JPH1084260A - 比較回路 - Google Patents
比較回路Info
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- JPH1084260A JPH1084260A JP25776196A JP25776196A JPH1084260A JP H1084260 A JPH1084260 A JP H1084260A JP 25776196 A JP25776196 A JP 25776196A JP 25776196 A JP25776196 A JP 25776196A JP H1084260 A JPH1084260 A JP H1084260A
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 101100112673 Rattus norvegicus Ccnd2 gene Proteins 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】低電圧レベルの微少なアナログ入力に対して高
速クロック周波数で正常な比較結果を出力することを可
能にする。 【解決手段】第1、第2のアナログ入力信号Vin1、
Vin2をそれぞれ入力とするエミッタフォロワ1と、
エミッタフォロワ回路の出力を差動入力とする差動対を
備えたプリアンプ2と、相補クロック信号CLK、CL
KBの制御のもとプリアンプ2の差動出力を入力としこ
れを差動増幅して出力端子Vout1,Vout2に出
力し、ついでクロック信号の反転に応じて前記差動出力
をラッチするストローブ回路3と、を、備え、プリアン
プ2の差動対Q5、Q6の定電流源としてNチャネルM
OSトランジスタMN1を備える。
速クロック周波数で正常な比較結果を出力することを可
能にする。 【解決手段】第1、第2のアナログ入力信号Vin1、
Vin2をそれぞれ入力とするエミッタフォロワ1と、
エミッタフォロワ回路の出力を差動入力とする差動対を
備えたプリアンプ2と、相補クロック信号CLK、CL
KBの制御のもとプリアンプ2の差動出力を入力としこ
れを差動増幅して出力端子Vout1,Vout2に出
力し、ついでクロック信号の反転に応じて前記差動出力
をラッチするストローブ回路3と、を、備え、プリアン
プ2の差動対Q5、Q6の定電流源としてNチャネルM
OSトランジスタMN1を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、比較回路に関し、
特に、低電源電圧・高速アナログ・ディジタル変換器
(「A/D変換器」という)等に用いて好適とされる比
較回路に関する。
特に、低電源電圧・高速アナログ・ディジタル変換器
(「A/D変換器」という)等に用いて好適とされる比
較回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、高速・高精度なA/D変換器を実
現する変換方式として、全並列型や直並列型が一般に用
いられている。この種の変換方式では、アナログ信号を
ディジタルコードに変換するために、高速且つ高入力精
度の比較回路が必要不可欠とされている。
現する変換方式として、全並列型や直並列型が一般に用
いられている。この種の変換方式では、アナログ信号を
ディジタルコードに変換するために、高速且つ高入力精
度の比較回路が必要不可欠とされている。
【0003】この種の従来の比較回路は、例えば、文献
1(電子情報通信学会技報 ICD91−85)や文献
2(IEEE 1987 ISSCC Digest
oftechnical papers pp.98−
99)等に記載されるように、主として、エミッタ・フ
ォロワと、プリアンプ、およびストローブ比較器を備え
て構成されている。図3に、この種の従来の比較回路の
回路構成を示す。
1(電子情報通信学会技報 ICD91−85)や文献
2(IEEE 1987 ISSCC Digest
oftechnical papers pp.98−
99)等に記載されるように、主として、エミッタ・フ
ォロワと、プリアンプ、およびストローブ比較器を備え
て構成されている。図3に、この種の従来の比較回路の
回路構成を示す。
【0004】すなわち、図3を参照して、この従来の比
較回路は、アナログ入力信号を入力とするエミッタ・フ
ォロワ1と、エミッタ・フォロワ1の出力を差動入力と
するプリアンプ2と、プリアンプ2の差動出力を入力す
るストローブ比較器3と、を備え、エミッタ・フォロワ
1は、アナログ入力電圧Vin1、Vin2がベースに
入力され、コレクタが電源Vcc1に接続されたトラン
ジスタQ1、Q2と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R1、R2の一端が接続さ
れたトランジスタQ3、Q4と、を備えて構成されてい
る。
較回路は、アナログ入力信号を入力とするエミッタ・フ
ォロワ1と、エミッタ・フォロワ1の出力を差動入力と
するプリアンプ2と、プリアンプ2の差動出力を入力す
