JPH1038681A - ストリーク管の掃引方法および掃引装置 - Google Patents

ストリーク管の掃引方法および掃引装置

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JPH1038681A
JPH1038681A JP8190897A JP19089796A JPH1038681A JP H1038681 A JPH1038681 A JP H1038681A JP 8190897 A JP8190897 A JP 8190897A JP 19089796 A JP19089796 A JP 19089796A JP H1038681 A JPH1038681 A JP H1038681A
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    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
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    • H01J31/50—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
    • H01J31/501—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system
    • H01J31/502—Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output with an electrostatic electron optic system with means to interrupt the beam, e.g. shutter for high speed photography

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザ光源から出力される光パルスの周期よ
りも長い発光現象を正確に測定する。 【解決手段】 一定繰り返し周波数のシンクロスキャン
掃引信号をストリーク管の垂直偏向電極に印加すること
により、被測定光が入射してストリーク管の光電変換面
で発生する電子ビームを、ストリーク管の蛍光面上を第
１の方向について一定繰り返し周波数で掃引する。その
シンクロスキャン掃引信号の周期の逓倍の所定間隔の水
平ブランキング信号をストリーク管の水平偏向電極に印
加することにより、電子ビームをそのブランキング信号
の１パルス間に１回だけ蛍光面の出力有効領域にストリ
ーク掃引する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、微弱な被測定光の
極短時間の強度変化を測定することができるストリーク
管の掃引技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ストリーク管は、被測定光を光電変換面
に入力して光量に応じた個数の光電子を発生し、その光
電子を加速して電子ビームとし、その電子ビームの経路
に設けられた偏向電極に掃引信号を印加して、電子ビー
ムを偏向させて蛍光面に到達させストリーク像を形成
し、そのストリーク像に基づいて被測定光の強度を測定
するものである。
【０００３】特に、ストリーク管は、１００ＭＨｚ程度
の安定した高い繰り返し周波数で光パルスを発生するチ
タンサファイアレーザ光源などと組み合わせて用いれ
ば、極微弱な蛍光などを測定することができるだけでな
く、レーザ光源の高繰り返し周波数と同期させた正弦波
の掃引信号を偏向電極に印加することにより、蛍光面の
同一位置に微弱なストリーク像を正確に積算することが
できるので、短時間のうちに極微弱な光現象を少ないジ
ッタで且つ高いＳＮ比で測定することができる。
【０００４】このようなストリーク管の偏向電極への掃
引信号の印加方法すなわち掃引方法には、単掃引方法、
シンクロスキャン掃引方法、２重掃引方法および楕円掃
引方法が知られている。図１０は、従来のストリーク管
の掃引方法の１つである単掃引方法の説明図である。図
１０（ａ）は、シンクロスキャン掃引信号の波形であ
り、図１０（ｂ）は、水平ブランキング信号の波形であ
り、また、図１０（ｃ）は、蛍光面上の電子ビーム到達
位置の動きを示したものである。これらシンクロスキャ
ン掃引信号および水平ブランキング信号は、レーザ光源
から出力される光パルスに同期して生成される。
【０００５】図１０（ａ）に示す波形のシンクロスキャ
ン掃引信号をストリーク管の垂直偏向電極に印加すると
ともに、図１０（ｂ）に示す波形の水平ブランキング信
号をストリーク管の水平偏向電極に印加すると、ストリ
ーク管の光電変換面に被測定光が入射して発生した電子
ビームは、垂直偏向電極および水平偏向電極それぞれに
形成された電界によりそれぞれの方向に偏向されて、蛍
光面上を図１０（ｃ）に示すように移動する。すなわ
ち、水平ブランキング信号が下位レベルであって、シン
クロスキャン掃引信号が下位レベルから上位レベルへ変
化する際の途中に、電子ビームは、蛍光面の出力有効領
域をストリーク掃引される。したがって、シンクロスキ
ャン掃引信号の１周期毎に、すなわち、レーザ光源から
出力される光パルス毎に、ストリーク像が得られる。他
の従来の掃引方法も何れも、レーザ光源から出力される
光パルス毎に、蛍光面に被測定光のストリーク像を形成
するものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のストリーク管の掃引方法では、蛍光面の同一位置に
ストリーク像を正確に重ね合わせるために、安定した繰
り返し周波数で光パルスを出力することができるレーザ
光源を用いる必要があることから、上述したように１０
０ＭＨｚ程度の高い繰り返し周波数の光パルスを出力す
るレーザ光源を使用せざるを得ない。ところが、レーザ
光源から出力される光パルス毎に被測定光のストリーク
像を形成しているため、被測定光の発生時間がレーザ光
源から出力される光パルスの周期よりも長い場合には、
異なる時刻のストリーク像が蛍光面の同一位置に形成さ
れることになる。
【０００７】例えば、レーザ光源から出力される光パル
スで蛍光物質を励起し、その蛍光物質から発生した蛍光
を測定する場合であって、その蛍光の蛍光寿命がレーザ
光源から出力される光パルスの周期より長い場合には、
その蛍光発生が十分に終了する前に、次の光パルスによ
り蛍光物質が励起されて新たな蛍光が生じる。このよう
な場合には、蛍光を正確に測定することができない。
【０００８】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、レーザ光源から出力される光パルスの
周期よりも長い発光現象を正確に測定することができる
ストリーク管の掃引方法および掃引装置を提供すること
を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１に係るストリー
ク管の掃引方法は、被測定光が光電変換面に入射して生
じた電子ビームが出力面に到るまでの経路に、電子ビー
ムの進行方向と略垂直な第１の方向に電界を形成して電
子ビームを偏向させる第１の偏向電極と、電子ビームの
進行方向および第１の方向の双方と略垂直な第２の方向
に電界を形成して電子ビームを偏向させる第２の偏向電
極と、を備えるストリーク管の掃引方法であって、(1)
一定繰り返し周波数の掃引信号を第１の偏向電極に印加
するとともに、(2) 掃引信号の周期の逓倍の所定間隔の
パルス状であって、被測定光が光電変換面に入射してい
る時間内に、掃引信号が印加された第１の偏向電極によ
り偏向された電子ビームを出力面の出力有効領域に１パ
