JPH11260889A - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

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JPH11260889A
JPH11260889A JP10082549A JP8254998A JPH11260889A JP H11260889 A JPH11260889 A JP H11260889A JP 10082549 A JP10082549 A JP 10082549A JP 8254998 A JP8254998 A JP 8254998A JP H11260889 A JPH11260889 A JP H11260889A
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
vacuum chamber
ion implantation
holding
cassette
Prior art date
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Application number
JP10082549A
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English (en)
Inventor
Tadamoto Tamai
忠素 玉井
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Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板の移動経路を適宜に選択することによ
り、コンパクトな構成でスループットをより向上させ、
あるいは装置の稼動条件の変化に柔軟に対応することが
できるイオン注入装置を提供する。 【解決手段】 真空チャンバ10の一端側に形成された
ビーム照射領域16と、ビーム照射領域を挟んで対向し
て配置され、基板Wを保持してビーム照射領域のビーム
に曝す一対の基板保持装置と、真空チャンバの他端側に
基板保持装置にそれぞれ対向して配置された一対の基板
収容部と、各基板収容部と基板保持装置の間にそれぞれ
配置された搬送ロボット44a,44bと、2つの搬送
ロボットの間に配置された基板中継台46を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ等の
基板の表面にイオン注入処理を行うためのイオン注入装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの大径化に伴い、従来の複
数枚を同時に処理するバッチ式イオン注入装置に替わ
り、1枚ごとに処理する枚葉式のイオン注入装置が一般
的になっている。この枚葉式のイオン注入装置は、通
常、1基のイオンビーム源に対して2基の多関節型のロ
ボットアーム(基板保持装置)を設け、基板を順次ビー
ムに曝して装置を効率的に稼動するようにしている。多
関節型のロボットアームは、基板をビームに直交する方
向に移動してその全面にビーム照射するとともに、基板
の交換作業も行う。
【0003】このような形式の枚葉式のイオン注入装置
においては、多関節型のロボットアームに対向して複数
枚のウエハを収容したカセットを置く2つのロードロッ
クチャンバを配置し、それぞれのロードロックチャンバ
と多関節型のロボットアームの間に基板を授受する搬送
ロボットを配置して互いに平行な搬送ラインを形成して
いる。そして、この搬送ラインに沿ってカセットと基板
保持装置の間で基板を往復移動させて搬送するようにし
ている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のような枚葉式の
イオン注入装置では、保持装置とカセットがそれぞれ専
用に設けられているために、基板の移動が制約されてお
り、種々に異なる稼動条件に柔軟に対応することができ
ない。例えば、イオン源等の不調でイオンの注入ミスが
生じた場合、続けて2つの基板が不良になるが、これら
を別々のカセットに返さなければならないので、後処理
に手間が掛かることになる。また、基板のカセットへの
挿入位置を並び替えるために真空チャンバの側部にバッ
ファチャンバを設けることがあるが、従来は装置の両側
にこれを設ける必要が有り、自ずと装置が大型化してし
まう。
【0005】この発明は、このような課題に鑑み、基板
の移動経路を適宜に選択することにより、コンパクトな
構成でスループットをより向上させ、あるいは装置の稼
動条件の変化に柔軟に対応することができるイオン注入
装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、真空チャンバの一端側の形成されたビーム照射領域
