JPH1091664A - 試験図面作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ＣＡＤ利用者が試験対象盤を指定するだけで必
要な情報が盛り込まれた試験図面を自動作成することが
できる装置を提供すること。 【解決手段】この試験図面作成装置は、ＣＡＤ装置にて
設計した製品の設計情報が保存されたデータ保存手段１
１，２１から展開接続図を取り出し、当該展開接続図か
ら試験対象盤を検索して試験対象盤の部品とそれ以外の
部品とを識別するための識別情報を生成する試験対象盤
判別手段４０と、データ保存手段１１，２１から配線図
情報を取り出し、当該配線図情報から試験対象盤に関連
する配線情報を作成する配線図情報抽出手段５０と、識
別情報及び配線情報を展開接続図に反映させることによ
り試験図面を作成する情報反映手段４０，５０とを具備
して構成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＡＤ装置で設計
された制御盤について試験図面を自動作成する試験図面
作成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】現在、制御盤等の製品の設計はＣＡＤ装
置を用いて行われている場合が多く、制御盤の試験を行
う為に使用する試験図面として当該制御盤のＣＡＤ図面
（以下、「展開接続図」と呼称する）を利用することが
できる。

【０００３】一般に、１枚の展開接続図は相互に関連す
る複数の制御盤の回路素子等が含まれている。展開接続
図を任意の制御盤の試験図面として使用するためには、
展開接続図に対して試験対象の制御盤に属する器具（回
路素子）を設計者やオペレータ（以下、「ＣＡＤ利用
者」と呼ぶ）がチェックして識別マークを付す等、試験
作業をやり易くするための準備が必要となる。

【０００４】また、制御盤の試験には各種器具の器具取
り付け位置を示す「取り付け位置情報」や他の制御盤と
の接続を行う信号線に関しての「端子台情報」が必要と
なる。これらの情報は展開接続図に存在していないの
で、ＣＡＤ利用者が別に作成されている配線図を見て試
験対象となる制御盤の属性チェックしながら、配線図側
から展開接続図側に転記している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このように、制御盤の
単体試験図面を作成する場合、ＣＡＤ利用者の負荷が非
常に大きくなる為、試験効率が悪く、また全ての作業が
人間系であることからチェック漏れなどが発生する可能
性があった。

【０００６】本発明は、以上のような実情に鑑みてなさ
れたもので、ＣＡＤ利用者が試験対象盤を指定するだけ
で試験対象盤の回路に対して識別マークを自動的に付与
できるとと共に端子台情報や器具取り付け位置情報等の
必要な情報が盛り込まれた試験図面を自動作成すること
ができ、試験効率及び試験図面の品質向上を図ることの
できる試験図面作成装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の試験図面作成装
置は、ＣＡＤ装置にて設計した製品の設計情報が保存さ
れたデータ保存手段から設計情報の一つとして保存され
ている前記展開接続図を取り出し、当該展開接続図から
試験対象盤を検索して試験対象盤の部品とそれ以外の部
品とを識別するための識別情報を生成する試験対象盤判
別手段と、前記データ保存手段から設計情報の一つとし
て保存されている配線図情報を取り出し、当該配線図情
報から試験対象盤に関連する配線情報を作成する配線図
情報抽出手段と、前記識別情報及び前記配線情報を前記
展開接続図に反映させることにより試験図面を作成する
情報反映手段とを具備して構成される。

【０００８】本発明によれば、ＣＡＤ利用者が展開接続
図の対象回路をチェックしながら記入していた情報を配
線図情報から取り込んで自動的に展開接続図に反映する
ことができるので、ＣＡＤ利用者自身が展開接続図を黙
視により確認・検査していた従来の方法に比べて、検査
ミスが無くなり品質を向上させることができる。また、
展開接続図および配線図情報が完成した時点で即差に試
験図面の作成が行なえるため、設計効率を向上させるこ
とができる。

