JPH1126893A - プリント配線板 - Google Patents
プリント配線板Info
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- JPH1126893A JPH1126893A JP19042197A JP19042197A JPH1126893A JP H1126893 A JPH1126893 A JP H1126893A JP 19042197 A JP19042197 A JP 19042197A JP 19042197 A JP19042197 A JP 19042197A JP H1126893 A JPH1126893 A JP H1126893A
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- wiring board
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K1/117—Pads along the edge of rigid circuit boards, e.g. for pluggable connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0097—Processing two or more printed circuits simultaneously, e.g. made from a common substrate, or temporarily stacked circuit boards
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- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 V溝の刻設位置の確認が容易で、Vカット加
工後の電気的信頼性の高いプリント配線板を提供する。 【解決手段】 端子31a、31b、および接続部31
cから成る導通パターン31と、端子32a、32b、
および接続部32cから成る導通パターン32を、予定
線10を挟んで対向し、かつ予定線10を挟んで互いに
鏡像関係になるよう形成する。接続部31cは回路パタ
ーン形成領域1aとV溝のずれ許容領域10aの境界線
10bに接し、接続部32cは、回路パターン形成領域
1aとV溝のずれ許容領域10aの境界線10cに接し
ている。さらに、V溝がV溝のずれ許容領域10aを越
えて刻設された場合、接続部31cもしくは32cが断
線する位置に導通パターン31、32を形成する。
工後の電気的信頼性の高いプリント配線板を提供する。 【解決手段】 端子31a、31b、および接続部31
cから成る導通パターン31と、端子32a、32b、
および接続部32cから成る導通パターン32を、予定
線10を挟んで対向し、かつ予定線10を挟んで互いに
鏡像関係になるよう形成する。接続部31cは回路パタ
ーン形成領域1aとV溝のずれ許容領域10aの境界線
10bに接し、接続部32cは、回路パターン形成領域
1aとV溝のずれ許容領域10aの境界線10cに接し
ている。さらに、V溝がV溝のずれ許容領域10aを越
えて刻設された場合、接続部31cもしくは32cが断
線する位置に導通パターン31、32を形成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
おいてV溝のずれを容易に検出することが可能なプリン
ト配線板に関する。
おいてV溝のずれを容易に検出することが可能なプリン
ト配線板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、一枚の絶縁基板に複数の回路パタ
ーンを形成し、それぞれの回路パターンが形成された領
域(以下、「回路パターン形成領域」)ごとに絶縁基板
を分割して複数のプリント配線板を得るVカット工法が
知られている。Vカット工法では、絶縁基板を分割する
予定線上に断面形状がV字型のV溝を刻設し、そのV溝
に沿って絶縁基板を分割する。V溝は絶縁基板の表裏に
互いに対応する位置に刻設される。近年、電子機器は軽
薄短小化の傾向にあり、搭載される各部材の大きさ、形
状には正確さが要求されている。従って、プリント配線
板製造の最終工程であるVカット工法においてV溝は正
確な位置に刻設されなければならない。
ーンを形成し、それぞれの回路パターンが形成された領
域(以下、「回路パターン形成領域」)ごとに絶縁基板
を分割して複数のプリント配線板を得るVカット工法が