るストローブ比較器3と、を備え、エミッタ・フォロワ
1は、アナログ入力電圧Vin1、Vin2がベースに
入力され、コレクタが電源Vcc1に接続されたトラン
ジスタQ1、Q2と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R1、R2の一端が接続さ
れたトランジスタQ3、Q4と、を備えて構成されてい
る。
【0005】また、プリアンプ2は、ベースがトランジ
スタQ1、Q2のエミッタにそれぞれ接続され、コレク
タがコレクタ負荷回路4を構成する抵抗R5、R6の一
端にそれぞれ接続され、エミッタが共通接続されたトラ
ンジスタQ5、Q6と、ベースにバイアス電源電圧Vb
1が与えられ、コレクタがトランジスタQ5、6の共通
接続されたエミッタに接続され、エミッタが抵抗R9の
一端に接続されたトランジスタQ16と、を備えて構成
されている。
スタQ1、Q2のエミッタにそれぞれ接続され、コレク
タがコレクタ負荷回路4を構成する抵抗R5、R6の一
端にそれぞれ接続され、エミッタが共通接続されたトラ
ンジスタQ5、Q6と、ベースにバイアス電源電圧Vb
1が与えられ、コレクタがトランジスタQ5、6の共通
接続されたエミッタに接続され、エミッタが抵抗R9の
一端に接続されたトランジスタQ16と、を備えて構成
されている。
【0006】そして、ストローブ比較器3は、ベースが
プリアンプ2の出力(トランジスタQ5、Q6と負荷抵
抗R5、R6のそれぞれの接続点)に接続され、コレク
タが抵抗R3、R4の一端にそれぞれ接続され、エミッ
タが共通接続されたトランジスタQ7、Q8と、コレク
タがそれぞれ抵抗R3、R4の一端に接続され、ベース
がそれぞれ抵抗R4、R3の一端に接続され、エミッタ
が共通接続されたトランジスタQ9、Q10と、ベース
にそれぞれ第1、第2クロック信号CLK、CLKBが
印加され、コレクタがそれぞれトランジスタQ8、Q9
の共通エミッタ、トランジスタQ9、Q10の共通エミ
ッタに接続され、エミッタが共通接続されたトランジス
タQ11、Q12と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R8の一端が接続されたト
ランジスタQ15により形成された定電流源5と、を備
えて構成されている。
プリアンプ2の出力(トランジスタQ5、Q6と負荷抵
抗R5、R6のそれぞれの接続点)に接続され、コレク
タが抵抗R3、R4の一端にそれぞれ接続され、エミッ
タが共通接続されたトランジスタQ7、Q8と、コレク
タがそれぞれ抵抗R3、R4の一端に接続され、ベース
がそれぞれ抵抗R4、R3の一端に接続され、エミッタ
が共通接続されたトランジスタQ9、Q10と、ベース
にそれぞれ第1、第2クロック信号CLK、CLKBが
印加され、コレクタがそれぞれトランジスタQ8、Q9
の共通エミッタ、トランジスタQ9、Q10の共通エミ
ッタに接続され、エミッタが共通接続されたトランジス
タQ11、Q12と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R8の一端が接続されたト
ランジスタQ15により形成された定電流源5と、を備
えて構成されている。
【0007】図3の比較回路を構成している各回路部に
ついて説明する。
ついて説明する。
【0008】エミッタ・フォロワ1は、入力信号歪みが
小さくなるよう比較回路の入力電流を一定に保ち、また
キックバック雑音の入力信号への回り込みを小さくして
いる。
小さくなるよう比較回路の入力電流を一定に保ち、また
キックバック雑音の入力信号への回り込みを小さくして
いる。
【0009】プリアンプ2は、微少なアナログ入力電圧
を増幅し、変換エラーの低減と高速動作を可能としてい
る。
を増幅し、変換エラーの低減と高速動作を可能としてい
る。
【0010】また、ストローブ比較器3は、互いに相補
な第1、第2のクロック信号CLK、CLKBの制御に
より、比較回路の出力Vout1,Vout2をディジ
タル信号レベルまで増幅している。
な第1、第2のクロック信号CLK、CLKBの制御に
より、比較回路の出力Vout1,Vout2をディジ
タル信号レベルまで増幅している。
【0011】したがって、エミッタ・フォロワ1、プリ
アンプ2、ストローブ比較器3により構成される比較回
路により、高速クロック動作で、微少なアナログ入力を
比較し、その結果をディジタルレベルまで増幅できる。
アンプ2、ストローブ比較器3により構成される比較回
路により、高速クロック動作で、微少なアナログ入力を
比較し、その結果をディジタルレベルまで増幅できる。
【0012】次に、図3に示した従来の比較回路の動作
を、図4に示す信号波形図を参照して簡単に説明する。
図4には、アナログ入力信号電圧Vin1,Vin2
(図4(A))、出力電圧Vout1,Voiut2
(図4(B))、互いに相補な第1、第2のクロック信
号CLK、CLKB(図4(C))のタイミング信号波
形が示されている。
を、図4に示す信号波形図を参照して簡単に説明する。