【０００９】試験対象盤判別手段が試験対象盤の部品又
はそれ以外の部品に対する識別マークを識別情報として
生成し、情報反映手段が展開接続図に対して試験対象盤
の部品又はそれ以外の部品に識別マークを上書きするこ
とにより、試験対象盤の部品又はそれ以外の部品に識別
マークが上書きされた試験図面を作成する。

【００１０】配線図情報抽出手段が配線図情報から試験
対象盤に取り付けられる部品の取付け位置情報、試験対
象盤と他の盤とを接続するケーブルの端子台接続情報を
抽出し、情報反映手段が展開接続図に対して取付け位置
情報及び端子台接続情報を記載することにより、展開接
続図に試験対象盤に取り付けられる部品の取付け位置情
報及び端子台接続情報が記載された試験図面を作成す
る。

【００１１】試験対象盤判別手段が試験対象盤の部品を
他の部品と異なる表示形態にて強調表示するための識別
情報を作成する。これにより試験図面をシートに印刷す
る場合であれば試験対象盤の部品を識別マークではなく
カラー文字等の強調された形態でシート上に印刷するこ
とができる。

【００１２】また、本発明の試験図面作成装置は、制御
盤の単体試験における試験図面作成操作は、試験対象と
なる展開接続図をＣＡＤシステムにより入力操作を行な
い、配線図情報を配線図ＣＡＤにより入力操作を行な
う。これにより、ＣＡＤ利用者が試験対象となる制御盤
の指定を行なうことで、試験図面の作成を行ない、作成
した試験図面を紙面上に出力することで完了する。

【００１３】ＣＡＤ利用者よりＣＡＤ図面入力手段で展
開接続図データベースの入力操作を行い、配線図ＣＡＤ
入力手段で配線図情報データベースの入力操作を行う。
この後で、展開接続図データベースの試験図面作成指示
が出されたならば、試験対象となる展開接続図を試験対
象盤判別手段へ送り、展開接続図に対して試験対象盤の
器具を判別する処理を行う。試験対象盤判別手段は、Ｃ
ＡＤ利用者に指定された試験対象盤の器具と試験対象盤
以外の器具を判別する為に、対象となる器具を検索し、
この器具に対して識別マークの自動記載を行なう。この
試験対象盤判別手段で判別した結果を、配線図情報合成
手段に送り、試験図面として情報の不足している展開接
続図の対象器具に対して、配線図情報データベースから
不足情報の取り込みを行ない、自動反映を行なう。この
配線図情報合成手段で作成された試験図面を試験図面デ
ータベースへ登録し、試験図面出力手段により紙面上へ
の出力を行なう。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図１は実施の形態に係る試験図面作成装置
の機能ブロック図である。同図において、１０は既存の
ＣＡＤ装置において展開接続図の入力操作を行う展開接
続図入力部であり、２０は既存のＣＡＤ装置において配
線図情報の入力操作を行う配線図情報入力部である。展
開接続図入力部１０及び配線図情報入力部２０から入力
された展開接続図および配線図は、それぞれ展開接続図
データベース１１、配線図情報データベース２１に保存
される。

【００１５】試験図面作成部７０は、制御盤の試験図面
作成を行なう上で主要な機能を構成している部分であ
る。この試験図面作成部７０は、ＣＡＤ装置の展開接続
図データベース１１及び配線図情報データベース２１に
保存された情報を流用してＣＡＤ利用者が望む制御盤の
試験図面を作成する。

【００１６】試験図面作成部７０は、ＣＡＤ利用者から
試験対象となる制御盤が指示される試験対象盤指示部３
０を備える。試験対象盤指示部３０がＣＡＤ利用者から
指示された試験対象盤を試験対象盤管理テーブル３１へ
登録する。また、試験対象盤指示部３０は試験対象盤管
理テーブル３１に登録された試験対象制御盤を試験回路
判別部４０へ通知する。

【００１７】試験回路判別部４０は、展開接続図を展開
接続図データベース１１から取り出し、その展開接続図
から通知を受けた試験対象制御盤の器具を判別しなが
ら、試験対象盤に属する器具に対して識別マークを自動
記載する。試験対象盤の器具に対して識別マークが記載
された展開接続図は配線図情報合成部５０へ渡される。

