JPH11144468A - アドレス遷移検出回路 - Google Patents

アドレス遷移検出回路

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JPH11144468A
JPH11144468A JP9306912A JP30691297A JPH11144468A JP H11144468 A JPH11144468 A JP H11144468A JP 9306912 A JP9306912 A JP 9306912A JP 30691297 A JP30691297 A JP 30691297A JP H11144468 A JPH11144468 A JP H11144468A
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JP
Japan
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circuit
pulse
detection circuit
transition
pulse width
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9306912A
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English (en)
Inventor
Masaya Satou
賢哉 佐藤
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JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
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Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp filed Critical Kawasaki Steel Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】アドレス信号として、短いパルス幅を持つパル
スが入力された場合であっても、メモリの誤動作を防止
することができるアドレス遷移検出回路を提供するこ
と。 【解決手段】各々のアドレス信号に1対1に対応して設
けられる第1の検出回路によって、各々のアドレス信号
の遷移を検出して所定のパルス幅を持つパルスを出力
し、論理和回路によって、全ての第1の検出回路から出
力されるパルスの論理和を算出し、第2の検出回路によ
って、論理和回路の出力信号の遷移を検出して第1の検
出回路から出力されるパルスのパルス幅以上のパルス幅
を持つパルスを出力するようにしたことにより、上記課
題を解決する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、メモリに入力され
るアドレス信号の遷移を検出するアドレス遷移検出回路
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】アドレス遷移検出回路(以下、ATD回
路という)は、メモリに入力されるアドレス信号の遷移
を検出して、所定のパルス幅を持つパルスを発生するも
のである。このATD回路は、例えばアドレス信号の遷
移が検出されてから、ATD回路によって発生されるパ
ルスのパルス幅に応じて、所定の一定時間だけメモリに
電力を供給するように制御することにより、メモリの消
費電力を削減する等の用途に用いられている。
【0003】以下、従来のATD回路およびその問題点
について説明する。図3は、従来のATD回路の一例の
構成回路図である。同図に示すように、従来のATD回
路20は、各々のアドレス信号に1対1に対応して設け
られ、各々のアドレス信号の遷移を検出する検出回路1
2、および、これら全ての検出回路12の出力信号の論
理和を算出する、すなわち、アドレス信号全体としての
遷移を検出するORゲート14を有する。
【0004】図示例のATD回路20において、検出回
路12は、遅延回路16およびEXORゲート18を有
する。アドレス信号Aは、遅延回路16およびEXOR
ゲート18の一方の入力端子に入力され、EXORゲー
ト18の他方の入力端子には、遅延回路16の出力信号
Bが入力されている。また、検出回路12の出力信号は
全てORゲート14に入力され、ORゲート14の出力
信号は、このATD回路20の出力信号Cとして出力さ
れている。
【0005】ここで、図4に、ATD回路の動作を表す
一例のタイミングチャートを示す。同図(a)は通常動
作、例えばアドレス信号Aがローレベルからハイレベル
に遷移した場合、同図(b)は異常動作、例えばグリッ
チのように、アドレス信号Aとして、遅延回路16の遅
延時間以下のパルス幅を持つハイレベルのパルスが入力
された場合の、アドレス信号A、遅延回路16の出力信
号BおよびこのATD回路20の出力信号Cの波形を示
すものである。
【0006】まず、図4(a)に示すように、ATD回
路20の通常動作の場合、アドレス信号Aは、遅延回路
16によって所定の一定時間遅延され、EXORゲート
18によって、アドレス信号Aと遅延回路16の出力信