図4には、アナログ入力信号電圧Vin1,Vin2
(図4(A))、出力電圧Vout1,Voiut2
(図4(B))、互いに相補な第1、第2のクロック信
号CLK、CLKB(図4(C))のタイミング信号波
形が示されている。
【0013】図3に示した従来の比較器は、正相クロッ
ク信号CLKが高レベル(CLKBは低レベル)の時、
2つのアナログ入力Vin1とVin2とを比較し、出
力が入力に追従する(フォロー・モード)。すなわち、
正相クロック信号CLKが高レベルの時トランジスタQ
11が導通し(トランジスタQ12は非導通)、プリア
ンプ2の出力を入力とするトランジスタQ7、Q8から
なる差動対の出力がディジタル出力Vout1,Vou
t2に伝達される。
ク信号CLKが高レベル(CLKBは低レベル)の時、
2つのアナログ入力Vin1とVin2とを比較し、出
力が入力に追従する(フォロー・モード)。すなわち、
正相クロック信号CLKが高レベルの時トランジスタQ
11が導通し(トランジスタQ12は非導通)、プリア
ンプ2の出力を入力とするトランジスタQ7、Q8から
なる差動対の出力がディジタル出力Vout1,Vou
t2に伝達される。
【0014】一方、逆相クロック信号CLKBが高レベ
ルの時、クロック信号が切り換わった瞬間の出力をディ
ジタル・レベルまで再増幅する(ラッチ・モード)。す
なわち、逆相クロック信号CLKBが高レベルの時、ス
トローブ比較器3において、トランジスタQ12が導通
(トランジスタQ11は非導通)し、トランジスタQ
9、Q10からなる差動対は、トランジスタQ8、Q7
からなる差動対の出力(従って、Vout2、Vout
1)をベース入力としクロックが切り替わった時点の出
力をラッチする。
ルの時、クロック信号が切り換わった瞬間の出力をディ
ジタル・レベルまで再増幅する(ラッチ・モード)。す
なわち、逆相クロック信号CLKBが高レベルの時、ス
トローブ比較器3において、トランジスタQ12が導通
(トランジスタQ11は非導通)し、トランジスタQ
9、Q10からなる差動対は、トランジスタQ8、Q7
からなる差動対の出力(従って、Vout2、Vout
1)をベース入力としクロックが切り替わった時点の出
力をラッチする。
【0015】図4に示すように、微少な差電圧(0.5
mV)のアナログ入力を比較し、その結果を増幅し、デ
ィジタル出力まで伝達している。
mV)のアナログ入力を比較し、その結果を増幅し、デ
ィジタル出力まで伝達している。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の比較回路においては、低電圧レベルのアナログ
入力を正常に比較できない、という問題点を有してい
る。この問題点を、図3に示した回路構成図、及び図5
に示した信号波形図を参照して以下に説明する。
た従来の比較回路においては、低電圧レベルのアナログ
入力を正常に比較できない、という問題点を有してい
る。この問題点を、図3に示した回路構成図、及び図5
に示した信号波形図を参照して以下に説明する。
【0017】図3を参照すると、従来の比較回路におい
て、Vbeはバイポーラ・トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧であり、VIbはバイポーラトランジスタで
構成されるプリアンプ2の定電流源に要する電圧であ
り、次式(1)、(2)と表される。
て、Vbeはバイポーラ・トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧であり、VIbはバイポーラトランジスタで
構成されるプリアンプ2の定電流源に要する電圧であ
り、次式(1)、(2)と表される。
【0018】Vbe≒0.8V …(1) VIb≧0.6V …(2)
【0019】VIbは、定電流源として作用するトラン
ジスタQ16が飽和しないために必要とされるコレクタ
・エミッタ電圧を含む。従って、従来の比較回路におい
ては、その回路構成上、アナログ入力電圧Vin1、V
in2は、およそ次式(3)の条件を満たす必要があ
る。
ジスタQ16が飽和しないために必要とされるコレクタ
・エミッタ電圧を含む。従って、従来の比較回路におい
ては、その回路構成上、アナログ入力電圧Vin1、V
in2は、およそ次式(3)の条件を満たす必要があ
る。
【0020】Vin1、Vin2≧2.2V …(3)
【0021】そして、上式(1)が満たされない場合、
すなわち上式(3)が満たされない低いアナログ電圧が
入力された場合には、トランジスタQ16が飽和してし
まい、プリアンプ2の動作電流が一定でなくなる。
すなわち上式(3)が満たされない低いアナログ電圧が
入力された場合には、トランジスタQ16が飽和してし
まい、プリアンプ2の動作電流が一定でなくなる。
【0022】このため、図5に示すように、図3に示し
た従来の比較回路に、アナログ入力Vin1,Vin2
として1.8V付近の微少差電圧が入力された場合(図
5(A)参照)には、比較回路の出力Vout1,Vo