【００１８】配線図情報合成部５０は当該試験対象制御
盤の試験図面を作成する上で必要となる端子台情報及び
器具取り付け位置情報を配線図情報データベース２１か
ら抜き出し、展開接続図における試験対象盤の該当器具
に自動記載する。配線図情報合成部５０にて端子台情報
等の必要な情報が記載された展開接続図を試験図面とし
て試験図面データベース５１に出力する。

【００１９】試験図面データベース５１に格納された試
験図面は、試験図面出力部６０が図面６１として紙出力
する。図２は試験図面作成部７０における試験図面作成
開始から試験図面作成終了までの処理全体の流れを示し
ている。「展開接続図の選択」（ステップＰ１）では、
ＣＡＤ利用者が入力した展開接続図の製品名または図面
番号等によって展開接続図を自動検索して一覧表示さ
せ、その一覧表示された中からＣＡＤ利用者の指示入力
に応じ試験図面を作成する展開接続図を選択する。

【００２０】「試験対象盤の選択」（ステップＰ２）で
は、選択された展開接続図に存在する制御盤の番号を自
動検索して一覧表示させ、その一覧表示された中から試
験対象となる制御盤の番号を選択する。

【００２１】「試験対象盤の回路判別」（ステップＰ
３）では、選択された試験対象盤に属する器具を展開接
続図内から自動判別し、それぞれの器具に対して各種ル
ールに従って識別マークの自動記載を行なう。

【００２２】「配線図情報からの器具取り付け位置抽
出」（ステップＰ４）では、配線図情報から制御盤の中
に器具を取り付ける位置を示す器具取り付け位置情報の
抽出を行なう。

【００２３】「展開接続図への器具取り付け位置反映」
（ステップＰ５）では、抽出した器具取り付け位置から
器具取り付け位置を判別し、展開接続図内の該当器具に
対して反映を行なう。

【００２４】「配線図情報からの端子台情報抽出」（ス
テップＰ６）では、配線図情報から制御盤同士を接続す
るケーブルの端子台接続位置を示す端子台情報の抽出を
行なう。

【００２５】「展開接続図への端子台情報反映」（ステ
ップＰ７）では、抽出した情報から接続端子台および端
子番号を判別し、展開接続図内の該当ネットに対して反
映を行なう。

【００２６】「試験図面の出力」（ステップＰ８）で
は、作成された試験図面を紙に印刷して出力する。以上
のステップＰ１〜ステップＰ８の手順で試験図面を自動
作成している。

【００２７】この試験図面作成装置における具体的な試
験図面作成手順について、図３〜図８を参照して説明す
る。今、図３の展開接続図Ｑ１が「展開接続図の選択」
（Ｐ１）で指定されたとする。この展開接続図Ｑ１は、
予め展開接続図入力部１０で入力され、展開接続図デー
タベース１１で管理されているものである。なお、この
展開接続図Ｑ１は、Ｑ２、Ｑ３、Ｑ４、Ｑ５の４つの器
具から構成され、それぞれの器具に対して器具の特色を
持たせる属性として、器具番号Ｑ６、制御盤番号Ｑ７が
入力されている。また、展開接続図Ｑ１には“ＢＡＮ−
１”“ＢＡＮ−２”“ＢＡＮ−３”といった制御盤番号
Ｑ７が存在しているが、「試験対象盤の選択」（Ｐ２）
では“ＢＡＮ−１”および“ＢＡＮ−２”が試験対象盤
として選択され、試験対象盤管理テーブル３１によって
管理されているものとする。

【００２８】「試験対象盤の回路判別」（Ｐ３）では、
試験対象盤管理テーブル３１に登録されている制御盤番
号Ｑ７を有する器具が試験対象盤Ｑ１に存在するか検索
を行ない、試験対象盤以外の器具に対して×印Ｑ８を上
書きし、その器具の属性に対しては２重線Ｑ９を上書き
することで、その器具が試験対象盤以外の器具であるこ
とを示し、その他の器具が試験対象盤の器具であること
を示す。

