JPH11233423A - 露光用シャッタおよび露光装置ならびにディバイス製造方法 - Google Patents

露光用シャッタおよび露光装置ならびにディバイス製造方法

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JPH11233423A
JPH11233423A JP10041351A JP4135198A JPH11233423A JP H11233423 A JPH11233423 A JP H11233423A JP 10041351 A JP10041351 A JP 10041351A JP 4135198 A JP4135198 A JP 4135198A JP H11233423 A JPH11233423 A JP H11233423A
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shutter
exposure
exposure light
rotary
light
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JP10041351A
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Takeshi Ui
武 宇井
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Canon Inc
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Shutters For Cameras (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 露光用シャッタの高速化を促進する。 【解決手段】 ウエハ等を露光する露光光の光路に一対
の回転シャッタユニット40a,40bからなるシャッ
タ14を配設し、各回転シャッタユニット40a,40
bをモータ45a,45bによって同期的に回転させ
る。露光光のビーム断面を、例えば、回転シャッタユニ
ット40a,40bのシャッタ羽根43a,43bによ
って遮光する。1枚のシャッタ羽根によって露光光のビ
ーム断面全体を遮光する場合に比べて、シャッタ羽根が
小さくてすむ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高精細化された半
導体ディバイス等を製造するための露光装置に用いる露
光用シャッタおよび露光装置ならびにディバイス製造方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体ディバイス等の製造においては、
一般的に、レチクル等原版のパターンを縮小投影レンズ
によって縮小してウエハ等基板に投影する縮小投影露光
装置(以下、「ステッパ」という。)等が用いられる。
これは、ウエハを載せたXYステージをステップ移動さ
せる工程と露光工程を交互に繰り返すことで、レチクル
等の原版のパターン数十個分を一枚のウエハに転写、焼
き付けするものである。
【0003】近年では、ステッパの生産性を向上させる
ために、露光光の光路に配設されるシャッタの開閉速度
等を速くして、露光サイクルタイムを短縮する努力がな
されている。また、露光を高速化するために、ウエハ等
に塗布するレジストの高感度化も急速に進められてい
る。
【0004】なお、露光光を発生する光源光学系のシャ
ッタとしては、1枚のシャッタ羽根によって露光光を遮
光する回転シャッタ等が用いられていた(特開平9−2
7446号公報参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術によれば、前述のように、露光光を発生する光源
光学系のシャッタが、シャッタ羽根1枚を露光光の光路
に挿入することによって遮光するように構成されている
ため、シャッタ羽根の寸法を露光光のビーム断面より大
きくする必要がある。
【0006】また、シャッタを閉じたときにシャッタ羽
根が露光光の熱を吸収すると、シャッタ羽根が変形した
り溶解するおそれがあるため、一般的に、シャッタ羽根
の表面を鏡面加工して露光光を反射するように工夫され
ているが、シャッタ羽根によって反射された露光光が光
源に向かって逆進すると、光源に熱変動を生じる。そこ
で、シャッタ羽根の反射光が光源に逆進しないように、
シャッタ羽根を露光光の光路に対して斜めに挿入するの
が一般的であり、このために、シャッタ羽根によって遮
光する光束のビーム断面は楕円形となる。
【0007】従って、シャッタ羽根1枚によって遮光す
るためには、光路に垂直なビーム断面よりシャッタ羽根
の寸法をはるかに大きくしなければならない。
【0008】他方、露光装置のスループットを向上させ
るためにはシャッタの開閉速度を速くする必要がある
が、上記のように大寸法で慣性モーメントの大きいシャ
ッタ羽根では、シャッタの高速化に限界がある。
【0009】そこで、シャッタ羽根を小型化するために
露光光を絞ってビーム断面を小さくしたり、シャッタ羽
根の材質に軽量で耐熱性にすぐれた材料を選ぶことでシ
ャッタ羽根を軽量化する等の方法が採用されているが、
充分な効果は期待できない。
【0010】本発明は上記従来の技術の有する未解決の
課題に鑑みてなされたものであり、露光光のビーム断面
