JPH11221528A - 色彩選別装置の流下樋 - Google Patents
色彩選別装置の流下樋Info
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- JPH11221528A JPH11221528A JP2468698A JP2468698A JPH11221528A JP H11221528 A JPH11221528 A JP H11221528A JP 2468698 A JP2468698 A JP 2468698A JP 2468698 A JP2468698 A JP 2468698A JP H11221528 A JPH11221528 A JP H11221528A
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- grain
- downflow
- grains
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 色彩選別装置の流下樋に関して、流下樋に落
下投入された穀粒がバウンドしながら流下するのを防止
し、穀粒の検出精度の向上を図る。 【解決手段】 穀粒が落下投入される流下樋における領
域に衝撃吸収部材を設ける。
下投入された穀粒がバウンドしながら流下するのを防止
し、穀粒の検出精度の向上を図る。 【解決手段】 穀粒が落下投入される流下樋における領
域に衝撃吸収部材を設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、穀粒を選別する
色彩選別装置に関するものである。
色彩選別装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、原料投入タンクより振動板で穀粒
を流下樋に供給し、流下樋を流下する穀粒に検査光を照
射し、その透過光量あるいは反射光量と基準色板から得
られる光量とを比較して、基準色板と異なる色と判定さ
れた穀粒を異種粒として除去する色彩選別装置は周知で
ある。
を流下樋に供給し、流下樋を流下する穀粒に検査光を照
射し、その透過光量あるいは反射光量と基準色板から得
られる光量とを比較して、基準色板と異なる色と判定さ
れた穀粒を異種粒として除去する色彩選別装置は周知で
ある。
【0003】上記のような色彩選別装置は通常、振動板
から供給された穀粒が直接流下樋に衝突して流下する
が、衝突した反動で流下樋上における穀粒は大きくバウ
ンドしながら流下してしまう。すると、バウンドが大き
いほど流下軌跡が乱れ、穀粒の光学的検出に悪影響を及
ぼしてしまうという欠点が生じていた。そこで、流下樋
内に流動規制板を設けて穀粒の流下軌跡を安定させる技
術が公開されている(特開昭55−114676号)。
から供給された穀粒が直接流下樋に衝突して流下する
が、衝突した反動で流下樋上における穀粒は大きくバウ
ンドしながら流下してしまう。すると、バウンドが大き
いほど流下軌跡が乱れ、穀粒の光学的検出に悪影響を及
ぼしてしまうという欠点が生じていた。そこで、流下樋
内に流動規制板を設けて穀粒の流下軌跡を安定させる技
術が公開されている(特開昭55−114676号)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】色彩選別機の選別作業
能率を維持し、かつ穀粒の検出精度を安定させるには、
ある一定以上の流下速度と安定した穀粒の流下姿勢を必
要とするので、流下樋上をバウンドして波形の流下軌跡
を描く穀粒を略直線上の流下軌跡にして、かつ、流下速
度を増加させるためには、流下樋をある程度の長さにす
る必要がある。
能率を維持し、かつ穀粒の検出精度を安定させるには、
ある一定以上の流下速度と安定した穀粒の流下姿勢を必
要とするので、流下樋上をバウンドして波形の流下軌跡
を描く穀粒を略直線上の流下軌跡にして、かつ、流下速
度を増加させるためには、流下樋をある程度の長さにす
る必要がある。
