JPH11233402A5 - - Google Patents

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JPH11233402A5
JPH11233402A5 JP1998027301A JP2730198A JPH11233402A5 JP H11233402 A5 JPH11233402 A5 JP H11233402A5 JP 1998027301 A JP1998027301 A JP 1998027301A JP 2730198 A JP2730198 A JP 2730198A JP H11233402 A5 JPH11233402 A5 JP H11233402A5
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
所定のパターンが形成された原版を露光光で照明し、照明された前記パターンの像を感光性基板に投影する光学素子を備えた投影露光装置の光学素子光洗浄方法において、
前記露光光の進行方向と反対の方向から入射する洗浄光で前記光学素子を光洗浄することを特徴とする光学素子光洗浄方法。
【請求項2】
請求項1の光洗浄方法において、前記洗浄光は前記露光光を分岐して生成した光であることを特徴とする光学素子光洗浄方法。
【請求項3】
請求項1の光洗浄方法において、前記洗浄光は露光用光源とは別に設けられた洗浄用光源で生成するようにしたことを特徴とする光学素子光洗浄方法。
【請求項4】
請求項1〜3のいずれかに記載の光洗浄方法において、前記光学素子の汚染状態を検出し、その汚染状態に応じて前記洗浄光で前記光学素子の表面を走査することを特徴とする光学素子光洗浄方法。
【請求項5】
所定のパターンが形成された原版を露光光で照明し、照明された前記パターンの像を感光性基板に投影する光学素子を備えた投影露光装置において、
前記露光光の進行方向と反対の方向から洗浄光を前記光学素子に射出する光洗浄光学系を備えることを特徴とする投影露光装置。
【請求項6】
請求項5の露光装置において、前記露光用光源から射出されている照明光を前記光洗浄光学系へ前記洗浄光として導くための分岐光学素子を有することを特徴とする投影露光装置。
【請求項7】
請求項5の露光装置において、前記洗浄光を生成するための前記露光用光源とは別の光洗浄用光源を備え、その光洗浄用光源からの光を前記光洗浄用光学系に導くようにしたことを特徴とする投影露光装置。
【請求項8】
請求項5〜7のいずれかに記載の投影露光装置において、前記光学素子の汚染状態を検出する汚染状態検出手段を備え、検出された汚染状態に応じて前記洗浄光学系を制御して前記洗浄光で前記光学素子の表面を走査することを特徴とする投影露光装置。
【請求項9】
所定のパターンが形成された原版を露光光で照明し、照明された前記パターンの像を感光性基板に投影する投影光学系と、前記投影光学系を通過した前記露光光の照度を検出するセンサを備えるステージとを備えた露光装置に用いられる光洗浄方法において、
前記ステージから射出された洗浄光を前記投影光学系側に向けて照射することを特徴とする光洗浄方法。
【請求項10】
請求項9の光洗浄方法において、前記洗浄光は露光用光源とは別に設けられた洗浄用光源で生成するようにしたことを特徴とする光洗浄方法。
【請求項11】
請求項9または10に記載の光洗浄方法において、前記洗浄光は、前記ステージに設けられた開口パターンを介して射出されることを特徴とする光洗浄方法。
【請求項12】
請求項11に記載の光洗浄方法において、前記投影光学系に前記洗浄光を照射する時、前記ステージの前記開口パターンを前記投影光学系の照射領域内に配置することを特徴とする光洗浄方法。
【請求項13】
所定のパターンが形成された原版を露光光で照明し、照明された前記パターンの像を感光性基板に投影する投影光学系と、前記投影光学系を通過した前記露光光の照度を検出するセンサを備えるステージとを備えた投影露光装置において、
前記ステージに設けられ、前記投影光学系側に洗浄光を射出する光洗浄光学系を備えることを特徴とする投影露光装置。
【請求項14】
請求項13の露光装置において、前記洗浄光を生成するための前記露光用光源とは別の光洗浄用光源を備え、その光洗浄用光源からの光を前記光洗浄用光学系に導くようにしたことを特徴とする投影露光装置。
【請求項15】
請求項12または13の露光装置において、
前記ステージは、前記光洗浄用光学系を介した前記洗浄光を射出する開口パターンを有することを特徴とする投影露光装置。
【0011】
【課題を解決するための手段】
実施の形態を示す図1〜図4に対応づけて説明する。
(1)請求項1の発明は、所定のパターンが形成された原版Rを露光光で照明し、照明されたパターンの像を感光性基板Wに投影する光学素子を備えた投影露光装置の光学素子光洗浄方法に適用される。そして、上述した目的は、露光光の進行方向と反対の方向から洗浄光を入射して光学素子を光洗浄することにより達成される。
