一体に形成された枠体である光学ベース1
10内に収容支持されている。
形態が適用されている光学ピックアップの一例を示す平
面図であり、 図2は、それを背面から見た平面図であ
る。この光学ピックアップ100は、2軸アクチュエー
タ120及び複数の光学要素130が、例えばダイキャ
スト等により一体に形成された枠体である光学ベース1
10内に収容支持されている。
【0010】光学ベース110は、2軸アクチュエータ
120を収容支持するスライドベース部111と、各光
学要素130を収容支持する光学系収容部112と、ス
ライドベース部111と一体化され機器本体側に固定さ
れる固定部113とにより構成されている。
120を収容支持するスライドベース部111と、各光
学要素130を収容支持する光学系収容部112と、ス
ライドベース部111と一体化され機器本体側に固定さ
れる固定部113とにより構成されている。
【0011】光学要素130は、図3の平面図に示すよ
うに配列されており、光源である半導体レーザー素子1
31、このレーザー素子131から出射される光ビ−ム
を分割する光分割手段であるグレーティング132、こ
のグレーティング132からの光ビ−ムを分離する光分
離手段であるビームスプリッタ133、このビームスプ
リッタ133からの光ビ−ムを平行光ビ−ムに変換する
平行光変換手段であるコリメータレンズ135、このコ
リメータレンズ135からの光ビ−ムの光路を折り曲げ
る光路折曲げ手段であるプリズムミラー136及びこの
プリズムミラー136からの光ビ−ムを集束する光集束
手段である対物レンズ137を備えている。
うに配列されており、光源である半導体レーザー素子1
31、このレーザー素子131から出射される光ビ−ム
を分割する光分割手段であるグレーティング132、こ
のグレーティング132からの光ビ−ムを分離する光分
離手段であるビームスプリッタ133、このビームスプ
リッタ133からの光ビ−ムを平行光ビ−ムに変換する
平行光変換手段であるコリメータレンズ135、このコ
リメータレンズ135からの光ビ−ムの光路を折り曲げ
る光路折曲げ手段であるプリズムミラー136及びこの
プリズムミラー136からの光ビ−ムを集束する光集束
手段である対物レンズ137を備えている。
【0012】また、ビームスプリッタ133と一体的に
固定されており、光ディスクから対物レンズ137、プ
リズムミラー136及びコリメータレンズ135を介し
て戻ってくる光ビ−ムを分割する光分割手段であるウオ
ラストンプリズム134、マルチレンズホルダに収容さ
れており、ウオラストンプリズム134からの光ビ−ム
を集束する光集束手段であるマルチレンズ138、この
マルチレンズ138からの光ビ−ムを検出する光検出手
段である信号検出用フォトディテクタ139及びビーム
スプリッタ133を挟んで信号検出用フォトディテクタ
139と対向する位置に配置されており、レーザ出力モ
ニタ用の光検出手段であるモニタ用フォトディテクタ1
40を備えている。
固定されており、光ディスクから対物レンズ137、プ
リズムミラー136及びコリメータレンズ135を介し
て戻ってくる光ビ−ムを分割する光分割手段であるウオ
ラストンプリズム134、マルチレンズホルダに収容さ
れており、ウオラストンプリズム134からの光ビ−ム
を集束する光集束手段であるマルチレンズ138、この
マルチレンズ138からの光ビ−ムを検出する光検出手
段である信号検出用フォトディテクタ139及びビーム
スプリッタ133を挟んで信号検出用フォトディテクタ
139と対向する位置に配置されており、レーザ出力モ
ニタ用の光検出手段であるモニタ用フォトディテクタ1
40を備えている。
【0013】このような構成の光学ピックアップ100
において、その動作例を説明する。半導体レーザー素子
131から出射された光ビームは、グレーティング13
2に入射する。このグレーティング132に入射された
光ビームは分割されて、ビームスプリッタ133に入射
する。このビームスプリッタ133に入射された光ビー
ムは分離されて、その一部がビームスプリッタ133に
形成された反射面133aによって90度折り曲げられ
てモニタ用フォトディテクタ140に入射する。
において、その動作例を説明する。半導体レーザー素子
131から出射された光ビームは、グレーティング13
2に入射する。このグレーティング132に入射された
光ビームは分割されて、ビームスプリッタ133に入射
する。このビームスプリッタ133に入射された光ビー
ムは分離されて、その一部がビームスプリッタ133に
形成された反射面133aによって90度折り曲げられ
てモニタ用フォトディテクタ140に入射する。
【0014】そして、このモニタ用フォトディテクタ1
40が、半導体レーザー素子131の出射する光ビーム
のビーム出力等をモニタする。ここで、モニタ用フォト
ディテクタ140は、光路上で入射光軸に対して垂直に
ならないように傾けて配置されているので、モニタ用フ
ォトディテクタ140の表面もしくは受光素子表面で反