【0005】しかし、前述のように、流下樋内に流動規
制板を設けたものにおいては、一旦流下した穀粒を堰き
止めてから再び流下させるので、その分流下速度が遅く
なり、選別作業能率が低下してしまう。一方、前記流動
規制板を設け、かつ選別作業能率を維持するために流下
樋の全長を長くすると、その分色彩選別機全体が大きな
ものになってしまい、コストが高くなり、また、作業場
所を広く取ってしまうという問題が生じていた。
制板を設けたものにおいては、一旦流下した穀粒を堰き
止めてから再び流下させるので、その分流下速度が遅く
なり、選別作業能率が低下してしまう。一方、前記流動
規制板を設け、かつ選別作業能率を維持するために流下
樋の全長を長くすると、その分色彩選別機全体が大きな
ものになってしまい、コストが高くなり、また、作業場
所を広く取ってしまうという問題が生じていた。
【0006】本発明は、流下樋の全長を長くすることな
く、流下樋における穀粒の軌跡を安定させ、穀粒の光学
的検出の精度を安定させると共に、選別作業能率を維持
することを目的とする。
く、流下樋における穀粒の軌跡を安定させ、穀粒の光学
的検出の精度を安定させると共に、選別作業能率を維持
することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の上記課題は次の
構成によって達成される。穀粒を流下樋に供給する供給
手段と、流下樋で穀粒検出領域まで流下された穀粒に検
査光を照射する発光部と、前記検査光で照射された穀粒
からの透過光を受光する受光部と、受光部からの透過光
量あるいは反射光量から穀粒の種類を判定する穀粒判定
手段と、該穀粒判定手段で異物・異種粒等を判定すると
穀粒中の異物・異種粒等を除去する除去手段とからなる
色彩選別装置において、前記供給手段から供給された穀
粒が落下する流下樋の領域に、衝撃吸収部材を設けたこ
とを特徴とする色彩選別装置の流下樋とする。
構成によって達成される。穀粒を流下樋に供給する供給
手段と、流下樋で穀粒検出領域まで流下された穀粒に検
査光を照射する発光部と、前記検査光で照射された穀粒
からの透過光を受光する受光部と、受光部からの透過光
量あるいは反射光量から穀粒の種類を判定する穀粒判定
手段と、該穀粒判定手段で異物・異種粒等を判定すると
穀粒中の異物・異種粒等を除去する除去手段とからなる
色彩選別装置において、前記供給手段から供給された穀
粒が落下する流下樋の領域に、衝撃吸収部材を設けたこ
とを特徴とする色彩選別装置の流下樋とする。
【0008】
【発明の作用】穀粒供給手段から供給された穀粒が流下
樋の衝撃吸収部材に衝突する。すると、穀粒の衝突にお
ける衝撃が吸収され、穀粒は大きな波形の流下軌跡を描
くことなく、流下樋上を略一定の姿勢に保ちつつ、略直
線上の流下軌跡を描いて流下する。
樋の衝撃吸収部材に衝突する。すると、穀粒の衝突にお
ける衝撃が吸収され、穀粒は大きな波形の流下軌跡を描
くことなく、流下樋上を略一定の姿勢に保ちつつ、略直
線上の流下軌跡を描いて流下する。
【0009】
【発明の効果】本発明によると、早い時点で穀粒の流下
姿勢が略一定になり、流下軌跡が安定するので、穀粒の
検出精度を安定させることができる。また、流下軌跡を
安定させるために流下樋上に流動規制板を設けるものに
比べ、流下樋の全長を特に長くすることなく一定以上の
流下速度を保つことができるので、選別作業能率を維持
することができる。
姿勢が略一定になり、流下軌跡が安定するので、穀粒の
検出精度を安定させることができる。また、流下軌跡を
安定させるために流下樋上に流動規制板を設けるものに
比べ、流下樋の全長を特に長くすることなく一定以上の
流下速度を保つことができるので、選別作業能率を維持
することができる。
【0010】
【発明の実施の形態】まず、図1から図3に基づいて色
彩選別装置の全体構成を説明する。1は、原料タンクで
1次選別用の1aと、2次選別用の1bとに区切られて
いる。原料タンクの下部にはロ−タリバルブ2を配置し