知られている。Vカット工法では、絶縁基板を分割する
予定線上に断面形状がV字型のV溝を刻設し、そのV溝
に沿って絶縁基板を分割する。V溝は絶縁基板の表裏に
互いに対応する位置に刻設される。近年、電子機器は軽
薄短小化の傾向にあり、搭載される各部材の大きさ、形
状には正確さが要求されている。従って、プリント配線
板製造の最終工程であるVカット工法においてV溝は正
確な位置に刻設されなければならない。
【0003】このようなV溝の刻設位置を確認する方法
として、目視検査、電気的検査が知られている。目視検
査としては、予定線上の一部に所定の幅を有する銅箔パ
ターンを形成し、V溝を刻設した後の銅箔の残存形状を
目視でチェックする方法が知られている。また、電気的
検査として、電気検査機で回路パターンを検査する際、
同時にV溝の刻設位置を確認する方法が知られている。
すなわち、予定線上のほぼ全域に所定の幅を有しかつ所
定の位置に複数の端子を備えた銅箔パターンを形成し、
V溝を刻設した後、電気的に回路パターン検査を行う
際、電気検査機にセットされたフィクスチャーのプロー
ブを端子に当て、それらの端子間の導通、非導通をチェ
ックしてV溝の刻設位置確認する方法である。
として、目視検査、電気的検査が知られている。目視検
査としては、予定線上の一部に所定の幅を有する銅箔パ
ターンを形成し、V溝を刻設した後の銅箔の残存形状を
目視でチェックする方法が知られている。また、電気的
検査として、電気検査機で回路パターンを検査する際、
同時にV溝の刻設位置を確認する方法が知られている。
すなわち、予定線上のほぼ全域に所定の幅を有しかつ所
定の位置に複数の端子を備えた銅箔パターンを形成し、
V溝を刻設した後、電気的に回路パターン検査を行う
際、電気検査機にセットされたフィクスチャーのプロー
ブを端子に当て、それらの端子間の導通、非導通をチェ
ックしてV溝の刻設位置確認する方法である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の検査
方法はいずれもV溝の刻設位置確認のための銅箔パター
ンが予定線を跨って形成されるため、V溝を刻設しその
V溝に沿ってプリント配線板を分割すると、残存した銅
箔パターンにおいて絶縁基板の表面とほぼ垂直な面が、
分割されたプリント配線板の側面に隣接した面として露
出する。プリント配線板の側面にはソルダレジストによ
るマスクが施されないため、はんだdipにより電子部
品を実装する際、残存した銅箔パターンの絶縁基板の表
面とほぼ垂直な面には、はんだが小さな玉となって付着
する。このはんだの玉はわずかな振動で剥離してしまう
ため、電子部品に付着しショート等の不具合の原因とな
るという問題があった。
方法はいずれもV溝の刻設位置確認のための銅箔パター
ンが予定線を跨って形成されるため、V溝を刻設しその
V溝に沿ってプリント配線板を分割すると、残存した銅
箔パターンにおいて絶縁基板の表面とほぼ垂直な面が、
分割されたプリント配線板の側面に隣接した面として露
出する。プリント配線板の側面にはソルダレジストによ
るマスクが施されないため、はんだdipにより電子部
品を実装する際、残存した銅箔パターンの絶縁基板の表
面とほぼ垂直な面には、はんだが小さな玉となって付着
する。このはんだの玉はわずかな振動で剥離してしまう
ため、電子部品に付着しショート等の不具合の原因とな
るという問題があった。
【0005】本発明は、以上の問題を解決するものであ
り、V溝の刻設位置の確認のための銅箔パターンがV溝
刻設後に電気的に悪影響を及ぼさないプリント配線板を
提供することを目的としている。
り、V溝の刻設位置の確認のための銅箔パターンがV溝
刻設後に電気的に悪影響を及ぼさないプリント配線板を
提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント配
線板は、複数の回路パターン形成領域と、複数の回路パ
ターン形成領域の間に位置し、Vカット加工のためのV
溝が刻設される予定線を含むV溝のずれ許容領域とを有
するプリント配線板において、一対の端子と一対の端子
を接続し一対の端子よりも予定線に近い位置に形成され
る接続部を有するV溝刻設位置確認のための導通パター
ンが予定線の両側にそれぞれ少なくとも1つ形成され、
接続部が回路パターン形成領域とV溝のずれ許容領域と
の境界線に接していることを特徴とする。
線板は、複数の回路パターン形成領域と、複数の回路パ
ターン形成領域の間に位置し、Vカット加工のためのV
溝が刻設される予定線を含むV溝のずれ許容領域とを有