【００２９】ここで、×印Ｑ８を書く方法としては、器
具Ｑ１１のシンボル領域（破線部）の４隅を始点終点と
し、対角線を引くことで、Ｑ１２のような×印が上書き
された器具を表現することができる。

【００３０】例えば、展開接続図データベース１１の展
開接続図Ｑ１において、試験対象盤管理テーブル３１に
登録されている“ＢＡＮ−１”と同じ値を制御盤番号Ｑ
７に持つ器具を検索する。このとき、器具Ｑ３、Ｑ４は
他の制御盤番号Ｑ７を持つので試験対象盤以外の器具で
ある為、器具Ｑ３、Ｑ４に対して×印Ｑ８および器具属
性（例えば、器具番号Ｑ６、制御盤番号Ｑ７）に対して
２重線Ｑ９を上書きする。これにより、第１段階の試験
図面Ｑ１０が作成され、これを試験対象盤“ＢＡＮ−
１”の試験図面データベースＱ１３として管理する。

【００３１】同様の作業を試験対象盤管理テーブル３１
に登録されている制御盤番号の全て（この例では、“Ｂ
ＡＮ−１”および“ＢＡＮ−２”）について行なうこと
で、全ての試験対象盤に対応した第１段階の試験図面を
作成する。

【００３２】配線図情報データベース２１は、予め配線
図情報入力部２０で配線図情報が入力され管理されてい
るものとする。図４に示すように、「配線図情報からの
器具取り付け位置抽出」（Ｐ４）では、この配線図情報
データベース２１から試験図面を作成する上で必要とな
る情報として、制御盤Ｒ１を他の制御盤と区別する為の
制御盤番号Ｒ２、制御盤Ｒ１への器具の取り付け場所を
示す器具取り付け位置Ｒ３、及び取り付け位置Ｒ３に取
り付けられる器具の種類を示す器具番号Ｒ４を抜き出
し、取り付け位置情報管理テーブルＲ５への取り込みを
行なう。

【００３３】ここで、器具取り付け位置Ｒ３はマトリク
スを使用した番号で取られており、図４の例では、Ｘ軸
方向に１、２、Ｙ軸方向にＡ、Ｂ、Ｃといったマトリク
スを持たせることで、これらの組み合わせにより器具取
り付け位置Ｒ３を示すものとしている。

【００３４】例えば、取り付け位置情報管理テーブルＲ
５において、最上段Ｒ６の情報からは、この制御盤番号
Ｒ２は“ＢＡＮ−１”であり、器具取り付け位置Ｒ３は
“Ａ１”、さらに器具取り付け位置“Ａ１”に取り付け
られるべき器具の器具番号Ｒは“Ｄ−１”であることが
分かる。

【００３５】この情報を、試験対象盤管理テーブル３１
に登録されている全ての制御盤について、取り付け位置
情報管理テーブルＲ５に取り込む作業を行なう。これに
より、それぞれの制御盤Ｒ１の器具取り付け位置と配置
する器具の関係が、取り付け位置情報管理テーブルによ
って管理されることとなる。

【００３６】図５において、展開接続図Ｑ１０は「試験
対象盤の回路判別」（Ｐ３）で作成され、制御盤番号
“ＢＡＮ−１”の試験図面データベースＱ１３で管理さ
れているものである。また、取り付け位置情報管理テー
ブルＲ５は「配線図情報からの器具取り付け位置抽出」
（Ｐ４）で作成されたものである。

【００３７】「展開接続図への器具取り付け位置反映」
（Ｐ５）では、展開接続図Ｑ１０において試験対象盤の
器具（例えば、Ｑ２、Ｑ５）が、図４に示す制御盤Ｒ１
の中でどの器具取り付け位置Ｒ３に対応するのかを器具
番号Ｑ６を元に取り付け位置管理テーブルＲ５から検索
する。検索の結果は、展開接続図Ｑ１０内に存在する試
験対象盤の器具に対して、該当する取り付け位置（例え
ば、Ｓ２、Ｓ３）を属性として反映させる。