を局部的に遮光する小型かつ軽量のシャッタ羽根を複数
用いることによってシャッタ開閉動作の高速化を促進
し、半導体ディバイス等の生産性を大幅に向上できる露
光用シャッタおよび露光装置ならびにディバイス製造方
法を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の露光用シャッタは、光源から発生された露
光光のビーム断面をそれぞれ局部的に遮光する複数の回
転シャッタユニットと、該複数の回転シャッタユニット
を同期的に回転駆動するための駆動手段と、前記露光光
による被露光体の露光量に基づいて前記駆動手段を制御
する制御手段を有することを特徴とする。
【0012】各回転シャッタユニットが少なくとも1枚
のシャッタ羽根を備えているとよい。
【0013】また、各回転シャッタユニットが、露光光
の光路に対して斜めにシャッタ羽根を挿入するように構
成されているとよい。
【0014】
【作用】複数の回転シャッタユニットを同期的に回転さ
せ、各回転シャッタユニットのシャッタ羽根を同時に露
光光の光路に挿入することで、露光光のビーム断面全体
を遮光する。1枚のシャッタ羽根によって露光光のビー
ム断面全体を遮光する場合に比べて、各シャッタ羽根の
寸法を大幅に縮小し、軽量化できる。これによって、各
シャッタ羽根の慣性モーメントを低減し、シャッタの高
速化を大きく促進できる。
【0015】各回転シャッタユニットがその回転軸上に
複数のシャッタ羽根を備えていれば、回転シャッタユニ
ットが1回転することによって複数回シャッタの開閉動
作を行なうことができる。
【0016】また、各回転シャッタユニットが、露光光
の光路に対して斜めにシャッタ羽根を挿入するように構
成されていれば、シャッタ羽根の反射光が光源に逆進す
るのを防ぐことができる。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0018】図1は一実施の形態による露光装置を示す
もので、これは、光源である水銀ランプ11と、水銀ラ
ンプ11から発生された露光光を集光する楕円鏡12
と、露光光の光束を絞る第1のレンズ13と、露光用シ
ャッタであるシャッタ14と、第1のレンズ13で絞っ
た光束を平行光に戻す第2のレンズ15と、露光光の一
部を取り出すハーフミラー16等を含む光源光学系10
と、被露光体(基板)であるウエハWの各ショットに転
写するパターンを有する原版であるレチクルRを載せる
レチクルステージ21と、レチクルR上のパターンをウ
エハWに縮小投影する縮小投影レンズ22等を有する投
影光学系20と、ウエハWを搭載し、光軸方向の移動を
行なうθZチルトステージ31と、ウエハWをXY方向
に移動させるXYステージ32等からなる保持手段であ
るウエハステージ30を有し、XYステージ位置は、レ
ーザ干渉計33によって計測される。
【0019】シャッタ14は、図2に示すように、一対
の回転シャッタユニット40a,40bを有し、一方の
回転シャッタユニット40aが、露光光の光路に対して
斜めに挿入される3枚のシャッタ羽根41a〜43aに
よって、順次、露光光のビーム断面の上半分以上を局部
的に遮光し、同様に他方の回転シャッタユニット40b
も、露光光の光路に対して斜めに挿入される3枚のシャ
ッタ羽根41b〜43bによって、順次、露光光のビー
ム断面の下半分以上を局部的に遮光するように構成され
ている。
【0020】各回転シャッタユニット40a,40bの
3枚のシャッタ羽根41a〜43a,41b〜43b
は、回転軸44a,44bのまわりに周方向に60°の
間隔で中心角60°の遮光部を形成する。各回転シャッ
タユニット40a,40bの回転駆動部は、回転軸44
a,44bを回転させる駆動手段であるモータ45a,
45bと、その回転位置を検出するためのロータリーエ
ンコーダ46a,46bを有し、モータ45a,45b
は、モータドライバ47a,47bを介して制御手段で
あるコントローラ50に接続されている。コントローラ
50は、ハーフミラー16によって取り出された露光光
の一部を検知するフォトディテクタ17の出力に基づい
て、ウエハWの積算露光量が所定の値になるようにシャ
ッタ14の開口時間を制御する。
【0021】なお、回転シャッタユニット40a,40
bは、前述のように、シャッタ羽根41a〜43a,4
1b〜43bを露光光の光路に対して斜めに挿入するも
のであるため、モータ45a,45b等を含む駆動部
は、露光光の光路を遮ることのないように、シャッタ羽
根41a〜43a,41b〜43bを挟んで互いに反対
側に配設されている。
【0022】図3はシャッタ14の開閉動作を示す概略
図である。ウエハWの露光領域の積算露光量を均一にす
るには、各シャッタ羽根41a〜43a,41b〜43
bの両エッジが露光光を横切る形状を同一形状にする必
要があるため、前述のように、円盤に60°の間隔で遮
光部と開口部を設けた形状とする。また、両回転シャッ
タユニット40a,40bが常に一定の遮光形状となる
ように、露光光のビーム断面を2等分する位置にシャッ
タ羽根41a〜43a,41b〜43bの円弧部分が重
なるように構成する。
【0023】図3の斜線で示した領域は、シャッタ14
が遮光する露光光のビーム断面である。前述のように、
シャッタ羽根41a〜43a,41b〜43bは露光光