するプリント配線板において、一対の端子と一対の端子
を接続し一対の端子よりも予定線に近い位置に形成され
る接続部を有するV溝刻設位置確認のための導通パター
ンが予定線の両側にそれぞれ少なくとも1つ形成され、
接続部が回路パターン形成領域とV溝のずれ許容領域と
の境界線に接していることを特徴とする。
【0007】好ましくは、V溝がV溝のずれ許容領域を
越えて刻設された場合、接続部が除去され一対の端子が
非導通となる位置に導通パターンが形成されている。
越えて刻設された場合、接続部が除去され一対の端子が
非導通となる位置に導通パターンが形成されている。
【0008】また、本発明に係るプリント配線板は、回
路パターン形成領域と、回路パターン形成領域の間に位
置し、Vカット加工のためのV溝が刻設される予定線を
含むV溝のずれ許容領域とを有するプリント配線板にお
いて、一対の端子と一対の端子を接続し一対の端子より
も予定線に近い位置に形成される接続部を有するV溝刻
設位置確認のための導通パターンが予定線の両側にそれ
ぞれ少なくとも1つ形成され、接続部が回路パターン形
成領域とV溝のずれ許容領域との境界線に接し、V溝の
ずれ許容領域内にV溝が刻設されていることを特徴とす
る。
路パターン形成領域と、回路パターン形成領域の間に位
置し、Vカット加工のためのV溝が刻設される予定線を
含むV溝のずれ許容領域とを有するプリント配線板にお
いて、一対の端子と一対の端子を接続し一対の端子より
も予定線に近い位置に形成される接続部を有するV溝刻
設位置確認のための導通パターンが予定線の両側にそれ
ぞれ少なくとも1つ形成され、接続部が回路パターン形
成領域とV溝のずれ許容領域との境界線に接し、V溝の
ずれ許容領域内にV溝が刻設されていることを特徴とす
る。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態に
係るプリント配線板の平面図である。プリント配線板1
は、所定のピッチで縦方向に平行に延びる3本の予定線
10と横方向に延びる1本の予定線20を有している。
V溝のずれ許容領域10aは、予定線10を中心として
所定の幅を有し予定線10に沿って延びており、V溝の
ずれ許容領域20aは予定線20を中心として所定の幅
を有し予定線20に沿って延びている。V溝のずれ許容
領域10aおよびV溝のずれ許容領域20aには説明の
都合上、斜線を施している。回路パターン形成領域1a
は、V溝のずれ許容領域10aおよびV溝のずれ許容領
域20aにより規定され、マトリックス状に並んでい
る。換言すれば、V溝のずれ許容領域10aおよび20
aは、複数の回路パターン形成領域1aの間に位置して
おり、それぞれ予定線10、20を含んでいる。
を参照して説明する。図1は、本発明の第1実施形態に
係るプリント配線板の平面図である。プリント配線板1
は、所定のピッチで縦方向に平行に延びる3本の予定線
10と横方向に延びる1本の予定線20を有している。
V溝のずれ許容領域10aは、予定線10を中心として
所定の幅を有し予定線10に沿って延びており、V溝の
ずれ許容領域20aは予定線20を中心として所定の幅
を有し予定線20に沿って延びている。V溝のずれ許容
領域10aおよびV溝のずれ許容領域20aには説明の
都合上、斜線を施している。回路パターン形成領域1a
は、V溝のずれ許容領域10aおよびV溝のずれ許容領
域20aにより規定され、マトリックス状に並んでい
る。換言すれば、V溝のずれ許容領域10aおよび20
aは、複数の回路パターン形成領域1aの間に位置して
おり、それぞれ予定線10、20を含んでいる。
【0010】図1において予定線10の左側には導通パ
ターン31が形成され、予定線10の右側には導通パタ
ーン32が形成されている。導通パターン31、32
は、予定線10の両端部近傍、すなわちプリント配線板
1の上端部および下端部の近傍にそれぞれ形成されてい
る。また、図1において予定線20の上側には導通パタ
ーン41が形成され、予定線20の下側には導通パター
ン42が形成されている。導通パターン41、42は、
予定線20の両端部近傍、すなわちプリント配線板1の
右端部および左端部近傍にそれぞれ形成されている。
ターン31が形成され、予定線10の右側には導通パタ
ーン32が形成されている。導通パターン31、32
は、予定線10の両端部近傍、すなわちプリント配線板
1の上端部および下端部の近傍にそれぞれ形成されてい
る。また、図1において予定線20の上側には導通パタ
ーン41が形成され、予定線20の下側には導通パター
ン42が形成されている。導通パターン41、42は、
