JPH109820A - 情報記録ディスクの偏心測定方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 容易にかつ短時間で正確な偏心を測定するこ
とができる情報記録ディスクの偏心測定方法及びその装
置を提供すること。 【解決手段】 情報記録領域が予め形成されている情報
記録ディスクの偏心を測定する場合、前記情報記録領
域、前記情報記録ディスクの内周縁及び前記情報記録デ
ィスクの外周縁に関する中心点の座標位置を、光学手段
のトラッキング信号から求め、前記各中心点の座標位置
に基づいて、前記情報記録ディスクの偏心を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、予め形成されて
いる情報記録領域にデータやプログラム等の情報が記録
される情報記録ディスクの偏心を測定する方法及びその
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えばコンピュータシステムにおいて
は、情報記録ディスク装置としてハードディスク装置が
用いられている。このハードディスク装置に内蔵されて
いる情報記録ディスクである磁気ディスクの両表面には
磁性膜が成膜されており、磁気ディスクの表面上を浮上
するヘッドスライダに搭載されている磁気ヘッドによ
り、磁性膜にデータ等がトラック状に記録され、また磁
性膜にトラック状に記録されたデータ等が再生されるよ
うになっている。

【０００３】近年、ハードディスク装置の小型化及び大
記録容量化が望まれており、これを実現するためには、
磁気ヘッドの位置決め精度、即ちトラッキング精度を向
上させる必要がある。通常のトラッキングサーボは、磁
気ディスク上に書き込まれているトラッキング信号を磁
気ヘッドによって読み出し、このトラッキング信号に基
づいてヘッドスライダの移動を制御して磁気ヘッドをト
ラックの中央に位置決めする方式が採られている。

【０００４】このトラッキングサーボ方式によるトラッ
キング精度は、磁気ヘッドによる磁気ディスク上へのト
ラッキング信号の書き込み精度によって左右されるた
め、トラッキング精度を向上させるには高精度のトラッ
キング信号書き込み専用のヘッド送り機構が必要とな
る。ところが、このヘッド送り機構は機械式であり、そ
の高精度化には限界があるため、所望のハードディスク
装置の小型化及び大記録容量化を達成することができな
いという問題があった。そこで、磁気ディスクの両表面
に凹凸部で成るデータ記録領域（以下、データゾーンと
いう）と制御信号記録領域（以下、サーボゾーンとい
う）とをそれぞれ放射状に形成した、いわゆるプリエン
ボス型の磁気ディスクが提案されている。

【０００５】図７は、上記プリエンボス型の磁気ディス
クの一例を示す平面図、図８はその詳細例を示す平面図
である。この磁気ディスク１の合成樹脂、ガラス、アル
ミニウム等より成る基板の両表面には、凹凸部で成るデ
ータゾーンとサーボゾーンとがそれぞれ放射状に形成さ
れている。

【０００６】データゾーンには、同心円状であって、デ
ータ等を記録するためのデータトラックＤＴが凸部とな
るように形成され、隣接するデータトラックＤＴを区分
するためのガードバンドＧＢが凹部となるように形成さ
れている。また、サーボゾーンには、サーボクロックを
生成する際の基準となるバ−スト部、データトラックＤ
Ｔを特定するためのアドレス部及び磁気ヘッドをトラッ
キング制御するためのファインパタ−ン部等のサーボパ
ターンＳＰが凸部もしくは凹部となるように形成されて
いる。

【０００７】このデータゾーンとサーボゾーンは、リン
グ状の基板を射出成形する際に、成形用金型に取り付け
られているスタンパにより、基板の外周縁と内周縁との
間の表面に転写形成される。そして、それらの表面に磁
性膜が形成され、凹部と凸部に逆極性ｍ１、ｍ２の信号
が書き込まれる。このように、サーボパターンＳＰを予
め磁気ディスク１上に凹凸部で形成しているので、この
凹凸部のパターニング精度によりトラッキング精度は左
右される。凹凸部はフォトリソグラフィ等を利用してパ
ターニングされるので、凹凸部のパターニング精度を従
来のヘッド送り機構の送り精度よりも高くすることがで
き、所望のハードディスク装置の小型化及び大記録容量
化を達成することができる。