ルス間に１回だけストリーク掃引させるブランキング信
号を第２の偏向電極に印加する、ことを特徴とする。
【００１０】このストリーク管の掃引方法によれば、光
電変換面で発生する電子ビームは、一定繰り返し周波数
の掃引信号が第１の偏向電極に印加されることにより、
出力面上を第１の方向について一定繰り返し周波数で掃
引され、その掃引信号の周期の逓倍の所定間隔のブラン
キング信号が第２の偏向電極に印加されることにより、
被測定光が光電変換面に入射している時間内であってブ
ランキング信号の１パルス間に１回だけ出力面の出力有
効領域にストリーク掃引される。
【００１１】請求項２に係るストリーク管の掃引方法
は、請求項１記載のストリーク管の掃引方法であって、
掃引信号は、一定繰り返し周波数の光パルスを入力して
光電変換しその光パルスの強度変化に応じたトリガ信号
が出力され、そのトリガ信号に同期して生成されるとと
もに、ブランキング信号は、一定繰り返し周波数の光パ
ルスを入力して所定間隔で光パルスを抜き取って出力す
るとともに抜き取った光パルスを出力するタイミングを
示す電気トリガ信号が出力され、その電気トリガ信号に
同期して生成される、ことを特徴とする。この場合、第
１の偏向電極には、一定繰り返し周波数の光パルスと同
期した掃引信号が印加され、第２の偏向電極には、その
一定繰り返し周波数の光パルスを所定間隔に間引いたも
のと同期したブランキング信号が印加される。
【００１２】請求項３に係るストリーク管の掃引方法
は、請求項１記載のストリーク管の掃引方法であって、
掃引信号は、一定繰り返し周波数の光パルスを出力する
光源から同期して出力されるトリガ信号に同期して生成
されるとともに、ブランキング信号は、一定繰り返し周
波数の光パルスを入力して所定間隔で光パルスを抜き取
って出力するとともに抜き取った光パルスを出力するタ
イミングを示す電気トリガ信号が出力され、その電気ト
リガ信号に同期して生成される、ことを特徴とする。こ
の場合も、第１の偏向電極には、一定繰り返し周波数の
光パルスと同期した掃引信号が印加され、第２の偏向電
極には、その一定繰り返し周波数の光パルスを所定間隔
に間引いたものと同期したブランキング信号が印加され
る。
【００１３】請求項４に係るストリーク管の掃引方法
は、請求項１記載のストリーク管の掃引方法であって、
掃引信号は、所定間隔の光パルスを出力する光源から同
期して出力される電気トリガ信号の繰り返し周波数を逓
倍して一定繰り返し周波数のトリガ信号が出力され、そ
のトリガ信号に同期して生成されるとともに、ブランキ
ング信号は、電気トリガ信号に同期して生成される、こ
とを特徴とする。この場合、第１の偏向電極には、所定
間隔の光パルスの逓倍の一定繰り返し周波数の掃引信号
が印加され、第２の偏向電極には、その光パルスに同期
した所定間隔のブランキング信号が印加される。
【００１４】請求項５に係るストリーク管の掃引方法
は、請求項１記載のストリーク管の掃引方法であって、
掃引信号は、所定間隔の光パルスを出力する光源から同
期して出力される電気トリガ信号に基づいて一定繰り返
し周波数のトリガ信号が発振出力され、そのトリガ信号
に同期して生成されるとともに、ブランキング信号は、
電気トリガ信号に同期して生成される、ことを特徴とす
る。この場合、第１の偏向電極には、所定間隔の光パル
スの出力タイミングに基づいて発振出力された一定繰り
返し周波数の掃引信号が印加され、第２の偏向電極に
は、その光パルスに同期した所定間隔のブランキング信
号が印加される。
【００１５】請求項６に係るストリーク管の掃引装置
は、被測定光が光電変換面に入射して生じた電子ビーム
が出力面に到るまでの経路に、電子ビームの進行方向と
略垂直な第１の方向に電界を形成して電子ビームを偏向
させる第１の偏向電極と、電子ビームの進行方向および
第１の方向の双方と略垂直な第２の方向に電界を形成し
て電子ビームを偏向させる第２の偏向電極と、を備える
ストリーク管の掃引装置であって、(1) 一定繰り返し周
波数の掃引信号を第１の偏向電極に印加する掃引手段
と、(2) 掃引信号の周期の逓倍の所定間隔のパルス状で
あって、被測定光が光電変換面に入射している時間内
に、掃引信号が印加された第１の偏向電極により偏向さ
れた電子ビームを出力面の出力有効領域に１パルス間に
１回だけストリーク掃引させるブランキング信号を、第
２の偏向電極に印加するブランキング手段と、を備える
ことを特徴とする。
【００１６】このストリーク管の掃引装置によれば、掃
引手段により、一定繰り返し周波数の掃引信号が第１の
偏向電極に印加されて、光電変換面で発生する電子ビー
ムは、出力面上を第１の方向について一定繰り返し周波
数で掃引され、ブランキング手段により、その掃引信号
の周期の逓倍の所定間隔のブランキング信号が第２の偏
向電極に印加される。これにより、電子ビームは、被測
定光が光電変換面に入射している時間内であってブラン
キング信号の１パルス間に１回だけ出力面の出力有効領
域にストリーク掃引される。
【００１７】請求項７に係るストリーク管の掃引装置
は、請求項６記載のストリーク管の掃引装置であって、
掃引手段は、(1a)一定繰り返し周波数の光パルスを入力
して光電変換しその光パルスの強度変化に応じたトリガ
信号を出力する光トリガユニットと、(1b)トリガ信号に
同期して掃引信号を生成する掃引ユニットと、を備え、
ブランキング手段は、(2a)一定繰り返し周波数の光パル
スを入力して所定間隔で光パルスを抜き取って出力する
とともに抜き取った光パルスを出力するタイミングを示
す電気トリガ信号を出力する光パルス抜き取り手段と、
(2b)電気トリガ信号に同期してブランキング信号を生成
するブランキング信号発生器と、を備えることを特徴と
する。この場合、一定繰り返し周波数の光パルスに同期
して光トリガユニットからトリガ信号が出力され、この
トリガ信号に同期して掃引ユニットにより生成された一
定繰り返し周波数の掃引信号が第１の偏向電極に印加さ
れる。一方、一定繰り返し周波数の光パルスが光パルス
抜き取り手段により所定間隔で光パルスを抜き取られる
とともに抜き取られた光パルスを出力するタイミングを
示す電気トリガ信号が出力され、その電気トリガ信号に
同期してブランキング信号発生器により生成されたブラ
ンキング信号が第２の偏向電極に印加される。
【００１８】請求項８に係るストリーク管の掃引装置
は、請求項６記載のストリーク管の掃引装置であって、
掃引手段は、一定繰り返し周波数の光パルスを出力する
光源から同期して出力されるトリガ信号に同期して掃引
信号を生成する掃引ユニットを備え、ブランキング手段
は、(a) 一定繰り返し周波数の光パルスを入力して所定
間隔で光パルスを抜き取って出力するとともに抜き取っ
た光パルスを出力するタイミングを示す電気トリガ信号
を出力する光パルス抜き取り手段と、(b) 電気トリガ信
号に同期してブランキング信号を生成するブランキング
信号発生器と、を備えることを特徴とする。この場合、
光源から出力されるトリガ信号に同期して掃引ユニット
により生成された一定繰り返し周波数の掃引信号が第１
の偏向電極に印加される。一方、一定繰り返し周波数の
光パルスが光パルス抜き取り手段により所定間隔で光パ
ルスを抜き取られるとともに抜き取られた光パルスを出
力するタイミングを示す電気トリガ信号が出力され、そ
の電気トリガ信号に同期してブランキング信号発生器に
より生成されたブランキング信号が第２の偏向電極に印
加される。
【００１９】請求項９に係るストリーク管の掃引装置
は、請求項６記載のストリーク管の掃引装置であって、
掃引手段は、(a) 所定間隔の光パルスを出力する光源か
ら同期して出力される電気トリガ信号を入力し電気トリ
ガ信号の繰り返し周波数を逓倍して一定繰り返し周波数
のトリガ信号を出力する周波数逓倍手段と、(b) トリガ
