JPH1123614A - コンタクトプローブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査基板や検査基板組立品毎に制作していた
フィクスチャーを、共通に使用できるようにする。 【解決手段】 先端部分が検査基板３に押しあてられる
棒状の接点ピン４と、この接点ピン４が挿入される筒状
の接点ピン受け７と、上記接点ピン４と上記接点ピン受
け７との間に設けられ上記接点ピン４の先端部分を上記
検査基板３の方向に付勢するスプリング６とを備えるコ
ンタクトプローブ１、２であって、上記接点ピン４を上
記検査基板３とは反対方向に押し下げた状態で固定する
固定手段をさらに備えて構成されている。ここでは、固
定手段として、上記接点ピン受け７に設けられた開口部
と、上記接点ピン４に設けられ上記開口部に位置したと
きに上記開口部から突出する第１フック９とを備えてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンタクトプロー
ブに関し、特にプリント基板やプリント基板組立品を検
査するインサーキットテスターやファンクションテスタ
ーなどのフィクスチャーにおいて使用されるコンタクト
プローブに関する。

【０００２】

【従来の技術】プリント基板やプリント基板組立品を検
査する方法の一つに、インサーキットテスターやファン
クションテスターを使用するものがある。インサーキッ
トテスターやファンクションテスターにはピンボード式
とピンボードレス式があり、ピンボード式には検査に必
要な箇所全てにコンタクトプローブを有する構造のフィ
クスチャーが用いられる。ピンボード式では、コンタク
トプローブを必要箇所に打ち込んだフィクスチャーが検
査プリント基板やプリント基板組立品毎に必要となる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
コンタクトプローブを有する構造のフィクスチャーは次
に列挙するような解決すべき課題があった。第１点とし
て、従来の検査基板Ａで使用していたフィクスチャーで
検査基板Ｂを検査できるように、不足しているコンタク
トプローブを新たに追加して使用したとする。再び、検
査基板Ａでそのフィクスチャーを使用すると、検査基板
Ｂ用に追加したコンタクトプローブが検査基板Ａの不要
な検査部のランド同士を短絡させたりし、検査基板Ａ、
あるいはインサーキットテスターやファンクションテス
ターなどを電気的に破壊するおそれがあるという課題が
あった。

【０００４】第２点として、生産品変更時にその電気的
破壊を防止するために不要なコンタクトプローブをフィ
クスチャーから抜き取るには少なからずの多くの時間を
要し、生産中においてはその他の生産工程に多大な影響
を及ぼすという課題があった。モデルチェンジなどによ
り検査基板上のコネクタの配置が変わった場合などのよ
うに、基板上の配置の多少の変更が生じた場合でも不要
なコンタクトプローブは抜き取らなければならず、多く
の時間を要していた。

【０００５】したがって、本発明の目的は、生産品が変
更され検査基板の種類が変わっても共通に使用すること
が可能で、検査基板やインサーキットテスターやファン
クションテスターなどの電気的破壊を防止でき生産品変
更の際の機種切り替え時間を短縮できるコンタクトプロ
ーブを提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は次に列挙する新規な特徴的構成手段を採用
する。すなわち、本発明のコンタクトプローブは、先端
部分が検査基板に押しあてられる棒状の接点ピンと、上
記接点ピンが挿入される筒状の接点ピン受けと、上記接
点ピンと上記接点ピン受けとの間に設けられ上記接点ピ
ンの先端部分を上記検査基板の方向に付勢するスプリン
グとを備えるコンタクトプローブであって、上記接点ピ
ンを上記検査基板とは反対方向に押し下げた状態で固定
する固定手段をさらに備えたことを特徴としている。好
ましくは、上記固定手段が、上記接点ピン受けに設けら
れた開口部と、上記接点ピンに設けられ上記開口部に位
置したときに上記開口部から突出するフックとを備えて
いることを特徴としている。また好ましくは、上記固定
手段が、上記接点ピン受けに設けられた鍵状の溝と、上
記接点ピンに設けられ上記鍵状の溝に導かれるフックと
を備えていることを特徴としている。

【０００７】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明
の第１の実施の形態のコンタクトプローブを用いたフィ
クスチャーを説明するための断面図である。図２は図１
のコンタクトプローブの部分拡大断面図である。

