JPH1121665A - 成膜装置およびそのターゲットの交換方法 - Google Patents

成膜装置およびそのターゲットの交換方法

Info

Publication number
JPH1121665A
JPH1121665A JP9177045A JP17704597A JPH1121665A JP H1121665 A JPH1121665 A JP H1121665A JP 9177045 A JP9177045 A JP 9177045A JP 17704597 A JP17704597 A JP 17704597A JP H1121665 A JPH1121665 A JP H1121665A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cathode
target
film forming
reaction chamber
insulating member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9177045A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1121665A5 (ja
JP3996977B2 (ja
Inventor
Takashi Sueyoshi
貴志 末吉
Kentaro Shingo
健太郎 新郷
Hatsuhiko Shibazaki
初彦 柴崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP17704597A priority Critical patent/JP3996977B2/ja
Publication of JPH1121665A publication Critical patent/JPH1121665A/ja
Publication of JPH1121665A5 publication Critical patent/JPH1121665A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3996977B2 publication Critical patent/JP3996977B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ターゲットを有するカソードが固定ボルトなど
を用いない簡単な手段で電流導入用プレートに対し電気
的接続状態で固定された構成を有する成膜装置およびそ
のターゲットを迅速に交換できる交換方法の提供。 【解決手段】真空チャンバー1内部の成膜反応室1aの
内部にリング状の絶縁部材22を固定する。スパッタリ
ング材料のターゲット11を有するカソード6を、ター
ゲット11を成膜対象の基板12に対向するよう位置さ
せて絶縁部材22上に載置する。成膜反応室1aに出入
り可能に設置した電流導入用プレート9を、カソード6
に対し密着状態に接触させて電気的に接続し、カソード
6を絶縁部材22と電流導入用プレート9とにより挟持
固定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スパッタリング材
料のターゲットから放出されるスパッタ粒子によって基
板の表面に薄膜を生成する成膜装置およびそのターゲッ
トの交換方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の従来の成膜装置は、一般に図6
に示すような構成になっている。すなわち、真空チャン
バー1内部の成膜反応室1aには、マスフローコントロ
ーラ4からガス導入管7を通じて反応ガス、例えばアル
ゴンガスが導入されるとともに、真空排気パイプ2を介
して成膜反応室1aに接続された真空排気ポンプ3が駆
動することにより、成膜反応室1a内が所定の圧力に調
圧される。この反応ガス雰囲気の成膜反応室1a内にお
いて、電源部8から電流導入用プレート9およびバッキ
ングプレート10を通じてスパッタリング材料のターゲ
ット11に電圧を印加することより、例えばアルゴンプ
ラズマが生成し、高いエネルギーを有するイオンをター
ゲット11に入射させることにより、このターゲット1
1からスパッタ粒子を弾き出し、そのスパッタ粒子を、
例えばガラス基板などからなる成膜対象の基板12に堆
積させることにより、基板12の表面に薄膜が形成され
ていく。
【0003】ターゲット11をバッキングプレート10
の下面に保持してなるカソード6は、バッキングプレー
ト10の上面を電流導入用プレート9に密着状態に重ね
合わせて、複数の固定用ボルト14により電流導入用プ
レート9に固定されている。
【0004】さらに、電流導入用プレート9の上面中央
部には、内部に電流導入用プレート9への接続線を挿通
させた筒状の支持体17の下端が直交して固定され、こ
の支持体17の上部が真空チャンバー1の蓋体13に対
し貫通して気密に固着されていることにより、電流導入
用プレート9は、支持体17を介して蓋体13に吊り下
げ状態に取り付けられている。また、電流導入用プレー
ト9の上面には、マグネトロン方式スパッタリング用の
リング状磁石18が磁気的に結合状態に取り付けられて
いる。この磁石18から発生する磁界の作用により、プ
ラズマ密度が向上して成膜レート、つまり単位時間当た