【０００８】このような構成のプリエンボス型の磁気デ
ィスク１を用いる場合は、図９に示すように、成形用の
スタンパを作製する際、スタンパを成形用金型に取り付
ける際、スタンパを打ち抜く際等の種々の工程における
位置ズレ誤差（以下、スタンパ関連誤差という）、ある
いは成形された磁気ディスク１の中心孔を打ち抜く際、
磁気ディスク１をスピンドルに取り付ける際等の種々の
工程における位置ズレ誤差（以下、磁気ディスク関連誤
差という）の要因を含んでいるので、最終的にハードデ
ィスク装置に組み込んだときに、リング状のデータトラ
ックＤＴの中心が、磁気ディスク１の回転中心からずれ
てしまう場合がある。

【０００９】このずれによる偏心は、トラッキングサー
ボに悪影響を及ぼすことになるので、上述した各工程に
おいて偏心量をできるだけ小さくし、最終的な偏心量が
所定値以下になるように管理する必要がある。従来のプ
リエンボス型の磁気ディスク１の偏心の測定は、製造工
程の最終段階において、磁気ディスク１をスピンドルに
取り付けて情報を再生し、その再生信号を検出して偏心
量を導出する方法が採られている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来のプリエンボス型
の磁気ディスク１の偏心の測定方法では、製造工程の最
終段階において初めて偏心量が明らかになり、この偏心
量が所定値以下のもののみが製品として出荷されること
になる。このため、磁気ディスク１の歩留まりが比較的
低くなってしまい、製造コストが高くなってしまうとい
う問題があった。

【００１１】また、磁気ディスク１をスピンドルに取り
付ける際の取り付け誤差も含んでいるため、リング状の
データトラックＤＴが本来持っている偏心量を測定する
ことができないという問題もあった。さらに、磁気ディ
スク１の偏心の原因が、スタンパ側にあるのか、磁気デ
ィスク側にあるのかという解明を行うことが困難である
という問題もあった。

【００１２】この発明は、以上の点に鑑み、容易にかつ
短時間で正確な偏心を測定することができる情報記録デ
ィスクの偏心測定方法及びその装置を提供することを目
的としている。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記目的は、この発明に
よれば、情報記録領域が予め形成されている情報記録デ
ィスクの偏心を測定する場合、前記情報記録領域、前記
情報記録ディスクの内周縁及び前記情報記録ディスクの
外周縁に関する中心点の座標位置を、光学手段のトラッ
キング信号から求め、前記各中心点の座標位置に基づい
て、前記情報記録ディスクの偏心を測定することにより
達成される。

【００１４】上記構成によれば、光学手段により情報記
録ディスクの偏心を測定するようにしているので、製造
工程の比較的初期の段階で偏心量を明らかにすることが
できる。さらに、情報記録領域、情報記録ディスクの内
周縁及び情報記録ディスクの外周縁に関する中心点の座
標位置をそれぞれ求めてから偏心を測定しているため、
正確な偏心量や偏心原因について解明することが可能と
なる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を添付図を参照しながら詳細に説明する。尚、以下に述
べる実施形態は、この発明の好適な具体例であるから、
技術的に好ましい種々の限定が付されているが、この発
明の範囲は、以下の説明において特にこの発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの形態に限られるもので
はない。