と、前記ビーム照射領域を挟んで対向して配置され、基
板を保持して前記ビーム照射領域のビームに曝す一対の
基板保持装置と、前記真空チャンバの他端側に前記基板
保持装置にそれぞれ対向して配置された一対の基板収容
部と、前記各基板収容部と前記基板保持装置の間にそれ
ぞれ配置された搬送ロボットと、前記2つの搬送ロボッ
トの間に配置された基板中継台を設けたことを特徴とす
るイオン注入装置である。
【0007】これにより、2つの平行する搬送ラインの
間で交差して基板を授受することができ、全体の基板の
流れの選択肢が広くなり、スループットの向上、不測の
事態への柔軟な対応、品質の向上等を達成することがで
きる。
【0008】請求項2に記載の発明は、前記真空チャン
バの一側部に、基板を一時的に収容するバッファチャン
バが設けられていることを特徴とする請求項1に記載の
イオン注入装置である。このバッファチャンバは、基板
の並べ替え等の目的で用いられ、従来は、各搬送ライン
ごとに設けられていたが、この発明では、中継台を経由
して他のラインとの間の授受が可能なので、一側部に設
ければよい。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態のイオン注入装置を説明する。図1(a)及
び(b)は、イオン注入装置の全体の構成を示す平面図
であり、全体として矩形の底面を有する真空チャンバ1
0を有している。真空チャンバ10の左側には、例え
ば、円形断面のイオンビーム12を水平方向に走査しつ
つ放出するイオンビーム源(図示略)が配置されてお
り、真空チャンバ10にはビーム通過窓14が形成され
て、これの内側にビーム照射領域16が形成されてい
る。真空チャンバ10内には、ビーム照射領域16の両
側に一対の基板保持ロボット18a,18bが設けら
れ、照射領域16の後方には基板Wに当たらずに通過し
たイオンビーム12を受けてその強度を測定するイオン
電流検出器20が設けられている。
【0010】基板保持ロボット18a,18bは、図2
に示すように、旋回式多関節ロボットであり、2つの関
節アーム22a,22bを備えて先端が鉛直面内で移動
可能な伸縮アーム22と、その先端にアーム22bに対
して直交する方向に延びる回転可能な取付軸24と、該
取付軸24の先端に設けられた基板保持台26を有して
いる。伸縮アーム22及び取付軸24はプーリ28a,
28bを介して駆動機構30a,30bの駆動モータに
連結され、全体が水平回動機構によって水平面内で旋回
可能になっている。
【0011】基板保持台26には、静電気力により基板
Wを吸着する静電チャック及びこれと連動する機械的チ
ャックが設けられ、また、イオン注入される過程で発熱
する基板Wを冷却するために、基板保持台26を水冷す
る機構及び基板保持台26と基板Wの間の熱伝導を促進
するガスを流す手段が設けられている。また、基板保持
ロボット18a,18bには、所定の冷却機構と、関節
部やアクチュエータからのパーティクルを真空チャンバ
内に放出しないように独自に排気する機構が設けられて
いる。
【0012】真空チャンバ10には、基板保持ロボット
18a,18bが後方に旋回した時の基板保持台26の
位置(基板受渡し位置34)に、静電チャックや機械的
チャックを解除する機構及び、基板保持台の下降に伴っ
て基板Wを突き上げる突き上げピン装置等が設けられて
いる。
【0013】さらに、イオンビーム12が流入する窓1
4と対向する壁部には、2つの基板保持ロボット18
a,18bに対応する位置に左右一対のロードロックチ
ャンバ36a,36bがそれぞれゲートバルブ38a,
38bを介して設けられ、これには多段の棚を有するカ
セット40a,40bが昇降可能に収容されるようにな
っている。各ロードロックチャンバ36a,36bの前
側には、先端に取出ハンド42を有する左右一対の多関
節ロボットアーム(搬送ロボット)44a,44bが配
置され、基板受渡し位置34にある基板保持台26と各
ロードロックチャンバ36a,36b内のカセット40
a,40bとの間で基板Wの搬送を行うようになってい
る。
【0014】これらの一対の搬送ロボット44a,44
bの間には、搬送ロボット間での基板Wの授受を中継す
る中継台46が設けられている。この中継台46は、図
3に示すように、それぞれの端部に基板Wを保持する保
持ロッド48が立設されたT字型の台本体50と、台本
体50の中央部から下方に延びる支柱52とを備えてい
る。この支柱52は、真空チャンバ10の底板54の貫
通孔を挿通し、底板54の下面に固定されたエアシリン
ダ56の出力軸に接続されている。支柱52の下端と貫
通孔の間はベローズ58によって覆われて真空チャンバ
10の気密性を維持している。
【0015】各保持ロッド48の先端には、基板Wの側
面をガイドする樹脂製のサポートピン60aと基板Wの
裏面周縁部で接触するサファイア製のピン60bが取り