りの成膜量が増大する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記カソード6は、タ
ーゲット11を一定期間使用した時点で交換する必要が
あり、この種の成膜装置では、稼働率の向上のために、
メンテナンス作業の他に、上記カソード6の交換のため
の作業時間を短縮することが要求されている。しかしな
がら、上記成膜装置ではカソード6の交換に際して煩雑
な作業を要して作業時間が長くなる問題がある。
【0006】すなわち、カソード6の交換に際しては、
先ず、蓋体13の真空チャンバー1に対するボルト(図
示せず)などによる固定を解除したのちに、蓋体13を
アクチエータ(図示せず)により真空チャンバー1から
引き上げ、この蓋体13に支持体17を介して吊り下げ
られている電流導入用プレート9およびカソード6を、
2点鎖線で示すように、真空チャンバー1の上方に引き
出す。このアクチエータで吊り下げられている組立体の
複数の固定用ボルト14を取り外して、ターゲット11
とバッキングプレート10とからなるカソード6を電流
導入用プレート9から取り外す。つぎに、新たなターゲ
ット11をバッキングプレート10に保持したカソード
6を、電流導入用プレート9に所定の位置決め状態に重
ね合わせ、この位置決め状態を保持しながら複数の固定
用ボルト14を締め付けることにより、バッキングプレ
ート10を電流導入用プレート9に固定する手順で行わ
れる。
【0007】したがって、上記のカソード6の交換方法
では、固定用ボルト14の取り外しおよび取り付け作業
やバッキングプレート10の位置決めなどの煩雑な作業
を必要とし、比較的多くの作業時間を要する。しかも、
ターゲット11が磁性体である場合、カソード6は、磁
石18の磁気吸引力の作用を受けることから、固定用ボ
ルト14を取り外しただけでは電流導入用プレート9か
ら取り外すのが困難であり、さらに、煩雑な作業が増え
る。
【0008】そこで本発明は、上述の問題点を解消し、
ターゲットを有するカソードが固定ボルトなどを用いな
い簡単な手段で電流導入用プレートに対し電気的接続状
態で固定された構成を有する成膜装置およびそのターゲ
ットを迅速に交換できる交換方法を提供することを目的
とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の成膜装置は、内部に成膜反応室を有する真
空チャンバーと、前記成膜反応室の内部に固定されたリ
ング状の絶縁部材と、スパッタリング材料のターゲット
を有し、成膜対象の基板に前記ターゲットを対向させて
前記絶縁部材に載置されたカソードと、前記カソードに
対し密着状態に接触して電気的に接続され、前記成膜反
応室に出入り可能に設置された電流導入用プレートとを
備えて構成されている。
【0010】この成膜装置は、カソードのターゲットに
電流導入用プレートを通じて電圧を印加することによ
り、プラズマが生成され、それによりターゲットから弾
き出されたスパッタ粒子が成膜対象の基板に堆積し、基
板の表面に薄膜が形成される。
【0011】この成膜装置では、ターゲットを有するカ
ソードが、絶縁部材上に載置されて、この絶縁部材と電
流導入用プレートとによる挟持固定により支持された構
成になっているから、ターゲットの交換に際しては、電
流導入用プレートを真空チャンバーの外部に引き出せ
ば、成膜反応室内においてに絶縁部材上に載置されて残
っているカソードを手作業などにより新たな物と容易に
交換することができる。そのため、従来装置においてカ
ソードを電流導入用プレートに固定していた固定用ボル
トの取り外しおよび取り付けの作業が不要となり、ター
ゲットの交換のための作業時間を大幅に短縮することが
できる。
【0012】上記発明において、電流導入用プレートに
対し接離自在に接触して磁気的に結合されたマグネトロ
ン方式スパッタリング用磁石を備えた構成とすることが
できる。
【0013】これにより、磁石の発生する磁界でプラズ
マを閉じ込めるマグネトロン方式のスパッタリングを行
え、プラズマ密度を向上させて成膜レートの増大を図れ
る。この成膜装置では、磁石を備えているが、この磁石
が電流導入用プレートに対し離間可能に設けられている
から、ターゲットが磁性体である場合には、先ず磁石を
電流導入用プレートから離間させておくことにより、電
流導入用プレートをカソードから容易に離間させること
ができ、成膜反応室内において絶縁部材上に載置されて
残っているターゲットを手作業などにより新たな物と容
易に交換することができる。
【0014】本発明の成膜装置のターゲットの交換方法
は、非磁性体の使用済みターゲットを有するカソードか
ら電流導入用プレートを離して成膜反応室の外部に引き
出す工程と、前記成膜反応室内の絶縁部材に載置されて
いる前記カソードを前記成膜反応室の外部に取り出す工
程と、新たなターゲットを有するカソードを前記絶縁部
材上に載置する工程と、前記電流導入用プレートを前記
カソードに密着状態に接触させる工程とを有している。
【0015】これにより、ターゲットを有するカソード
の交換を容易に、且つ迅速に行うことができる。
【0016】本発明の成膜装置のターゲットの他の交換
方法は、磁石を電流導入用プレートから離間させる工程
と、磁性体の使用済みターゲットを有するカソードから
前記電流導入用プレートを離して成膜反応室の外部に引
き出す工程と、前記成膜反応室内の絶縁部材に載置され