【０００８】本実施の形態のコンタクトプローブを用い
たフィクスチャーは、第１のコンタクトプローブ１、第
２のコンタクトプローブ２及びアクリル板５から主に構
成されている。ここで、アクリル板５には、検査するプ
リント基板のテストポイントの位置に対応して複数の開
口部が形成されている。このアクリル板５の各開口部に
は、それぞれコンタクトプローブが挿入され固定され
る。図１では、第１のコンタクトプローブ１及び第２の
コンタクトプローブ２が、一枚のアクリル板１に挿入さ
れ固定された場合を示している。

【０００９】次に、この本実施の形態の第１及び第２の
コンタクトプローブ１、２の構成について、説明する。
本実施の形態のコンタクトプローブ１、２は、先端部分
が検査基板３に押しあてられる棒状の接点ピン４と、上
記接点ピン４が挿入される筒状の接点ピン受け７と、上
記接点ピン４と上記接点ピン受け７との間に設けられ上
記接点ピン４の先端部分を上記検査基板３の方向に付勢
するスプリング６とを備えるコンタクトプローブであっ
て、上記接点ピン４を上記検査基板３とは反対方向に押
し下げた状態で固定する固定手段をさらに備えたことを
特徴としている。本実施の形態では、接点ピン受け７は
接点ピン４が挿入される中空部を有しており、スプリン
グ６は接点ピン受け７の中空部に配置されて接点ピン４
の先端部分を検査基板３の方向に付勢するように構成さ
れている。接点ピン４は、接点ピン受け７の中空部に沿
って上下移動することができる。さらに本実施の形態で
は、上記固定手段が、上記接点ピン受け７に設けられた
開口部と、上記接点ピン４に設けられ上記開口部に位置
したときに上記開口部から突出する第１フック９とを備
えて構成されている。

【００１０】より具体的に説明すると、本実施の形態で
は、接点ピン受け７は、円筒形をしておりそれ以外の部
分より直径が大きいフランジ部７ａ、それ以外の部分よ
り直径の小さい幅細部７ｂ及び幅が細く測定用のソケッ
トが挿入されるソケット接続部７ｃなどを備えている。
フランジ部７ａは接点ピン受け７の中のそれ以外の部分
より直径が大きいので、接点ピン受け７がアクリル板５
の開口部に挿入されるとここで固定される。幅細部７ｂ
は後で説明する接点ピン４の接点ピン受け７の中で動け
る範囲を規定するものである。検査の対象となる検査基
板が配置される側と反対側の先端部は細くなってソケッ
ト接続部７ｃとなっており、ここに検査時に供給される
電圧やテスト信号が供給される信号線が取り付けられ
る。さらに、接点ピン４には、図２に示されるように、
接点ピン４の下端の幅広部４ａには、第１フック９とこ
の第１フック９を接点ピン４の移動方向に対して垂直方
向に付勢するスプリング８が形成されている。この接点
ピン受け７の側面の開口部の位置は、接点ピン４の上下
動の妨げにならない位置に設ける。図１の第１のコンタ
クトプローブ１及び図２に示されるように、接点ピン受
け７の第１フック９がこの開口部に来るまで接点ピン４
を上記検査基板３とは反対方向に押し下げると、スプリ
ング８の弾力により、開口部から第１フック９が少し飛
び出すことによって、スプリング６の弾力が働いていて
も接点ピン４は上に上がることができず、下げられた状
態でこの接点ピン４は固定される。押し下げられない図
１の第２のコンタクトプローブ２は測定にそのまま利用
でき、検査基板３の裏面のランドに押しあてられ、テス
トに利用できる。

【００１１】次に本実施の形態のコンタクトプローブの
使用方法を説明する。検査に使用されないコンタクトプ
ローブについては、例えば図１の紙面左側の第１のコン
タクトプローブ１に示されるように接点ピン４を下げて
スプリング６を押し縮め、第１フック９が接点ピン受け
７に形成された開口部から突き出るようにする。スプリ
ング６の働きにより、第１フック９が接点ピン受け７に
形成された開口部から突き出た状態を維持し、接点ピン
４はこの下がった位置でロックされる。検査に使用する
コンタクトプローブについては、例えば図１の紙面右側
の第２のコンタクトプローブ２に示されるように接点ピ
ン４を下げないで、そのままの状態を維持させる。次
に、アクリル板５と検査基板３との距離を狭めていき、
アクリル板５に固定されたコンタクトプローブを検査基
板のランドに押し当てて検査に必要な電圧やテスト信号
をコンタクトプローブから与えて検査を行う。