号Bとの不一致が検出される。EXORゲート18から
は、遅延回路16の遅延時間に相当するパルス幅を持つ
ハイレベルのパルスが出力され、この出力信号は、OR
ゲート14を介して、このATD回路20の出力信号C
として出力される。
【0007】これに対して、異常動作の場合、すなわ
ち、アドレス信号Aとして、遅延回路16の遅延時間以
下のパルス幅を持つパルスが入力された場合、図4
(b)に示すように、アドレス信号Aおよび遅延回路1
6の出力信号Bは、各々ハイレベルが重なり合うことが
なく、ORゲート14からは、遅延回路16の遅延時間
に相当する時間間隔離れて、入力されたパルスのパルス
幅に等しいパルス幅を持つ2つのハイレベルの連続的し
たパルスが出力される。
【0008】このように、従来のATD回路20におい
ては、例えばグリッチのように、アドレス信号として、
遅延回路16の遅延時間以下のパルス幅を持つ短いパル
スが入力された場合、パルス幅の短い不完全なパルスが
出力されてしまう。このため、従来のATD回路20を
用いるメモリにおいては、メモリへのアクセスが終了す
る前にメモリに対して電源が供給されなくなり、メモリ
が誤動作する場合があるという問題点があった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
従来技術に基づく問題点をかえりみて、アドレス信号と
して、短いパルス幅を持つパルスが入力された場合であ
っても、メモリの誤動作を防止することができるアドレ
ス遷移検出回路を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、各々のアドレス信号に1対1に対応して
設けられ、前記各々のアドレス信号の遷移を検出して所
定のパルス幅を持つパルスを出力する第1の検出回路
と、これら全ての第1の検出回路から出力されるパルス
の論理和を算出する論理和回路と、この論理和回路の出
力信号の遷移を検出して前記第1の検出回路から出力さ
れるパルスのパルス幅以上のパルス幅を持つパルスを出
力する第2の検出回路とを有することを特徴とするアド
レス遷移検出回路を提供するものである。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に、添付の図面に示す好適実
施例に基づいて、本発明のアドレス遷移検出回路を詳細
に説明する。図1は、本発明のアドレス遷移検出回路の
一実施例の構成回路図である。図示例のアドレス遷移検
出回路(以下、ATD回路という)10は、アドレス信
号の遷移を検出して所定のパルス幅を持つパルスを出力
するもので、基本的に、検出回路12a、ORゲート1
4および検出回路12bを有する。
【0012】ATD回路10において、検出回路12a
は、各々のアドレス信号の遷移を検出して所定のパルス
幅を持つパルスを出力するもので、各々のアドレス信号
に1対1に対応して設けられている。各々の検出回路1
2aは、遅延回路16およびEXORゲート18を有す
る。各々のアドレス信号Aは、遅延回路16およびEX
ORゲート18の一方の入力端子に入力され、EXOR
ゲート18の他方の入力端子には、遅延回路16の出力
信号Bが入力される。
【0013】遅延回路16は、アドレス信号を所定の一
定時間遅延し、EXORゲート18は、アドレス信号A
と遅延回路16の出力信号Bとの不一致を検出する。す
なわち、検出回路12aでは、アドレス信号Aの遷移が
検出されない場合、EXORゲート18の出力信号はロ
ーレベルに保持され、これに対して、アドレス信号Aの
遷移が検出された場合、EXORゲート18からは、遅
延回路16の遅延時間に相当するハイレベルのパルスが
出力される。
【0014】検出回路12aの出力信号は全てORゲー
ト14に入力され、ORゲート14の出力信号Cは検出
回路12bに入力される。ORゲート14は、全ての検
出回路12aの出力信号の論理和を算出する。すなわ
ち、検出回路12aによって、少なくとも1つのアドレ
ス信号の遷移が検出された場合、ORゲート14から
は、遅延回路16の遅延時間に相当するパルス幅を持つ
ハイレベルのパルスが出力される。
【0015】検出回路12bは、ORゲート14の出力
信号Cの遷移を検出し、検出回路12aから出力される
パルスのパルス幅以上のパルス幅を持つパルスを出力す
る。ORゲート14からハイレベルのパルスが出力され
た場合、検出回路12bからは、検出回路12aの遅延
回路16の遅延時間以上のパルス幅を持つハイレベルの
パルスが出力される。また、検出回路12bの出力信号
は、このATD回路10の出力信号C’として出力され
る。
【0016】なお、同図においては、検出回路12bの
具体的な回路構成の図示を省略しているが、検出回路1
2bとしては、検出回路12aと同じ構成のものを用い
てもよい。この場合、検出回路12a,12bの遅延回
路16の遅延時間は同じとし、検出回路12aによって
アドレス信号の遷移が検出された場合、検出回路12b
からは、遅延回路16の遅延時間の2倍の時間に相当す
るパルス幅を持つハイレベルのパルスが出力される。
【0017】また、図示例のように、検出回路12b
が、ORゲート14から出力されるハイレベルのパルス
を検出するものである場合、検出回路12bとして、例
えばEXORゲート18の代わりにORゲートを用い、