予定線20の両端部近傍、すなわちプリント配線板1の
右端部および左端部近傍にそれぞれ形成されている。
【0011】図2は、図1のプリント配線板1の上端部
近傍において導通パターン31、32が形成された部分
の拡大図である。導通パターン31は、端子31a、3
1b、および端子31aと31bを接続しかつ端子31
a、31bよりも予定線10に近い位置に形成された接
続部31cを有している。接続部31cは、予定線10
に対して略直交する方向に延び、それぞれ端子31a、
31bと導通する2本の直交部と、予定線10と平行に
延びる平行部から成るコの字型を有している。同様に、
導通パターン32は、端子32a、32b、接続部32
cを有しており、接続部32cは平行部および2本の直
交部から成るコの字型を有している。
近傍において導通パターン31、32が形成された部分
の拡大図である。導通パターン31は、端子31a、3
1b、および端子31aと31bを接続しかつ端子31
a、31bよりも予定線10に近い位置に形成された接
続部31cを有している。接続部31cは、予定線10
に対して略直交する方向に延び、それぞれ端子31a、
31bと導通する2本の直交部と、予定線10と平行に
延びる平行部から成るコの字型を有している。同様に、
導通パターン32は、端子32a、32b、接続部32
cを有しており、接続部32cは平行部および2本の直
交部から成るコの字型を有している。
【0012】導通パターン31、32は予定線10を挟
んで対向するよう形成されており、また、予定線10を
挟んで互いに鏡像関係にある。さらに、導通パターン3
1の接続部31cにおいて予定線10に最も近い平行部
は、V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成領域
1aの境界線10bに接しており、導通パターン32の
接続部32cにおいて予定線10に最も近い平行部は、
V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成領域1a
の境界線10cに接している。すなわち、V溝の一部が
境界線10bを越えて回路パターン形成領域1aの側に
刻設された場合に接続部31cが断線する位置に導通パ
ターン31は形成され、V溝の一部が境界線10cを越
えて回路パターン形成領域1aの側に刻設された場合に
接続部32cが断線する位置に導通パターン32は形成
されている。プリント配線板1の下端部近傍の導通パタ
ーン31、32および右端部、左端部近傍の導通パター
ン41、42も同様の構成を有している。
んで対向するよう形成されており、また、予定線10を
挟んで互いに鏡像関係にある。さらに、導通パターン3
1の接続部31cにおいて予定線10に最も近い平行部
は、V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成領域
1aの境界線10bに接しており、導通パターン32の
接続部32cにおいて予定線10に最も近い平行部は、
V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成領域1a
の境界線10cに接している。すなわち、V溝の一部が
境界線10bを越えて回路パターン形成領域1aの側に
刻設された場合に接続部31cが断線する位置に導通パ
ターン31は形成され、V溝の一部が境界線10cを越
えて回路パターン形成領域1aの側に刻設された場合に
接続部32cが断線する位置に導通パターン32は形成
されている。プリント配線板1の下端部近傍の導通パタ
ーン31、32および右端部、左端部近傍の導通パター
ン41、42も同様の構成を有している。
【0013】このようなプリント配線板1に対して、断
面形状がV字型のV溝を予定線10および20上に、す
なわち溝の底線が予定線10、20に一致するよう刻設
する。図3は、V溝がV溝のずれ許容範囲内に刻設され
た場合の導通パターン31、32の近傍部分を示す拡大
図である。V溝100の底線101は、予定線10上に
位置している。また、プリント配線板1の端部には切り
欠き部102が形成されている。V溝100はV溝のず
れ許容範囲10a内に刻設されているため、V溝刻設後
も導通パターン31、32は断線することがない。従っ
て、プリント配線板1に電気検査機によるパターン検査
を行った場合、導通パターン31、32はどちらも電気
的に導通することが確認される。
面形状がV字型のV溝を予定線10および20上に、す
なわち溝の底線が予定線10、20に一致するよう刻設