(2)請求項2の発明は、請求項1の光洗浄方法において、露光用光源1からの露光光を洗浄光として使用するものである。
(3)請求項3の発明は、請求項1の光洗浄方法において、洗浄光を露光用光源1とは別に設けられた洗浄用光源51で生成するようにしたものである。
(4)請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の光洗浄方法において、光学素子の汚染状態を検出し、その汚染状態に応じて洗浄光で光学素子の表面を走査するようにしたものである。
(5)請求項5の発明は、所定のパターンが形成された原版Rを露光光で照明し、照明されたパターンの像を感光性基板Wに投影する光学素子を備えた投影露光装置に適用される。そして、露光光の進行方向と反対の方向から洗浄光を光学素子に射出する光洗浄光学系21を備えることにより、上述の目的は達成される。
(6)請求項6の発明は、請求項5の露光装置において、露光用光源1から射出されている照明光を光洗浄光学系21へ洗浄光として導くための分岐光学素子5を有するものである。
(7)請求項7の発明は、請求項5の露光装置において、洗浄光を生成するための露光用光源1とは別の光洗浄用光源51を備え、その光洗浄用光源51からの光を光洗浄用光学系21に導くようにしたものである。
(8)請求項8の発明は、請求項5〜7のいずれかに記載の投影露光装置において、光学素子の汚染状態を検出する汚染状態検出手段を備え、検出された汚染状態に応じて洗浄光学系21を制御して洗浄光で光学素子の表面を走査するものである。
(9)請求項9の発明による光洗浄方法は、所定のパターンが形成された原版Rを露光光で照明し、照明されたパターンの像を感光性基板Wに投影する投影光学系PLと、投影光学系PLを通過した露光光の照度を検出するセンサ24を備えるステージWSとを備えた露光装置に用いられる光洗浄方法において、ステージWSから射出された洗浄光を投影光学系PL側に向けて照射することを特徴とする。
(10)請求項10の発明は、請求項9の光洗浄方法において、洗浄光は露光用光源1とは別に設けられた洗浄用光源51で生成するようにしたことを特徴とする光洗浄方法。
(11)請求項11の発明は、請求項9または10に記載の光洗浄方法において、洗浄光は、ステージWSに設けられた開口パターン22aを介して射出されることを特徴とする。
(12)請求項12の発明は、請求項11に記載の光洗浄方法において、投影光学系PLに洗浄光を照射する時、ステージWSの開口パターン22aを投影光学系PLの照射領域内に配置することを特徴とする。
(13)請求項13の発明による投影露光装置は、所定のパターンが形成された原版Rを露光光で照明し、照明されたパターンの像を感光性基板Wに投影する投影光学系PLと、投影光学系PLを通過した露光光の照度を検出するセンサ24を備えるステージWSとを備えた投影露光装置において、ステージWSに設けられ、投影光学系PL側に洗浄光を射出する光洗浄光学系21を備えることを特徴とする。
(14)請求項14の発明は、請求項13の露光装置において、洗浄光を生成するための露光用光源1とは別の光洗浄用光源51を備え、その光洗浄用光源51からの光を光洗浄用光学系に導くようにしたことを特徴とする。
(15)請求項15の発明は、請求項12または13の露光装置において、ステージWSは、光洗浄用光学系を介した洗浄光を射出する開口パターン22aを有することを特徴とする。
以上の実施の形態と請求項との対応において、レチクルRが原版を、逆発光系21が洗浄用光学系を、主制御ユニット11が汚染状態検出手段をそれぞれ構成する。
以上のように本実施の形態によれば、
(1)露光光の進行方向と反対の方向から入射する洗浄光で光学素子を光洗浄するようにしたので、露光光では洗浄し切れない感光基板側の汚れを洗浄することができる。
(2)洗浄光を露光光を分岐して生成すれば、専用の光源が不要となる、低コスト化を図ることができる。
(3)洗浄光を露光用光源とは別に設けた洗浄用光源で生成することにより、露光光の光量を落とすことなく大きな光量で洗浄することができる。
(4)露光光の進行方向と反対の方向から入射する洗浄光で光学素子を光洗浄するのと並行して、露光光の進行方向から入射する露光光で光学素子を光洗浄することにより、短時間で所定の透過率まで洗浄することができ、スループットが向上する。
(5)光学素子の汚染状態を検出し、その汚染状態に応じて洗浄光を走査すれば、局部的な汚染状態を除去することができる。
【0044】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、露光光の進行方向と反対の方向から入射する洗浄光で光学素子を光洗浄するようにしたので、露光光では洗浄し切れない感光基板側の汚れを洗浄することができる。
また、ステージから射出された洗浄光を投影光学系側に向けて照射しているので、露光光では洗浄し切れない感光基板側の汚れを洗浄することができる。
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