ているカソードを前記成膜反応室の外部に取り出す工程
と、新たなターゲットを有するカソードを前記絶縁部材
上に載置する工程と、前記電流導入用プレートを前記タ
ーゲットに密着状態に接触させる工程と、前記磁石を前
記電流導入用プレートに接触させる工程とを有してい
る。
【0017】これにより、磁性体のターゲットであって
も、このターゲットを有するカソードの交換を容易に、
且つ迅速に行うことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について図面を参照しながら説明する。図1は本発明
の一実施の形態に係る成膜装置を示す概略縦断面図で、
同図において、図6と同一若しくは同等のものには同一
の符号を付してある。この成膜装置が図6の装置と相違
するのは、バッキングプレート10にターゲット11を
保持したカソード6の支持構造のみであが、その他の構
成について補足説明すると、成膜対象の基板12は、基
板ホルダー19に取り付けられて成膜反応室1a内に設
置され、一般に移動可能になっている基板ホルダー19
によってスパッタリング材料である平板状のターゲット
11に対向するよう位置決めされる。
【0019】この実施の形態では、非磁性体のターゲッ
ト11を用いる場合を例示してある。真空チャンバー1
の内周壁面には円板状のカソード支持部材20が嵌め込
み固定されており、このカソード支持部材20は、その
外径が真空チャンバー1の内径にほぼ等しく設定され、
中央部にターゲット11から放出されるスパッタ粒子を
通過させるための開口部21が設けられている。また、
カソード支持部材20の取付高さは、基板12に対して
ターゲット11を最も適切な離間距離で保持できる位置
に設定されている。
【0020】カソード支持部材20における開口部21
の周縁部上面には、図3に示すように、リング形状とな
った絶縁部材22が載置固定されている。この絶縁部材
22は、図3に明示するように、バッキングプレート1
0の径とほぼ等しい外径を有し、且つ内径がターゲット
11を隙間を存して挿入させることのできる値に設定さ
れている。カソード6は、ターゲット11を絶縁部材2
2の内部に挿入させてバッキングプレート10を絶縁部
材22上に載置して設置される。また、バッキングプレ
ート10は、従来装置のように固定用ボルト14により
電流導入用プレート9に接合されずに、電流導入用プレ
ート9が電気的接続状態に上方から密着されているだけ
である。すなわち、蓋体13が真空チャンバー1に対し
気密状態に連結されて施蓋した状態では、電流導入用プ
レート9が蓋体13により支持体17を介してバッキン
グプレート10に押し付けられるようになっている。そ
れにより、カソード6は、絶縁部材22と電流導入用プ
レート9とにより挟持固定されている。
【0021】つぎに、上記成膜装置における成膜動作に
ついて簡単に説明する。真空チャンバー1内部の成膜反
応室1aには、マスフローコントローラ4からガス導入
管7を通じて反応ガス、例えばアルゴンガスが導入され
るとともに、真空排気パイプ2を通じて成膜反応室1a
に接続された真空排気ポンプ3が駆動されることによ
り、成膜反応室1a内が所定の圧力に調圧される。この
反応ガス雰囲気の成膜反応室1a内において、電源部8
から電流導入用プレート9およびバッキングプレート1
0を通じてスパッタリング材料のターゲット11に電圧
を印加することより、例えばアルゴンプラズマが生成さ
れ、高いエネルギーを有するイオンをターゲット11に
入射させることにより、このターゲット11からスパッ
タ粒子を弾き出され、そのスパッタ粒子を成膜対象の基
板12に堆積させることにより、基板12の表面に薄膜
が形成されていく。上記のスパッタリングは、磁石18
から発生する磁界でプラズマを閉じ込めるマグネトロン
方式のスパッタリングであり、プラズマ密度を向上させ
て成膜レートの増大を図れる。
【0022】続いて、上記成膜装置に備えているターゲ
ット11の交換方法について、図2を参照しながら説明
する。ターゲーット11の交換に際して、先ず、真空チ
ャンバー1内に窒素を導入して成膜反応室1aを大気圧
とする。これにより、つぎの蓋体13を真空チャンバー
1から取り外す作業を容易に行えるようになる。つぎ
に、蓋体13の真空チャンバー1に対するボルトなどに
よる固定を解除したのちに、蓋体13をアクチエータに
より引き上げて、図2に示すように、蓋体13に支持体
17を介して吊り下げている電流導入用プレート9を真
空チャンバー1の上方に引き出す。このとき、カソード
6は、ターゲット11が非磁性体であって磁石18の磁
気吸引力の作用を受けないから、電流導入用プレート9
はバッキングプレート10から円滑に離れる。このと
き、成膜反応室1aには、使用済みのターゲット11と
これを保持するバッキングプレート10からなるカソー
ド6が絶縁部材22上に載置された状態で残存する。
【0023】図2に示すように、電流導入用プレート9
が成膜反応室1aの外部に引き出された状態において、
蓋体13を保持するアクチエータが水平軸回りに約90
°回動する。それにより、電流導入用プレート9は真空
チャンバー1の上方位置から側方へ待避され、つぎの作
業を容易に行える状態となる。続いて、作業員は、成膜
反応室1aに残存するカソード6を手作業により取り出
して、別途用意していた新たなターゲット11を有する
カソード6を、2点鎖線矢印で示すように絶縁部材22