【００３８】例えば、展開接続図Ｑ１０における試験対
象盤“ＢＡＮ−１”の器具Ｑ２は器具番号Ｑ６が“Ｄ−
１”となっているので、取り付け位置管理テーブルＲ５
から、これと同一の制御盤番号および同一器具番号を持
つテーブルを検索すると、最上段Ｓ４が一致する情報と
なる。このため、最上段Ｓ４で管理されている取り付け
位置Ｓ５の“Ａ１”が制御盤Ｒ１における器具Ｑ２の器
具取り付け位置となるので、これを器具Ｑ２の属性とし
て反映する。

【００３９】同様の作業を器具Ｑ５に対して行なうこと
により、第２段階の試験図面Ｓ１が作成され、これを試
験対象盤“ＢＡＮ−１”の試験図面データベースＳ６と
して管理する。

【００４０】図６に示すように、「配線図情報からの端
子台情報抽出」（Ｐ６）では、配線図情報データベース
２１から試験図面を作成する上で必要となる情報とし
て、制御盤同士を接続するケーブルの線番号Ｕ１、ケー
ブルが接続される制御盤Ｕ７の制御盤番号Ｕ２、また、
ケーブルがどの端子台に接続されるかを示す端子台番号
Ｕ３、接続される端子台の端子番号Ｕ４を抜き出し、端
子台情報管理テーブルＵ５への取り込みを行なう。

【００４１】例えば、端子台情報管理テーブルＵ５にお
いて、最上段Ｕ６の情報からは、このケーブルが線番号
Ｕ８から線番号“Ｌ１”のケーブルであることを示し、
このケーブルが接続されている制御盤Ｕ７の制御盤番号
Ｕ２は、それぞれＦＲＯＭ盤Ｕ９から“ＢＡＮ−１”お
よびＴＯ盤Ｕ１０から“ＢＡＮ−２”となる。ＦＲＯＭ
盤Ｕ９側の制御盤“ＢＡＮ−１”では“Ｌ１”のケーブ
ルは端子台番号Ｕ１１から“Ｔ１”の端子台であること
を示し、この端子台の持つ端子の中で接続を行なう端子
は端子番号Ｕ１２から“１”番となることが分かる。ま
た、ＴＯ盤Ｕ１０側の制御盤“ＢＡＮ−２”では“Ｌ
１”のケーブルは端子台番号Ｕ１３から“Ｔ１”の端子
台であることを示し、この端子台の持つ端子の中で接続
を行なう端子は端子番号Ｕ１４から“１”番となること
が分かる。

【００４２】この情報を、全てのケーブル（例えば、Ｌ
１、Ｌ２、Ｌ３）について端子台情報管理テーブルＵ５
に取り込む作業を行なう。これにより、それぞれの制御
盤Ｕ７に接続を行なうケーブルとケーブルの接続を行な
う端子台との関係が、端子台情報管理テーブルによって
管理されることとなる。

【００４３】図７に示す展開接続図Ｓ１は、「展開接続
図への器具取り付け位置反映」（Ｐ５）で作成されたも
のであり、制御盤番号“ＢＡＮ−１”の試験図面データ
ベースＳ６で管理されているものである。また、端子台
情報管理テーブルＵ５は「配線図情報からの端子台情報
抽出」（Ｐ６）で作成されたものである。

【００４４】「展開接続図への端子台情報反映」（Ｐ
７）では、展開接続図Ｓ１において器具と器具を接続す
るネット（例えば、Ｖ１、Ｖ２）が、図６に示す制御盤
を接続するケーブル線番号Ｕ１のどれに対応するかを、
それぞれのネットが接続されている器具の制御盤番号を
元に端子台情報管理テーブルＵ５から検索する。検索の
結果は、展開接続図Ｓ１内に存在するネットに対して、
当該する端子台番号および端子番号を端子マークＶ５と
共に反映させる。