【００１２】本実施の形態のコンタクトプローブによれ
ば、接点ピン４を検査基板３とは反対方向に押し下げた
状態で固定する固定手段を備えたので、従来検査基板や
検査基板組立品毎に制作していたフィクスチャーを共通
に使用することができるので、費用の削減を図ることが
できる。さらに、検査に利用されないコンタクトプロー
ブは検査基板３には接触しない位置に固定することがで
きるので、共通にフィクスチャーを使用する際、従来の
課題であった不要なランド同士の短絡を防止することが
できるので、電気的な検査基板の破壊を防止することが
できる。さらに、コンタクトプローブを検査基板３に接
触しないように固定するのに、従来のようなコンタクト
プローブ自体を抜き差しするというような多大な時間を
要求されないので、生産品変更の際の機種切り替え時間
などの短縮を図ることができる。

【００１３】次に本発明の第２の実施の形態について図
面を参照しながら詳細に説明する。図３は、本発明の第
２の実施の形態のコンタクトプローブを説明するための
断面図である。本実施の形態の第３及び第４のコンタク
トプローブ２１、２２は、先端部分が検査基板３に押し
あてられる棒状の接点ピン４と、上記接点ピン４が挿入
される筒状の接点ピン受け７と、上記接点ピン４と上記
接点ピン受け７との間に設けられ上記接点ピン４の先端
部分を上記検査基板３の方向に付勢するスプリング６と
を備えるコンタクトプローブであって、上記接点ピン４
を上記検査基板３とは反対方向に押し下げた状態で固定
する固定手段をさらに備えたことを特徴としている。本
実施の形態でも、接点ピン受け７は接点ピン４が挿入さ
れる中空部を有しており、スプリング６は接点ピン受け
７の中空部に配置されて接点ピン４の先端部分を検査基
板３の方向に付勢するように構成されている。接点ピン
４は、接点ピン受け７の中空部に沿って上下移動するこ
とができる。さらに本実施の形態では、第１の実施の形
態とは異なる固定手段を備えている。すなわち、本実施
の形態では、この固定手段が、接点ピン受け７に設けら
れた鍵状の溝１０と、上記接点ピン４に設けられ上記鍵
状の溝１０に導かれる第２フック１１とを備えて構成さ
れている。

【００１４】さらに、具体的には、本実施の形態でも、
接点ピン受け７は、円筒形をしておりそれ以外の部分よ
り直径が大きいフランジ部７ａ、それ以外の部分より直
径の小さい幅細部７ｂ及び幅が細く測定用のソケットが
挿入されるソケット接続部７ｃなどを備えている。本実
施の形態では、固定手段として、鍵状の溝１０が接点ピ
ン受け７に設けられ、接点ピン４にはこの鍵状の溝１０
に導かれる第２フック１１が形成されている。ここで
は、鍵状の溝１０は図３に示されるようにＪ字状の形状
をしている。鍵状の溝１０は、接点ピン４を最も押し下
げた状態から少しだけ戻った位置に固定部１２を備えて
おり、検査に利用されないコンタクトプローブについて
は、接点ピン４を押し下げた後、スプリング６の弾発力
を利用して接点ピン４の第２フック１１をこの固定部１
２に係合させて接点ピン４を押し下げた状態で固定する
ことができる。押し下げられない図３の第３のコンタク
トプローブ２１は測定にそのまま利用でき、図示しない
検査基板の裏面のランドに押しあてられ、テストに利用
できる。

【００１５】次に本実施の形態のコンタクトプローブの
使用方法を説明する。検査に使用されないコンタクトプ
ローブについては、例えば図３の紙面右側の第４のコン
タクトプローブ２２に示されるように接点ピン４を下げ
てスプリング６を押し縮め、鍵状の溝１０の固定部１２
に第２フック１１を係合させる。スプリング６の働きに
より、フック１２が接点ピン受け７に形成された鍵状の
溝１０の固定部１２に固定された状態を維持し、接点ピ
ン１２はこの下がった位置でロックされる。検査に使用
するコンタクトプローブについては、例えば図３の紙面
左側のコンタクトプローブ２１に示されるように接点ピ
ン４を下げないで、そのままの状態を維持させる。次
に、図示しない測定装置に固定されたアクリル板と検査
基板との距離を狭めていき、アクリル板に固定されたコ
ンタクトプローブを検査基板のランドに押し当てて検査
に必要な電圧やテスト信号をコンタクトプローブから与
えて検査を行う。