ており、原料投入タンク1内に貯留されている穀粒を流
下樋3に繰り出している。流下樋3は1次選別用流路3
b、2次選別用流路3cに分かれており、それぞれ複数
の流路から形成され、ロ−タリバルブ2の下方から斜設
されている。
彩選別装置の全体構成を説明する。1は、原料タンクで
1次選別用の1aと、2次選別用の1bとに区切られて
いる。原料タンクの下部にはロ−タリバルブ2を配置し
ており、原料投入タンク1内に貯留されている穀粒を流
下樋3に繰り出している。流下樋3は1次選別用流路3
b、2次選別用流路3cに分かれており、それぞれ複数
の流路から形成され、ロ−タリバルブ2の下方から斜設
されている。
【0011】流下樋3の流下搬送排出側には、穀粒に所
定の角度から検査光を照射する発光部4(タングステン
ランプ等)と、穀粒からの透過光を受光する受光センサ
5を設けている。さらに、その下部には異種粒や異物等
を除去する穀粒除去部Zを設けており、受光センサ5と
穀粒除去部Zは図1におけるボックスHに内蔵されてい
る。
定の角度から検査光を照射する発光部4(タングステン
ランプ等)と、穀粒からの透過光を受光する受光センサ
5を設けている。さらに、その下部には異種粒や異物等
を除去する穀粒除去部Zを設けており、受光センサ5と
穀粒除去部Zは図1におけるボックスHに内蔵されてい
る。
【0012】なお、受光センサ5内には複数の受光素子
5a…からなるラインセンサカメラを内蔵し、穀粒1粒
の表面における複数箇所の透過光量を検出できるように
なっている。そして、本実施例では直径6ミリメ−トル
を穀粒検出領域5bとし、穀粒の落下軌道Fと、発光部
からの光軸4aとの交点F1が穀粒検出領域5bの中心
軸5c上になるように設定する。
5a…からなるラインセンサカメラを内蔵し、穀粒1粒
の表面における複数箇所の透過光量を検出できるように
なっている。そして、本実施例では直径6ミリメ−トル
を穀粒検出領域5bとし、穀粒の落下軌道Fと、発光部
からの光軸4aとの交点F1が穀粒検出領域5bの中心
軸5c上になるように設定する。
【0013】穀粒除去部Zはソレノイド6と除去プレ−
ト7とシャフト8等から構成されており、ソレノイド6
が作動するとシャフト8が除去プレ−ト7を押圧するこ
とで、弾性変位可能な除去プレ−ト7が穀粒の落下軌道
Fに入り込み、穀粒をはじき出せるようになっている。
さらに、除去プレ−ト7におけるシャフト8が押圧する
側の面には、ゴム等の弾性体で構成されている振動吸収
部材9が接着されている。これは、ソレノイド6が作動
し、除去プレ−ト7が弾性変位した際に発生するソレノ
イド6の軸方向への振動を吸収することでソレノイド6
の作動間隔を短くすることを可能にし、着色米の除去精
度を向上させることを可能にしている。
ト7とシャフト8等から構成されており、ソレノイド6
が作動するとシャフト8が除去プレ−ト7を押圧するこ
とで、弾性変位可能な除去プレ−ト7が穀粒の落下軌道
Fに入り込み、穀粒をはじき出せるようになっている。
さらに、除去プレ−ト7におけるシャフト8が押圧する
側の面には、ゴム等の弾性体で構成されている振動吸収
部材9が接着されている。これは、ソレノイド6が作動
し、除去プレ−ト7が弾性変位した際に発生するソレノ
イド6の軸方向への振動を吸収することでソレノイド6
の作動間隔を短くすることを可能にし、着色米の除去精
度を向上させることを可能にしている。
【0014】次に、本実施の形態における色彩選別装置
の作用を説明する。色彩選別装置の電源Dを入りにし
て、選別対象となる穀粒の組み合わせ(例えば白米と玄
米とを選別する)をボリュ−ム10にてセットすると、
原料投入タンク1に貯留されている穀粒は、ロ−タリバ
ルブ2で供給されて流下樋3で搬送され、穀粒検出領域
5bに供給される。
の作用を説明する。色彩選別装置の電源Dを入りにし
て、選別対象となる穀粒の組み合わせ(例えば白米と玄
米とを選別する)をボリュ−ム10にてセットすると、
