JPH1127111A - サンプリング回路 - Google Patents

サンプリング回路

Info

Publication number
JPH1127111A
JPH1127111A JP9189056A JP18905697A JPH1127111A JP H1127111 A JPH1127111 A JP H1127111A JP 9189056 A JP9189056 A JP 9189056A JP 18905697 A JP18905697 A JP 18905697A JP H1127111 A JPH1127111 A JP H1127111A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
group
circuits
circuit
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9189056A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichiro Yamaguchi
順一郎 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP9189056A priority Critical patent/JPH1127111A/ja
Priority to US09/105,242 priority patent/US6072336A/en
Publication of JPH1127111A publication Critical patent/JPH1127111A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/0218Circuits therefor
    • G01R13/0272Circuits therefor for sampling
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03DDEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
    • H03D13/00Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations
    • H03D13/003Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 サンプリング用のクロック信号の周波数を高
くすることなく、サンプリングの分解能を高くするサン
プリング回路を提供すること。 【解決手段】 基準用サンプリング回路14aを含む第
1群のサンプリング回路14b〜14nに入力波形11
を入力し、基準用サンプリング回路14aに入力するク
ロック信号12aに対してそれぞれ2π/nラジアン
(nは3以上の整数)位相をずらしたクロック信号を第
1群のサンプリング回路14b〜14nに加えてサンプ
リングして、第2群のサンプリング回路16b〜16n
に入力し、基準用サンプリング回路14aから出力され
るサンプリング信号を第2群のサンプリング回路16b
〜16nに対して共通にクロック信号15aとして加え
て第1群のサンプリング回路14b〜14nから出力さ
れるサンプリング信号を再度サンプリングする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、入力波形をサン
プリングするクロック信号の周波数を上げることなく、
サンプリングの分解能を向上するサンプリング回路に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】次に、入力波形をクロック信号によりサ
ンプリングするサンプリング回路の従来技術によるブロ
ック図を図2に示す。図2では、D形フリップフロップ
(以下、DFFという。)をサンプリング回路に用いて
いる場合の例を示している。図2で、被サンプリング信
号である入力波形1はDFF4の入力端Dに入力され、
クロック入力端CKには、所定周期のクロック信号2を
入力することにより、入力波形1をサンプリングして、
DFF4の出力端Qからサンプリング波形3を出力す
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のサン
プリング回路においては、サンプリングの分解能を向上
するために、クロック信号2の周波数を上げる必要があ
るという課題がある。
【0004】この発明は、クロック信号の周波数を上げ
ることなく、サンプリングの分解能を向上するサンプリ
ング回路を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明のサンプリング回路は、入力波形11をそ
れぞれ2π/nラジアン(nは3以上の整数)ずつ位相
をずらしたクロック信号12a〜12nによりサンプリ
ングし、所定の一つを基準用サンプリング回路14aと
するn個の第1群のサンプリング回路14a〜14n
と、前記基準用サンプリング回路14aを除く前記第1
群のサンプリング回路14b〜14nでサンプリングさ
れたサンプリング信号をそれぞれ入力波形として前記基
準用サンプリング回路14aから出力されるサンプリン
グ信号をクロック信号としてサンプリングする前記基準
用サンプリング回路14aを除く前記第1群のサンプリ
ング回路14b〜14nと同数の第2群のサンプリング
回路16b〜16nとを備える。
【0006】
【発明の実施の形態】次に、この発明のサンプリング回
路の実施の形態について、図面を参照して説明する。図
1はこの発明の第1の実施の形態の構成を示すブロック
図である。図1では、サンプリング回路としてDFFを
用いた場合の例を示しており、図1中におけるDFFに
よる複数個の第1群のサンプリング回路14a〜14n
と、この第1群のサンプリング回路14a〜14nの個
数よりも1個少ない(n−1)個のDFFによる第2群
のサンプリング回路16b〜16nとにより、この第1
の実施の形態のサンプリング回路を構成している。
【0007】第1群のサンプリング回路14a〜14n
のうちの所定のサンプリング回路、たとえば、サンプリ
ング回路14aを基準用サンプリング回路としている。
第1群のサンプリング回路14a〜14nの各入力端D
には、被サンプリング信号である入力波形11が入力さ
れるようになっている。この第1群のサンプリング回路
14a〜14nの各クロック入力端CKには、クロック
信号12a〜12nが入力されるようになっている。
【0008】この場合、基準用サンプリング回路14a
のクロック入力端に入力されるクロック信号12aを基
準にして、他の第1群のサンプリング回路14b〜14
nの各クロック入力端に入力されるクロック信号12b
〜12nの位相がそれぞれ2π/nラジアン(nは3以
上の整数)ずつずれている。このクロック信号12a〜
12nにより、第1群の各サンプリング回路14a〜1
4nは入力波形11のサンプリングを行うようにしてい
る。
【0009】サンプリングを行ったこれらの第1群のサ
ンプリング回路14a〜14nの各出力端Qからサンプ
リング信号14a〜15nがそれぞれ出力されるように
なっている。第1群のサンプリング回路14a〜14n
のうちの基準用サンプリング回路14aから出力される
サンプリング信号15aをクロック信号15aとして、
第2群のサンプリング回路16b〜16nの各クロック
入力端CKにそれぞれ入力されるようになっている。
【0010】サンプリング回路14aを基準用サンプリ
ング回路としている関係上、この第2群のサンプリング
回路16b〜16nの数は、すでに述べたように、第1
群のサンプリング回路14a〜14nの数よりも1個少
なくなっている。すなわち、(n−1)個となってい
る。第2群のサンプリング回路16b〜16nの入力端
