JPH1092873A - バンプ付きワークの半田付け方法 - Google Patents

バンプ付きワークの半田付け方法

Info

Publication number
JPH1092873A
JPH1092873A JP8245847A JP24584796A JPH1092873A JP H1092873 A JPH1092873 A JP H1092873A JP 8245847 A JP8245847 A JP 8245847A JP 24584796 A JP24584796 A JP 24584796A JP H1092873 A JPH1092873 A JP H1092873A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bump
work
solder
solder portion
bumps
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8245847A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3269398B2 (ja
Inventor
Tadahiko Sakai
忠彦 境
Hideki Nagafuku
秀喜 永福
Mitsuru Osono
満 大園
Seiji Sakami
省二 酒見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP24584796A priority Critical patent/JP3269398B2/ja
Publication of JPH1092873A publication Critical patent/JPH1092873A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3269398B2 publication Critical patent/JP3269398B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3436Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3465Application of solder
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/012Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
    • H10W72/01221Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps using local deposition
    • H10W72/01225Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps using local deposition in solid form, e.g. by using a powder or by stud bumping
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H10W72/231Shapes
    • H10W72/234Cross-sectional shape, i.e. in side view
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H10W72/241Dispositions, e.g. layouts
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/551Materials of bond wires
    • H10W72/552Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver
    • H10W72/5522Materials of bond wires comprising metals or metalloids, e.g. silver comprising gold [Au]

