JPH11233748A5 - - Google Patents

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JPH11233748A5
JPH11233748A5 JP1998322992A JP32299298A JPH11233748A5 JP H11233748 A5 JPH11233748 A5 JP H11233748A5 JP 1998322992 A JP1998322992 A JP 1998322992A JP 32299298 A JP32299298 A JP 32299298A JP H11233748 A5 JPH11233748 A5 JP H11233748A5
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【特許請求の範囲】
【請求項1】 第1ドーピング濃度を有する第1導電型の基板(11);
前記第1導電型と、前記第1ドーピング濃度よりも大きい前記第1導電型の第2ドーピング濃度とを有する、前記基板上の第1ウェル(16)であって、前記基板内に第1深さ(24)を有する、ところの第1ウェル(16);
前記基板上で、前記第1ウェル(16)から横方向に間隔を隔てる第1MOSトランジスタ(32);
前記第1ウェル(16)上に形成された第2MOSトランジスタ(31);
前記基板内で、前記第1MOSトランジスタに隣接する第2導電型の導電領域(26)であって、前記導電領域の一部が前記第1MOSトランジスタのソースを形成し、前記導電領域(26)が前記基板内に第2深さ(29)を有する、ところの導電領域(26);および
前記導電領域(26)内に形成される第1部分と、前記導電領域から横方向に、前記第1MOSトランジスタ(26)から離れる方向に延在する第2部分とを有する前記第1導電型の、ピニング層(37);
を具備することを特徴とする画像センサ。
【請求項2】 アクティブ・ピクセル・センサを形成する方法であって:
第1導電型の表面と前記第1導電型の第1領域(16)とを有する基板(11)を設ける段階;
前記第1導電型の第2領域(14)内にピンド・フォトダイオードを設ける段階であって、前記第2領域が前記第1領域(16)に対する第1ドーピング濃度よりも小さい第2ドーピング濃度を有するようにし、前記ピンド・フォトダイオードは前記表面から第1深さ(29)において第1P-N接合部を有し、前記第1深さよりも小さい第2深さにおいて第2P-N接合部を有するピンド・フォトダイオードを設ける段階;
前記第1領域内に少なくとも1つのMOSトランジスタ(31)を形成する段階;および
前記第2領域内に少なくとも1つのMOSトランジスタ(32)を形成する段階であって、前記ピンド・フォトダイオードが前記第2領域内に前記MOSトランジスタの一部を形成し、前記第2領域内のMOSトランジスタのゲートは前記第2領域内にありかつ前記MOSトランジスタのドレインは前記第1領域および前記第2領域内にあるよう形成する段階;
を具備することを特徴とする方法。
【請求項3】 前記ピンド・フォトダイオードを設ける段階が、さらに、前記第1導電型と反対の第2導電型のドーパントを、前記基板に対して垂直の角度に、前記第2領域における前記MOSトランジスタのゲート下に延在するよう注入する段階を具備することを特徴とする請求項2記載の方法。
【請求項4】 第1導電型の表面を有し、前記第1導電型のより大きな濃度の第1領域(16)と、前記第1領域よりも小さい濃度の前記第1導電型の第2領域(14)とを有する基板(11);
前記第1領域に隣接して、前記第2領域(14)内に形成されるピンド・フォトダイオード;
前記ピンド・フォトダイオードに隣接して形成される前記第1領域(16)内の少なくとも1つのMOSトランジスタ(31);および
前記第2領域内のMOSトランジスタのゲートは前記第2領域内にありかつ前記MOSトランジスタのドレインは前記第1領域および前記第2領域内に、そして前記ピンド・フォトダイオードが前記第2領域内のMOSトランジスタの一部を形成するよう形成された前記第2領域内の少なくとも1つのMOSトランジスタ(32);
を具備することを特徴とするアクティブ・ピクセル・センサ。
【請求項5】 前記ピンド・フォトダイオードが、前記基板に対して垂直の角度から注入される前記第1導電型と反対の第2導電型のドーパント(26)をさらに備え、前記第2導電型の前記ドーパントが前記第2領域内の前記MOSトランジスタ(32)のゲート(22)の下に延在することを特徴とする請求項4記載のアクティブ・ピクセル・センサ。
JP10322992A 1997-11-14 1998-11-13 半導体画像センサの形成方法および構造 Pending JPH11233748A (ja)

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