Dには、それぞれ第1群のサンプリング回路14b〜1
4nから出力されるサンプリング信号15b〜15nを
入力信号としてクロック信号15aで再度サンプリング
して、位相データ17b〜17nを出力するようになっ
ている。
【0011】次に、図1の動作について説明する。入力
波形11が第1群のサンプリング回路14a〜14nの
各入力端Dに同時に入力される。また、第1群のサンプ
リング回路14a〜14nのうちの基準用サンプリング
回路14aのクロック入力端CKには、クロック信号1
2aが入力され、クロック信号12aに対して、それぞ
れ2π/n(nは3以上の整数)ラジアンずつ位相がず
れたクロック信号12b〜12nがそれぞれ第1群のサ
ンプリング回路14b〜14nのクロック入力端CKに
入力される。
【0012】クロック信号12a〜12nにより、サン
プリング回路14a〜14nは入力波形11をサンプリ
ングすることにより、2π/nラジアンずつ位相のずれ
たサンプリング信号15a〜15nが第1群のサンプリ
ング回路14a〜14nの各出力端Qから出力される。
【0013】n個の第1群のサンプリング回路14a〜
14nのうちの基準用サンプリング回路14aから出力
されるサンプリング信号15aは(n−1)個の第2群
のサンプリング回路16b〜16nの各クロック入力端
CKに共通にクロック信号15aとして入力される。
【0014】また、残りの第1群のサンプリング回路1
4b〜14nの各出力端Qから出力されるサンプリング
信号15b〜15nは(n−1)個の第2群のサンプリ
ング回路16b〜16nの各入力端Dに被サンプリング
信号として、入力される。これにより、(n−1)個の
第2群のサンプリング回路16b〜16nは、クロック
信号15aにより、第1群のサンプリング回路14b〜
14nから出力されるサンプリング信号15b〜15n
を再度サンプリングする。このサンプリングにより、第
2群のサンプリング回路16b〜16nの出力端Qから
位相データ17b〜17nとして出力する。
【0015】位相データ17b〜17nがいくつ「H」
レベルであるかによって、2π/nラジアンの分解能で
位相データ17b〜17nの位相を検出することができ
ることから、n倍の周波数でサンプリングした場合と等
価の情報が得られる。すなわち、サンプリングするクロ
ック信号12a〜12nの周波数を上げることなく、第
1群のサンプリング回路14a〜14nのクロック信号
の周期の1/nのサンプリングの分解能が得られる。
【0016】次に、クロック信号12a〜12nの位相
のずれ2π/nにおいて、n=4とした場合のこの発明
の実施の形態について説明する。n=4の場合には、図
1における第2群のサンプリング回路16b〜16nの
各出力端Qから出力される位相データ17b〜17nが
すべて「L」レベルである場合の位相を基準として位相
データ17b〜17nのうちの一つが「H」レベルであ
れば、π/2ラジアン位相が進んでいる。
【0017】また、位相データ17b〜17nのうちの
2つが「H」レベルであれば、πラジアン位相が進んで
いることを検出することができる。さらに、位相データ
17b〜17nのうちの3つが「H」レベルであれば、
3π/2ラジアン位相が進んでいることを検出すること
ができる。
【0018】このようにして、位相データ17b〜17
nのうちの「H」レベルの数に応じて0ラジアン、π/
2ラジアン、πラジアン、3π/2ラジアンと4つの位
相を検出することができるため、位相データ17b〜1
7nを使用することにより、4倍のサンプリング用のク
ロック信号で入力波形11をサンプリングするのと等価
の分解能を得ることができる。
【0019】なお、第2の実施の形態は、n=4の場合
についての説明であるが、要は第1群のサンプリング回
路14a〜14nのうちの基準となるサンプリング回
路、たとえば第1の実施の形態におけるサンプリング回
路14aのように、このサンプリング回路14aで入力
波形11をサンプリングした時点でクロック信号12a
〜12nを2π/nラジアンずつ位相をずらしてサンプ
リングするサンプリング回路14a〜14nがいくつ入
力波形11をサンプリングしたかは、第2群のサンプリ
ング回路16b〜16nから出力される位相データを見
ればわかるため、第1群のサンプリング回路がm個サン
プリングしていれば、2πm/nラジアン{0≦m≦
(n−1)}位相が進んでいることがわかる。
【0020】
【発明の効果】この発明のサンプリング回路によれば、
入力波形を2π/nラジアンずつ位相がずれたクロック
信号により複数個の第1群のサンプリング回路で入力波
形をサンプリングし、第1群のサンプリング回路のうち
の基準用サンプリング回路を除く、残りの第1群のサン
プリング回路から出力されるサンプリング信号を第1群
のサンプリング回路よりも1個少ない第2群のサンプリ
ング回路に入力させるとともに、基準用サンプリング回
路から出力されるサンプリング信号を第2群のサンプリ
ング回路の共通のクロック信号として第1群のサンプリ
ング回路から出力されるサンプリング信号を再度サンプ
リングするようにしたので、サンプリング用のクロック
信号の周波数を高くすることなく、サンプリングの分解
能を上げることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のサンプリング回路の第1の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
【図2】従来のサンプリング回路の構成を示すブロック
図である。
【符号の説明】
11 入力波形 12a〜12n,15a クロック信号 14a〜14n 第1群のサンプリング回路 16b〜16n 第2群のサンプリング回路 17b〜17n 位相データ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力波形(11)をそれぞれ2π/nラジア
    ン(nは3以上の整数)ずつ位相をずらしたクロック信
    号(12a) 〜(12n) によりサンプリングし、所定の一つを
    基準用サンプリング回路(14a) とするn個の第1群のサ
    ンプリング回路(14a) 〜(14n) と、 前記基準用サンプリング回路(14a) を除く前記第1群の
    サンプリング回路(14b) 〜(14n) でサンプリングされた
    サンプリング信号をそれぞれ入力波形として前記基準用
    サンプリング回路(14a) から出力されるサンプリング信
    号をクロック信号としてサンプリングする前記基準用サ
    ンプリング回路(14a) を除く前記第1群のサンプリング
    回路(14b) 〜(14n) と同数の第2群のサンプリング回路
    (16b) 〜(16n) を備えることを特徴とするサンプリング
    回路。
JP9189056A 1997-06-30 1997-06-30 サンプリング回路 Pending JPH1127111A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9189056A JPH1127111A (ja) 1997-06-30 1997-06-30 サンプリング回路
US09/105,242 US6072336A (en) 1997-06-30 1998-06-26 Sampling circuit system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9189056A JPH1127111A (ja) 1997-06-30 1997-06-30 サンプリング回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1127111A true JPH1127111A (ja) 1999-01-29