信号に同期して掃引信号を生成する掃引ユニットと、を
備え、ブランキング手段は、電気トリガ信号に同期して
ブランキング信号を生成するブランキング信号発生器を
備える、ことを特徴とする。この場合、光源から出力さ
れる電気トリガ信号の繰り返し周波数が周波数逓倍手段
により逓倍されて一定繰り返し周波数のトリガ信号が出
力され、このトリガ信号に同期して掃引ユニットにより
生成された掃引信号が第１の偏向電極に印加される。一
方、その電気トリガ信号に同期してブランキング信号発
生器により生成されたブランキング信号が第２の偏向電
極に印加される。
【００２０】請求項１０に係るストリーク管の掃引装置
は、請求項６記載のストリーク管の掃引装置であって、
掃引手段は、(a) 所定間隔の光パルスを出力する光源か
ら同期して出力される電気トリガ信号を入力し電気トリ
ガ信号に基づいて一定繰り返し周波数のトリガ信号を発
振出力する周波数シンセサイザと、(b) トリガ信号に同
期して掃引信号を生成する掃引ユニットと、を備え、ブ
ランキング手段は、電気トリガ信号に同期してブランキ
ング信号を生成するブランキング信号発生器を備える、
ことを特徴とする。この場合、光源から出力される電気
トリガ信号に基づいて周波数シンセサイザにより一定繰
り返し周波数のトリガ信号が発振出力され、このトリガ
信号に同期して掃引ユニットにより生成された掃引信号
が第１の偏向電極に印加される。一方、その電気トリガ
信号に同期してブランキング信号発生器により生成され
たブランキング信号が第２の偏向電極に印加される。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。
【００２２】先ず、本発明に用いられるストリーク管に
ついて、図１を用いて説明する。ストリーク管１０は、
内部が真空に保たれた筒状の密封容器の一方の面に光電
変換面１１が配されている。この光電変換面１１に被測
定光が入射すると、その被測定光の強度に応じた個数の
光電子が発生し、その光電子は、加速電極１２に印加さ
れた加速電圧により加速され、密封容器内を電子ビーム
としてマイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）１３に到
達する。そして、この電子ビームは、ＭＣＰ１３により
増幅され蛍光面（出力面）１４に到達して蛍光を発生す
る。この蛍光面１４で発生した蛍光の強度は、到達した
電子の個数とエネルギに応じたものであり、したがっ
て、被測定光の強度に応じたものである。
【００２３】加速電極１２とＭＣＰ１３との間に配され
た垂直偏向電極（第１の偏向電極）１５および水平偏向
電極（第２の偏向電極）１６それぞれは、電子ビームの
経路を挟んで配された１対の平行電極板からなるもので
あり、その１対の平行電極板の間に印加された掃引信号
により垂直方向および水平方向それぞれの電界を発生さ
せ、これにより電子ビームを偏向する。したがって、こ
れらの垂直偏向電極１５および水平偏向電極１６それぞ
れに掃引信号を印加することにより、被測定光の強度の
時間変化は、蛍光面１４上の空間的な変化に変換され測
定される。
【００２４】本発明は、このようなストリーク管の掃引
方法および掃引装置に係るものである。
【００２５】（第１の実施形態）次に、第１の実施形態
に係るストリーク管の掃引装置について説明する。図２
は、本実施形態に係るストリーク管の掃引装置を含むス
トリークカメラシステムの構成図である。
【００２６】この図に示すストリークカメラシステム
は、ストリークカメラ１００、レーザ光源２０および掃
引装置を備える。なお、一般に、ストリークカメラと言
えば、ストリーク管１０だけでなく、そのストリーク管
１０の垂直偏向電極１５および水平偏向電極１６それぞ
れに印加される掃引信号を出力するシンクロスキャン掃
引ユニット１７および水平ブランキング信号発生器１８
をも含むが、以下では、掃引装置は、パルスセレクタ
（光パルス抜き取り手段）３１、光トリガユニット３２
およびタイミング発生器３３に加えて、シンクロスキャ
ン掃引ユニット１７および水平ブランキング信号発生器
１８を備えるものとする。この図は、ストリークカメラ
システムをサンプル４０から発生する蛍光の測定に用い
た場合の図である。
【００２７】レーザ光源２０は、安定した高い繰り返し
周波数のパルス状のレーザ光を出力するものであり、例
えば、繰り返し周波数８０ＭＨｚのチタンサファイアレ
ーザ光源が用いられる。このレーザ光源２０から出力さ
れたレーザ光は、ハーフミラー３０により２分岐され、
パルスセレクタ３１および光トリガユニット３２それぞ
れに入力する。
【００２８】光トリガユニット３２は、ハーフミラー３
０により２分岐された一方のレーザ光を受光し、その光
量に応じた電気パルス信号（シンクロスキャントリガ信
号）に変換して出力する。この光トリガユニット３２
は、高速な光電変換素子、例えば、アバランシェフォト
ダイオードが好適に用いられる。シンクロスキャン掃引
ユニット１７は、このシンクロスキャントリガ信号に基
づいて、ストリーク管１０の垂直偏向電極１５に印加す
べきシンクロスキャン掃引信号を出力する。このシンク
ロスキャン掃引信号の繰り返し周波数は、レーザ光源２
０から出力されるレーザ光の繰り返し周波数に等しい。
【００２９】パルスセレクタ３１は、ハーフミラー３０
により２分岐されたレーザ光の他方を入力し、その高い
繰り返し周波数のパルス状のレーザ光に基づいて、その
内部の制御信号または外部から入力される制御信号に従
って、低い繰り返し周波数の光パルスを出力する。この
パルスセレクタ３１から出力される光パルスは、入力さ
れたパルス状レーザ光のパルスを一定割合で間引いたも
のであってもよいし、あるいは、単ショットの光パルス
であってもよい。また、パルスセレクタ３１は、その光
パルス出力に同期した電気トリガ信号を出力する。この
パルスセレクタ３１として、例えば光偏向器を備えたも
のが用いられる。
【００３０】このパルスセレクタ３１から出力された光
パルスは、サンプル４０に入射し、このサンプル４０に
含まれている蛍光物質を励起する。蛍光物質が励起され
て発生する被測定光（蛍光）は、光学系４１により集光
され、ストリーク管１０の光電変換面１１に入射する。
【００３１】また、パルスセレクタ３１から出力された
電気トリガ信号は、タイミング発生器３３に入力する。
このタイミング発生器３３は、ストリーク管１０の光電
変換面１１に被測定光（蛍光）が入射するタイミングに
同期した所定時間幅の電気パルス信号を出力する。そし
て、水平ブランキング信号発生器１８は、このタイミン
グ発生器３３から出力された電気パルス信号に基づい
て、ストリーク管１０の水平偏向電極１６に印加する水
平ブランキング信号（ブランキング信号）を出力する。
【００３２】次に、以上に説明した各光信号および各電
気信号のタイミングの１例について説明する。図３は、
ストリーク管の掃引方法の第１の実施形態における各信
号の説明図である。
【００３３】図３（ａ）は、レーザ光源２０から出力さ
れるレーザ光の強度変化を示す図である。また、図３
（ｂ）は、シンクロスキャン掃引ユニット１７から出力
されるシンクロスキャン掃引信号を示す図である。この
シンクロスキャン掃引信号は、レーザ光源２０からのレ
ーザ光出力の強度変化に同期した信号であって、ストリ
ーク管１０の垂直偏向電極１５に印加され、この垂直偏
向電極１５に生じた電界により、光電変換面１１から蛍
光面１４に向かって進む電子ビームを偏向させるもので
ある。
【００３４】このシンクロスキャン信号は、最低レベル
ＶS1と最大レベルＶS4との間で安定した繰り返し周波数
で変化する信号である。そして、このシンクロスキャン
信号が一定レベル範囲ＶS2〜ＶS3であって（ただし、Ｖ
S1＜ＶS2＜ＶS3＜ＶS4）、且つ、水平ブランキング信号