ORゲート14の出力信号Cと検出回路12bの遅延回
路の出力信号との論理和を算出するようにしてもよい。
この場合、検出回路12a,12bの遅延回路16の遅
延時間は同じでもよいし、違う遅延時間としてもよい。
【0018】ATD回路10においては、各々の検出回
路12aによって、アドレス信号1本毎の遷移が各々検
出され、ORゲート14によって、各々のアドレス信号
の遷移の検出信号の論理和が算出されて、アドレス信号
全体としての遷移が検出される。その後、検出回路12
bによって、ORゲート14の遷移、すなわち、アドレ
ス信号全体としての遷移の検出信号の遷移が検出され、
この検出信号がATD回路10の出力信号C’として出
力される。
【0019】なお、本発明のATD回路10は、図示例
の回路構成のものに限定されず、例えば遅延回路16、
EXORゲート18、ORゲート14の出力信号の極性
を反転させたり、これに応じて回路を変更する等適宜回
路変更が可能なことはもちろんである。ORゲート14
の出力信号の極性を反転し、ローレベルのパルスが出力
されるようにした場合、検出回路12bとして、EXO
Rゲート18の代わりにANDゲートを用いるようにし
てもよい。
【0020】また、本発明において、例えば検出回路1
2bとして、検出回路12aと同じ構成のものを用いる
場合、ATD回路10の出力信号C’としては、図3に
示す従来のATD回路20の出力信号Cの2倍のパルス
幅を持つパルスが出力されることは既に述べた通りであ
るが、本発明のATD回路10では、検出回路12a,
12bの遅延回路16の遅延時間を変更することによ
り、ATD回路10の出力信号C’のパルス幅を適宜調
整することができる。
【0021】本発明のアドレス遷移検出回路10は、基
本的に以上のようなものである。次に、図2に示すタイ
ミングチャートを参照しながら、本発明のアドレス遷移
検出回路10および図3に示す従来のアドレス遷移検出
回路20の動作の違いについて説明する。図2(a),
(b),(c)および(d)は、ともに本発明および従
来のアドレス遷移検出回路の動作を表す一実施例のタイ
ミングチャートである。
【0022】ここで、同図(a)および(b)は、アド
レス信号として、例えばグリッチのように、比較的短い
ハイレベルのパルスが入力された場合、同図(c)は、
遅延回路16の遅延時間以下の比較的長いパルス幅を持
つハイレベルのパルスが入力された場合、同図(d)
は、アドレス信号がローレベルからハイレベルに遷移し
た場合のアドレス信号A、図3に示す従来のATD回路
20の出力信号C、および、本発明のATD回路10の
出力信号C’を示すものである。
【0023】まず、図2(a)に示すように、アドレス
信号Aとして比較的短いパルスが入力された場合、本発
明のATD回路10の出力信号C’、および、従来のA
TD回路20の出力信号Cは、いずれもローレベルの状
態を保持する。これは、本発明のATD回路10の場
合、入力されたパルスが、検出回路12a、ORゲート
14、検出回路12bを伝搬する過程でアナログ的に取
り除かれてしまうためである。このため、いずれの場合
もメモリは正常に動作する。
【0024】続いて、図2(b)に示すように、アドレ
ス信号Aとして、図2(a)に示すパルスのパルス幅よ
りも多少長いパルス幅を持つハイレベルのパルスが入力
された場合、従来のATD回路20においては、入力さ
れたパルスが、検出回路12およびORゲート14を伝
搬する過程でアナログ的に取り除かれず、出力信号Cと
して、パルス幅の短い不完全なパルスが出力されるた
め、メモリが誤動作する危険性がある。
【0025】これに対し、本発明のATD回路10にお
いて、従来のATD回路20の出力信号に相当するOR
ゲート14の出力信号Cには、上述するパルス幅の短い
不完全なハイレベルのパルスが発生するが、このパルス
は検出回路12bを伝搬する過程でアナログ的に取り除
かれてしまうため、図2(b)に示すように、ATD回
路10の出力信号C’がローレベルの状態に保持され
る。このため、メモリの誤動作を防止することができ
る。
【0026】続いて、図2(c)に示すように、遅延回
路16の遅延時間以下のパルス幅を持つ比較的長いハイ
レベルのパルスが入力された場合、従来のATD回路2
0においては、ORゲート14から、遅延回路16の遅
延時間に相当する時間間隔離れて、アドレス信号Aとし
て入力されたパルスのパルス幅に等しいパルス幅を持つ
2つのハイレベルの連続的したパルスが出力される。こ
のため、メモリは誤動作する危険性がある。
【0027】これに対し、本発明のATD回路10にお
いて、従来のATD回路20の出力信号に相当するOR
ゲート14の出力信号Cには、上述するように、遅延回
路16の遅延時間以下の短い2つの連続したパルスが発
生するが、このパルスは、検出回路12bによってパル
ス幅が引き延ばされ、ATD回路10の出力信号C’と
しては、遅延回路16の遅延時間よりも長いパルス幅を
持つパルスが出力される。このため、メモリの誤動作を
防止することができる。
【0028】また、図2(d)に示すように、アドレス
信号Aがローレベルからハイレベルに遷移した場合、す
なわち、アドレス信号Aとして、遅延回路16の遅延時
間よりも長いパルス幅を持つパルスが入力された場合、
本発明のATD回路10の出力信号C’、および、従来