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フラックスの使用量を少なくし、更に望まし
くはフラックスを不要にして、バンプとパッドの導通性
を十分に確保できるバンプ付きワークの半田付け方法を
提供することを目的とする。 【解決手段】 バンプ付きワーク1のバンプ2からは、
高硬度の突出部3が下方へ突出している。ワーク5のパ
ッド上に形成された半田部7の表面には、電気拡大の大
きい酸化膜9が生じている。バンプ2を半田部7に押し
付ければ、突出部3は横倒しとなり、酸化膜9を部分的
に破壊して半田部7に食い込み、半田部7に直に接触す
る。加熱炉で加熱して半田部7を溶融・固化させれば、
バンプ2はパッド6上に導通性よく半田付けされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バンプをワークの
パッド上に半田付けするバンプ付きワークの半田付け方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】フリップチップなどのバンプ付きワーク
のプリント基板などのワークへの半田付けは、次のよう
にして行われていた。まず、バンプ付きワークに形成さ
れたバンプやワークのパッド上に形成された半田部の表
面にフラックスを塗布する。次にバンプを半田部に着地
させてバンプ付きワークをワーク上に搭載する。次にワ
ークを加熱炉へ送り、半田部をその融点(一般には20
0°C程度)以上に加熱して溶融させ、次いで冷却する
ことにより固化させる。以上によりバンプ付きワークを
ワークに実装する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
方法には、次のような問題点があった。すなわち、パッ
ド上の半田部の表面には、空気に触れることにより、電
気抵抗の大きい酸化膜が生じることから、バンプとパッ
ドの間の導通が不十分になりやすかった。このような問
題点を解決する方法としては、フラックスを十分に使用
することである。フラックスを十分に使用すれば、半田
のぬれ性を改善し、酸化膜の悪影響を軽減できる。
【0004】しかしながらフラックスの使用量が多い程
溶融した半田の流動性は増大し、相隣るパッド上の半田
同士がつながって短絡の原因となる半田ブリッジが生じ
やすいという問題が生じる。
【0005】したがって本発明は、フラックスの使用量
を少なくし、更に望ましくはフラックスを不要にして、
バンプとパッドの導通性を十分に確保できるバンプ付き
ワークの半田付け方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、バンプ付きワ
ークのバンプから下方へ突出する高硬度の突出部を横倒
ししながらワークのパッド上に形成された半田部に押し
付けて、この半田部の表面の酸化膜を前記突出部により
部分的に破壊して前記突出部を前記半田部に食い込ま
せ、次いで前記半田部を加熱して接合させるようにし
た。
【0007】
【発明の実施の形態】上記構成の本発明によれば、バン
プの突出部を半田部に食い込ませたうえで、半田部を接
合させるようにしているので、バンプとパッドの導通性
を十分に確保して半田付けすることができる。
【0008】以下、本発明の実施の形態を図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の一実施の形態のバンプ付
きワークの半田付け工程図、図2は同バンプ付きワーク
の半田付け工程におけるバンプと半田部の拡大断面図、
図3は同バンプの形成工程図である。
【0009】図1(a)において、バンプ付きワーク1
の下面のパッド4にはバンプ2が形成されている。この
バンプ2は金バンプである。バンプ2は下方へ突出する
突出部3を有している。突出部3は図示するように傾い
ている。この突出部3は高硬度を有している。次に、図
3を参照して、高硬度の突出部3を有するバンプ2の形
成方法を説明する。
【0010】図3は、ワイヤボンディング技術を用いて
バンプを形成する方法を示している。図3に示すバンプ
の形成方法は、例えば特開平4−37034号公報に記
載されている。11はホーン(図示せず)の先端部に保
持されたキャピラリツールであり、細いワイヤ(金線)
3’が挿通されている。
【0011】キャピラリツール11から下方へ導出する
ワイヤ3’の下端部にトーチ12を接近させ、トーチ1
2に高電圧を印加してトーチ12とワイヤ3’の下端部
の間に電気的スパークを発生させる。するとワイヤ3’
の下端部は溶融してボール2’が生じる。次にトーチ1
2を側方へ退去させたうえで、図3(b)に示すように
キャピラリツール11を下降させ、ボール2’をワーク
1のパッド5に押し付けてボンディングする。本例のワ
ーク1は半導体素子である。
【0012】次にキャピラリツール11を上昇させ、ま
たキャピラリツール11の上方でワイヤ3’をクランパ
(図示せず)でクランプし、ワイヤ3’を引き上げる。
するとワイヤ3’はボール2’のやや上方で切断され、
図3(c)に示すように突出部3を有するバンプ2がパ
ッド4上に完成する。すなわち突出部3は、ワイヤ3’
の切れはしである。以上により、図1(a)に示すバン
プ付きワーク1を製造する。
【0013】さて、図3(a)に示すように電気的スパ
ークを発生させて、バンプ2の元になるボール2’を形
成するのであるが、ボール2’の近くのワイヤ3は電気
的スパークにより高温度に加熱され、次いで急激に自然
冷却されることから、ワイヤ3’よりも高硬度となる。
この高硬度となる部分にはハッチングを付している。そ
してワイヤ3’をクランパでクランプして引き上げれ
ば、ワイヤ3’は高硬度の部分とそうでない部分の境界
で切断され、図3(c)に示す突出部3を有するバンプ
2が形成されるものである。
【0014】次に図3(c)に示すように押圧治具13
を突出部3の上端部に押し付ければ(鎖線で示す押圧治
具13を参照)、突出部3は傾き、図1(a)に示す突
出部3を有するバンプ付きワーク1が出来上る。
【0015】さて、図1(a)において、5はワークで
あり、その上面にはパッド6が形成されている。またパ
ッド6上には半田部7が形成されている。本例のワーク
5はプリント基板である。また半田部7は半田メッキや
半田レベラにより形成されている。図1(a)に示すよ
うに、バンプ付きワーク1をヘッド8の下面に真空吸着
して保持し、図1(b)に示すようにヘッド8を下降さ
せてバンプ2をワーク5の半田部7上に着地させ、バン
プ2を半田部7に強く押し付ける。
【0016】図2(a)、(b)は、バンプ2を半田部
7に押し付ける様子を拡大して示している。図2(a)
に示す状態からバンプ付きワーク1を下降させて、図2
(b)に示すようにバンプ2を半田部7に強く押し付け
る。半田部7の表面には、空気に触れることにより酸化
膜9が生じている。上述したように酸化膜9は電気抵抗
が大きく、バンプ2とパッド6の導通性を阻害する。こ
の酸化膜9に突出部3が横倒しされながら押し付けられ
ることにより、酸化膜9は図示するように部分的に破壊
され、突出部3は半田部7に食い込んで直に半田部7に
接触する。この場合、半田部7はPbやSnなどのやわ
らかい合金であり、また突出部3は上述したように高硬
度を有するので、酸化膜9を効果的に破壊したうえで、
半田部7に十分に食い込んで半田部7に接触することが
できる。さらには、突出部3は図3(c)に示す工程で
傾けているので、半田部7に押し付けると図2(b)に
示すように確実に横倒しされ、広範囲に酸化膜9を破壊
してより広く半田部7に直に接触することができる。
【0017】以上のようにしてバンプ付きワーク1をワ
ーク5上に搭載したならば、図1(c)に示すようにバ
ンプ付きワーク1が搭載されたワーク5を加熱炉10で
加熱し、半田部7を溶融させ、次いで冷却して固化させ
てバンプ2をパッド6上に半田付けする。図2(c)
は、半田付けが終了したバンプ2付近の部分拡大図であ
る。図示するように、半田部7が溶融・固化したことに
より、バンプ2はパッド6上に半田付けされるが、酸化
膜9は破壊されているのでバンプ2は半田部6と一体と
なり、十分な導通性を確保できる。
【0018】本発明は上記実施の形態に限定されないの
であって、例えば本発明によればフラックスを用いなく
てもバンプを十分に半田付けできるが、フラックスの使
用を禁止するものではない。また上記実施の形態では、
図3(c)に示す工程で突出部3を押圧治具13で積極
的に傾けているが、このような工程をとらず、バンプ2
からまっすぐに下方へ突出する突出部3を図1(a)、
(b)に示す工程で半田部7に押し付ければ、突出部3
は横倒しされて上記実施の形態と同様の作用効果が得ら
れる。また半田部7とバンプ2の接合方法としては、突
出部3で酸化膜9を破壊して半田部7と突出部3を接触
させ、その後この接触部分に熱と超音波を作用させて両
者を接合させてもよい。この場合、半田部7は溶融させ
る必要はない。
【0019】
【発明の効果】本発明は、バンプの高硬度の突出部を半
田部に食い込ませたうえで、半田部を接合させるように
しているので、バンプとパッドの導通性を十分に確保し
て半田付けすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態のバンプ付きワークの半
田付け工程図
【図2】本発明の一実施の形態のバンプ付きワークの半
田付け工程におけるバンプと半田部の拡大断面図
【図3】本発明の一実施の形態のバンプの形成工程図
【符号の説明】
1 バンプ付きワーク 2 バンプ 3 突出部 5 ワーク 6 パッド 7 半田部 9 酸化膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 酒見 省二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】バンプ付きワークのバンプをワークのパッ
    ド上に半田付けするバンプ付きワークの半田付け方法で
    あって、バンプ付きワークのバンプから下方へ突出する
    高硬度の突出部を横倒ししながらワークのパッド上に形
    成された半田部に押し付けて、この半田部の表面の酸化
    膜を前記突出部により部分的に破壊して前記突出部を前
    記半田部に食い込ませ、次いで前記半田部を加熱して接
    合させることを特徴とするバンプ付きワークの半田付け
    方法。
JP24584796A 1996-09-18 1996-09-18 バンプ付きワークの半田付け方法 Expired - Lifetime JP3269398B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24584796A JP3269398B2 (ja) 1996-09-18 1996-09-18 バンプ付きワークの半田付け方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24584796A JP3269398B2 (ja) 1996-09-18 1996-09-18 バンプ付きワークの半田付け方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1092873A true JPH1092873A (ja) 1998-04-10
JP3269398B2 JP3269398B2 (ja) 2002-03-25