ut2(図5(B)参照)はアナログ入力に対応しない
結果となる。
た従来の比較回路に、アナログ入力Vin1,Vin2
として1.8V付近の微少差電圧が入力された場合(図
5(A)参照)には、比較回路の出力Vout1,Vo
ut2(図5(B)参照)はアナログ入力に対応しない
結果となる。
【0023】したがって、本発明は、上記事情に鑑みて
なされたものであって、その目的は、低電圧レベルの微
少なアナログ入力に対して高速クロック周波数で正常な
比較結果を出力することを可能にする比較回路を提供す
ることにある。
なされたものであって、その目的は、低電圧レベルの微
少なアナログ入力に対して高速クロック周波数で正常な
比較結果を出力することを可能にする比較回路を提供す
ることにある。
【0024】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明の比較回路は、比較されるアナログ入力信号
をそれぞれ入力とするエミッタ・フォロワの出力を入力
とする差動対を備えたプリアンプと、クロック信号の制
御のもと前記プリアンプの出力を入力としこれを増幅し
て出力端子に出力し、ついで前記クロック信号の反転に
応じて出力レベルをラッチするように制御する回路と、
を備えた比較回路において、前記プリアンプの差動対の
定電流源としてNチャネルMOSトランジスタを備えた
ことを特徴とする。
め、本発明の比較回路は、比較されるアナログ入力信号
をそれぞれ入力とするエミッタ・フォロワの出力を入力
とする差動対を備えたプリアンプと、クロック信号の制
御のもと前記プリアンプの出力を入力としこれを増幅し
て出力端子に出力し、ついで前記クロック信号の反転に
応じて出力レベルをラッチするように制御する回路と、
を備えた比較回路において、前記プリアンプの差動対の
定電流源としてNチャネルMOSトランジスタを備えた
ことを特徴とする。
【0025】本発明においては、前記NチャネルMOS
トランジスタが、そのW/L(チャネル幅/チャネル
長)比が所定の値に設定される。
トランジスタが、そのW/L(チャネル幅/チャネル
長)比が所定の値に設定される。
【0026】
【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態につ
いて以下に説明する。本発明に係る比較回路は、その好
ましい実施の形態において、図1を参照すると、エミッ
タ・フォロワ1、プリアンプ2、ストローブ比較回路3
と、を備え、エミッタ・フォロワ1は、コレクタが第1
電源に接続され、ベースがそれぞれ第1、第2のアナロ
グ入力端子に接続された第1、第2のトランジスタQ
1、Q2と、コレクタがそれぞれ第1、第2のトランジ
スタQ1、Q2のエミッタに接続され、ベースが第1バ
イアス電源Vb1に接続され、エミッタがそれぞれ一端
が第2電Vcc2源に接続された第1、第2の抵抗R
1、R2の他端に接続された第3、第4のトランジスタ
Q3、Q4と、を備える。
いて以下に説明する。本発明に係る比較回路は、その好
ましい実施の形態において、図1を参照すると、エミッ
タ・フォロワ1、プリアンプ2、ストローブ比較回路3
と、を備え、エミッタ・フォロワ1は、コレクタが第1
電源に接続され、ベースがそれぞれ第1、第2のアナロ
グ入力端子に接続された第1、第2のトランジスタQ
1、Q2と、コレクタがそれぞれ第1、第2のトランジ
スタQ1、Q2のエミッタに接続され、ベースが第1バ
イアス電源Vb1に接続され、エミッタがそれぞれ一端
が第2電Vcc2源に接続された第1、第2の抵抗R
1、R2の他端に接続された第3、第4のトランジスタ
Q3、Q4と、を備える。
【0027】また、プリアンプ2は、第1電源Vcc1
に接続され、第1、第2のプリアンプ出力を有したコレ
クタ負荷回路4と、コレクタがコレクタ負荷回路4に接
続され、ベースがそれぞれエミッタ・フォロワ回路の第
1、第2のトランジスタQ1、Q2のエミッタに接続さ
れ、エミッタが共通接続された第5、第6のバイポーラ
・トランジスタQ5、Q6と、ドレインが第5、第6の
トランジスタQ5、Q6の共通接続されたエミッタに接
続され、ゲートが第2バイアス電源Vb2に接続され、
ソースが第2電源Vcc2に接続されたNチャネルMO
SトランジスタMN1と、を備えて構成される。
に接続され、第1、第2のプリアンプ出力を有したコレ
クタ負荷回路4と、コレクタがコレクタ負荷回路4に接
続され、ベースがそれぞれエミッタ・フォロワ回路の第
1、第2のトランジスタQ1、Q2のエミッタに接続さ
れ、エミッタが共通接続された第5、第6のバイポーラ
・トランジスタQ5、Q6と、ドレインが第5、第6の
トランジスタQ5、Q6の共通接続されたエミッタに接
続され、ゲートが第2バイアス電源Vb2に接続され、
ソースが第2電源Vcc2に接続されたNチャネルMO
SトランジスタMN1と、を備えて構成される。
【0028】ストローブ比較器3は、コレクタが、それ
ぞれ一端が第1電源Vcc1に接続された第4、第3の
抵抗R4、R3の他端に接続されるとともに第1、第2