【００１６】図１は、この発明の情報記録ディスクの偏
心測定装置の実施形態を示すブロック図であり、情報記
録ディスクとして図７に示す磁気ディスク１を例として
説明する。この情報記録ディスクの偏心測定装置１００
は、回転部１１０に装着されている磁気ディスク１を計
測部１２０により計測し、磁気ディスク１の偏心を測定
部１３０により測定するようになっている。回転部１１
０は、スピンドルモータ１１１に接続されている回転盤
１１２上に磁気ディスク１を載置固定して回転させるよ
うになっている。

【００１７】計測部１２０は、光学ピックアップ１２１
をピックアップ駆動部１２２により磁気ディスク１の半
径方向に移動させ、磁気ディスク１上のデータトラック
ＤＴ等の軌跡を光学ピックアップ１２１により計測する
ようになっている。この光学ピックアップ１２１は、発
光素子、光学素子及び光検出器等を備えた一般的なもの
であり、磁気ディスク１の表面に対して例えばレーザ光
を照射してその反射光を検出し、磁気ディスク１上のデ
ータトラックＤＴや磁気ディスク１の内外周縁等のトラ
ッキングを行い、そのトラッキング時の半径方向の変位
を計測するようになっている。

【００１８】測定部１３０は、回転部１１０及び計測部
１２０を制御部１３１により制御し、また回転部１１０
及び計測部１２０からの信号を処理部１３２により検出
し解析し表示するようになっている。そして、制御部１
３１及び処理部１３２をシステムコントローラ１３３に
より統括制御するようになっている。制御部１３１は、
システムコントローラ１３３からのスピンドル制御信号
と、外部からの周波数サーボ信号とを加算器１３１ａで
加算して増幅器１３１ｂで増幅し、スピンドルサーボ信
号としてスピンドルモータ１１１に出力して制御するよ
うになっている。

【００１９】また、システムコントローラ１３３からの
サーチ制御信号と、光学ピックアップ１２１から増幅器
１３１ｃ、マトリックス回路１３１ｄ及びトラッキング
エラー検出部１３１ｅを介したトラッキングエラー信号
とを加算器１３１ｆで加算してトラッキングサーボ信号
とし、増幅器１３１ｇで増幅して光学ピックアップ１２
１に出力してトラッキング制御し、一方、システムコン
トローラ１３３からのサーチ制御信号と、光学ピックア
ップ１２１から増幅器１３１ｃ、マトリックス回路１３
１ｄ及びトラッキングエラー検出部１３１ｅを介したト
ラッキングエラー信号とを加算器１３１ｈで加算し、ピ
ックアップ駆動部１２２に出力するようになっている。

【００２０】さらに、フォーカスサーチ部１３１ｉから
のフォーカスサーチ信号と、光学ピックアップ１２１か
ら増幅器１３１ｃ及びマトリックス回路１３１ｄを介し
たフォーカス信号とを加算器１３１ｊで加算してフォー
カスサーボ信号とし、増幅器１３１ｋで増幅して光学ピ
ックアップ１２１に出力してフォーカス制御するように
なっている。

【００２１】処理部１３２は、光学ピックアップ１２１
からのトラッキング信号と、ピックアップ駆動部１２２
からの光学ピックアップ１２１の回転中心Ａを基準とし
た半径方向の位置信号とを信号検出部１３２ａで入力し
て半径方向の変位を検出すると共に、スピンドルモータ
１１１からのＰＧ信号を信号検出部１３２ａで入力する
ようになっている。そして、変位信号及びＰＧ信号を信
号解析部１３２ｂで入力し解析して磁気ディスク１の偏
心量及び偏心要因を求め、この磁気ディスク１の偏心量
及び偏心要因を表示部１３２ｃに表示するようになって
いる。

【００２２】このような構成において、その動作例を図
２のフローチャートで説明する。先ず、測定対象である
磁気ディスク１の基準点と回転盤１１２のＰＧ発信位置
とを一致させながら、磁気ディスク１を回転盤１１２上
に載置固定して一定周期で回転させる（ステップＳＴＰ
１、２）。尚、磁気ディスク１の基準点と回転盤１１２
のＰＧ発信位置とを一致させることができないときは、
磁気ディスク１の基準点と回転盤１１２のＰＧ発信位置
との位相差を磁気ディスク１の装着時に確認しておく。