する。図3は、V溝がV溝のずれ許容範囲内に刻設され
た場合の導通パターン31、32の近傍部分を示す拡大
図である。V溝100の底線101は、予定線10上に
位置している。また、プリント配線板1の端部には切り
欠き部102が形成されている。V溝100はV溝のず
れ許容範囲10a内に刻設されているため、V溝刻設後
も導通パターン31、32は断線することがない。従っ
て、プリント配線板1に電気検査機によるパターン検査
を行った場合、導通パターン31、32はどちらも電気
的に導通することが確認される。
【0014】図4は、図3のプリント配線板1を切り欠
き部102の側からみた側面図である。V溝100が刻
設された面の裏面には、V溝100に相当する位置にV
溝100’が刻設されている。プリント配線板1は、V
溝100、100’の断面形状の頂点を結ぶ線Bに相当
する位置で分割される。プリント配線板1を分割する
と、分割後のプリント配線板の側面(図3の線Bに相当
する面)とV溝100の内面100aは互いに隣接した
状態にあるが、導通パターン31の側面31sは、V溝
100の内面100aに隣接した側面とはならない。そ
のため、導通パターン31の上面31uとともに側面3
1sもソルダレジストによりマスクされるので、電子部
品実装時のはんだdipにおいてはんだの玉が側面31
sに付着することがない。同様に、導通パターン32の
側面32sもV溝100の内面100aに隣接した側面
とはならないため、はんだdipにおいてはんだの玉が
側面32sに付着することはない。
き部102の側からみた側面図である。V溝100が刻
設された面の裏面には、V溝100に相当する位置にV
溝100’が刻設されている。プリント配線板1は、V
溝100、100’の断面形状の頂点を結ぶ線Bに相当
する位置で分割される。プリント配線板1を分割する
と、分割後のプリント配線板の側面(図3の線Bに相当
する面)とV溝100の内面100aは互いに隣接した
状態にあるが、導通パターン31の側面31sは、V溝
100の内面100aに隣接した側面とはならない。そ
のため、導通パターン31の上面31uとともに側面3
1sもソルダレジストによりマスクされるので、電子部
品実装時のはんだdipにおいてはんだの玉が側面31
sに付着することがない。同様に、導通パターン32の
側面32sもV溝100の内面100aに隣接した側面
とはならないため、はんだdipにおいてはんだの玉が
側面32sに付着することはない。
【0015】図5は、V溝が境界線10bを超えて刻設
された場合の導通パターン31、32の近傍部分を示す
拡大図である。V溝100の底線101は予定線10上
に位置しておらず、また導通パターン31はV溝100
により断線している。従って、導通パターン31、32
に電気検査機による導通チェックを行った場合、導通パ
ターン31は電気的に非導通であることが確認される。
された場合の導通パターン31、32の近傍部分を示す
拡大図である。V溝100の底線101は予定線10上
に位置しておらず、また導通パターン31はV溝100
により断線している。従って、導通パターン31、32
に電気検査機による導通チェックを行った場合、導通パ
ターン31は電気的に非導通であることが確認される。
【0016】すなわち、V溝を刻設した後回路パターン
を電気検査機でチェックする際、導通パターン31、3
2および41、42の導通、非導通を確認することによ
り、V溝がV溝のずれ許容範囲内に刻設されているか、
あるいはV溝のずれ許容範囲を越えて刻設されているか
をチェックすることができる。
を電気検査機でチェックする際、導通パターン31、3
2および41、42の導通、非導通を確認することによ
り、V溝がV溝のずれ許容範囲内に刻設されているか、
あるいはV溝のずれ許容範囲を越えて刻設されているか
をチェックすることができる。
【0017】図6は、本発明の第2実施形態に係るプリ
ント配線板の平面図である。プリント配線板2は、第1
実施形態のプリント配線板1と同様、所定のピッチで縦
方向に平行に延びる3本の予定線11と横方向に延びる
1本の予定線21を有しており、各予定線11、21に
沿ってV溝のずれ許容領域11a、21aが延びてい
る。図1と同様、V溝のずれ許容領域11aおよびV溝
のずれ許容領域21aには斜線を施している。回路パタ
ーン形成領域2a、V溝のずれ許容領域11aおよびV
溝のずれ許容領域21aの構成は図1と同様である。さ
らに、プリント配線板2の上端部近傍において各予定線
11の左側には導通パターン51が形成されており、プ