のディジタル出力端子Vout1、Vout2に接続さ
れ、ベースがそれぞれ第1、第2のプリアンプ出力に接
続され、エミッタが共通接続された第7、第8のトラン
ジスタQ7,Q8と、コレクタがそれぞれ第1、第2の
ディジタル出力端子Vout1、Vout2に接続さ
れ、ベースがそれぞれ第2、第1のディジタル出力端子
Vout2、Vout1に接続され、エミッタが共通接
続された第9、第10のトランジスタQ9,Q10と、
コレクタがそれぞれ第7、第8のトランジスタのエミッ
タと第9、第10のトランジスタのエミッタに接続さ
れ、ベースがそれぞれ第1、第2のクロック信号端子C
LK、CLKBに接続され、エミッタが共通接続された
第11、第12のトランジスタQ11、Q12と、第1
1、第12のトランジスタQ11、Q12のエミッタと
第2電源Vcc2間に接続された定電流源と、を備えて
構成される。
ぞれ一端が第1電源Vcc1に接続された第4、第3の
抵抗R4、R3の他端に接続されるとともに第1、第2
のディジタル出力端子Vout1、Vout2に接続さ
れ、ベースがそれぞれ第1、第2のプリアンプ出力に接
続され、エミッタが共通接続された第7、第8のトラン
ジスタQ7,Q8と、コレクタがそれぞれ第1、第2の
ディジタル出力端子Vout1、Vout2に接続さ
れ、ベースがそれぞれ第2、第1のディジタル出力端子
Vout2、Vout1に接続され、エミッタが共通接
続された第9、第10のトランジスタQ9,Q10と、
コレクタがそれぞれ第7、第8のトランジスタのエミッ
タと第9、第10のトランジスタのエミッタに接続さ
れ、ベースがそれぞれ第1、第2のクロック信号端子C
LK、CLKBに接続され、エミッタが共通接続された
第11、第12のトランジスタQ11、Q12と、第1
1、第12のトランジスタQ11、Q12のエミッタと
第2電源Vcc2間に接続された定電流源と、を備えて
構成される。
【0029】本発明の実施の形態においては、プリアン
プ2のNチャネルMOSトランジスタは、そのW/L
(チャネル幅/チャネル長)比は、好ましくは略50〜
100とされる。
プ2のNチャネルMOSトランジスタは、そのW/L
(チャネル幅/チャネル長)比は、好ましくは略50〜
100とされる。
【0030】
【実施例】上記した本発明の実施の形態について更に詳
細に説明すべく、本発明の実施例について図面を参照し
て以下に説明する。図1は、本発明の一実施例に係る比
較回路の構成を示す図である。
細に説明すべく、本発明の実施例について図面を参照し
て以下に説明する。図1は、本発明の一実施例に係る比
較回路の構成を示す図である。
【0031】図1を参照して、本実施例に係る比較回路
は、アナログ入力信号を入力とするエミッタ・フォロワ
1と、エミッタ・フォロワ1の出力を差動入力とするプ
リアンプ2と、プリアンプ2の差動出力を入力するスト
ローブ比較器3と、を備え、エミッタ・フォロア1は、
アナログ入力電圧Vin1、Vin2がベースに入力さ
れ、コレクタが電源Vcc1に接続されたNPNトラン
ジスタQ1、Q2と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R1、R2の一端が接続さ
れたNPNトランジスタQ3、Q4により構成されてい
る。
は、アナログ入力信号を入力とするエミッタ・フォロワ
1と、エミッタ・フォロワ1の出力を差動入力とするプ
リアンプ2と、プリアンプ2の差動出力を入力するスト
ローブ比較器3と、を備え、エミッタ・フォロア1は、
アナログ入力電圧Vin1、Vin2がベースに入力さ
れ、コレクタが電源Vcc1に接続されたNPNトラン
ジスタQ1、Q2と、ベースにバイアス電源電圧Vb1
が与えられ、エミッタに抵抗R1、R2の一端が接続さ
れたNPNトランジスタQ3、Q4により構成されてい
る。
【0032】また、プリアンプ2は、ベースが、NPN
トランジスタQ1、Q2のエミッタにそれぞれ接続さ
れ、コレクタがコレクタ負荷回路を構成する抵抗R5、
R6の一端にそれぞれ接続され、エミッタが共通接続さ
れ差動対を構成するNPNトランジスタQ5、Q6と、
ゲートにバイアス電源電圧Vb2が与えられ、ドレイン
がNPNトランジスタQ5、Q6の共通エミッタに接続
され、ソースが電源Vcc2に接続されてなるNチャネ
ルMOSトランジスタMN1と、を備えて構成されてい
る。
トランジスタQ1、Q2のエミッタにそれぞれ接続さ
れ、コレクタがコレクタ負荷回路を構成する抵抗R5、
R6の一端にそれぞれ接続され、エミッタが共通接続さ
れ差動対を構成するNPNトランジスタQ5、Q6と、
ゲートにバイアス電源電圧Vb2が与えられ、ドレイン
がNPNトランジスタQ5、Q6の共通エミッタに接続
され、ソースが電源Vcc2に接続されてなるNチャネ
ルMOSトランジスタMN1と、を備えて構成されてい
る。
【0033】そして、ストローブ比較器3は、ベースが
プリアンプの差動出力にそれぞれ接続され、コレクタが
電源Vcc1に接続された抵抗R3、R4の一端にそれ
ぞれ接続され、エミッタが共通接続されたNPNトラン