も一定レベル範囲であるときに、光電変換面１１で発生
した電子ビームは蛍光面１４の出力有効領域上に到達し
得る。シンクロスキャン掃引信号は、鋸歯状であっても
よいし、正弦波状であってもよい。ただし、レベル範囲
ＶS2〜ＶS3においては直線的であることが望ましい。例
えば、シンクロスキャン掃引信号が正弦波であって、 ＶS4−ＶS1＝３ｋＶ … (1) ＶS3−ＶS2＝２００Ｖ … (2) であれば、レベル範囲ＶS2〜ＶS3においては直線的であ
るとみなすことができる。
【００３５】図３（ｃ）は、パルスセレクタ３１から出
力されサンプル４０に照射される光パルスを示す図であ
る。この光パルスは、レーザ光源２０から出力されるレ
ーザ光を一定割合で間引いたものとなっている。図３
（ｄ）は、この光パルスがサンプル４０に照射されて、
サンプル４０で発生しストリーク管１０の光電変換面１
１に入射する被測定光である蛍光の強度変化を示す図で
ある。この被測定光は、サンプル４０に光パルスが照射
された時刻から発生し、蛍光寿命に応じた減衰曲線で減
衰していく。なお、パルスセレクタ３１から出力される
光パルスの周期は、サンプル４０で発生した蛍光が十分
に減衰するまでに要する時間より長いこと、すなわち、
蛍光寿命の５倍程度以上であることが必要である。
【００３６】図３（ｅ）は、水平ブランキング信号発生
器１８から出力される水平ブランキング信号を示す図で
ある。この水平ブランキング信号は、パルスセレクタ３
１から出力される光パルスに同期した信号であって、ス
トリーク管１０の水平偏向電極１６に印加され、この水
平偏向電極１６に生じた電界により、光電変換面１１か
ら蛍光面１４に向かって進む電子ビームを偏向させるも
のである。水平ブランキング信号は、下位レベルがＶH1
であって上位レベルがＶH2である矩形波形である。そし
て、この水平ブランキング信号が下位レベルＶH1であっ
て、且つ、シンクロスキャン信号が一定レベル範囲であ
るときに、光電変換面１１で発生した電子ビームは蛍光
面１４の出力有効領域上に到達し得る。
【００３７】また、水平ブランキング信号は、以下の条
件をも満たす必要がある。すなわち、水平ブランキング
信号が下位レベルＶH1である時間内であって、且つ、被
測定光がストリーク管１０の光電変換面１１に入射して
いる時間内に、シンクロスキャン掃引信号のレベルは、
レベルＶS3以上からレベルＶS2以下に到るまで（或いは
逆に、レベルＶS2以上からレベルＶS3以下に到るまで）
１回だけ変化する必要がある。水平ブランキング信号
は、このような条件を満たすよう、水平ブランキング信
号発生器１８から出力される。
【００３８】この図３では、被測定光が光電変換面１１
に入射する直前にシンクロスキャン掃引信号が最大レベ
ルＶS4になる時刻から、被測定光が光電変換面１１に入
射した直後にシンクロスキャン掃引信号が最小レベルＶ
S1になる時刻までの間、水平ブランキング信号は下位レ
ベルＶH1となり、シンクロスキャン掃引信号はレベルＶ
S4からレベルＶS1に変化する。
【００３９】この図３に示すシンクロスキャン掃引信号
および水平ブランキング信号それぞれが、ストリーク管
１０の垂直偏向電極１５および水平偏向電極１６それぞ
れに印加されると、ストリーク管の蛍光面１４上の電子
ビーム照射位置は、図４に示すように動く。図４（ａ）
は、シンクロスキャン掃引信号の波形であり、図３
（ｂ）と同一のものである。図４（ｂ）は、水平ブラン
キング信号の波形であり、図３（ｅ）と同一のものであ
る。また、図４（ｃ）で、蛍光面１４内の出力有効領域
１４ａは、ストリーク像が有効に出力され得る領域であ
る。
【００４０】或時点で、水平ブランキング信号が下位レ
ベルＶH1から上位レベルＶH2に変化した直後であって、
シンクロスキャン掃引信号および水平ブランキング信号
のレベルがＡ点（ＶS4，ＶH1）であったとする。両信号
のレベルがＡ点（ＶS4，ＶH1）からＢ点（ＶS3，ＶH1）
に到るまでの間、電子ビームは、出力有効領域１４ａの
上方に到達し、出力有効領域１４ａ内には到達しない。
レベルがＢ点（ＶS3，ＶH1）になると、電子ビームは出
力有効領域１４ａの一端に到達する。そして、レベルが
Ｂ点（ＶS3，ＶH1）からＣ点（ＶS2，ＶH1）に到るまで
の間、電子ビームは出力有効領域１４ａ内に到達する。
その後、レベルがＣ点（ＶS2，ＶH1）からＤ点（ＶS1，
ＶH1）に到るまでの間、電子ビームは、出力有効領域１
４ａの下方に到達し、出力有効領域１４ａ内に到達しな
い。
【００４１】さらにその後、水平ブランキング信号が上
位レベルＶH2に変化すると、すなわち、両信号のレベル
がＤ点（ＶS1，ＶH1）からＥ点（ＶS1，ＶH2）に変化す
ると、電子ビームの到達位置は右方に移動し、やはり、
電子ビームは出力有効領域１４ａ内には到達しない。そ
の後、水平ブランキング信号のレベルが上位レベルＶH2
に維持されたまま、シンクロスキャン掃引信号が最低レ
ベルＶS1と最大レベルＶS4との間で変化している間、す
なわち、両信号のレベルがＥ点（ＶS1，ＶH2）とＦ点
（ＶS4，ＶH2）との間で変化している間、電子ビーム
は、出力有効領域１４ａの右方で上下に振動するのみ
で、出力有効領域１４ａ内には到達しない。そしてその
後、再び、水平ブランキング信号が下位レベルＶH1に変
化すると、すなわち、両信号のレベルがＦ点（ＶS4，Ｖ
H2）からＡ点（ＶS1，ＶH1）に変化すると、電子ビーム
は、出力有効領域１４ａの上方に到達することになる。
【００４２】以上のように、シンクロスキャン掃引信号
および水平ブランキング信号のレベルがＡ→Ｂ→Ｃ→Ｄ
→Ｅ→Ｆ→Ｅ→……→Ｆ→Ｅ→Ｆ→Ａと変化する間に、
光電変換面１１に被測定光が入射して生じた電子ビーム
は、両信号がＢ点からＣ点に到るまでの期間内に限り、
出力有効領域１１ａに１回だけストリーク掃引される。
そして、シンクロスキャン掃引信号がレベルＶS3とＶS2
との間で時間に対して直線的であれば、出力有効領域１
１ａに得られるストリーク像も時間に対して直線的なも
のとなる。
【００４３】また、上記の両信号のレベル変化の間に、
パルスセレクタ３１から出力された１つの光パルスがサ
ンプル４０に照射され、発生した被測定光（蛍光）は十
分に減衰する。したがって、蛍光面１４の出力有効領域
１４ａに得られる１回のストリーク像は、複数蛍光現象
のものが重畳されたものではなく、１蛍光現象について
のものである。また、得られたストリーク像は、蛍光現
象の初期のものであって、その強度が時間経過とともに
大きく変化するものである。したがって、サンプル４０
で発生した蛍光の蛍光寿命を測定するのに好適である。
【００４４】さらに、ストリーク管１０の光電変換面１
１に入射する被測定光（蛍光）の強度が弱い場合、スト
リーク像を多数回積算する必要があるが、その場合であ
っても、シンクロスキャン掃引信号および水平ブランキ
ング信号の双方が、安定した高い繰り返し周波数のレー
ザ光源２０から出力されるパルスレーザ光に基づいて生
成されるので、多数回の被測定光のストリーク像は、正
確に一致した位置に積算される。
【００４５】なお、水平ブランキング信号は、図３およ
び図４に示したものに限られない。例えば、図５および
図６に示すような水平ブランキング信号であってもよ
い。図５は、ストリーク管の掃引方法の第２の実施形態
における各信号の説明図である。
【００４６】この図において、レーザ光源２０から出力
されるレーザ光の強度変化（図５（ａ））、シンクロス
キャン掃引ユニット１７から出力されるシンクロスキャ
ン掃引信号（図５（ｂ））、パルスセレクタ３１から出
力されサンプル４０に照射される光パルス（図５
（ｃ））、および、サンプル４０で発生しストリーク管
１０の光電変換面１１に入射する被測定光（蛍光）の強
度変化（図５（ｄ））それぞれは、図３（ａ）〜（ｄ）