リント配線板2の下端部近傍において各予定線11の右
側には導通パターン52が形成されている。また、プリ
ント配線板2の左端部近傍において予定線21の上側に
は導通パターン61が形成されており、プリント配線板
2の右端部近傍において予定線21の下側には導通パタ
ーン62が形成されている。
ント配線板の平面図である。プリント配線板2は、第1
実施形態のプリント配線板1と同様、所定のピッチで縦
方向に平行に延びる3本の予定線11と横方向に延びる
1本の予定線21を有しており、各予定線11、21に
沿ってV溝のずれ許容領域11a、21aが延びてい
る。図1と同様、V溝のずれ許容領域11aおよびV溝
のずれ許容領域21aには斜線を施している。回路パタ
ーン形成領域2a、V溝のずれ許容領域11aおよびV
溝のずれ許容領域21aの構成は図1と同様である。さ
らに、プリント配線板2の上端部近傍において各予定線
11の左側には導通パターン51が形成されており、プ
リント配線板2の下端部近傍において各予定線11の右
側には導通パターン52が形成されている。また、プリ
ント配線板2の左端部近傍において予定線21の上側に
は導通パターン61が形成されており、プリント配線板
2の右端部近傍において予定線21の下側には導通パタ
ーン62が形成されている。
【0018】図7は、導通パターン51、52の拡大図
である。導通パターン51の接続部51cにおいて予定
線11に最も近い平行部は、V溝のずれ許容領域11a
と回路パターン形成領域2aの境界線11bに接してお
り、導通パターン52の接続部52cにおいて予定線1
1に最も近い平行部は、V溝のずれ許容領域11aと回
路パターン形成領域2aの境界線11cに接している。
すなわち、V溝の一部が境界線11bを越えて回路パタ
ーン形成領域2aの側に刻設された場合に接続部51c
が断線する位置に導通パターン51は形成され、V溝の
一部が境界線11cを越えて回路パターン形成領域2a
の側に刻設された場合に接続部52cが断線する位置に
導通パターン52は形成されている。導通パターン6
1、62も同様の構成を有している。
である。導通パターン51の接続部51cにおいて予定
線11に最も近い平行部は、V溝のずれ許容領域11a
と回路パターン形成領域2aの境界線11bに接してお
り、導通パターン52の接続部52cにおいて予定線1
1に最も近い平行部は、V溝のずれ許容領域11aと回
路パターン形成領域2aの境界線11cに接している。
すなわち、V溝の一部が境界線11bを越えて回路パタ
ーン形成領域2aの側に刻設された場合に接続部51c
が断線する位置に導通パターン51は形成され、V溝の
一部が境界線11cを越えて回路パターン形成領域2a
の側に刻設された場合に接続部52cが断線する位置に
導通パターン52は形成されている。導通パターン6
1、62も同様の構成を有している。
【0019】従って、第1実施形態と同様、V溝刻設後
に電気検査機で導通パターン51、52および61、6
2の導通、非導通をチェックすることにより、V溝がず
れの許容範囲内に刻設されているか否かを確認すること
ができる。
に電気検査機で導通パターン51、52および61、6
2の導通、非導通をチェックすることにより、V溝がず
れの許容範囲内に刻設されているか否かを確認すること
ができる。
【0020】図8は、本発明の第3実施形態が適用され
たプリント配線板1の導通パターン近傍を示す拡大図で
ある。導通パターン71は端子71a、71bおよび接
続部71cを有し、導通パターン72は端子72a、7
2bおよび接続部72cを有している。接続部71cお
よび72cはV字型を有している。接続部71cの頂点
と接続部72cの頂点が予定線10を挟んで対向しかつ
互いに鏡像関係にあるよう、導通パターン71、72は
形成される。さらに導通パターン71の接続部71cの
頂点は、V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成
領域1aの境界線10bに接しており、導通パターン7
2の接続部72cの頂点は、V溝のずれ許容領域10a
と回路パターン形成領域1aの境界線10cに接してい
る。すなわち、V溝の一部が境界線10bを越えて回路
パターン形成領域1aの側に刻設された場合に接続部7
1cが断線する位置に導通パターン71は形成され、V
溝の一部が境界線10cを越えて回路パターン形成領域
1aの側に刻設された場合に接続部72cが断線する位
置に導通パターン72は形成されている。
たプリント配線板1の導通パターン近傍を示す拡大図で