【００４５】ここで、端子台番号および端子番号の反映
の方法としては、試験対象盤側の端子台番号および端子
番号を“端子台番号−端子番号”のように合成させて、
２つの属性を１つにして反映を行なうこととする。

【００４６】例えば、展開接続図Ｓ１におけるネットＶ
１は試験対象盤“ＢＡＮ−１”の器具および試験対象盤
以外の器具“ＢＡＮ−３”に接続され、線番号Ｖ３が
“Ｌ３”であることから、端子台情報管理テーブルＵ５
のＶ４の段に該当することが分かる。この時、ネットＶ
１が接続されている試験対象盤は“ＢＡＮ−１”となっ
ているので、端子台情報管理テーブルＵ５のＶ４の段の
“ＢＡＮ−１”の端子台番号および端子番号を元に端子
マークＶ５を作成する。

【００４７】これらの作業を行なうことで、最終的な試
験図面Ｖ６が作成され、これを試験対象盤“ＢＡＮ−
１”の試験図面データベースＶ７として管理する。ま
た、ここで作成された試験図面データベースＶ７は、第
１図に示す試験図面データベース５１に相当するものと
なる。

【００４８】「試験図面の出力」（Ｐ８）では、図８に
示すように「展開接続図への端子台情報反映」（Ｐ７）
で作成された展開接続図Ｖ６が制御盤番号“ＢＡＮ−
１”の試験図面データベースＶ７として管理されている
ので、試験図面データベースＶ７から展開接続図Ｖ６を
取り出して紙面上Ｗ１への出力を行なう。この結果、展
開接続図Ｖ６がプリントアウトされる。

【００４９】このように、本実施の形態は、試験対象盤
を試験対象盤管理テーブル３１で管理し、展開接続図デ
ータベース１から取り出した展開接続図Ｑ１に対して試
験対象盤管理テーブル３１に登録された試験対象盤の器
具を他の制御盤から識別可能に識別マークを付与して第
１段階の試験図面Ｑ１３を作成し、配線図情報データベ
ース２１から試験対象盤管理テーブル３１に登録された
試験対象盤に属する器具の取り付け位置情報を抽出して
第１段階の試験図面Ｑ１３に反映させることにより第２
段階の試験図面Ｓ６を作成し、配線図情報データベース
２１から全てのケーブルに関する端子台情報を抽出して
第２段階の試験図面Ｓ６に反映させることにより最終的
な試験図面Ｖ６を作成するようにした。その結果、ＣＡ
Ｄ利用者は展開接続図及び試験対象盤を指示するだけ
で、後はＣＡＤ利用者が介在することなく試験対象盤に
属する器具が他の制御盤から容易に識別でき、試験対象
盤に属する器具の取付け位置及び端子台情報が書き込ま
れた試験図面Ｖ６が作成されるものとなる。

【００５０】上記した実施の形態では、展開接続図にお
いて試験対象盤以外の制御盤に属する器具には×印を上
書きし、その器具の属性に対しては二重線を上書きする
ことにより、試験対象盤の器具を識別できるようにして
いる。

【００５１】ところで、試験対象盤の器具を他の制御盤
の器具から識別できるようにするのであれば、他の表示
形態を採用しても良い。例えば、カラー対応の表示機能
またはカラー対応の図面出力機能を備えた装置であれ
ば、図９に示すように試験対象盤の器具についてのみカ
ラー表示などによる強調表示を行うようにする。