射された光が、上記各光学要素130を通過する光ビー
ム中に入り込むこと、即ち迷光の発生を極力回避するこ
とができる。
40が、半導体レーザー素子131の出射する光ビーム
のビーム出力等をモニタする。ここで、モニタ用フォト
ディテクタ140は、光路上で入射光軸に対して垂直に
ならないように傾けて配置されているので、モニタ用フ
ォトディテクタ140の表面もしくは受光素子表面で反
射された光が、上記各光学要素130を通過する光ビー
ム中に入り込むこと、即ち迷光の発生を極力回避するこ
とができる。
【0015】ビームスプリッタ133で分離された残り
の光ビームは、コリメータレンズ135に入射する。こ
のコリメータレンズ135に入射された光ビームは屈折
されて平行光に変換され、プリズムミラー136に形成
された反射面によって90度折り曲げられて、対物レン
ズ137に入射する。この対物レンズ137に入射され
た光ビームは屈折されて、光ディスクの表面に集束され
る。
の光ビームは、コリメータレンズ135に入射する。こ
のコリメータレンズ135に入射された光ビームは屈折
されて平行光に変換され、プリズムミラー136に形成
された反射面によって90度折り曲げられて、対物レン
ズ137に入射する。この対物レンズ137に入射され
た光ビームは屈折されて、光ディスクの表面に集束され
る。
【0016】そして、光ディスクの表面で反射された戻
り光ビ−ムは、再び対物レンズ137で屈折されてプリ
ズムミラー136で反射され、コリメータレンズ135
で屈折されてビームスプリッタ133に入射する。そし
て、ビームスプリッタ133に入射された戻り光ビ−ム
は、ビームスプリッタ133に形成された反射面133
aによって90度折り曲げられて、ウオラストンプリズ
ム134に入射する。
り光ビ−ムは、再び対物レンズ137で屈折されてプリ
ズムミラー136で反射され、コリメータレンズ135
で屈折されてビームスプリッタ133に入射する。そし
て、ビームスプリッタ133に入射された戻り光ビ−ム
は、ビームスプリッタ133に形成された反射面133
aによって90度折り曲げられて、ウオラストンプリズ
ム134に入射する。
【0017】このウオラストンプリズム134に入射さ
れた戻り光ビ−ムは3つのビームに分離されて、マルチ
レンズ138に入射する。このマルチレンズ138に入
射された戻り光ビ−ムは屈折されて信号検出用フォトデ
ィテクタ139に入射する。そして、この信号検出用フ
ォトディテクタ139は、受光した戻り光ビ−ムに基づ
いて、フォーカシング制御用信号、トラッキング制御用
信号及び再生用信号を検出する。
れた戻り光ビ−ムは3つのビームに分離されて、マルチ
レンズ138に入射する。このマルチレンズ138に入
射された戻り光ビ−ムは屈折されて信号検出用フォトデ
ィテクタ139に入射する。そして、この信号検出用フ
ォトディテクタ139は、受光した戻り光ビ−ムに基づ
いて、フォーカシング制御用信号、トラッキング制御用
信号及び再生用信号を検出する。
【0018】図4は、この発明による光学ベースの実施
形態を示す右斜め上方から見た斜視図、図5は、その左
斜め上方から見た斜視図、図6は、そのA方向から見た
平面図、図7は、そのB方向から見た平面図、図8は、
そのC方向から見た側面図、図9は、そのD方向から見
た側面図、図10は、そのE方向から見た側面図、図1
1は、そのF方向から見た側面図である。
形態を示す右斜め上方から見た斜視図、図5は、その左
斜め上方から見た斜視図、図6は、そのA方向から見た
平面図、図7は、そのB方向から見た平面図、図8は、
そのC方向から見た側面図、図9は、そのD方向から見
た側面図、図10は、そのE方向から見た側面図、図1
1は、そのF方向から見た側面図である。
【0019】この光学ベース110は、上述したように
スライドベース部111、光学系収容部112及び固定
部113から構成されており、これらが例えばダイキャ
スト等により一体に形成されている。スライドベース部
111には2軸アクチュエータ120を収容支持可能な
比較的大きな空間114が設けられている。そして、ス
ライドベース部111に一体に連設されている固定部1
13は、軸受115を介して機器本体側に固定されるよ
うになっている。
スライドベース部111、光学系収容部112及び固定
部113から構成されており、これらが例えばダイキャ
スト等により一体に形成されている。スライドベース部
111には2軸アクチュエータ120を収容支持可能な
比較的大きな空間114が設けられている。そして、ス
ライドベース部111に一体に連設されている固定部1
13は、軸受115を介して機器本体側に固定されるよ
うになっている。
【0020】光学系収容部112には収容支持すべき光
学要素130の外形に合わせた複数の凹部が形成されて
おり、これらの凹部の多くが図4の矢印A方向に向かっ
て開口している。従って、これらの凹部には各光学要素
130が開口側から差し込まれて収容支持される。そし