原料投入タンク1に貯留されている穀粒は、ロ−タリバ
ルブ2で供給されて流下樋3で搬送され、穀粒検出領域
5bに供給される。
【0015】穀粒検出領域5bにおいて、穀粒は発光部
4からの検査光で照射されると、測定信号検出手段11
から制御部12に割込み入力され、受光センサ5に光量
検出指令が出される。すると、受光センサ5に対向する
穀粒1粒の表面における複数個所で穀粒からの透過光量
がそれぞれ受光素子5a…により検出される。そして、
受光素子5a…で検出された光量がそれぞれ平滑回路1
3を経た後、制御部12に内蔵されているA/D変換回
路12aで電圧値に変換され、入力インタ−フェイス1
2bを経てCPU12cに入力される。その際、穀粒1
粒の表面における複数個所の電圧値の分布状態は図6、
7のように表される。
4からの検査光で照射されると、測定信号検出手段11
から制御部12に割込み入力され、受光センサ5に光量
検出指令が出される。すると、受光センサ5に対向する
穀粒1粒の表面における複数個所で穀粒からの透過光量
がそれぞれ受光素子5a…により検出される。そして、
受光素子5a…で検出された光量がそれぞれ平滑回路1
3を経た後、制御部12に内蔵されているA/D変換回
路12aで電圧値に変換され、入力インタ−フェイス1
2bを経てCPU12cに入力される。その際、穀粒1
粒の表面における複数個所の電圧値の分布状態は図6、
7のように表される。
【0016】図6と図7における縦軸は電圧値を、横軸
は受光素子5a…の位置を表し、電圧が発生している部
分が穀粒表面であり、ここでは3種類の電圧値が示され
ているが、これは上から光の3原色であるR・G・Bそ
れぞれの電圧値である。そして、図6は白米で、図7は
玄米を表している。白米の場合には図6に示されている
ように、R・G・Bのすべてが表面全体にわたって略均
一の電圧値の分布状態が表されている。これは、白米内
部では透過光の乱反射を起こしやすく、内部が均一な明
るさになるためである。
は受光素子5a…の位置を表し、電圧が発生している部
分が穀粒表面であり、ここでは3種類の電圧値が示され
ているが、これは上から光の3原色であるR・G・Bそ
れぞれの電圧値である。そして、図6は白米で、図7は
玄米を表している。白米の場合には図6に示されている
ように、R・G・Bのすべてが表面全体にわたって略均
一の電圧値の分布状態が表されている。これは、白米内
部では透過光の乱反射を起こしやすく、内部が均一な明
るさになるためである。
【0017】一方、玄米の場合には、図7に示されてい
るように、穀粒表面場所によって検出電圧値が異なり、
略曲線上の電圧値が表されている。これは、玄米が白米
と異なり、玄米内部では透過光の乱反射を起こしにく
く、検査光の穀粒に対する照射角度によって、透過光が
多い場所と少ない場所が発生するためである。このよう
に、白米と玄米とでは穀粒表面の複数個所における電圧
値の分布状態が異なることから穀粒の判定をする。
るように、穀粒表面場所によって検出電圧値が異なり、
略曲線上の電圧値が表されている。これは、玄米が白米
と異なり、玄米内部では透過光の乱反射を起こしにく
く、検査光の穀粒に対する照射角度によって、透過光が
多い場所と少ない場所が発生するためである。このよう
に、白米と玄米とでは穀粒表面の複数個所における電圧
値の分布状態が異なることから穀粒の判定をする。
【0018】そして、穀粒の判定の方法であるが、ま
ず、図6、図7におけるR・G・Bの分布状態から、最
小2乗法より回帰直線Lを設定する(図8参照)。回帰
直線LはY=ax+b(yは電圧値・xは受光素子の位
置・aとbは定数)の式で表される。そして、電圧値の
分布状態と回帰直線Lとの間の相関関係が強いか弱いか
で穀粒の種類を判定するのだが、相関関係は決定係数を
算出することにより表される。すなわち、次のような式
で決定係数r2 r2=(Cxy/ΣxΣy)2(Σxはxの分散、Σyは
yの分散、Cxyはxとyの共分散) 算出した決定係数r2があらかじめ設定してある値以上