上に載置する。
【0024】つぎに、アクチエータは、上述とは反対方
向に90°回動したのちに下降して、電流導入用プレー
ト9をバッキングプレート10に接触させ、さらに、下
降して蓋体13を真空チャンバー1の開口に対し密閉す
る状態に押し付ける。このとき、電流導入用プレート9
はバッキングプレート10に対し密着するよう押し付け
られる。この状態において、ボルトなどの固定手段によ
り蓋体13が真空チャンバー1に固定されると、カソー
ド6が絶縁部材22と電流導入用プレート9とにより挟
持固定され、ターゲット11の交換が終了する。
【0025】上記のターゲット11の交換方法では、蓋
体13を引き上げることにより、電流導入用プレート9
が蓋体13と一体となってカソード6のバッキングプレ
ート10から離れるから、絶縁部材22上に載置されて
残っているカソード6を手作業によりそのまま新たな物
と交換するだけである。したがって、従来のような固定
用ボルトの取り外しおよび取り付けの作業が不要とな
り、ターゲット11の交換のための作業時間を大幅に短
縮することができる。
【0026】図4は本発明の他の実施の形態に係る成膜
装置を示す概略縦断面図で、同図において、図1と同一
若しくは同等のものには同一の符号を付してその説明を
省略する。この実施の形態では、ターゲット11として
磁性体のものを用いる場合を例示してあり、それに伴っ
て、磁性体のターゲット11に対し磁気吸引力を作用さ
せる磁石18は、図1のように電流導入用プレート9に
固着されずに、その下面を電流導入用プレート9に押し
付けられているだけである。さらに、磁石18は、スラ
イド軸受23を介して蓋体13に気密状態を保持しなが
ら上下動自在に取り付けられた可動杆24の下端に固着
されている。したがって、磁石18は、真空チャンバー
1の外部から可動杆24を操作することにより、可動杆
24と一体に支持体17に沿って上下動される。なお、
この成膜装置おける成膜動作は、図1の装置と同様であ
るので、その説明を省略する。
【0027】つぎに、上記成膜装置に備えているターゲ
ット11の交換方法について、図5を参照しながら説明
する。ターゲーット11の交換に際して、先ず、真空チ
ャンバー1内に窒素を導入して成膜反応室1aを大気圧
とするとともに、真空チャンバー1の外部において、可
動杆24の上端部を把持して図5に矢印で示すように引
き上げ、磁石18を、電流導入用プレート9から離間さ
せて、磁性体のターゲット11に対し磁気吸引力が作用
しない位置まで引き上げる。続いて、蓋体13の真空チ
ャンバー1に対するボルトなどによる固定を解除したの
ちに、蓋体13をアクチエータにより引き上げて、図5
に示すように、蓋体13に支持体17を介して吊り下げ
ている電流導入用プレート9を真空チャンバー1の上方
に引き出す。このとき、上述のように磁石18が予めタ
ーゲット11に対し磁気吸引力が作用しない位置に離間
されているから、電流導入用プレート9はバッキングプ
レート10から円滑に離れる。
【0028】成膜反応室1aには、使用済みのターゲッ
ト11とこれを保持するバッキングプレート10からな
るカソード6が絶縁部材22上に載置された状態で残存
しているので、このカソード6を、上述と同様にして新
たなターゲット11を備えたカソード6と交換する。そ
ののちに、アクチエータの作動により電流導入用プレー
ト9をバッキングプレート10に密着状態に押し付け、
蓋体13を真空チャンバー1に固定したのちに、可動杆
24を真空チャンバー1の外部から操作して押し下げ、
磁石18を電流導入用プレート9に接触させると、ター
ゲット11の交換が終了する。このターゲット11の交
換方法では、ターゲット11が磁性体で、且つ磁石18
を備えた構成においても、ターゲット11を容易に、且
つ迅速に交換することができる。
【0029】
【発明の効果】以上のように、本発明の成膜装置によれ
ば、ターゲットを有するカソードを、真空チャンバーの
成膜反応室の内壁面に取り付けた絶縁部材上に載置し
て、この絶縁部材と電流導入用プレートとにより挟持固
定して支持する構成としたので、ターゲットの交換に際
しては、電流導入用プレートを真空チャンバーの外部に
引き出せば、成膜反応室内においてに絶縁部材上に載置
されて残っているカソードを手作業などにより新たな物
と容易に交換することができ、固定用ボルトの取り外し
および取り付けなどの作業が不要となることから、ター
ゲットの交換のための作業時間を大幅に短縮することが
できる。
【0030】本発明の成膜装置のターゲットの交換方法
によれば、ターゲットが非磁性体または磁性体のいずれ
であっても、このターゲットを有するカソードの交換を
容易に、且つ迅速に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る成膜装置を示す概
略縦断面図。
【図2】同上装置におけるターゲットを交換する過程を
示す概略縦断面図。
【図3】同上装置における要部構成の分解斜視図。
【図4】本発明の他の実施の形態に係る成膜装置を示す
概略縦断面図。
【図5】同上装置におけるターゲットを交換する過程を
示す概略縦断面図。
【図6】従来の成膜装置の概略縦断面図。
【符号の説明】
1 真空チャンバー 1a 成膜反応室 6 カソード 9 電流導入プレート 11 ターゲット 12 基板 18 磁石 22 絶縁部材