【００１６】本実施の形態のコンタクトプローブによれ
ば、接点ピン４を検査基板３とは反対方向に押し下げた
状態で固定する固定手段を備えたので、第１の実施の形
態と同様な効果がもたらされる。さらに、第１の実施の
形態と比較して、固定手段にスプリングやスプリングに
よって移動するフックなど可動部分がなく、固定手段を
構成する部品点数が少ないので、より簡単な構成で検査
基板変更により生じる費用の削減や切り替え時間などの
短縮を実現することができる。

【００１７】以上、本発明の好ましい実施の形態につい
て説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるも
のではなく様々な形状のコンタクトプローブに適用が可
能である。上記第１及び第２の実施の形態では、接点ピ
ン受け７が接点ピン４が挿入される中空部を有してお
り、スプリング６は接点ピン受け７のこの中空部に配置
されて接点ピン４の先端部分を検査基板３の方向に付勢
するような構造のコンタクトプローブに適用した場合を
説明したが、この他の構造のコンタクトプローブにも本
発明は適用可能である。

【００１８】図４は、第１及び第２の実施の形態のコン
タクトプローブとは異なる構造のコンタクトプローブに
本発明を適用した第３の実施の形態のコンタクトプロー
ブの側面図である。ここでは、上述の第２の実施の形態
で用いた手法を固定手段に採用している。本実施の形態
のコンタクトプローブ３１、３２は、先端部分が検査基
板に押しあてられる棒状の接点ピン３５と、上記接点ピ
ン３５が挿入される筒状の接点ピン受け３３と、上記接
点ピン３５と上記接点ピン受け３３との間に設けられ上
記接点ピン３５の先端部分を上記検査基板の方向に付勢
するスプリング３４とを備えるコンタクトプローブであ
って、上記接点ピン３５を上記検査基板とは反対方向に
押し下げた状態で固定する固定手段をさらに備えたこと
を特徴としている。上記接点ピン３５は上記筒状の接点
ピン受け３３と上記接点ピン受け３３の一端に連続的に
接続された上記スプリング３４とを貫通しており、上記
スプリング３４は上記接点ピン３５の先端部分を上記検
査基板の方向に付勢するように構成されている。本実施
の形態では、固定手段としては、上記接点ピン受け３３
に設けられた鍵状の溝１０と、上記接点ピン３５に設け
られ上記鍵状の溝１０に導かれる第２フック１１とを備
えている。

【００１９】さらに、具体的には、本実施の形態でも、
接点ピン受け３３は、円筒形をしておりそれ以外の部分
より直径が大きいフランジ部３３ａを備えている。アク
リル板に形成された開口部にコンタクトプローブが挿入
されると幅の広いフランジ部３３ａが開口部に係合して
アクリル板にコンタクトプローブが固定される。接点ピ
ン受け３５は、棒状をしており、検査基板のランドに押
し当てられる先端部３５ａ及びその他端に設けられ測定
用のソケットが挿入されるソケット接続部３５ｂを備え
ている。スプリング３４は、第１及び第２の実施の形態
のコンタクトプローブでは接点ピン受け内部の中空部に
配置されていたが、本実施の形態のコンタクトプローブ
では接点ピン受け３３の外部に設けられている。

【００２０】本実施の形態でも、固定手段として、鍵状
の溝１０が接点ピン受け７に設けられ、接点ピン４には
この鍵状の溝１０に導かれる第２フック１１が形成され
ている。ここでは、鍵状の溝１０は図３に示されるよう
にＪ字状の形状をしている。鍵状の溝１０は、接点ピン
３５を最も押し下げた状態から少しだけ戻った位置に固
定部１２を備えており、検査に利用されないコンタクト
プローブについては、接点ピン３５を押し下げた後、ス
プリング３４の弾発力を利用して接点ピン３５の第２フ
ック１１をこの固定部１２に係合させて接点ピン３５を
押し下げた状態で固定することができる。押し下げられ
ない図４の第６のコンタクトプローブ３１は測定にその
まま利用でき、図示しない検査基板の裏面のランドに押
しあてられ、テストに利用できる。この第３の実施の形
態のコンタクトプローブの使用方法は、第２の実施の形
態のコンタクトプローブとほぼ同様である。本実施の形
態のコンタクトプローブによれば、接点ピン３５を検査
基板とは反対方向に押し下げた状態で固定する固定手段
を備えたので、第１及び第２の実施の形態と同様な効果
がもたらされる。さらに、第１の実施の形態と比較し
て、固定手段にスプリングやスプリングによって移動す
るフックなど可動部分がなく、固定手段を構成する部品
点数が少ないので、より簡単な構成で検査基板変更によ
り生じる費用の削減や切り替え時間などの短縮を実現す
ることができる。