ジスタQ7、Q8と、コレクタがそれぞれ抵抗R3、R
4の一端に接続され、ベースがそれぞれ抵抗R4、R3
の一端に接続され、エミッタが共通接続されたQ9、Q
10と、ベースにそれぞれ第1、第2クロック信号CL
K、CLKBが印加され、コレクタがそれぞれNPNト
ランジスタQ8、Q9の共通エミッタ、NPNトランジ
スタQ9、Q10の共通エミッタに接続され、エミッタ
が共通接続されたNPNトランジスタQ11、Q12
と、ベースにバイアス電源電圧Vb1が与えられ、エミ
ッタに抵抗R8の一端が接続されたQ15により形成さ
れた定電流源5と、を備えて構成されている。
プリアンプの差動出力にそれぞれ接続され、コレクタが
電源Vcc1に接続された抵抗R3、R4の一端にそれ
ぞれ接続され、エミッタが共通接続されたNPNトラン
ジスタQ7、Q8と、コレクタがそれぞれ抵抗R3、R
4の一端に接続され、ベースがそれぞれ抵抗R4、R3
の一端に接続され、エミッタが共通接続されたQ9、Q
10と、ベースにそれぞれ第1、第2クロック信号CL
K、CLKBが印加され、コレクタがそれぞれNPNト
ランジスタQ8、Q9の共通エミッタ、NPNトランジ
スタQ9、Q10の共通エミッタに接続され、エミッタ
が共通接続されたNPNトランジスタQ11、Q12
と、ベースにバイアス電源電圧Vb1が与えられ、エミ
ッタに抵抗R8の一端が接続されたQ15により形成さ
れた定電流源5と、を備えて構成されている。
【0034】次に、図1を参照して、本発明の実施例に
係る比較回路の特徴を説明する。図1の比較回路におい
て、Vbeはバイポーラ・トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧であり、VIMはMOSFETで構成される
プリアンプ2の定電流源に要する電圧である。定電流源
トランジスタMN1に、W/L比(チャネル幅/チャネ
ル長比)の大きなNMOSFETを用いることで、低い
ドレイン−ソース電圧でも飽和状態を保つことができ
る。
係る比較回路の特徴を説明する。図1の比較回路におい
て、Vbeはバイポーラ・トランジスタのベース・エミ
ッタ間電圧であり、VIMはMOSFETで構成される
プリアンプ2の定電流源に要する電圧である。定電流源
トランジスタMN1に、W/L比(チャネル幅/チャネ
ル長比)の大きなNMOSFETを用いることで、低い
ドレイン−ソース電圧でも飽和状態を保つことができ
る。
【0035】このため、本実施例においては、例えば VIM<0.6V …(4) とすることができ、アナログ入力電圧を Vin1、Vin2<2.2V …(5) にまで低減することが可能である。
【0036】プロセスにも依存するが、例えば50〜1
00の大きなW/L比のMOSFETを用いることで、
VIMを0.2V程度まで低減することができ、本実施
例においては、例えば1.8V付近の微少差電圧が入力
された場合でも、上記した従来の比較回路(図3参照)
と異なり、プリアンプ2の動作電流を一定に保ち、図5
(C)に示すように、比較回路出力Vout1,Vou
t2としてアナログ入力に対応した正常な比較結果を出
力をする。
00の大きなW/L比のMOSFETを用いることで、
VIMを0.2V程度まで低減することができ、本実施
例においては、例えば1.8V付近の微少差電圧が入力
された場合でも、上記した従来の比較回路(図3参照)
と異なり、プリアンプ2の動作電流を一定に保ち、図5
(C)に示すように、比較回路出力Vout1,Vou
t2としてアナログ入力に対応した正常な比較結果を出
力をする。
【0037】また、ストローブ比較器3の定電流源トラ
ンジスタQ15の代わりに、ゲートの所定のバイアス電
圧が印加されるNチャネルMOSトランジスタで構成す
るようにしてもよい。
ンジスタQ15の代わりに、ゲートの所定のバイアス電
圧が印加されるNチャネルMOSトランジスタで構成す
るようにしてもよい。
【0038】図1に示した上記実施例では、コレクタ負
荷回路4は2つの抵抗R5、R6により構成された例を
示したが、別の実施例においては、図2に示すように、
このコレクタ負荷回路4として、広帯域入力を可能にす
るために、ペアのカスコード接続トランジスタと、3つ
の抵抗により構成してもよい。
荷回路4は2つの抵抗R5、R6により構成された例を
示したが、別の実施例においては、図2に示すように、
このコレクタ負荷回路4として、広帯域入力を可能にす
るために、ペアのカスコード接続トランジスタと、3つ
の抵抗により構成してもよい。
【0039】すなわち、図2を参照して、プリアンプ2
のコレクタ負荷回路4は、3つの抵抗R5、R6、R7
と、2つのトランジスタQ13、Q14により構成さ
れ、2つのトランジスタQ13、Q14は、コレクタ
が、それぞれ一端が電源Vcc1に接続された2つの抵
抗R5、R6の他端に接続されるとともに、第1、第2
のプリアンプ出力に接続され、ベースは、一端が電源V
cc1に接続された抵抗R7の他端に共通接続され、エ
ミッタは第5、第6のトランジスタQ5、Q6のコレク