のATD回路20の出力信号Cとしては、いずれも遅延
回路16の遅延時間に相当するパルス幅を持つハイレベ
ルのパルスが出力される。このため、いずれの場合もメ
モリは正常に動作する。
【0029】このように、本発明のATD回路10にお
いては、ORゲート14の出力信号Cの遷移をさらに検
出回路12bによって検出するようにしたため、遅延回
路16の遅延時間以下のパルス幅を持つパルスが入力さ
れた場合、検出回路12bによって、例えばグリッチの
ような比較的短いパルスはアナログ的に取り除かれ、こ
れに対して、アナログ的に取り除くことができない比較
的長いパルスは、そのパルス幅が遅延回路16の遅延時
間以上のパルス幅に引き延ばされる。
【0030】従って、本発明のATD回路10によれ
ば、メモリへのアクセスが終了する前にメモリに対して
電源が供給されなくなるということがなく、メモリの誤
動作を防止することができる。以上、本発明のアドレス
遷移検出回路について詳細に説明したが、本発明は上記
実施例に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲に
おいて、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんで
ある。
【0031】
【発明の効果】以上詳細に説明した様に、本発明のアド
レス遷移検出回路は、各々のアドレス信号に1対1に対
応して設けられる第1の検出回路によって、各々のアド
レス信号の遷移を検出して所定のパルス幅を持つパルス
を出力し、論理和回路によって、全ての第1の検出回路
から出力されるパルスの論理和を算出し、第2の検出回
路によって、論理和回路の出力信号の遷移を検出して第
1の検出回路から出力されるパルスのパルス幅以上のパ
ルス幅を持つパルスを出力するようにしたものである。
これにより、本発明のアドレス遷移検出回路において
は、アドレス信号として、比較的短いパルス幅を持つパ
ルスが入力された場合であっても、例えばグリッチのよ
うな比較的短いパルスはアナログ的に取り除かれ、アナ
ログ的に取り除くことができない比較的長いパルスは、
そのパルス幅が引き延ばされるため、メモリへのアクセ
スが終了する前にメモリに対して電源が供給されなくな
るということがなく、メモリの誤動作を防止することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明のアドレス遷移検出回路の一実施例の
構成回路図である。
【図2】 (a),(b),(c)および(d)は、と
もに本発明および従来のアドレス遷移検出回路の動作を
表す一実施例のタイミングチャートである。
【図3】 従来のアドレス遷移検出回路の一例の構成回
路図である。
【図4】 (a)および(b)は、ともに従来のアドレ
ス遷移検出回路の動作を表す一例のタイミングチャート
である。
【符号の説明】
10,20 アドレス遷移検出回路 12,12a,12b 検出回路 14 ORゲート 16 遅延回路 18 EXORゲート

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】各々のアドレス信号に1対1に対応して設
    けられ、前記各々のアドレス信号の遷移を検出して所定
    のパルス幅を持つパルスを出力する第1の検出回路と、
    これら全ての第1の検出回路から出力されるパルスの論
    理和を算出する論理和回路と、この論理和回路の出力信
    号の遷移を検出して前記第1の検出回路から出力される
    パルスのパルス幅以上のパルス幅を持つパルスを出力す
    る第2の検出回路とを有することを特徴とするアドレス
    遷移検出回路。
JP9306912A 1997-11-10 1997-11-10 アドレス遷移検出回路 Withdrawn JPH11144468A (ja)

Priority Applications (1)

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JP9306912A JPH11144468A (ja) 1997-11-10 1997-11-10 アドレス遷移検出回路

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JP9306912A JPH11144468A (ja) 1997-11-10 1997-11-10 アドレス遷移検出回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102426851A (zh) * 2011-11-25 2012-04-25 中国科学院微电子研究所 读取时序产生电路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102426851A (zh) * 2011-11-25 2012-04-25 中国科学院微电子研究所 读取时序产生电路

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Legal Events

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Effective date: 20050201