【００２３】次に、ピックアップ駆動部１２２は、光学
ピックアップ１２１を例えば任意のデータトラックＤＴ
の位置に移動させ、そのときの位置信号を信号検出部１
３２ａへ送出する（ステップＳＴＰ４）。制御部１３１
は、光学ピックアップ１２１を例えば図４（Ａ）に示す
トラッキング条件に基づいてトラッキング制御する（ス
テップＳＴＰ５）。そして、オントラッキング時のディ
スク１周分のトラッキング信号を信号検出部１３２ａへ
送出する（ステップＳＴＰ６）。尚、このトラッキング
条件は、０次光のビームスポットを検出するフォトディ
テクタＡ、Ｂの出力差が０であって、±１次光のビーム
スポットを検出するフォトディテクタＣ、Ｄの出力差が
０となる条件である。

【００２４】また、スピンドルモータ１１１は、回転盤
１１２のＰＧ発信位置が光学ピックアップ１２１の半径
方向の移動線上に来たときに、ＰＧ信号を信号検出部１
３２ａへ送出する。信号検出部１３２ａは、光学ピック
アップ１２１からのトラッキング信号に対して２回積分
及びＦＥＴ等の処理を行い、１次成分のみの抽出を行っ
て図４に示すような半径方向の変位信号を検出する（ス
テップＳＴＰ７）。この変位信号は、光学ピックアップ
１２１により検出された偏心を含んだデータトラックＤ
Ｔの軌跡を表している。そして、信号検出部１３２ａ
は、ピックアップ駆動部１２２からの位置信号及びスピ
ンドルモータ１１１からのＰＧ信号と共に、検出した変
位信号を信号解析部１３２ｂへ送出する。

【００２５】信号解析部１３２ｂは、変位信号の最大値
と、この最大値及び最小値の平均値との差を求めて半径
方向の変位量に換算する。この換算値は、磁気ディスク
１の偏心量に相当し、回転中心ＡとデータトラックＤＴ
の中心（以下、トラック中心という）Ｔとの差δｔとな
る。また、信号解析部１３２ｂは、ＰＧ信号が現れてか
ら変位信号の最大値が現れるまでの時間も同時に検出す
る。この時間は、ＰＧ信号を基準としたときのトラック
中心Ｔが現れるまでの位相差θｔ（＝３６０・最大値出
現時間／１周期時間）となる（ステップＳＴＰ８）。

【００２６】ここで、回転中心ＡがデータトラックＤＴ
の内部に存在すれば、図５に示すように、回転中心Ａか
らデータトラックＤＴまでの距離が最小となる点Ｂと最
大となる点Ｃは必ず直線上に存在し、かつトラック中心
Ｔは回転中心ＡからデータトラックＤＴまでの距離が最
大となる点Ｃとの間に必ず存在することになる。また、
回転中心Ａとトラック中心Ｔの距離δｔは、回転中心Ａ
から点Ｃまでの距離Ｃと回転中心Ａから点Ｂまでの距離
Ｂとの差をさらに２分した値となる。

【００２７】このようにして得られる回転中心Ａとトラ
ック中心Ｔとの差δｔと、ＰＧ信号を基準としたときの
トラック中心Ｔが現れるまでの位相差θｔとから、トラ
ック中心Ｔは、図６に示すように、回転中心Ａを座標中
心（０，０）とした座標空間ＡＡ上では（Ｘｔ，Ｙｔ）
として表現することができる。ここで、回転中心Ａ
（０，０）から任意点（ｘ，ｙ）までの距離をδ、位相
差をθとすると、ｘ，ｙは数１及び数２で表される。従
って、トラック中心Ｔの座標点Ｘｔ及びＹｔも、数１及
び数２によって求めることができる。

