JPH11284808A - スキャンニング誤差補正方法 - Google Patents

スキャンニング誤差補正方法

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JPH11284808A
JPH11284808A JP10349070A JP34907098A JPH11284808A JP H11284808 A JPH11284808 A JP H11284808A JP 10349070 A JP10349070 A JP 10349070A JP 34907098 A JP34907098 A JP 34907098A JP H11284808 A JPH11284808 A JP H11284808A
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data
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Eiju In
暎重 尹
Shoko Ka
鐘浩 河
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Abstract

(57)【要約】 【課題】別の機具装置が必要なく，傾き偏差とバンドの
間隔誤差が正確に補正できるようにしたシャトル方式ス
キャナのスキャンニング誤差補正方法を提供する。 【解決手段】 原稿の移送方向と同一な方向の直線形状
のパターンデータが記録された記録体をスキャンニング
して，一番目のバンド内で一番目のラインで直線形状の
パターンデータが検出される実際座標と最終ラインでデ
ータが検出される実際座標との間の誤差を検出して，一
番目のバンド内で中心ラインと直線形状のパターンデー
タが接する基準点を検出して基準点を基準として誤差の
折半値ほどパターンデータを基準点が位置した軸方向に
回転して，原稿をスキャンニングする時ごと格納された
傾き偏差補正量をスキャンニングされた原稿データに代
入して補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はシャトル方式スキャ
ナに係り，より詳細には，シャトル方式スキャナにおい
て，傾きが発生した量を検出して傾き偏差を補償して，
バンド（ｂａｎｄ）間の間隔誤差を検出して原稿の移送
距離を補正するようにしたシャトル方式スキャナのスキ
ャンニング誤差補正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般的にシャトル方式スキャナは，スキ
ャンニング領域に移送された原稿を原稿の移送方向に対
して直交する方向に左右往復運動しながら原稿上に記録
された画像をスキャンニングする装置である。そして，
シャトル方式スキャナは，原稿のデータ面（画像が記録
された面）に光を走査するランプを包含するランプアセ
ンブリと，原稿から反射された反射光を集光するレンズ
を包含するレンズアセンブリと，レンズにより集光され
た反射光を電気的信号に変換する電荷結合素子（ＣＣ
Ｄ：Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）を
包含する電荷結合素子アセンブリと，を持つ。
【０００３】また，レンズアセンブリは，フィルタとレ
ンズ及びレンズホルダとで構成されており，レンズホル
ダは，電荷結合素子アセンブリとランプアセンブリとの
間で遊動可能な構造を持つ。また，レンズアセンブリと
電荷結合素子アセンブリは一体化されて回転できるよう
になっている。
【０００４】電荷結合素子を回転させるためのノブ調整
装置のねじと電荷結合素子アセンブリのフレームの接触
部位には各々ねじ山が加工されており，そのねじ同士が
相互にかみ合わされて，ノブ調整装置が回転することに
よってフレームが連動されて回転するように結合され
る。
【０００５】図１１は，現在一般に用いられているスキ
ャナヘッドの規格を示し，図１２はパターンシートに記
録されたパターン形態と傾き偏差及びバンド間の間隔誤
差が発生した状態でスキャンニングされたデータの状態
図である。図１１に図示されるように，一般的なシャト
ル方式スキャナは，一つのスライス（ｓｌｉｃｅ）当り
に含まれる多数個の画素（ｐｉｘｅｌ）を，同時にもし
くは順次的にスキャンニングできる。例えば，一つのス
ライス当りに画素数が１６０個と仮定すると，３００Ｄ
ＰＩ（ｄｏｔ ｐｅｒ ｉｎｃｈ）を基準として１３．
５４７ｍｍ（４．６７ｍｍ×１６０個）大きさのスライ
スが得られる。即ち，係る場合，一つのスライスは１６
０個の画素で構成されて，一つのバンド（スキャナヘッ
ドが一回のシャトル運動でスキャンニングできるスキャ
ンニング領域）はＡ４大きさの原稿を基準として１６０
ドット×２４００スライスで構成されて，２２バンド
（２９７÷１３．５４７）で構成される。言いかえる
と，スキャンニング作業が開始されると，スキャンニン
グされたデータはスライス順でメモリに格納されるた