なら、回帰直線Lとの相関関係が強いとして白米と判定
し、設定値以下なら相関関係が弱いとして玄米と判定す
る。
ず、図6、図7におけるR・G・Bの分布状態から、最
小2乗法より回帰直線Lを設定する(図8参照)。回帰
直線LはY=ax+b(yは電圧値・xは受光素子の位
置・aとbは定数)の式で表される。そして、電圧値の
分布状態と回帰直線Lとの間の相関関係が強いか弱いか
で穀粒の種類を判定するのだが、相関関係は決定係数を
算出することにより表される。すなわち、次のような式
で決定係数r2 r2=(Cxy/ΣxΣy)2(Σxはxの分散、Σyは
yの分散、Cxyはxとyの共分散) 算出した決定係数r2があらかじめ設定してある値以上
なら、回帰直線Lとの相関関係が強いとして白米と判定
し、設定値以下なら相関関係が弱いとして玄米と判定す
る。
【0019】なお、本実施例では3種類の光R・G・B
の透過光量を測定しているが、その内の1種類の光のみ
を測定して穀粒の種類を判定しても良い。次に、図9、
図10に基づいて胴割れ粒を検出する方法について説明
する。図9は図6、図7と同様、穀粒1粒の表面におけ
る複数個所のR・G・Bの透過光量(電圧値)の分布状
態を示したものであるが、穀粒表面の電圧値の分布状態
を変化率に示したものが図10である。
の透過光量を測定しているが、その内の1種類の光のみ
を測定して穀粒の種類を判定しても良い。次に、図9、
図10に基づいて胴割れ粒を検出する方法について説明
する。図9は図6、図7と同様、穀粒1粒の表面におけ
る複数個所のR・G・Bの透過光量(電圧値)の分布状
態を示したものであるが、穀粒表面の電圧値の分布状態
を変化率に示したものが図10である。
【0020】図9に示すように、mの範囲で電圧値が減
少し、図10において電圧値の変化率が大きくマイナス
方向に傾いている。これは、mの範囲の部分が胴割れし
ているため透過光量が減少し、その結果対応する電圧値
も減少していることを示している。そして、例えば図1
0におけるnレベルよりも大きい電圧値の変化率を示し
た場合を胴割れ粒と判定する。なお、本実施の形態では
3種類の光R・G・Bの透過光量を測定しているが、前
記穀粒の種類の時と同様その内の1種類の光のみを測定
して胴割れ粒を判定しても良い。
少し、図10において電圧値の変化率が大きくマイナス
方向に傾いている。これは、mの範囲の部分が胴割れし
ているため透過光量が減少し、その結果対応する電圧値
も減少していることを示している。そして、例えば図1
0におけるnレベルよりも大きい電圧値の変化率を示し
た場合を胴割れ粒と判定する。なお、本実施の形態では
3種類の光R・G・Bの透過光量を測定しているが、前
記穀粒の種類の時と同様その内の1種類の光のみを測定
して胴割れ粒を判定しても良い。
【0021】そして、前記異なる種類の穀粒の判別、あ
るいは胴割れ粒を判定がなされると、CPU12cより
出力インタ−フェイス12dを介して、これらの不良品
である穀粒を除去すべくタイミング信号が出力され、ソ
レノイド6が作動する。すると、ソレノイド6に設けて
いるシャフト8が除去プレ−ト7に押圧作用をなすこと
で、除去プレ−ト7が7aを支点に流下樋3からの穀粒
の落下軌跡Fに入り込み、穀粒が不良品還元通路15に
はじかれ、ノズル等(図示せず)で二次選別用の貯留室
1bに搬送される。一方、良品と判定された穀粒は良品
通路16を経て機外に排出される。
るいは胴割れ粒を判定がなされると、CPU12cより
出力インタ−フェイス12dを介して、これらの不良品
である穀粒を除去すべくタイミング信号が出力され、ソ
レノイド6が作動する。すると、ソレノイド6に設けて
いるシャフト8が除去プレ−ト7に押圧作用をなすこと
で、除去プレ−ト7が7aを支点に流下樋3からの穀粒
の落下軌跡Fに入り込み、穀粒が不良品還元通路15に
はじかれ、ノズル等(図示せず)で二次選別用の貯留室
1bに搬送される。一方、良品と判定された穀粒は良品