【数１】

【数２】 以上の一連の処理を行うことにより、回転中心Ａとトラ
ック中心Ｔとの関係を求めることができる。

【００２８】次に、ピックアップ駆動部１２２は、光学
ピックアップ１２１を磁気ディスク１の内周縁の位置に
移動させ、そのときの位置信号を信号検出部１３２ａへ
送出する（ステップＳＴＰ９、１０、４）。そして、制
御部１３１は、磁気ディスク１の内周縁において、光学
ピックアップ１２１を例えば図３（Ｂ）に示すトラッキ
ング条件に基づいてトラッキング制御し（ステップＳＴ
Ｐ５、６）、上述した処理と同様の処理を行うことによ
り、磁気ディスク１の内周縁の中心（以下、内径中心と
いう）Ｎについても、回転中心Ａと内径中心Ｎとの差δ
ｎと、ＰＧ信号を基準としたときの内径中心Ｎが現れる
までの位相差θｎとを求める（ステップＳＴＰ７、
８）。

【００２９】その後に、ピックアップ駆動部１２２は、
光学ピックアップ１２１を磁気ディスク１の外周縁の位
置に移動させ、そのときの位置信号を信号検出部１３２
ａへ送出する（ステップＳＴＰ１１、１２、４）。そし
て、制御部１３１は、磁気ディスク１の外周縁におい
て、光学ピックアップ１２１を例えば図３（Ｃ）に示す
トラッキング条件に基づいてトラッキング制御し（ステ
ップＳＴＰ５、６）、上述した処理と同様の処理を行う
ことにより、磁気ディスク１の外周縁の中心（以下、外
径中心という）Ｇについても、回転中心Ａと外径中心Ｇ
との差δｇと、ＰＧ信号を基準としたときの外径中心Ｇ
が現れるまでの位相差θｇとを求める（ステップＳＴＰ
７、８）。

【００３０】尚、これらのトラッキング条件は、０次光
のビームスポットを検出するフォトディテクタＡ、Ｂの
出力差が０であって、±１次光のビームスポットを検出
するフォトディテクタＣ、Ｄの出力和が０となる条件で
ある。そして、図６に示すように、回転中心Ａを座標中
心（０，０）とした座標空間ＡＡ上で内径中心Ｎ（Ｘ
ｎ，Ｙｎ）及び外径中心Ｇ（Ｘｇ，Ｙｇ）として表現す
ることにより、回転中心Ａとの関係のみならず、トラッ
ク中心Ｔ（Ｘｔ，Ｙｔ）との関係も求めることができ
る。

【００３１】以上の処理により得られた各中心Ｔ（Ｘ
ｔ，Ｙｔ）、Ｎ（Ｘｎ，Ｙｎ）、Ｇ（Ｘｇ，Ｙｇ）を、
回転中心Ａを座標中心（０，０）とした座標空間ＡＡか
ら外径中心Ｇ（Ｘｇ，Ｙｇ）を座標中心（０，０）とし
た座標空間ＧＧに変換する（ステップＳＴＰ１３）。こ
のように座標空間ＡＡから座標空間ＧＧに変換するの
は、磁気ディスク１に中心孔やデータトラックＤＴが無
い場合は、磁気ディスク１の外径中心が磁気ディスク１
の重心となり、磁気ディスク１の持つ本来の中心となる
からでる。ここで、外径中心Ｇ’（０，０）から任意点
（ｘ’，ｙ’）までの距離をδ、位相差をθとすると、
ｘ’，ｙ’は数３及び数４で表される。従って、トラッ
ク中心Ｔ’の座標点Ｘｔ’及びＹｔ’並びに内径中心
Ｎ’の座標点Ｘｎ’及びＹｎ’も、数３及び数４によっ
て求めることができる。