付けられている。支柱52と底板54の間には、支柱の
移動速度を調整するためのバネ(図示略)が設けられて
いる。なお、真空チャンバの搬送ロボットが配置されて
いる領域(基板搬送空間)は、底板54が高くなって厚
さが薄い空間になっており、これによって、不要な真空
空間を削除してスペースの有効利用を図っている。
【0016】真空チャンバ10の一方の側部には、搬送
ロボット44bに面する位置にバッファチャンバ62が
設けられている。これには、ロードロックチャンバと同
様に多段の棚を有するバッファカセット66が昇降可能
に収容されるようになっている。これは、後述するよう
に、処理済みの基板Wを一時的に収容するために用いら
れる。
【0017】以上のように構成されたイオン注入装置の
作用を説明する。イオンビーム源は、断面円形のビーム
を図1(a)に矢印Aで示すように水平方向に走査して
いる。搬送ロボット44a,44bは、ロードロックチ
ャンバ36a,36bのカセット40a,40bから基
板Wを取り出し、同図に示すように受渡し位置で待機す
る空の基板保持台26を有する基板保持ロボット18
a,18bに渡す。基板保持ロボット18a,18b
は、取付軸24を回転して保持面を鉛直にしつつ水平回
転して、基板Wを図1(b)及び図4(a)に示すよう
にビーム照射領域16に運ぶ。この基板Wは、駆動機構
30a,30bの動作により、図4(a)〜(d)に示
すように、他の基板保持ロボットに保持された基板Wと
ともに垂直方向に移動し、必要に応じてこれを繰り返し
てその過程でイオンビーム12の照射を受ける。
【0018】次に、イオン注入装置における基板Wの流
れを説明する。以下、一対ある構成要素については、イ
オンビーム源に向かって左側を第1、右側を第2と呼
ぶ。この装置では、中継台46を介して2つの基板搬送
ラインを交差して基板Wを移動することができるので、
それぞれのラインでの平行的な処理のみでなく、例え
ば、1つのカセット40a,40bから基板を連続的に
取り出してイオン注入処理を行うことができる。この場
合について、図5を参照して説明する。
【0019】まず、第1の搬送ロボット44aで第1の
カセット40aから最下段の基板Wを取り出し、図5
(a)に示すように第1の保持ロボット18aに渡し、
第1の保持ロボット18aは基板Wを照射位置に運んで
下降あるいは周回させてイオン注入処理を行う。次に、
第1の搬送ロボット44aで第1のカセット40aの下
から2段目の基板Wを取り出し、図5(b)に示すよう
に中継台46に置き、さらに第2の搬送ロボット44b
によって第2の保持ロボット18bに渡してイオン注入
処理を行う。処理が終わった基板Wは、まず図5(c)
に示すように、第1の保持ロボット18aから第1の搬
送ロボット44aを介して中継台46に置かれ、さらに
第2の搬送ロボット44bによってバッファチャンバ6
2のバッファカセット66の最上段に置かれる。処理が
終わった基板Wは、図5(d)に示すように第2の保持
ロボット18bから直接にバッファカセット66の上か
ら2段目に置かれる。
【0020】以上の図5(a)〜(d)の工程を繰り返
して、図6に示すように、未処理基板Wは順次イオン注
入処理されてバッファカセット66に上下を逆にして収
容される。このような処理が1つのカセット40aの全
基板について終了した後、バッファカセット66から第
1のロードロックチャンバ36aの空のカセット40a
へ基板Wを戻す工程を行う。これは、図5(e)及び図
6に示すように、第2の搬送ロボット44bにより、バ
ッファカセット66の下側から順に基板Wを取り出して
中継台46に置き、第1の搬送ロボット44aで第1の
カセット40aに上側から順に収容する。
【0021】このようにすることで、処理済みの基板W
が常に上側からカセット40aに元の順番で収容される
ので、基板Wをカセットの棚に置くことによって発生す
るパーティクルが下側の処理済みの基板W上に落下して
汚染することがない。このように、中継台46を介して
第1の搬送ラインとバッファチャンバ62の間で基板W
の授受が可能なので、バッファチャンバ62を両側に設
ける必要が無く、装置をコンパクトにすることができ
る。
【0022】図7は、第2のロードロックチャンバ36
bの基板Wを同様に処理して戻す工程を示すもので、同
図(a)〜(d)の工程は先の場合と基本的に同様であ
る。また、バッファカセット66から第2のカセット4
0bに戻す工程は中継台46を介さずに直接に行えるの
で、図5の場合よりも短時間で済む。従って、第2のロ
ードロックチャンバにあらかじめ空のカセットを用意し
ておいて、図7(e)の工程を行うようにしてもよい。
この場合、第1のロードロックチャンバ36aには空に
なったカセットと新たな未処理基板Wの入ったカセット
とを交換して図5に示す工程で処理を並行することがで