て、その上からシールドカバーが装着され、各光学要素
130が固定されるようになっている。
学要素130の外形に合わせた複数の凹部が形成されて
おり、これらの凹部の多くが図4の矢印A方向に向かっ
て開口している。従って、これらの凹部には各光学要素
130が開口側から差し込まれて収容支持される。そし
て、その上からシールドカバーが装着され、各光学要素
130が固定されるようになっている。
【0021】即ち、凹部112aには、マルチレンズ1
38が収容されているマルチレンズホルダが図4の矢印
B方向から挿入され、シールドカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。尚、凹部1
12aは、このマルチレンズホルダをその長手方向に位
置調整できる長さを有している。凹部112bには、半
導体レーザー素子131としてのレーザダイオードが図
4の矢印F方向から挿入固定されるようになっている。
凹部112cには、グレーティング132が図4の矢印
B方向から挿入され、シールドカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。凹部112
dには、ビームスプリッタ133及びこれと一体となっ
たウオラストンプリズム134が図4の矢印B方向から
挿入固定されるようになっている。
38が収容されているマルチレンズホルダが図4の矢印
B方向から挿入され、シールドカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。尚、凹部1
12aは、このマルチレンズホルダをその長手方向に位
置調整できる長さを有している。凹部112bには、半
導体レーザー素子131としてのレーザダイオードが図
4の矢印F方向から挿入固定されるようになっている。
凹部112cには、グレーティング132が図4の矢印
B方向から挿入され、シールドカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。凹部112
dには、ビームスプリッタ133及びこれと一体となっ
たウオラストンプリズム134が図4の矢印B方向から
挿入固定されるようになっている。
【0022】凹部112eには、コリメータレンズ13
5が図4の矢印B方向から挿入固定されるようになって
いる。支持部112f、112fと支持部112gとの
間で形成される空間部には、プリズムミラー136が図
4の矢印B方向から挿入固定されるようになっている。
また、凹部112hには、モニタ用フォトディテクタ1
40の集光レンズ部及び基体部が図4の矢印D方向から
当接され、その底部側が押さえカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。
5が図4の矢印B方向から挿入固定されるようになって
いる。支持部112f、112fと支持部112gとの
間で形成される空間部には、プリズムミラー136が図
4の矢印B方向から挿入固定されるようになっている。
また、凹部112hには、モニタ用フォトディテクタ1
40の集光レンズ部及び基体部が図4の矢印D方向から
当接され、その底部側が押さえカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定されるようになっている。
【0023】以上の構成の光学ピックアップ100の光
学ベ−ス110において特徴的な部分は、凹部112h
であり、以下に詳細に説明する。ここで、図12(A)
は、一般的なモニタ用フォトディテクタの一例を示す平
面図、同図(B)は、その側面図である。このモニタ用
フォトディテクタ140は、受光素子141を内蔵した
角柱状の基体部142及び受光素子141の受光面と平
行の基体部142の一面に一体的に設けられ、半導体レ
ーザー素子131から出射される光ビ−ムを受光素子1
41に集光するための半球状の集光レンズ部143から
構成されている。尚、受光素子141の電極端子144
は、基体部142の側面から突出するように設けられて
いる。
学ベ−ス110において特徴的な部分は、凹部112h
であり、以下に詳細に説明する。ここで、図12(A)
は、一般的なモニタ用フォトディテクタの一例を示す平
面図、同図(B)は、その側面図である。このモニタ用
フォトディテクタ140は、受光素子141を内蔵した
角柱状の基体部142及び受光素子141の受光面と平
行の基体部142の一面に一体的に設けられ、半導体レ
ーザー素子131から出射される光ビ−ムを受光素子1
41に集光するための半球状の集光レンズ部143から
構成されている。尚、受光素子141の電極端子144
は、基体部142の側面から突出するように設けられて
いる。
【0024】凹部112hは、光学系収容部112の側
面から内部に向かって、モニタ用フォトディテクタ14
0の基体部142を収容する第1の収容部112ha及
びモニタ用フォトディテクタ140の集光レンズ部14