【数３】

【数４】 以上の一連の処理を行うことにより、外径中心Ｇ’
（０，０）を基準とした磁気ディスク１が持つトラック
中心Ｔ’（Ｘｔ’，Ｙｔ’）並と内径中心Ｎ’（Ｘ
ｎ’，Ｙｎ’）の本来の関係を求めることができる。

【００３２】以上の処理により得られたトラック中心
Ｔ’（Ｘｔ’，Ｙｔ’）と内径中心Ｎ’（Ｘｎ’，Ｙ
ｎ’）との距離を求めることにより、磁気ディスク１が
持つ本来の偏心量δｈ、即ち磁気ディスク１がスピンド
ル等に取り付け誤差０で装着されたときの偏心量δｈが
測定可能となる。また、トラック中心Ｔ’（Ｘｔ’，Ｙ
ｔ’）と外径中心Ｇ’（Ｘｇ’，Ｙｇ’）との距離を求
めることにより、スタンパ作成時、スタンパの金型への
取り付け時、磁気ディスク１の打ち抜き時（射出成形
時）等によって生じるスタンパ関連誤差Ｓが測定可能と
なる。さらに、内径中心Ｎ’（Ｘｎ’，Ｙｎ’）と外径
中心Ｇ’（Ｘｇ’，Ｙｇ’）との距離を求めることによ
り、磁気ディスク１の中心孔の打ち抜き時等によって生
じる磁気ディスク関連誤差Ｕが測定可能となる（ステッ
プＳＴＰ１４）。

【００３３】このとき、偏心量δｈが、ある基準値より
も小さい場合は問題無いが、その基準値よりも大きい場
合は、その偏心が何に起因しているかを解析する必要が
ある（ステップＳＴＰ１５）。ただし、偏心量δｈが基
準値よりも小さい場合であっても、誤差Ｓ及び誤差Ｕが
基準値よりも大きい場合は、その誤差が何に起因してい
るかを解析する必要がある。

【００３４】各誤差Ｓ及びＵの大きさを把握することに
より、磁気ディスク１が規格内に納まっているか否かを
判別したり、各誤差Ｓ及びＵの大きさを比較することに
より、どちらの要因がどれくらい偏心に影響を与えてい
るかを判別することができる。また、各誤差Ｓ及びＵは
数値として規格化されているため、各要因も数値として
容易に正規化することができる。例えば、各誤差Ｓ及び
Ｕの大きさを比較して、誤差Ｓの方が大きいときは、偏
心の要因はスタンパ関連の誤差が影響して発生している
ことが推測でき、逆に誤差Ｕの方が大きいときは、偏心
の要因は中心孔の打ち抜き関連の誤差が影響して発生し
ていることが推測できる。

【００３５】そして、これらの誤差Ｓ及びＵが偏心量に
与える影響は数５及び数６により正規化することができ
る。そして、数５及び数６により得られた結果と偏心量
δｈの積をとることにより、偏心量δｈに与える実質的
な誤差量を得ることができる。

【数５】

【数６】

【００３６】また、各中心Ｇ’（０，０）、Ｔ’（Ｘ
ｔ’，Ｙｔ’）、Ｎ’（Ｘｎ’，Ｙｎ’）の位置関係を
座標空間でビジュアル的に把握することができるため、
スタンパのズレの補正等のトラブルシューティングも容
易となる。さらに、同ロットの複数枚の磁気ディスク１
のトラック中心Ｔ’（Ｘｔ’，Ｙｔ’）や内径中心Ｎ’
（Ｘｎ’，Ｙｎ’）の平均値（ズレ量）や分散（バラツ
キ）等をそれぞれ求めることにより、磁気ディスク１枚
から推測される偏心の誤差要因をより明確にすることが
可能となる。さらに、それらを統計的に求めていくこと
により、射出成形機やスタンパの持つパターン成形能力
やカッターによる中心孔の打ち抜き精度等も把握するこ
とが可能となる。例えば、トラック中心Ｔ’（Ｘｔ’，
Ｙｔ’）の平均値が大きければスタンパ関連誤差が偏心
に影響を与えていることが明確になり、分散が大きけれ
ば磁気ディスク関連誤差が偏心に影響を与えていること
が明確になる。