それぞれで説明したものと同一である。しかし、水平ブ
ランキング信号発生器１８から出力される水平ブランキ
ング信号（図５（ｅ））は、図３（ｅ）で説明したもの
とは異なる。
【００４７】この場合も、水平ブランキング信号は、パ
ルスセレクタ３１から出力される光パルスに同期した信
号であって、ストリーク管１０の水平偏向電極１６に印
加され、この水平偏向電極１６に生じた電界により、光
電変換面１１から蛍光面１４に向かって進む電子ビーム
を偏向させるものである。水平ブランキング信号は、下
位レベルがＶH1であって上位レベルがＶH2である矩形波
形である。そして、この水平ブランキング信号が下位レ
ベルＶH1であって、且つ、シンクロスキャン信号が一定
レベル範囲であるときに、光電変換面１１で発生した電
子ビームは蛍光面１４の出力有効領域上に到達し得る。
【００４８】この図５では、被測定光が光電変換面１１
に入射する時刻より１周期以上前にシンクロスキャン掃
引信号が最大レベルＶS4になる時刻から、被測定光が光
電変換面１１に入射した直後にシンクロスキャン掃引信
号が最小レベルＶS1になる時刻までの間、水平ブランキ
ング信号は下位レベルＶH1となり、シンクロスキャン掃
引信号はレベルＶS4とレベルＶS1との間で１周期以上に
亘って変化する。この場合であっても、水平ブランキン
グ信号が下位レベルＶH1である時間内であって、且つ、
被測定光がストリーク管１０の光電変換面１１に入射し
ている時間内に、シンクロスキャン掃引信号のレベル
は、レベルＶS3以上からレベルＶS2以下に到るまで１回
だけ変化し、この間に１回だけストリーク像が得られ
る。
【００４９】この図５に示すシンクロスキャン掃引信号
および水平ブランキング信号それぞれが、ストリーク管
１０の垂直偏向電極１５および水平偏向電極１６それぞ
れに印加されると、ストリーク管の蛍光面１４上の電子
ビーム照射位置は、図６に示すように動く。図６（ａ）
は、シンクロスキャン掃引信号の波形であり、図５
（ｂ）と同一のものである。図６（ｂ）は、水平ブラン
キング信号の波形であり、図５（ｅ）と同一のものであ
る。
【００５０】或時点で、水平ブランキング信号が下位レ
ベルＶH1から上位レベルＶH2に変化した直後であって、
シンクロスキャン掃引信号および水平ブランキング信号
のレベルがＡ点（ＶS4，ＶH1）であったとする。両信号
のレベルがＡ点（ＶS4，ＶH1）からＢ点（ＶS3，ＶH1）
に到るまでの間、光電変換面１１に光が入射したとする
と、光電変換面１１から発生する電子ビームは、出力有
効領域１４ａの上方に到達し、出力有効領域１４ａ内に
は到達しない。レベルがＢ点（ＶS3，ＶH1）になると、
電子ビームは出力有効領域１４ａの一端に到達する。そ
して、レベルがＢ点（ＶS3，ＶH1）からＣ点（ＶS2，Ｖ
H1）に到るまでの間、電子ビームは出力有効領域１４ａ
内に到達する。その後、レベルがＣ点（ＶS2，ＶH1）か
らＤ点（ＶS1，ＶH1）に到るまでの間、電子ビームは、
出力有効領域１４ａの下方に到達し、出力有効領域１４
ａ内に到達しない。
【００５１】その後、両信号レベルすなわち電子ビーム
到達位置は、Ｄ点からＣ点およびＢ点を経てＡ点に戻
り、再び、Ａ点からＢ点およびＣ点を経てＤ点に到る。
すなわち、両信号レベルすなわち電子ビーム到達位置
は、Ａ点，Ｂ点，Ｃ点およびＤ点の間を１往復半する。
しかし、両信号レベルすなわち電子ビーム到達位置が初
めにＡ点とＤ点との間を１往復している間は、被測定光
（蛍光）がストリーク管１０の光電変換面１１に入射し
ないので、出力有効領域１４ａにストリーク像は得られ
ない。サンプル４０で発生した被測定光（蛍光）がスト
リーク管１０の光電変換面１１に入射して出力有効領域
１４ａにストリーク像が得られるのは、両信号レベルす
なわち電子ビーム到達位置が２回目のＢ点からＣ点に到
るときのみである。
【００５２】さらにその後、水平ブランキング信号が上
位レベルＶH2に変化すると、すなわち、両信号のレベル
がＤ点（ＶS1，ＶH1）からＥ点（ＶS1，ＶH2）に変化す
ると、電子ビームの到達位置は右方に移動し、やはり、
電子ビームは出力有効領域１４ａ内には到達しない。そ
の後、水平ブランキング信号のレベルが上位レベルＶH2
に維持されたまま、シンクロスキャン掃引信号が最低レ
ベルＶS1と最大レベルＶS4との間で変化している間、す
なわち、両信号のレベルがＥ点（ＶS1，ＶH2）とＦ点
（ＶS4，ＶH2）との間で変化している間、電子ビーム
は、出力有効領域１４ａの右方で上下に振動するのみ
で、出力有効領域１４ａ内には到達しない。そしてその
後、再び、水平ブランキング信号が下位レベルＶH1に変
化すると、すなわち、両信号のレベルがＦ点（ＶS4，Ｖ
H2）からＡ点（ＶS1，ＶH1）に変化すると、電子ビーム
は、出力有効領域１４ａの上方に到達することになる。
【００５３】以上のように、水平ブランキング信号のレ
ベルが１周期変化する間に、光電変換面１１に被測定光
が入射して生じた電子ビームは、両信号が２回目にＢ点
からＣ点に到るまでの期間内に限り、出力有効領域１１
ａに１回だけストリーク掃引される。そして、シンクロ
スキャン掃引信号がレベルＶS3とＶS2との間で時間に対
して直線的であれば、出力有効領域１１ａに得られるス
トリーク像も時間に対して直線的なものとなる。
【００５４】このような水平ブランキング信号の場合
も、上記の両信号のレベル変化の間に、パルスセレクタ
３１から出力された１つの光パルスがサンプル４０に照
射され、発生した被測定光（蛍光）は十分に減衰する。
したがって、蛍光面１４の出力有効領域１４ａに得られ
る１回のストリーク像は、複数蛍光現象のものが重畳さ
れたものではなく、１蛍光現象についてのものである。
また、得られたストリーク像は、蛍光現象の初期のもの
であって、その強度が時間経過とともに大きく変化する
ものである。したがって、サンプル４０で発生した蛍光
の蛍光寿命を測定するのに好適である。また、ストリー
ク像を多数回積算する場合であっても、シンクロスキャ
ン掃引信号および水平ブランキング信号の双方が、安定
した高い繰り返し周波数のレーザ光源２０から出力され
るパルスレーザ光に基づいて生成されるので、被測定光
（蛍光）それぞれのストリーク像は、正確に一致した位
置に積算される。
【００５５】以上に説明したようなシンクロスキャン掃
引信号および水平ブランキング信号を生成する掃引装置
は、図２に説明した構成に限られることなく、他の構成
でも可能である。以下に、本発明に係るストリーク管の
掃引装置の他の構成について説明する。
【００５６】（第２の実施形態）次に、第２の実施形態
に係るストリーク管の掃引装置について説明する。図７
は、本実施形態に係るストリーク管の掃引装置を含むス
トリークカメラシステムの構成図である。この図に示す
ストリークカメラシステムは、第１の実施形態に係るも
の（図２）と比較して、レーザ光源２０がパルスレーザ
光出力タイミングを表す電気トリガ信号（シンクロスキ
ャントリガ信号）を出力する点、および、シンクロスキ
ャン掃引ユニット１７がこのシンクロスキャントリガ信
号に基づいてシンクロスキャン掃引信号を生成する点が
異なる。
【００５７】レーザ光源２０は、内部に有する発振回路
から出力される電気トリガ信号に基づいて、安定した高
い繰り返し周波数のパルス状のレーザ光（図３（ａ））
を出力するとともに、その電気トリガ信号をシンクロス
キャントリガ信号として出力し、シンクロスキャン掃引
ユニット１７は、このシンクロスキャントリガ信号に基
づいて、ストリーク管１０の垂直偏向電極１５に印加す
べきシンクロスキャン掃引信号（図３（ｂ））を生成す
る。
【００５８】パルスセレクタ３１は、レーザ光源２０か
ら出力されたレーザ光を入力し、その高い繰り返し周波
数のパルス状のレーザ光に基づいて、その内部の制御信