タにそれぞれ接続されている。
のコレクタ負荷回路4は、3つの抵抗R5、R6、R7
と、2つのトランジスタQ13、Q14により構成さ
れ、2つのトランジスタQ13、Q14は、コレクタ
が、それぞれ一端が電源Vcc1に接続された2つの抵
抗R5、R6の他端に接続されるとともに、第1、第2
のプリアンプ出力に接続され、ベースは、一端が電源V
cc1に接続された抵抗R7の他端に共通接続され、エ
ミッタは第5、第6のトランジスタQ5、Q6のコレク
タにそれぞれ接続されている。
【0040】図2に示した実施例における、比較回路の
アナログ入力の下限は、図1に示した上記実施例と同様
であるため、構成、動作の説明ついては省略する。
アナログ入力の下限は、図1に示した上記実施例と同様
であるため、構成、動作の説明ついては省略する。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る比較
回路よれば、プリアンプの定電流源をW/L比の大きな
MOSFETにて構成したことにより、低電圧レベルの
微少なアナログ入力に対して高速クロック周波数で正常
な比較結果を出力できる、という効果を奏する。
回路よれば、プリアンプの定電流源をW/L比の大きな
MOSFETにて構成したことにより、低電圧レベルの
微少なアナログ入力に対して高速クロック周波数で正常
な比較結果を出力できる、という効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例の回路構成を示す図である。
【図2】本発明の他の実施例の回路構成を示す図であ
る。
る。
【図3】従来の比較回路の回路構成を示す図である。
【図4】従来の比較回路の動作波形を示す図である。
【図5】従来の回路と、本発明の一実施例との動作波形
とを比較して示す図である。
とを比較して示す図である。
1 エミッタ・フォロワ 2 プリアンプ 3 ストローブ比較器 4 コレクタ負荷回路 5 定電流源 CLK 第1クロック信号 CLKB 第2クロック信号 MN1 N型MOSトランジスタ Q1〜Q16 npnバイポーラ・トランジスタ R1〜R7 抵抗 Vb1、Vb2 バイアス電源電圧端子 Vbe ベース・エミッタ間電圧 Vcc1、Vcc2 電源電圧端子 Vin1、Vin2 アナログ入力電圧 Vout1、Vout2 ディジタル出力電圧 VIb バイポーラ・トランジスタにて構成した定電流
源に要する電圧 VIM MOSトランジスタにて構成した定電流源に要
する電圧
源に要する電圧 VIM MOSトランジスタにて構成した定電流源に要
する電圧
Claims (8)
- 【請求項1】比較されるアナログ入力信号をそれぞれ入
力とするエミッタ・フォロワの出力を入力とする差動対
を備えたプリアンプと、 クロック信号の制御のもと前記プリアンプの出力を入力
としこれを増幅して出力端子に出力し、ついで前記クロ
ック信号の反転に応じて出力レベルをラッチするように
制御する回路と、を備えた比較回路において、 前記プリアンプの差動対の定電流源としてNチャネルM
OSトランジスタを備えたことを特徴とする比較回路。 - 【請求項2】前記NチャネルMOSトランジスタが、そ
のW/L(チャネル幅/チャネル長)比が所定の値に設
定されてなることを特徴とする請求項1記載の比較回
路。 - 【請求項3】コレクタが第1電源に接続され、ベースが
それぞれ第1、第2のアナログ入力端子に接続された第
1、第2のトランジスタと、 コレクタがそれぞれ第1、第2のトランジスタのエミッ
タに接続され、ベースが第1バイアス電源に接続され、
エミッタがそれぞれ一端が第2電源に接続された第1、
第2の抵抗の他端に接続された第3、第4のトランジス
タと、を備えてなるエミッタ・フォロワ回路と、 前記プリアンプは、第1電源に接続され、第1、第2の
プリアンプ出力を有したコレクタ負荷回路と、 コレクタが該負荷回路に接続され、ベースがそれぞれ前
記エミッタ・フォロワ回路の第1、第2のトランジスタ
のエミッタに接続され、エミッタが共通接続された第
5、第6のバイポーラ・トランジスタと、 ドレインが該第5、第6のトランジスタの共通接続され
たエミッタに接続され、ゲートが第2バイアス電源に接
続され、ソースが第2電源に接続されたNチャネルMO
Sトランジスタと、を備えてなるプリアンプと、 コレクタが、それぞれ一端が第1電源に接続された第
3、第4の抵抗の他端に接続されるとともに第1、第2
のディジタル出力端子に接続され、ベースがそれぞれ前
記第1、第2のプリアンプ出力に接続され、エミッタが
共通接続された第7、第8のトランジスタと、 コレクタがそれぞれ第1、第2のディジタル出力端子に
接続され、ベースがそれぞれ第2、第1のディジタル出
力端子に接続され、エミッタが共通接続された第9、第
10のトランジスタと、 コレクタがそれぞれ前記第7、第8のトランジスタのエ
ミッタと前記第9、第10のトランジスタのエミッタに
接続され、ベースがそれぞれ第1、第2のクロック信号
端子に接続され、エミッタが共通接続された第11、第