3を収容する第2の収容部112hbにより構成されて
いる。第1の収容部112haは、角柱状の基体部14
2の側面を包み込み、かつ集光レンズ部143が設けら
れている側の基体部142の面と密着するような角柱状
の凹部として形成されている。第2の収容部112hb
は、半球状の集光レンズ部143の球面を包み込み、か
つ密着するような半球状の凹部として形成されている。
尚、第2の収容部112hbの最深部、即ち半球の頂部
には、ビームスプリッタ133に形成された反射面13
3aによって90度折り曲げられた光ビームを集光レン
ズ部143に導く孔112iが設けられている。
面から内部に向かって、モニタ用フォトディテクタ14
0の基体部142を収容する第1の収容部112ha及
びモニタ用フォトディテクタ140の集光レンズ部14
3を収容する第2の収容部112hbにより構成されて
いる。第1の収容部112haは、角柱状の基体部14
2の側面を包み込み、かつ集光レンズ部143が設けら
れている側の基体部142の面と密着するような角柱状
の凹部として形成されている。第2の収容部112hb
は、半球状の集光レンズ部143の球面を包み込み、か
つ密着するような半球状の凹部として形成されている。
尚、第2の収容部112hbの最深部、即ち半球の頂部
には、ビームスプリッタ133に形成された反射面13
3aによって90度折り曲げられた光ビームを集光レン
ズ部143に導く孔112iが設けられている。
【0025】従って、図13(A)の図7に示すA−A
線の断面側面図、図14(A)の一部断面平面図及び図
15の斜視図に示すように、凹部112h内に、モニタ
用フォトディテクタ140をその集光レンズ部143が
前を向くようにして挿入することにより、図13(B)
のA−A線断面側面図、図14(B)の一部断面平面図
及び図16の斜視図に示すように、集光レンズ部143
の球面は、第2の収容部112hbの内面に密着し、ま
た、集光レンズ部143が設けられている側の基体部1
42の面は、第1の収容部112haの内面に密着する
ことになる。
線の断面側面図、図14(A)の一部断面平面図及び図
15の斜視図に示すように、凹部112h内に、モニタ
用フォトディテクタ140をその集光レンズ部143が
前を向くようにして挿入することにより、図13(B)
のA−A線断面側面図、図14(B)の一部断面平面図
及び図16の斜視図に示すように、集光レンズ部143
の球面は、第2の収容部112hbの内面に密着し、ま
た、集光レンズ部143が設けられている側の基体部1
42の面は、第1の収容部112haの内面に密着する
ことになる。
【0026】このようにモニタ用フォトディテクタ14
0は、第1の収容部112ha及び第2の収容部112
hbに包み込まれて保持されるので、モニタ用フォトデ
ィテクタ140の位置ずれが生じにくく、位置決め精度
の高い固定を容易に行うことができる。また、モニタ用
フォトディテクタ140と光学ベース110との間に隙
間が生じないので、外光の入射を防止して半導体レーザ
ー素子131の出力モニタを正確に行うことができる。
尚、凹部112hに収容されたモニタ用フォトディテク
タ140は、その底部側が光学ベース110にネジ止め
等により固定されている押さえカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定される。
0は、第1の収容部112ha及び第2の収容部112
hbに包み込まれて保持されるので、モニタ用フォトデ
ィテクタ140の位置ずれが生じにくく、位置決め精度
の高い固定を容易に行うことができる。また、モニタ用
フォトディテクタ140と光学ベース110との間に隙
間が生じないので、外光の入射を防止して半導体レーザ
ー素子131の出力モニタを正確に行うことができる。
尚、凹部112hに収容されたモニタ用フォトディテク
タ140は、その底部側が光学ベース110にネジ止め
等により固定されている押さえカバーの板バネにより押
さえ込まれて固定される。
【0027】尚、上記実施形態による光学ピックアップ
100の光学ベ−ス110は、光磁気ディスク再生用の
偏光光学ピックアップ、コンパクトディスク(CD)や
CD−ROMのための無偏光光学ピックアップ及び光デ
ィスク装置に対して適用することができる。
100の光学ベ−ス110は、光磁気ディスク再生用の
偏光光学ピックアップ、コンパクトディスク(CD)や
CD−ROMのための無偏光光学ピックアップ及び光デ
ィスク装置に対して適用することができる。
【0028】
【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
光学ベースへの光学要素の組み込みが容易となるので、
組立工数の低減化を図ることができると共に、位置決め
精度を向上させて光ディスクにおける信号をより正確に
再生記録することが可能となる。
光学ベースへの光学要素の組み込みが容易となるので、
組立工数の低減化を図ることができると共に、位置決め