通路16を経て機外に排出される。
【0022】そして、二次選別用の貯留室1bに貯留さ
れた不良品である穀粒や、ソレノイド6で不良品を除去
した際、不良品と共に除去された良品は、一次選別の時
と同様に、二次選別用の貯留室1b下部に設けられてい
るロ−タリバルブ2で二次選別用の流下樋3cに繰り出
され、流下樋3cで流下搬送される。そして前記と同様
に異種粒と胴割れ粒の選別作用がなされ、良品は良品通
路16を経て機外に、不良品は不良品機外排出通路17
を経て機外に排出される。
れた不良品である穀粒や、ソレノイド6で不良品を除去
した際、不良品と共に除去された良品は、一次選別の時
と同様に、二次選別用の貯留室1b下部に設けられてい
るロ−タリバルブ2で二次選別用の流下樋3cに繰り出
され、流下樋3cで流下搬送される。そして前記と同様
に異種粒と胴割れ粒の選別作用がなされ、良品は良品通
路16を経て機外に、不良品は不良品機外排出通路17
を経て機外に排出される。
【0023】なお、選別作業を終了して電源DをOFF
にすると、ロ−タリバルブ2は所定回転後、仕切板2a
の先端がロ−タリバルブ2の近傍に設けている仕切板位
置検出センサ2b(近接センサ等)の検出に従って所定
位置で停止するようにする。次に、発明の要部である流
下樋3における衝撃吸収部材3aの構成について説明す
る。
にすると、ロ−タリバルブ2は所定回転後、仕切板2a
の先端がロ−タリバルブ2の近傍に設けている仕切板位
置検出センサ2b(近接センサ等)の検出に従って所定
位置で停止するようにする。次に、発明の要部である流
下樋3における衝撃吸収部材3aの構成について説明す
る。
【0024】前記流下樋3の流路それぞれの上部に衝撃
吸収部材3aを設ける。具体的には、衝撃吸収部材3a
はαゲルのような高分子材のような弾性体を用いてお
り、図13に示されているように流下樋3の底部20と
比較し、上端の部分の底部21を特に深く構成し、その
部分に衝撃吸収部材3aを挿入する。なお、衝撃吸収部
材3aの表面は流下樋3の底部20よりも若干高くなる
ことが望ましい。
吸収部材3aを設ける。具体的には、衝撃吸収部材3a
はαゲルのような高分子材のような弾性体を用いてお
り、図13に示されているように流下樋3の底部20と
比較し、上端の部分の底部21を特に深く構成し、その
部分に衝撃吸収部材3aを挿入する。なお、衝撃吸収部
材3aの表面は流下樋3の底部20よりも若干高くなる
ことが望ましい。
【0025】さて、衝撃吸収部材3の作用について説明
するロ−タリバルブ2から繰り出された穀粒が流下樋3
の上端部、すなわち衝撃吸収部材3aに落下する。その
際、図14に示されているように、衝撃吸収部材3aに
衝突した穀粒は流下樋3上をほとんどバウンドすること
なく、略直線上の流下軌跡を描いて流下する。一方、衝
撃吸収部材3aがなく流下樋3に直接衝突して流下する
穀粒は、図15のように流下樋3上を大きくバウンドし
ながら流下する。
するロ−タリバルブ2から繰り出された穀粒が流下樋3
の上端部、すなわち衝撃吸収部材3aに落下する。その
際、図14に示されているように、衝撃吸収部材3aに
衝突した穀粒は流下樋3上をほとんどバウンドすること
なく、略直線上の流下軌跡を描いて流下する。一方、衝
撃吸収部材3aがなく流下樋3に直接衝突して流下する
穀粒は、図15のように流下樋3上を大きくバウンドし
ながら流下する。
【0026】本発明により、早い時点で穀粒の流下姿勢
が略一定になり、流下軌跡が安定すると共に、一定以上
の流下速度を保つことができるので、穀粒の検出精度を
安定させると共に選別作業能率を維持することができ
る。
が略一定になり、流下軌跡が安定すると共に、一定以上
の流下速度を保つことができるので、穀粒の検出精度を
安定させると共に選別作業能率を維持することができ
る。
【図1】斜視図
【図2】色彩選別装置の装置各部の配置を表した図
【図3】断面図
【図4】ブロック図
【図5】制御部
【図6】穀粒1粒の表面における透過光量(電圧値)の