に対して斜めに挿入されるため、シャッタ14の遮光部
における露光光束の形状(ビーム断面)は、楕円形状と
なる。
【0024】すなわち、光源光学系10の水銀ランプ1
1が強力であるため、シャッタ羽根41a〜43a,4
1b〜43bが熱により溶融または変形するのを防ぐお
それがある。そこで、シャッタ羽根表面に鏡面加工を施
し、かつ、その反射光が水銀ランプ11に戻って温度変
化による照度変化が生じることのないように、シャッタ
羽根41a〜43b,41b〜43bを露光光に対して
斜めに挿入するものである。
【0025】以下に、シャッタ14の開閉動作を説明す
る。図3の(a)に示す遮光状態(シャッタ閉)から、
上方の回転シャッタユニット40aが図示時計方向に、
下方の回転シャッタユニット40bが図示反時計方向に
15°だけ回転すると、同図の(b)に示すように露光
光の一部分が透過する状態となる。各回転シャッタユニ
ット40a,40bが60°だけ回転すると、図3の
(c)に示すようにシャッタ14が全開(シャッタ開)
の状態となり、ウエハWの露光が行なわれる。
【0026】露光終了時には、各回転シャッタユニット
40a,40bがひき続き同様に回転し、15°だけ回
転すると、図3の(d)に示すように露光光の一部分が
遮光され、30°回転すると、同図の(e)に示すよう
に露光光の半分が遮光され、60°回転したときに、同
図の(f)に示すようにシャッタ閉の状態となる。この
ように、各回転シャッタユニット40a,40bを60
°ずつ間欠的に回転させることでシャッタ14の開閉が
行なわれる。
【0027】本実施の形態によれば、露光光のビーム断
面の少なくとも半分を遮光する2枚のシャッタ羽根によ
ってシャッタの開閉動作を行なうものであるため、1枚
のシャッタ羽根によってシャッタの開閉を行なう場合に
比べて、シャッタ羽根を大幅に小型化し、シャッタ羽根
を回転させるときの慣性モーメントを低減できる。こに
よって、シャッタの高速化を大きく促進できる。
【0028】詳しく説明すると、図4は本実施の形態に
よるシャッタ羽根Aの形状を実線で示し、従来のシャッ
タ羽根Bの形状を破線で示すもので、両者の慣性モーメ
ントを比較する。シャッタの慣性モーメントJの計算式
は、シャッタ羽根部分の慣性モーメントをJsh、モータ
ホルダ部分の慣性モーメントをJmhとすると、 J=Jsh+Jmh (1) で表される。シャッタ羽根部分の慣性モーメントJsh
は、同じ直径の円盤の慣性モーメントの1/2となる。
回転軸の直径をD1 、シャッタ羽根Aの直径をD2、シ
ャッタ羽根Bの直径をD3 、材料の比重をρ、シャッタ
羽根A,Bの板厚をそれぞれLとすると、シャッタ羽根
Aのシャッタ羽根部分の慣性モーメントJnew は、 Jnew =πρL(D2 4−D1 4)/32×1/2 (2) シャッタ羽根Bのシャッタ羽根部分の慣性モーメントJ
old は、 Jold =πρL(D3 4−D1 4)/32×1/2 (3) と表せる。本実施の形態において、 Jold >Jnew >>Jmh (4) D1 :D2 :D3 ≒1:4:6 (5) の関係であるため、シャッタ羽根Aのシャッタ羽根部分
とシャッタ羽根Bのシャッタ羽根部分との慣性モーメン
トの比率は、 Jnew :Jold ≒1:5 (6) となる。すなわち、本実施の形態によるシャッタは従来
例のシャッタと比較して、慣性モーメントを約1/5に
低減できる。次にウエハWの露光サイクルを説明する。
【0029】水銀ランプ11は常時点灯しており、露光
開始前は、例えば、シャッタ羽根41a,41bにより
露光光を遮蔽している。コントローラ50はロータリー
エンコーダ46a,46bを監視し、モータドライバ4
7a,47bにサーボをかけて、回転シャッタユニット
40a,40bの回転位置を制御している。
【0030】露光開始命令が出されると、コントローラ
50はフォトディテクタ17の監視を開始し、モータド
ライバ47a,47bに回転シャッタユニット40a,
40bを60°回転する信号を送り、モータ45a,4
5bを駆動する。このようにして、シャッタ14を開
く。
【0031】コントローラ50はフォトディテクタ17
の出力を積分して積算露光量を計測し、所望の積算露光
量を得る時点で、コントローラ50はモータドライバ4
7a,47bにさらに60°回転する信号を送り、モー
タ45a,45bを駆動する。このようにして、シャッ
タ14を閉じて露光を終了する。
【0032】なお、コントローラ50はモータ45a,
45bを駆動中、ロータリーエンコーダ46a,46b
を監視して、モータドライバ47a,47bに速度サー
ボをかけ、シャッタ羽根41a〜43a,41b〜43
bの加速、定速、減速時の速度−位置特性を制御してい
る。
【0033】次に上記説明した露光装置を利用したディ
バイス製造方法の実施例を説明する。図5は半導体ディ
バイス(ICやLSI等の半導体チップ、あるいは液晶
パネルやCCD等)の製造フローを示す。ステップ1
(回路設計)では半導体ディバイスの回路設計を行な
う。ステップ2(マスク製作)では設計した回路パター
ンを形成した原版であるマスクを製作する。ステップ3
(ウエハ製造)ではシリコン等の材料を用いてウエハを
製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼
ばれ、上記用意したマスクとウエハを用いて、リソグラ
フィ技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。ス
テップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4に
よって作製されたウエハを用いて半導体チップ化する工
程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディン
グ)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含
む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製された半
導体ディバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検
査を行なう。こうした工程を経て半導体ディバイスが完
成し、これが出荷(ステップ7)される。
【0034】図6は上記ウエハプロセスの詳細なフロー
を示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸化
させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶縁
膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ上
に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン
打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ16(露光)では上記説明した露光装置によってマ
スクの回路パターンをウエハに焼付露光する。ステップ
17(現像)では露光したウエハを現像する。ステップ
18(エッチング)では現像したレジスト像以外の部分
を削り取る。ステップ19(レジスト剥離)ではエッチ
ングが済んで不要となったレジストを取り除く。これら
のステップを繰り返し行なうことによって、ウエハ上に
多重に回路パターンが形成される。本実施例の製造方法
を用いれば、従来は製造が難しかった高集積度の半導体
ディバイスを製造することができる。
【0035】
【発明の効果】本発明は上述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。
【0036】露光光を遮光するシャッタ羽根を露光光の
ビーム断面に比べて大幅に縮小できる。これによってシ
ャッタ羽根を小型かつ軽量化し、慣性モーメントを低減
することでシャッタの高速化を大きく促進できる。この
ような露光用シャッタを搭載することで露光装置のスル
ープットを大幅に改善し、半導体ディバイス等の生産性
を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施の形態による露光装置を説明する図であ
る。
【図2】図1の装置の一部分を示すもので、(a)はシ
ャッタとその駆動部を説明する図、(b)はシャッタ羽
根の形状を示す図である。
【図3】シャッタの開閉動作を説明する図である。
【図4】本実施の形態によるシャッタ羽根と従来例によ
るシャッタ羽根の形状の違いを説明する図である。
【図5】ディバイス製造方法を示すフローチャートであ
る。
【図6】ウエハプロセスを示すフローチャートである。
【符号の説明】
11 水銀ランプ 14 シャッタ 20 投影光学系 21 レチクルステージ 22 縮小投影レンズ 30 ウエハステージ 40a,40b 回転シャッタユニット 41a〜43a,41b〜43b シャッタ羽根 44a,44b 回転軸 45a,45b モータ 50 コントローラ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から発生された露光光のビーム断面
    をそれぞれ局部的に遮光する複数の回転シャッタユニッ
    トと、該複数の回転シャッタユニットを同期的に回転駆
    動するための駆動手段と、前記露光光による被露光体の
    露光量に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段を有
    する露光用シャッタ。
  2. 【請求項2】 各回転シャッタユニットが少なくとも1
    枚のシャッタ羽根を備えていることを特徴とする請求項
    1記載の露光用シャッタ。
  3. 【請求項3】 各回転シャッタユニットが、露光光の光
    路に対して斜めにシャッタ羽根を挿入するように構成さ
    れていることを特徴とする請求項2記載の露光用シャッ
    タ。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3いずれか1項記載の露
    光用シャッタと、該露光用シャッタを経て照射される露
    光光によって露光される被露光体を保持する保持手段を
    有する露光装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の露光装置によってウエハ
    を露光する工程を有するディバイス製造方法。
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