精度を向上させて光ディスクにおける信号をより正確に
再生記録することが可能となる。
【図1】この発明による光学ベースの実施形態が適用さ
れている光学ピックアップの一例を示す平面図。
れている光学ピックアップの一例を示す平面図。
【図2】図1の光学ピックアップを背面から見た平面
図。
図。
【図3】図1の光学ピックアップの光学要素の一例を示
す平面図。
す平面図。
【図4】この発明による光学ベースの実施形態を示す右
斜め上方から見た斜視図。
斜め上方から見た斜視図。
【図5】図5の光学ベースの左斜め上方から見た斜視
図。
図。
【図6】図5の光学ベースのA方向から見た平面図。
【図7】図5の光学ベースのB方向から見た平面図。
【図8】図5の光学ベースのC方向から見た平面図。
【図9】図5の光学ベースのD方向から見た平面図。
【図10】図5の光学ベースのE方向から見た平面図。
【図11】図5の光学ベースのF方向から見た平面図。
【図12】図5の光学ベースに組み込む光学要素の1つ
である光検出手段の一例を示す平面図及び側面図。
である光検出手段の一例を示す平面図及び側面図。
【図13】図5の光学ベースへの図12の光学要素の組
み込みを示す断面側面図。
み込みを示す断面側面図。
【図14】図5の光学ベースへの図12の光学要素の組
み込みを示す平面図。
み込みを示す平面図。
【図15】図5の光学ベースへの図12の光学要素の組
み込みを示す斜視図。
み込みを示す斜視図。
【図16】図5の光学ベースへの図12の光学要素の組
み込み後を示す斜視図。
み込み後を示す斜視図。
100・・・光学ピックアップ、110・・・光学ベー
ス、111・・・スライドベ−ス部、112・・・光学
系収容部、113・・・固定部、120・・・2軸アク
チュエ−タ、130・・・光学要素、131・・・半導
体レ−ザ素子、132・・・グレーティング、133・
・・ビームスプリッタ、134・・・ウオラストンプリ
ズム、135・・・コリメータレンズ、136・・・プ
リズムミラー、137・・・対物レンズ、138・・・
マルチレンズ、139・・・信号検出用フォトディテク
タ、133a、136a・・・反射面、112a、11
2b、112c、112d、112e、112h・・・
凹部、112f、112g・・・支持部、112ha・
・・第1の収容部、112hb・・・第2の収容部、1
12i・・・孔
ス、111・・・スライドベ−ス部、112・・・光学
系収容部、113・・・固定部、120・・・2軸アク
チュエ−タ、130・・・光学要素、131・・・半導
体レ−ザ素子、132・・・グレーティング、133・
・・ビームスプリッタ、134・・・ウオラストンプリ
ズム、135・・・コリメータレンズ、136・・・プ
リズムミラー、137・・・対物レンズ、138・・・
マルチレンズ、139・・・信号検出用フォトディテク
タ、133a、136a・・・反射面、112a、11
2b、112c、112d、112e、112h・・・
凹部、112f、112g・・・支持部、112ha・
・・第1の収容部、112hb・・・第2の収容部、1
12i・・・孔
Claims (1)
- 【請求項1】 光学ピックアップを構成する複数の光学
要素を収容支持する光学ピックアップの光学ベースにお
いて、 前記光学要素の1つである光検出手段の基体部を収容す
る第1の収容部と、 前記光検出手段の集光レンズ部を収容する第2の収容部
とを設けたことを特徴とする光学ピックアップの光学ベ
ース。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8177485A JPH103680A (ja) | 1996-06-18 | 1996-06-18 | 光学ピックアップの光学ベース |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8177485A JPH103680A (ja) | 1996-06-18 | 1996-06-18 | 光学ピックアップの光学ベース |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH103680A true JPH103680A (ja) | 1998-01-06 |
Family
ID=16031735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8177485A Pending JPH103680A (ja) | 1996-06-18 | 1996-06-18 | 光学ピックアップの光学ベース |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH103680A (ja) |
-
1996
- 1996-06-18 JP JP8177485A patent/JPH103680A/ja active Pending
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