【００５２】なお、図９において破線で囲んだ部分Ｘ１
（Ｑ１〜Ｑ７、１１、３１）は図３での説明と同様の条
件となるのでここでの説明は省略する。図９に示すよう
な識別表示を行う場合は、「試験対象盤の回路判別」
（Ｐ３）において、試験対象盤管理テーブル３１に登録
されている制御盤番号Ｑ７を有する器具が展開接続図Ｑ
１に存在するか検索を行ない、試験対象盤の器具および
器具属性に対して特定の色（例えば、赤）を持たせる。
これにより、特定の色を持っていればその器具が試験対
象盤の器具であることを示し、その他の器具および器具
属性の色が試験対象盤の器具以外の色（例えば、青）で
あれば、それらの器具は試験対象盤以外の器具であるこ
とを示すことができる。本発明は上記実施の形態に限定
されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内
で種々変形実施可能である。

【００５３】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、従
来はＣＡＤ利用者が展開接続図の対象回路をチェックし
ながら識別マークを記入していた情報を、配線図情報か
ら取り込んで自動的に展開接続図に反映することによ
り、ＣＡＤ利用者自身が展開接続図を黙視により確認・
検査していた従来の方法に比べて、検査ミスが無くなり
品質を向上させることができる。また、展開接続図及び
配線図情報が完成した時点で即座に試験図面の作成が行
なえるため、設計効率を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る試験図面作成装置の
全体図である。

【図２】上記実施の形態に係る試験図面作成装置の処理
全体の流れを示す図である。

【図３】試験対象盤の回路判別に関する処理手順を示す
図である。

【図４】配線図情報から器具取り付け位置を抽出する処
理手順を示す図である。

【図５】展開接続図へ器具取付け位置情報を反映させる
処理手順を示す図である。

【図６】配線図情報から端子台情報を抽出する処理手順
を示す図である。

【図７】展開接続図へ端子台情報を反映させる処理手順
を示す図である。

【図８】試験図面を出力する処理手順を示す図である。

【図９】試験対象盤の器具等をカラー表示するための処
理手順を示す図である。

【符号の説明】

１０…展開接続図入力部 １１…展開接続図データベース ２０…配線図情報入力部 ２１…配線図情報データベース ３０…試験対象盤指示部 ３１…試験対象盤管理テーブル ４０…試験回路判別部 ５０…配線図情報合成部 ５１…試験図面データベース ６０…試験図面出力部 ６１…図面 ７０…試験図面作成部

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＣＡＤ装置にて作成した展開接続図を用
   いて試験対象盤の試験図面を作成する試験図面作成装置
   において、 ＣＡＤ装置にて設計した製品の設計情報が保存されたデ
   ータ保存手段から設計情報の一つとして保存されている
   前記展開接続図を取り出し、当該展開接続図から試験対
   象盤を検索して試験対象盤の部品とそれ以外の部品とを
   識別するための識別情報を生成する試験対象盤判別手段
   と、 前記データ保存手段から設計情報の一つとして保存され
   ている配線図情報を取り出し、当該配線図情報から試験
   対象盤に関連する配線情報を作成する配線図情報抽出手
   段と、 前記識別情報及び前記配線情報を前記展開接続図に反映
   させることにより試験図面を作成する情報反映手段とを
   具備したことを特徴とする試験図面作成装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の試験図面作成装置におい
   て、 前記試験対象盤判別手段は、試験対象盤の部品又はそれ
   以外の部品に対する識別マークを識別情報として生成
   し、 前記情報反映手段は、展開接続図に対して試験対象盤の
   部品又はそれ以外の部品に識別マークを上書きするよう
   にしたことを特徴とする試験図面作成装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は請求項２記載の試験図面作
   成装置において、 前記配線図情報抽出手段は、配線図情報から試験対象盤
   に取り付けられる部品の取付け位置情報、試験対象盤と
   他の盤とを接続するケーブルの端子台接続情報を抽出
   し、 前記情報反映手段は、展開接続図に対して取付け位置情
   報及び端子台接続情報を記載するようにしたことを特徴
   とする試験図面作成装置。
4. 【請求項４】 請求項１〜請求項３のいずれかに記載の
   試験図面作成装置において、 前記試験対象盤判別手段は、試験対象盤の部品を他の部
   品と異なる表示形態にて強調表示するための識別情報を
   作成するようにしたことを特徴とする試験図面作成装
   置。