【００２１】さらに、本発明の固定手段としては、第
１、第２及び第３の実施の形態のような手法で説明した
が、この他にもボールペンなどに使用されるノック式に
よっても実現することが可能である。すなわち、接点ピ
ンを検査基板とは反対方向に押し込むと押し込んだ低い
位置で固定され、再度、検査基板とは反対方向に押し込
むと押し込んだ状態が解除されて高い位置に復帰するよ
うな構造でも実現することが可能であろう。

【００２２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のコンタク
トプローブによれば、接点ピンを上記検査基板とは反対
方向に押し下げた状態で固定する固定手段をさらに備え
たので、第１点として従来検査基板や検査基板組立品毎
に制作していたフィクスチャーを共通に使用することが
できるので、費用の削減を図ることができる。

【００２３】第２点として、共通にフィクスチャーを使
用する際、従来の課題であった不要なランド同士の短絡
を防止することができるので、電気的な検査基板の破壊
を防止することができる。

【００２４】第３点として、コンタクトプローブを固定
するのに、従来のようなコンタクトプローブ自体を抜き
差しするというような多大な時間を要求されないので、
生産品変更の際の機種切り替え時間などの短縮を図るこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態のコンタクトプロー
ブを説明するための断面図である。

【図２】図１のコンタクトプローブの部分拡大断面図で
ある。

【図３】本発明の第２の実施の形態のコンタクトプロー
ブを説明するための断面図である。

【図４】図１及び図２とは異なる形状のコンタクトプロ
ーブに適用した場合の第３の実施の形態のコンタクトプ
ローブの側面図である。

【符号の説明】

１ 第１のコンタクトプローブ ２ 第２のコンタクトプローブ ３ 検査基板 ４、３５ 接点ピン ４ａ 幅広部 ５ アクリル板 ６、３４ スプリング ７、３３ 接点ピン受け ７ａ、３３ａ フランジ部 ７ｂ 幅細部 ７ｃ、３５ｂ ソケット接続部 ８ スプリング ９ 第１フック １０ 鍵状の溝 １１ 第２フック １２ 固定部 ２１ 第３のコンタクトプローブ ２２ 第４のコンタクトプローブ ３１ 第５のコンタクトプローブ ３２ 第６のコンタクトプローブ ３５ａ 先端部

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 先端部分が検査基板に押しあてられる棒
   状の接点ピンと、前記接点ピンが挿入される筒状の接点
   ピン受けと、前記接点ピンと前記接点ピン受けとの間に
   設けられ前記接点ピンの先端部分を前記検査基板の方向
   に付勢するスプリングとを備えるコンタクトプローブで
   あって、前記接点ピンを前記検査基板とは反対方向に押
   し下げた状態で固定する固定手段をさらに備えたことを
   特徴とするコンタクトプローブ。
2. 【請求項２】 前記接点ピン受けは前記接点ピンが挿入
   される中空部を有し、前記スプリングは前記接点ピン受
   けの前記中空部に配置されて前記接点ピンの先端部分を
   前記検査基板の方向に付勢することを特徴とする請求項
   １記載のコンタクトプローブ。
3. 【請求項３】 前記固定手段は、前記接点ピン受けに設
   けられた開口部と、前記接点ピンに設けられ前記開口部
   に位置したときに前記開口部から突出するフックとを備
   えていることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の
   コンタクトプローブ。
4. 【請求項４】 前記接点ピンは前記筒状の接点ピン受け
   及び前記接点ピン受けの一端に連続的に接続された前記
   スプリングを貫通しており、前記スプリングは前記接点
   ピンの先端部分を前記検査基板の方向に付勢することを
   特徴とする請求項１記載のコンタクトプローブ。
5. 【請求項５】 前記固定手段は、前記接点ピン受けに設
   けられた鍵状の溝と、前記接点ピンに設けられ前記鍵状
   の溝に導かれるフックとを備えていることを特徴とする
   請求項１、請求項２又は請求項５記載のコンタクトプロ
   ーブ。