分布状態を表した図
分布状態を表した図
【図7】穀粒1粒の表面における透過光量(電圧値)の
分布状態を表した図
分布状態を表した図
【図8】回帰直線Lを設定した図
【図9】穀粒1粒の表面における透過光量(電圧値)の
分布状態を表した図
分布状態を表した図
【図10】穀粒1粒の表面における透過光量(電圧値)
の分布状態を変化率に換算した図
の分布状態を変化率に換算した図
【図11】ロ−タリバルブの断面図
【図12】発明の要部を表す斜視図
【図13】発明の要部を表す断面図
【図14】本発明における穀粒の流下状態を表した図
【図15】従来の穀粒の流下状態を表した図
1…原料タンク、2…ロ−タリバルブ、3…流下樋、3
a…衝撃吸収部材、4…発光部、5…受光センサ、5a
…受光素子、5b…穀粒検出領域、6…ソレノイド、1
2…制御部
a…衝撃吸収部材、4…発光部、5…受光センサ、5a
…受光素子、5b…穀粒検出領域、6…ソレノイド、1
2…制御部
Claims (1)
- 【請求項1】 穀粒を流下樋に供給する供給手段と、流
下樋で穀粒検出領域まで流下された穀粒に検査光を照射
する発光部と、前記検査光で照射された穀粒からの透過
光を受光する受光部と、受光部からの透過光量あるいは
反射光量から穀粒の種類を判定する穀粒判定手段と、該
穀粒判定手段で異物・異種粒等を判定すると穀粒中の異
物・異種粒等を除去する除去手段とからなる色彩選別装
置において、前記供給手段から供給された穀粒が落下す
る流下樋の領域に、衝撃吸収部材を設けたことを特徴と
する色彩選別装置の流下樋。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2468698A JPH11221528A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 色彩選別装置の流下樋 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2468698A JPH11221528A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 色彩選別装置の流下樋 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11221528A true JPH11221528A (ja) | 1999-08-17 |
Family
ID=12145058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2468698A Pending JPH11221528A (ja) | 1998-02-05 | 1998-02-05 | 色彩選別装置の流下樋 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11221528A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107214099A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-09-29 | 中国农业大学 | 一种调整下滑颗粒物料运动状态的弹性栅管 |
-
1998
- 1998-02-05 JP JP2468698A patent/JPH11221528A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107214099A (zh) * | 2017-06-30 | 2017-09-29 | 中国农业大学 | 一种调整下滑颗粒物料运动状态的弹性栅管 |
| CN107214099B (zh) * | 2017-06-30 | 2019-03-22 | 中国农业大学 | 一种调整下滑颗粒物料运动状态的弹性栅管 |
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