きる。
【0023】さらに、従来の枚葉式イオン注入機のよう
に、第1のロードロックチャンバ36aの基板Wを第1
の保持ロボット18aに、第2のロードロックチャンバ
36bの基板Wを第2の保持ロボット18bに、それぞ
れ各搬送ラインで平行的に送るようにしても良い。その
場合でも、中継台46を用いることにより、バッファチ
ャンバ62を経由することができ、カセット40a,4
0b内の基板Wを下から取り、上から戻すような操作が
可能となる利点が有る。
【0024】上記の実施の形態では、中継台を用いた基
板W搬送のあるパターン例を説明したが、これ以外にも
適宜のパターンが可能である。また、注入装置自体ある
いはそれを取り巻く環境条件の突発的な変化に応じて基
板Wの流れを種々に変更することができ、様々な事態に
柔軟に対応することが可能である。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、2つの平行する搬送ラインの間で交差して基板を授
受することができ、全体の基板の流れの選択肢が広くな
るので、基板の移動経路を適宜に選択することにより、
コンパクトな構成でスループットをより向上させ、ある
いは装置の稼動条件の変化に柔軟に対応することができ
るイオン注入装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の1つの実施の形態のイオン注入装置
を示す平面図である。
【図2】図1の装置の要部を示す斜視図である。
【図3】図1(a)のIII線に沿った断面図である。
【図4】イオン注入工程を示す図である。
【図5】基板の流れを説明する図である。
【図6】基板の流れを説明する図である。
【図7】基板の流れを説明する図である。
【符号の説明】
10 真空チャンバ 12 イオンビーム 14 窓 16 ビーム照射領域 18a,18b 基板保持ロボット 26 基板保持台 44a,44b 搬送ロボット 46 中継台 62 バッファチャンバ W 基板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空チャンバの一端側に形成されたビー
    ム照射領域と、 前記ビーム照射領域を挟んで対向して配置され、基板を
    保持して前記ビーム照射領域のビームに曝す一対の基板
    保持装置と、 前記真空チャンバの他端側に前記基板保持装置にそれぞ
    れ対向して配置された一対の基板収容部と、 前記各基板収容部と前記基板保持装置の間にそれぞれ配
    置された搬送ロボットと、 前記2つの搬送ロボットの間に配置された基板中継台を
    設けたことを特徴とするイオン注入装置。
  2. 【請求項2】 前記真空チャンバの一側部に、基板を一
    時的に収容するバッファチャンバが設けられていること
    を特徴とする請求項1に記載のイオン注入装置。
JP10082549A 1998-03-13 1998-03-13 イオン注入装置 Pending JPH11260889A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10082549A JPH11260889A (ja) 1998-03-13 1998-03-13 イオン注入装置
US09/266,893 US6313469B1 (en) 1998-03-13 1999-03-12 Substrate handling apparatus and ion implantation apparatus

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10082549A JPH11260889A (ja) 1998-03-13 1998-03-13 イオン注入装置

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JP10082549A Pending JPH11260889A (ja) 1998-03-13 1998-03-13 イオン注入装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006521704A (ja) * 2003-03-24 2006-09-21 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド 高速で対象物を取り扱う方法および装置
WO2010103958A1 (ja) * 2009-03-09 2010-09-16 シャープ株式会社 基板搬送方法
WO2021196397A1 (zh) * 2020-04-01 2021-10-07 上海临港凯世通半导体有限公司 离子注入机的作业平台

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