12のトランジスタと、 該第11、第12のトランジスタのエミッタと第2電源
間に接続された定電流源と、を備えなるストローブ比較
回路と、 を備えたことを特徴とする比較回路。 - 【請求項4】前記プリアンプのNチャネルMOSトラン
ジスタは、そのW/L(チャネル幅/チャネル長)比が
略50〜100とされたことを特徴とする請求項1又は
3記載の比較回路。 - 【請求項5】前記プリアンプのコレクタ負荷回路が、一
端が第1電源に接続され、他端がそれぞれ前記第5、第
6のトランジスタのコレクタに接続されるとともに、第
1、第2のプリアンプ出力に接続される2つの抵抗によ
り構成されることを特徴とする請求項3または4記載の
比較回路。 - 【請求項6】前記プリアンプのコレクタ負荷回路が、3
つの抵抗と2つのトランジスタにより構成され、 前記2つのトランジスタは、コレクタがそれぞれ一端が
第1電源に接続された2つの抵抗の他端に接続されると
ともに、第1、第2のプリアンプ出力に接続され、ベー
スは一端が第1電源に接続された抵抗の他端に共通接続
され、エミッタは第5、第6のトランジスタのコレクタ
に接続される、ことを特徴とする請求項3または4記載
の比較回路。 - 【請求項7】前記ストローブ比較器の定電流源が、ドレ
インが、前記第11、第12のトランジスタの共通接続
されたエミッタに接続され、ゲートが第3バイアス電源
に接続され、ソースが第2電源に接続されたNチャネル
MOSトランジスタにより形成されることを特徴とする
請求項5又は6記載の比較回路。 - 【請求項8】前記ストローブ比較器の定電流源が、抵抗
とバイポーラトランジスタにより形成され、 該NPNトランジスタのコレクタは、前記第11、第1
2のトランジスタのエミッタに接続され、ベースは第1
バイアス電源に接続され、エミッタは一端が第2電源に
接続された抵抗の他端に接続されることを特徴とする請
求項4又は5記載の比較回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25776196A JPH1084260A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 比較回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25776196A JPH1084260A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 比較回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1084260A true JPH1084260A (ja) | 1998-03-31 |
Family
ID=17310738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25776196A Pending JPH1084260A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 比較回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1084260A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004034575A1 (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-22 | Nec Corporation | 半導体装置 |
| JP2011091686A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 利得可変増幅回路 |
| KR101306272B1 (ko) * | 2007-09-17 | 2013-09-09 | 삼성전자주식회사 | 캐스캐이드 비교기 및 그 제어방법 |
-
1996
- 1996-09-06 JP JP25776196A patent/JPH1084260A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004034575A1 (ja) * | 2002-10-10 | 2004-04-22 | Nec Corporation | 半導体装置 |
| US7106093B2 (en) | 2002-10-10 | 2006-09-12 | Nec Corporation | Semiconductor device |
| KR101306272B1 (ko) * | 2007-09-17 | 2013-09-09 | 삼성전자주식회사 | 캐스캐이드 비교기 및 그 제어방법 |
| JP2011091686A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 利得可変増幅回路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000328 |