【００３７】また、ある値以下に各中心Ｇ’（０，
０）、Ｔ’（Ｘｔ’，Ｙｔ’）、Ｎ’（Ｘｎ’，Ｙ
ｎ’）の位置ズレ誤差量や偏心誤差量等を規定したとき
に、その規定値を越える各誤差量を持つ磁気ディスク１
の発生頻度を求めることにより、歩留り等も容易に予想
可能となる。さらに、偏心量を抑えた磁気ディスク１の
製造や開発を行う際の有用なデータを蓄積することがで
きる（ステップＳＴＰ１６、１７、１８、１９）。

【００３８】尚、上述した実施形態では、情報記録ディ
スクとしてプリエンボス型の磁気ディスクの偏心の測定
について説明したが、特に限定されるものではなく、表
面に凹凸が形成されている情報記録ディスクであれば例
えば光ディスクや光磁気ディスク等の偏心の測定が可能
である。

【００３９】

【発明の効果】以上述べたように、この発明によれば、
簡単な構成によって、容易にかつ短時間で磁気ディスク
の偏心を測定することができ、磁気ディスクの検査工数
を大幅に改善することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の情報記録ディスクの偏心測定装置の
実施形態を示すブロック図。

【図２】この発明の情報記録ディスクの偏心測定方法の
実施形態を示すフロ−チャ−ト。

【図３】図１に示す偏心測定装置に用いるトラッキング
条件の一例を示す図。

【図４】図１に示す偏心測定装置における信号例を示す
波形図。

【図５】図１に示す偏心測定装置における偏心測定の一
例を示す図。

【図６】図１に示す偏心測定装置で測定した偏心の処理
例を示す図。

【図７】一般的な磁気ディスクの一例を示す平面図。

【図８】図７に示す磁気ディスクの部分拡大図。

【図９】図７に示す磁気ディスクの偏心の一例を示す
図。

【符号の説明】

１・・・磁気ディスク、１００・・・偏心測定装置、１
１０・・・回転部、１２０・・・計測部、１３０・・・
測定部、１１１・・・スピンドルモ−タ、１１２・・・
回転盤、１２１・・・光学ピックアップ、１２２・・・
ピックアップ駆動部、１３１・・・制御部、１３２・・
・処理部、１３３・・・システムコントロ−ラ、１３２
ａ・・・信号検出部、１３２ｂ・・・信号解析部、１３
２ｃ・・・表示部

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報記録領域が予め形成されている情報
   記録ディスクの偏心を測定する場合、 前記情報記録領域、前記情報記録ディスクの内周縁及び
   前記情報記録ディスクの外周縁に関する中心点の座標位
   置を、光学手段のトラッキング信号から求め、 前記各中心点の座標位置に基づいて、前記情報記録ディ
   スクの偏心を測定することを特徴とする情報記録ディス
   クの偏心測定方法。
2. 【請求項２】 情報記録領域が予め形成されている情報
   記録ディスクを載置して回転する回転部と、 前記回転部の上方に配置され、前記情報記録ディスクに
   対してトラッキング可能な計測部と、 前記回転部及び計測部を駆動制御する制御部と、 前記制御部による前記回転部及び計測部の駆動制御によ
   り、前記情報記録領域、前記情報記録ディスクの内周縁
   及び前記情報記録ディスクの外周縁に関する中心点の座
   標位置を、前記計測部のトラッキング信号から求め、前
   記各中心点の座標位置に基づいて、前記情報記録ディス
   クの偏心を測定する処理部とを備えたことを特徴とする
   情報記録ディスクの偏心測定装置。