号または外部から入力される制御信号に従って、低い繰
り返し周波数の光パルス（図３（ｃ））を出力する。ま
た、パルスセレクタ３１は、その光パルス出力に同期し
た電気トリガ信号を出力する。
【００５９】このパルスセレクタ３１から出力された光
パルスは、サンプル４０に入射し、このサンプル４０に
含まれている蛍光物質を励起する。蛍光物質が励起され
て発生する被測定光である蛍光（図３（ｄ））は、光学
系４１により集光され、ストリーク管１０の光電変換面
１１に入射する。
【００６０】また、パルスセレクタ３１から出力された
電気トリガ信号は、タイミング発生器３３に入力する。
このタイミング発生器３３は、ストリーク管１０の光電
変換面１１に被測定光（蛍光）が入射するタイミングに
同期した所定時間幅の電気パルス信号を出力する。そし
て、水平ブランキング信号発生器１８は、このタイミン
グ発生器３３から出力された電気パルス信号に基づい
て、ストリーク管１０の水平偏向電極１６に印加する水
平ブランキング信号（図３（ｅ）、図５（ｅ））を出力
する。
【００６１】このようにして得られるシンクロスキャン
掃引信号および水平ブランキング信号それぞれは、第１
の実施形態の場合と同様のものである。
【００６２】（第３の実施形態）次に、第３の実施形態
に係るストリーク管の掃引装置について説明する。図８
は、本実施形態に係るストリーク管の掃引装置を含むス
トリークカメラシステムの構成図である。
【００６３】この図に示すストリークカメラシステムで
は、レーザ光源２１は、内部に有する発振回路から出力
される電気トリガ信号に基づいて、安定した低い繰り返
し周波数の光パルス（図３（ｃ）相当）を出力するとと
もに、その電気トリガ信号を出力する。
【００６４】レーザ光源２１から出力された光パルス
は、サンプル４０に入射し、このサンプル４０に含まれ
ている蛍光物質を励起する。蛍光物質が励起されて発生
する被測定光である蛍光（図３（ｄ））は、光学系４１
により集光され、ストリーク管１０の光電変換面１１に
入射する。
【００６５】周波数逓倍器３４は、レーザ光源２１から
出力された電気トリガ信号を入力し、その電気トリガ信
号の周波数を逓倍し、逓倍周波数のシンクロスキャント
リガ信号を出力する。シンクロスキャン掃引ユニット１
７は、このシンクロスキャントリガ信号に基づいて、ス
トリーク管１０の垂直偏向電極１５に印加すべきシンク
ロスキャン掃引信号（図３（ｂ））を生成する。
【００６６】また、レーザ光源２１から出力された電気
トリガ信号は、タイミング発生器３３に入力する。この
タイミング発生器３３は、ストリーク管１０の光電変換
面１１に被測定光（蛍光）が入射するタイミングに同期
した所定時間幅の電気パルス信号を出力する。そして、
水平ブランキング信号発生器１８は、このタイミング発
生器３３から出力された電気パルス信号に基づいて、ス
トリーク管１０の水平偏向電極１６に印加する水平ブラ
ンキング信号（図３（ｅ）、図５（ｅ））を出力する。
【００６７】このようにして得られるシンクロスキャン
掃引信号および水平ブランキング信号それぞれも、第１
の実施形態の場合と同様のものである。
【００６８】（第４の実施形態）次に、第４の実施形態
に係るストリーク管の掃引装置について説明する。図９
は、本実施形態に係るストリーク管の掃引装置を含むス
トリークカメラシステムの構成図である。この図に示す
ストリークカメラシステムは、第３の実施形態に係るも
の（図８）と比較して、周波数逓倍器３４に替えて、周
波数シンセサイザ３５が設けられている点が異なる。
【００６９】レーザ光源２１は、内部に有する発振回路
から出力される電気トリガ信号に基づいて、安定した低
い繰り返し周波数の光パルス（図３（ｃ）相当）を出力
するとともに、その電気トリガ信号およびこれと同期し
た同期信号を出力する。
【００７０】レーザ光源２１から出力された光パルス
は、サンプル４０に入射し、このサンプル４０に含まれ
ている蛍光物質を励起する。蛍光物質が励起されて発生
する被測定光である蛍光（図３（ｄ））は、光学系４１
により集光され、ストリーク管１０の光電変換面１１に
入射する。
【００７１】周波数シンセサイザ３５は、レーザ光源２
１から出力された同期信号を入力し、その同期信号に同
期して、高い周波数のシンクロスキャントリガ信号を出
力する。シンクロスキャン掃引ユニット１７は、このシ
ンクロスキャントリガ信号に基づいて、ストリーク管１
０の垂直偏向電極１５に印加すべきシンクロスキャン掃
引信号（図３（ｂ））を生成する。
【００７２】また、レーザ光源２１から出力された電気
トリガ信号は、タイミング発生器３３に入力する。この
タイミング発生器３３は、ストリーク管１０の光電変換
面１１に被測定光（蛍光）が入射するタイミングに同期
した所定時間幅の電気パルス信号を出力する。そして、
水平ブランキング信号発生器１８は、このタイミング発
生器３３から出力された電気パルス信号に基づいて、ス
トリーク管１０の水平偏向電極１６に印加する水平ブラ
ンキング信号（図３（ｅ）、図５（ｅ））を出力する。
【００７３】このようにして得られるシンクロスキャン
掃引信号および水平ブランキング信号それぞれも、第１
の実施形態の場合と同様のものである。
【００７４】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形が可能である。例えば、パルスセレ
クタ３１やレーザ光源２１は、出力される光パルスの繰
り返し周波数を、サンプル４０から発生する蛍光の蛍光
寿命に応じて可変に設定できるものが好適である。
【００７５】また、水平ブランキング信号が下位レベル
ＶH1となる期間は、被測定光が光電変換面１１に入射開
始する時刻を含む期間に限られることなく、例えば、そ
の時刻から一定時間経過後であってもよい。ただし、そ
の場合であっても、ストリーク管１０の蛍光面１４の出
力有効領域にストリーク像が、水平ブランキング信号の
１パルスの間に一回限り形成されることが重要である。
【００７６】また、上記実施形態では、垂直偏向電極１
５に印加される掃引信号が正弦波である場合、すなわ
ち、シンクロスキャン掃引方式の場合について説明した
が、本発明はこれに限られるものではなく、掃引信号は
他の形状（例えば、台形形状、鋸歯形状）であっても構
わない。
【００７７】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり本発明によ
れば、一定繰り返し周波数の掃引信号（シンクロスキャ
ン掃引信号）を第１の偏向電極（垂直偏向電極）に印加
することにより、被測定光が入射して光電変換面で発生
する電子ビームを、出力面（蛍光面）上を第１の方向に
ついて一定繰り返し周波数で掃引し、その掃引信号の周
期の逓倍の所定間隔のブランキング信号（水平ブランキ
ング信号）を第２の偏向電極（水平偏向電極）に印加し
て、被測定光が光電変換面に入射している時間内であっ
てブランキング信号の１パルス間に１回だけ出力面の出
力有効領域にストリーク掃引する。
【００７８】このような構成としたので、被測定光であ
る蛍光の蛍光寿命が掃引信号の周期と同程度以上である
場合であっても、ブランキング信号のパルス間隔を、蛍
光が十分に減衰するのに要する時間（蛍光寿命の５倍程
度）以上とすることで、蛍光面の出力有効領域に得られ
る１回のストリーク像は、複数蛍光現象のものが重畳さ
れたものではなく、１蛍光現象についてのものとなる。
【００７９】また、ストリーク像を多数回積算する場合
であっても、掃引信号およびブランキング信号の双方
が、安定した繰り返し周波数で発振するレーザ光源から
出力されるパルスレーザ光に基づいて生成される場合に
は、被測定光のストリーク像は正確に一致した位置に積
算される。
【００８０】また、掃引信号は、光源から出力される光
パルスに同期して生成され、ブランキング信号は、光源