ある。導通パターン71は端子71a、71bおよび接
続部71cを有し、導通パターン72は端子72a、7
2bおよび接続部72cを有している。接続部71cお
よび72cはV字型を有している。接続部71cの頂点
と接続部72cの頂点が予定線10を挟んで対向しかつ
互いに鏡像関係にあるよう、導通パターン71、72は
形成される。さらに導通パターン71の接続部71cの
頂点は、V溝のずれ許容領域10aと回路パターン形成
領域1aの境界線10bに接しており、導通パターン7
2の接続部72cの頂点は、V溝のずれ許容領域10a
と回路パターン形成領域1aの境界線10cに接してい
る。すなわち、V溝の一部が境界線10bを越えて回路
パターン形成領域1aの側に刻設された場合に接続部7
1cが断線する位置に導通パターン71は形成され、V
溝の一部が境界線10cを越えて回路パターン形成領域
1aの側に刻設された場合に接続部72cが断線する位
置に導通パターン72は形成されている。
【0021】図9は、本発明の第4実施形態が適用され
たプリント配線板1の導通パターン近傍を示す拡大図で
ある。導通パターン81、82の接続部81c、82c
はそれぞれU字型を有している。第1〜第3実施形態と
同様、接続部81cの頂点と接続部82cの頂点が予定
線10を挟んで対向しかつ互いに鏡像関係にあるよう、
導通パターン81、82は形成され、V溝の一部が境界
線10bを越えて回路パターン形成領域1aの側に刻設
された場合に接続部81cが断線する位置に導通パター
ン81は形成され、V溝の一部が境界線10cを越えて
回路パターン形成領域1aの側に刻設された場合に接続
部82cが断線する位置に導通パターン82は形成され
ている。
たプリント配線板1の導通パターン近傍を示す拡大図で
ある。導通パターン81、82の接続部81c、82c
はそれぞれU字型を有している。第1〜第3実施形態と
同様、接続部81cの頂点と接続部82cの頂点が予定
線10を挟んで対向しかつ互いに鏡像関係にあるよう、
導通パターン81、82は形成され、V溝の一部が境界
線10bを越えて回路パターン形成領域1aの側に刻設
された場合に接続部81cが断線する位置に導通パター
ン81は形成され、V溝の一部が境界線10cを越えて
回路パターン形成領域1aの側に刻設された場合に接続
部82cが断線する位置に導通パターン82は形成され
ている。
【0022】以上のように第1〜第4実施形態によれ
ば、導通パターンを電気的にチェックすることによりV
溝の刻設位置を確認できるので、目視検査に比べ信頼性
が高い。また、導通パターンが予定線に跨って形成され
ていないので、V溝に沿って絶縁基板を分割した後、V
溝の内面と隣接した側面として導通パターンの側面が露
出しないため、はんだdipを施す際、はんだの玉が導
通パターンの側面に付着することがない。
ば、導通パターンを電気的にチェックすることによりV
溝の刻設位置を確認できるので、目視検査に比べ信頼性
が高い。また、導通パターンが予定線に跨って形成され
ていないので、V溝に沿って絶縁基板を分割した後、V
溝の内面と隣接した側面として導通パターンの側面が露
出しないため、はんだdipを施す際、はんだの玉が導
通パターンの側面に付着することがない。
【0023】尚、第1〜第4実施形態では、形成された
導通パターンの接続部の形状が全て同一であるがこれに
限るものではなく、接続部が異なる形状を有する導通パ
ターンを一枚のプリント配線板に形成してもよい。
導通パターンの接続部の形状が全て同一であるがこれに
限るものではなく、接続部が異なる形状を有する導通パ
ターンを一枚のプリント配線板に形成してもよい。
【0024】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、V溝の刻
設位置の確認が容易で、Vカット加工後の電気的信頼性
の高いプリント配線板を得ることができる。
設位置の確認が容易で、Vカット加工後の電気的信頼性
の高いプリント配線板を得ることができる。
【図1】本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の
平面図である。
平面図である。
【図2】第1実施形態の導通パターン近傍の拡大図であ
る。
る。
【図3】V溝がずれの許容範囲内に刻設された場合の導
通パターン近傍の拡大図である。
通パターン近傍の拡大図である。
【図4】V溝がずれの許容範囲内に刻設された場合の導
通パターン近傍の断面図である。
通パターン近傍の断面図である。
【図5】V溝がずれの許容範囲外に刻設された場合の導