Family

ID=16234558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9189056A Pending JPH1127111A (ja) 1997-06-30 1997-06-30 サンプリング回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6072336A (ja)
JP (1) JPH1127111A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7034723B2 (en) 2003-11-20 2006-04-25 Advantest Corporation Timing comparator, data sampling apparatus, and testing apparatus
JP2009284053A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Hitachi Communication Technologies Ltd ディジタル位相検出器およびpll

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6617904B1 (en) * 1999-11-09 2003-09-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Electronic circuit with clock generating circuit
US6614314B2 (en) * 2001-12-03 2003-09-02 Gennum Corporation Non-linear phase detector
US6674309B1 (en) * 2002-11-12 2004-01-06 Analog Devices, Inc. Differential time sampling circuit
US20040114702A1 (en) * 2002-12-12 2004-06-17 International Business Machines Corporation Bang-bang phase detector for full-rate and half-rate schemes clock and data recovery and method therefor
US7268605B2 (en) * 2004-06-14 2007-09-11 Rambus, Inc. Technique for operating a delay circuit

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3467975B2 (ja) * 1996-06-27 2003-11-17 安藤電気株式会社 位相検出回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7034723B2 (en) 2003-11-20 2006-04-25 Advantest Corporation Timing comparator, data sampling apparatus, and testing apparatus
JP2009284053A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Hitachi Communication Technologies Ltd ディジタル位相検出器およびpll

Also Published As

Publication number Publication date
US6072336A (en) 2000-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0129469B2 (ja)
JP3467975B2 (ja) 位相検出回路
JPH1127111A (ja) サンプリング回路
US6329861B1 (en) Clock generator circuit
JPS61269547A (ja) デ−タ信号復調装置
JP2003037486A (ja) 位相差検出回路
JPH09168035A (ja) 伝送データ整形装置
JPS6376640A (ja) 調歩同期信号受信回路
JPH0477134A (ja) 多重信号分離回路
JPS61157029A (ja) アナログ/デイジタル変換回路装置
JPH1168861A (ja) 同時双方向送受信方法および同時双方向送受信回路
JP3228361B2 (ja) ディジタル処理型直交検波回路
KR920007997Y1 (ko) 그래픽 디스플레이 장치의 고주파비디오 발생회로
JPS6048685B2 (ja) 変位量検出回路
JPS62286Y2 (ja)
JPH0129341B2 (ja)
JPH0352037Y2 (ja)
JPH0514153A (ja) 二相クロツク信号発生回路
JP2536135B2 (ja) シリアル/パラレル変換回路
JPH0423542A (ja) 直交形gmsk変調装置
JPS62254582A (ja) テレビジヨン信号メモリ書込回路
JP2553722B2 (ja) 2相クロックの位相補正装置
JP2592522B2 (ja) Pn符号の位相変調回路
JPH07111419A (ja) 多チャンネル信号発生器
JPH0648828B2 (ja) 回線モニタ回路