から出力される光パルスを一定割合で間引いた光パルス
に同期して生成されてもよい。逆に、ブランキング信号
は、光源から出力される光パルスに同期して生成され、
掃引信号は、光源から出力される光パルスの繰り返し周
波数を逓倍して生成されよいし、或いは、その光パルス
に同期した電気トリガ信号に基づいて発振出力されても
よい。何れの場合も、安定した掃引信号およびブランキ
ング信号が生成される。
【図面の簡単な説明】
【図１】ストリーク管の模式図である。
【図２】第１の実施形態に係るストリーク管の掃引装置
を含むストリークカメラシステムの構成図である。
【図３】ストリーク管の掃引方法の第１の実施形態にお
ける各信号の説明図である。
【図４】ストリーク管の掃引方法の第１の実施形態にお
けるストリーク管の蛍光面上の電子ビーム照射位置の説
明図である。
【図５】ストリーク管の掃引方法の第２の実施形態にお
ける各信号の説明図である。
【図６】ストリーク管の掃引方法の第２の実施形態にお
けるストリーク管の蛍光面上の電子ビーム照射位置の説
明図である。
【図７】第２の実施形態に係るストリーク管の掃引装置
を含むストリークカメラシステムの構成図である。
【図８】第３の実施形態に係るストリーク管の掃引装置
を含むストリークカメラシステムの構成図である。
【図９】第４の実施形態に係るストリーク管の掃引装置
を含むストリークカメラシステムの構成図である。
【図１０】従来のストリーク管の掃引方法の説明図であ
る。
【符号の説明】
１０…ストリーク管、１１…光電変換面、１２…加速電
極、１３…マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）、１
４…蛍光面、１４ａ…出力有効領域、１５…垂直偏向電
極、１６…水平偏向電極、１７…シンクロスキャン掃引
ユニット、１８…水平ブランキング信号発生器、２０，
２１…レーザ光源、３０…ハーフミラー、３１…パルス
セレクタ、３２…光トリガユニット、３３…タイミング
発生器、３４…周波数逓倍器、３５…周波数シンセサイ
ザ、４０…サンプル、４１…光学系、１００…ストリー
クカメラ。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 被測定光が光電変換面に入射して生じた
    電子ビームが出力面に到るまでの経路に、前記電子ビー
    ムの進行方向と略垂直な第１の方向に電界を形成して前
    記電子ビームを偏向させる第１の偏向電極と、前記電子
    ビームの進行方向および前記第１の方向の双方と略垂直
    な第２の方向に電界を形成して前記電子ビームを偏向さ
    せる第２の偏向電極と、を備えるストリーク管の掃引方
    法であって、 一定繰り返し周波数の掃引信号を前記第１の偏向電極に
    印加するとともに、 前記掃引信号の周期の逓倍の所定間隔のパルス状であっ
    て、前記被測定光が前記光電変換面に入射している時間
    内に、前記掃引信号が印加された前記第１の偏向電極に
    より偏向された前記電子ビームを前記出力面の出力有効
    領域に１パルス間に１回だけストリーク掃引させるブラ
    ンキング信号を前記第２の偏向電極に印加する、 ことを特徴とするストリーク管の掃引方法。
  2. 【請求項２】 前記掃引信号は、前記一定繰り返し周波
    数の光パルスを入力して光電変換しその光パルスの強度
    変化に応じたトリガ信号が出力され、そのトリガ信号に
    同期して生成されるとともに、 前記ブランキング信号は、前記一定繰り返し周波数の光
    パルスを入力して前記所定間隔で光パルスを抜き取って
    出力するとともに抜き取った光パルスを出力するタイミ
    ングを示す電気トリガ信号が出力され、その電気トリガ
    信号に同期して生成される、 ことを特徴とする請求項１記載のストリーク管の掃引方
    法。
  3. 【請求項３】 前記掃引信号は、前記一定繰り返し周波
    数の光パルスを出力する光源から同期して出力されるト
    リガ信号に同期して生成されるとともに、 前記ブランキング信号は、前記一定繰り返し周波数の光
    パルスを入力して前記所定間隔で光パルスを抜き取って
    出力するとともに抜き取った光パルスを出力するタイミ
    ングを示す電気トリガ信号が出力され、その電気トリガ
    信号に同期して生成される、 ことを特徴とする請求項１記載のストリーク管の掃引方
    法。
  4. 【請求項４】 前記掃引信号は、前記所定間隔の光パル
    スを出力する光源から同期して出力される電気トリガ信
    号の繰り返し周波数を逓倍して前記一定繰り返し周波数
    のトリガ信号が出力され、そのトリガ信号に同期して生
    成されるとともに、 前記ブランキング信号は、前記電気トリガ信号に同期し
    て生成される、 ことを特徴とする請求項１記載のストリーク管の掃引方
    法。
  5. 【請求項５】 前記掃引信号は、前記所定間隔の光パル
    スを出力する光源から同期して出力される電気トリガ信
    号に基づいて前記一定繰り返し周波数のトリガ信号が発
    振出力され、そのトリガ信号に同期して生成されるとと
    もに、 前記ブランキング信号は、前記電気トリガ信号に同期し
    て生成される、 ことを特徴とする請求項１記載のストリーク管の掃引方
    法。
  6. 【請求項６】 被測定光が光電変換面に入射して生じた
    電子ビームが出力面に到るまでの経路に、前記電子ビー
    ムの進行方向と略垂直な第１の方向に電界を形成して前
    記電子ビームを偏向させる第１の偏向電極と、前記電子
    ビームの進行方向および前記第１の方向の双方と略垂直
    な第２の方向に電界を形成して前記電子ビームを偏向さ
    せる第２の偏向電極と、を備えるストリーク管の掃引装
    置であって、 一定繰り返し周波数の掃引信号を前記第１の偏向電極に
    印加する掃引手段と、 前記掃引信号の周期の逓倍の所定間隔のパルス状であっ
    て、前記被測定光が前記光電変換面に入射している時間
    内に、前記掃引信号が印加された前記第１の偏向電極に
    より偏向された前記電子ビームを前記出力面の出力有効
    領域に１パルス間に１回だけストリーク掃引させるブラ
    ンキング信号を、前記第２の偏向電極に印加するブラン
    キング手段と、 を備えることを特徴とするストリーク管の掃引装置。
  7. 【請求項７】 前記掃引手段は、前記一定繰り返し周波
    数の光パルスを入力して光電変換しその光パルスの強度
    変化に応じたトリガ信号を出力する光トリガユニット
    と、前記トリガ信号に同期して前記掃引信号を生成する
    掃引ユニットと、を備え、 前記ブランキング手段は、前記一定繰り返し周波数の光
    パルスを入力して前記所定間隔で光パルスを抜き取って
    出力するとともに抜き取った光パルスを出力するタイミ
    ングを示す電気トリガ信号を出力する光パルス抜き取り
    手段と、前記電気トリガ信号に同期して前記ブランキン
    グ信号を生成するブランキング信号発生器と、を備え
    る、 ことを特徴とする請求項６記載のストリーク管の掃引装
    置。
  8. 【請求項８】 前記掃引手段は、前記一定繰り返し周波
    数の光パルスを出力する光源から同期して出力されるト
    リガ信号に同期して前記掃引信号を生成する掃引ユニッ
    トを備え、 前記ブランキング手段は、前記一定繰り返し周波数の光
    パルスを入力して前記所定間隔で光パルスを抜き取って
    出力するとともに抜き取った光パルスを出力するタイミ
    ングを示す電気トリガ信号を出力する光パルス抜き取り