通パターン近傍の拡大図である。
通パターン近傍の拡大図である。
【図6】本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の
平面図である。
平面図である。
【図7】第2実施形態の導通パターン近傍の拡大図であ
る。
る。
【図8】第3実施形態の導通パターン近傍の拡大図であ
る。
る。
【図9】第4実施形態の導通パターン近傍の拡大図であ
る。
る。
1、2 プリント配線板 10、20 予定線 31、32、41、42 導通パターン 51、52、61、62 導通パターン 71、72 導通パターン 81、82 導通パターン 100 V溝 101 底線 102 切り欠き部
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の回路パターン形成領域と、前記複
数の回路パターン形成領域の間に位置し、Vカット加工
のためのV溝が刻設される予定線を含むV溝のずれ許容
領域とを有するプリント配線板において、一対の端子と
前記一対の端子を接続し前記一対の端子よりも前記予定
線に近い位置に形成される接続部を有するV溝刻設位置
確認のための導通パターンが前記予定線の両側にそれぞ
れ少なくとも1つ形成され、前記接続部が前記回路パタ
ーン形成領域と前記V溝のずれ許容領域との境界線に接
していることを特徴とするプリント配線板。 - 【請求項2】 前記V溝が前記V溝のずれ許容領域を越
えて刻設された場合、前記接続部が除去され前記一対の
端子が非導通となる位置に前記導通パターンが形成され
ていることを特徴とする請求項1に記載のプリント配線
板。 - 【請求項3】 回路パターン形成領域と、前記回路パタ
ーン形成領域の間に位置し、Vカット加工のためのV溝
が刻設される予定線を含むV溝のずれ許容領域とを有す
るプリント配線板において、一対の端子と前記一対の端
子を接続し前記一対の端子よりも前記予定線に近い位置
に形成される接続部を有するV溝刻設位置確認のための
導通パターンが前記予定線の両側にそれぞれ少なくとも
1つ形成され、前記接続部が前記回路パターン形成領域
と前記V溝のずれ許容領域との境界線に接し、前記V溝
のずれ許容領域内に前記V溝が刻設されていることを特
徴とするプリント配線板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19042197A JPH1126893A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | プリント配線板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19042197A JPH1126893A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | プリント配線板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1126893A true JPH1126893A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=16257864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19042197A Pending JPH1126893A (ja) | 1997-07-01 | 1997-07-01 | プリント配線板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1126893A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9905490B2 (en) | 2015-12-25 | 2018-02-27 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
-
1997
- 1997-07-01 JP JP19042197A patent/JPH1126893A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9905490B2 (en) | 2015-12-25 | 2018-02-27 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device |
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