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に成膜反応室を有する真空チャンバ
    ーと、 前記成膜反応室の内部に固定されたリング状の絶縁部材
    と、 スパッタリング材料のターゲットを有し、成膜対象の基
    板に前記ターゲットを対向させて前記絶縁部材に載置さ
    れたカソードと、 前記カソードに対し密着状態に接触して電気的に接続さ
    れ、前記成膜反応室に出入り可能に設置された電流導入
    用プレートとを備えてなることを特徴とする成膜装置。
  2. 【請求項2】 電流導入用プレートに対し接離自在に接
    触して磁気的に結合されたマグネトロン方式スパッタリ
    ング用磁石を備えている請求項1に記載の成膜装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の成膜装置のターゲット
    の交換方法であって、 非磁性体の使用済みターゲットを有するカソードから電
    流導入用プレートを離して成膜反応室の外部に引き出す
    工程と、 前記成膜反応室内の絶縁部材に載置されている前記カソ
    ードを前記成膜反応室の外部に取り出す工程と、 新たなターゲットを有するカソードを前記絶縁部材上に
    載置する工程と、 前記電流導入用プレートを前記カソードに密着状態に接
    触させる工程とを有することを特徴とする成膜装置のタ
    ーゲットの交換方法。
  4. 【請求項4】 請求項2に記載の成膜装置のターゲット
    の交換方法であって、 磁石を電流導入用プレートから離間させる工程と、 磁性体の使用済みターゲットを有するカソードから前記
    電流導入用プレートを離して成膜反応室の外部に引き出
    す工程と、 前記成膜反応室内の絶縁部材に載置されているカソード
    を前記成膜反応室の外部に取り出す工程と、 新たなターゲットを有するカソードを前記絶縁部材上に
    載置する工程と、 前記電流導入用プレートを前記ターゲットに密着状態に
    接触させる工程と、 前記磁石を前記電流導入用プレートに接触させる工程と
    を有することを特徴とする成膜装置のターゲットの交換
    方法。
JP17704597A 1997-07-02 1997-07-02 成膜装置およびそのターゲットの交換方法 Expired - Lifetime JP3996977B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17704597A JP3996977B2 (ja) 1997-07-02 1997-07-02 成膜装置およびそのターゲットの交換方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17704597A JP3996977B2 (ja) 1997-07-02 1997-07-02 成膜装置およびそのターゲットの交換方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPH1121665A true JPH1121665A (ja) 1999-01-26
JPH1121665A5 JPH1121665A5 (ja) 2005-05-12
JP3996977B2 JP3996977B2 (ja) 2007-10-24