    手段と、前記電気トリガ信号に同期して前記ブランキン
    グ信号を生成するブランキング信号発生器と、を備え
    る、 ことを特徴とする請求項６記載のストリーク管の掃引装
    置。
  9. 【請求項９】 前記掃引手段は、前記所定間隔の光パル
    スを出力する光源から同期して出力される電気トリガ信
    号を入力し前記電気トリガ信号の繰り返し周波数を逓倍
    して前記一定繰り返し周波数のトリガ信号を出力する周
    波数逓倍手段と、前記トリガ信号に同期して前記掃引信
    号を生成する掃引ユニットと、を備え、 前記ブランキング手段は、前記電気トリガ信号に同期し
    て前記ブランキング信号を生成するブランキング信号発
    生器を備える、 ことを特徴とする請求項６記載のストリーク管の掃引装
    置。
  10. 【請求項１０】 前記掃引手段は、前記所定間隔の光パ
    ルスを出力する光源から同期して出力される電気トリガ
    信号を入力し前記電気トリガ信号に基づいて前記一定繰
    り返し周波数のトリガ信号を発振出力する周波数シンセ
    サイザと、前記トリガ信号に同期して前記掃引信号を生
    成する掃引ユニットと、を備え、 前記ブランキング手段は、前記電気トリガ信号に同期し
    て前記ブランキング信号を生成するブランキング信号発
    生器を備える、 ことを特徴とする請求項６記載のストリーク管の掃引装
    置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001022943A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Sony Corp 画像処理装置および方法、並びに記録媒体
JP2002310784A (ja) * 2001-04-11 2002-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 光波形測定装置
WO2025089055A1 (ja) * 2023-10-26 2025-05-01 浜松ホトニクス株式会社 電気信号計測装置及び電気信号計測方法

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4598407B2 (ja) * 2004-01-09 2010-12-15 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工方法及びレーザ加工装置
JP4601965B2 (ja) * 2004-01-09 2010-12-22 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工方法及びレーザ加工装置
JP4509578B2 (ja) 2004-01-09 2010-07-21 浜松ホトニクス株式会社 レーザ加工方法及びレーザ加工装置
DE102006022878B3 (de) * 2006-05-15 2007-09-06 Sartorius Biotech Gmbh Verfahren und Detektionsvorrichtung zur bildgebenden Erfassung einer Probe
CN103048652B (zh) * 2013-01-23 2014-08-20 哈尔滨工业大学 带多个偏转电场的无狭缝成像条纹管及其成像处理方法
FR3034578B1 (fr) * 2015-03-30 2018-04-27 Horiba Abx Sas Procede et dispositif de declenchement de sources lumineuses impulsionnelles
CN106154286B (zh) * 2016-07-27 2018-06-08 北京理工大学 一种新型的非扫描多光谱条纹管激光成像系统
US10197441B1 (en) * 2018-01-30 2019-02-05 Applied Materials Israel Ltd. Light detector and a method for detecting light
US11268849B2 (en) 2019-04-22 2022-03-08 Applied Materials Israel Ltd. Sensing unit having photon to electron converter and a method

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4413178A (en) * 1981-03-23 1983-11-01 University Of Rochester Sweep drive circuit for a streak camera
DE3542973A1 (de) * 1985-12-05 1987-06-11 Bosch Gmbh Robert Abgleichsverfahren zur automatischen strahlausrichtung in fernsehaufnahmeroehren
JPS62142234A (ja) * 1985-12-16 1987-06-25 Hamamatsu Photonics Kk 高速繰り返しパルス光計測装置
JPS62142235A (ja) * 1985-12-16 1987-06-25 Hamamatsu Photonics Kk ストリ−クカメラ装置
JPS62188915A (ja) * 1986-02-14 1987-08-18 Hamamatsu Photonics Kk ２重掃引ストリ−クカメラ装置
JPS649325A (en) * 1987-06-30 1989-01-12 Hamamatsu Photonics Kk Light waveform observing instrument
GB2226693B (en) * 1988-12-28 1993-09-01 Hamamatsu Photonics Kk Optical waveform observing apparatus
GB2226631B (en) * 1988-12-28 1992-10-21 Hamamatsu Photonics Kk Optical waveform observing apparatus
JP2709135B2 (ja) * 1989-04-11 1998-02-04 浜松ホトニクス株式会社 光信号検出装置
JPH0367447A (ja) * 1989-08-04 1991-03-22 Hamamatsu Photonics Kk 電子管ゲート方法及び電子管
JP3128803B2 (ja) * 1990-04-27 2001-01-29 日本精工株式会社 転がり軸受
JPH0689523B2 (ja) * 1990-06-02 1994-11-09 前田道路株式会社 融雪レンガ舗装材と融雪レンガ舗装材の製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001022943A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Sony Corp 画像処理装置および方法、並びに記録媒体
JP2002310784A (ja) * 2001-04-11 2002-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 光波形測定装置
WO2025089055A1 (ja) * 2023-10-26 2025-05-01 浜松ホトニクス株式会社 電気信号計測装置及び電気信号計測方法

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