Family

ID=17139737

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24584796A Expired - Lifetime JP3269398B2 (ja) 1996-09-18 1996-09-18 バンプ付きワークの半田付け方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3269398B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1140610A (ja) * 1997-07-18 1999-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd バンプ付ワークの実装方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1140610A (ja) * 1997-07-18 1999-02-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd バンプ付ワークの実装方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3269398B2 (ja) 2002-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3565047B2 (ja) 半田バンプの形成方法および半田バンプの実装方法
US7833831B2 (en) Method of manufacturing an electronic component and an electronic device
JP2000133670A (ja) バンプ及びその形成方法並びにその製造装置
JP3269398B2 (ja) バンプ付きワークの半田付け方法
JP2000174059A (ja) 電子部品の実装方法
JP2828069B2 (ja) バンプ付きワークの半田付け方法
JPS60134444A (ja) バンプ電極形成方法
JP5206399B2 (ja) レーザ装置及びその製造方法
JP3344289B2 (ja) バンプ付ワークの実装方法
JP2870506B2 (ja) バンプ付きワークの半田付け方法
JPH05152485A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3827442B2 (ja) 半導体パッケージの製造方法
JPH05235098A (ja) フリップチップ実装方法
KR100273113B1 (ko) 반도체용리드프레임
JPS63128574A (ja) コネクタピン
JPH05235080A (ja) 半田ワイヤーによるワイヤーボンディング装置
JP2596381B2 (ja) ボールバンプ形成方法
JPH10144717A (ja) 半導体素子の接続構造および接続方法
JPH05144872A (ja) バンプ電極の接合方法
JPS63187638A (ja) 半導体チツプ接続方法
JPH08111581A (ja) ボールグリッドアレイプリント配線板の半田付け方法
JPH1174299A (ja) バンプ形成装置およびバンプ形成方法
JPS62152142A (ja) バンプ形成方法
JPH0645377A (ja) 半導体製造装置及び半導体パッケージ並びにチップ実装方法
JPH1117103A (ja) バンプを備える基材同士の接合方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080118

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090118

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090118

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100118

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100118

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110118

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110118

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120118

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130118

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130118

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term