Family

ID=16024183

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17704597A Expired - Lifetime JP3996977B2 (ja) 1997-07-02 1997-07-02 成膜装置およびそのターゲットの交換方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3996977B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002020862A (ja) * 2000-07-06 2002-01-23 Sony Corp スパッタリング装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002020862A (ja) * 2000-07-06 2002-01-23 Sony Corp スパッタリング装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3996977B2 (ja) 2007-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006057183A (ja) 蒸着システム用の磁気ラッチ
EP0168436A1 (en) Wafer processing machine
EP0168437A1 (en) Wafer processing machine
CN105452521A (zh) 成膜装置
JPH1121665A (ja) 成膜装置およびそのターゲットの交換方法
JP4185179B2 (ja) スパッタリング装置
JP4550959B2 (ja) 薄膜作成装置
JP4553476B2 (ja) スパッタ方法及びスパッタ装置
JP3595885B2 (ja) プラズマ処理方法及びプラズマ装置
JPH10302997A (ja) プラズマ処理装置
JP3027781B2 (ja) プラズマ処理方法
JP2018204061A (ja) スパッタリング装置
JPH0329863B2 (ja)
JPH05202467A (ja) 真空蒸着装置
JPH0220368B2 (ja)
JP2895505B2 (ja) スパッタリング成膜装置
JPH05152425A (ja) 処理装置およびスパツタリング装置
US20240167144A1 (en) Systems and methods for in-situ etching prior to physical vapor deposition in the same chamber
JP2002343265A (ja) イオン源及びフィラメントの交換方法
JPH06272036A (ja) スパッタリング装置
JPH1121665A5 (ja)
JPH05275350A (ja) 半導体製造装置
JPH06272034A (ja) スパッタリング装置
JPH11117064A (ja) スパッタリング装置
JPH0922875A (ja) 薄膜気相成長装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040702

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040702

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070419

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070710

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070806

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100810

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100810

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110810

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110810

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120810

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130810

Year of fee payment: 6

EXPY Cancellation because of completion of term