め，一つのバンドのスキャンニング作業が完了されると
１６０×３４００バイト（Ｂｙｔｅ）のスキャンニング
データ（イメージデータ）が格納される。
【０００６】ところが，スキャナモジュールの組立工程
上の誤差あるいは機構的な組立公差等によりスキャナヘ
ッドのライン（ｌｉｎｅ）方向（スライスの長さ方向）
が原稿の移送方向と一致しない場合が発生する。その場
合，メモリに格納されたデータは，図１２に図示される
ように，対応するイメージに傾きが発生するとともに対
応するイメージが各バンド境界でずれて不連続となる等
の偏差が生じる。
【０００７】また，原稿の移送距離が一つのバンド単位
の距離と正確に一致しなければならないことにもかかわ
らず原稿を移送させるフィードモータ（ｆｅｅｄｉｎｇ
ｍｏｔｏｒ）の機具公差により原稿の移送距離に誤差
が発生して，それによって，原稿が一つのバンド単位よ
り大きく又は小さく移動する。このような場合，メモリ
に格納されたデータは図１２に図示されるように，各バ
ンド間が断切されて各バンドの境界部分の画素は水平方
向に相互外れた形態になる。しかし，作業者がノブ調整
装置を直接調整してスキャナヘッドの傾き偏差を補正し
て，バンド間の間隔誤差は無視した。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかし，従来のスキャ
ンニング誤差補正方法において，作業者がノブ調整装置
を直接調整して傾き偏差を補正する方式は，人間の操作
（即ち作業者の直感）に依存するため精密度が低く，傾
き偏差を補正するための別の装備（ノブ調整装置，調整
治具等）が必要である。したがって，製品構成が複雑
で，製造工程に長時間が必要であり，生産性が低下す
る，という問題点があった。
【０００９】また，従来のスキャンニング誤差補正方法
では，バンド間の間隔誤差を無視していたので出力物の
品質が低下するという問題点があった。
【００１０】本発明は，従来のスキャンニング誤差補正
方法が有する上記その他の問題点に着眼して案出された
もので，その目的は，傾き偏差とバンドの間隔誤差をソ
フトウェア的に演算処理して，スキャンニング作業時ご
と演算処理された補正量を代入して計算することによ
り，別の機具装置が不要であり傾き偏差とバンドの間隔
誤差が正確に補正できるようにした，シャトル方式スキ
ャナのスキャンニング誤差補正方法を提供することにあ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に，本願に係るスキャンニング誤差補正方法は，副走査
のために往復動するスキャンニングヘッドを備え，第１
方向にバンド単位で前記副走査を進めるとともに前記第
１方向と垂直な第２方向に主走査を進めるスキャンニン
グ装置において，以下のような構成を特徴とする。
【００１２】即ち，請求項１に記載の発明は，前記第２
方向に実質的に平行に所定の記録体上に形成された直線
形状のパターンを前記スキャンニングヘッドを用いてス
キャンニングして第１のパターンデータを形成する第１
の段階と，前記第１のパターンデータの期待値に対する
前記第１のパターンデータの実際値の傾き偏差をバンド
単位で検出する第２の段階と，前記傾き偏差に対応する
第１の補正量をバンド単位で検出する第３の段階と，前
記第１の補正量に基づいて原稿上の画像のスキャンニン
グデータを補正する第４の段階と，を含むことを特徴と
する。かかる特徴を有する請求項１によれば，スキャナ
ヘッドの整列公差に起因するスキャンニングデータの傾
き偏差を補正することができる。
【００１３】また，請求項２に記載の発明は，前記第２
方向に実質的に平行に所定の記録体上に形成された直線
形状のパターンを前記スキャンニングヘッドを用いてス
キャンニングして，第１のパターンデータを形成する第
１の段階と，前記第１のパターンデータの実際値に生じ
る隣接バンド境界でのずれを検出する第５の段階と，前
記ずれに対応する第２の補正量をバンド単位で検出する
第６の段階と，前記第２の補正量に基づいて原稿上の画
像のスキャンニングデータを補正する第７の段階と，を
含むことを特徴とする。かかる特徴を有する請求項２に
記載の発明によれば，スキャンニングデータのスキュー
（ｓｋｅｗ）を補正することができる。
【００１４】ここで，請求項３に記載の発明のように，
前記第１のパターンデータと前記スキャンニングデータ
とは前記第１方向における座標の情報を含み，前記傾き
偏差は，同一バンド内における前記第１のパターンデー
タの実際値に生じる前記第１方向の座標の差から検出さ
れる，ことを特徴とすることが可能である。
【００１５】また，請求項４に記載の発明は，前記スキ
ャンニングヘッドを用いて，所定の記録体上に形成され
た任意の図形をスキャンニングし第２のパターンデータ
を形成する第８の段階と，前記第２のパターンデータの
実際値に生じたバンド間間隔誤差を検出する第９の段階
と，前記バンド間間隔誤差に対応する第３の補正量を検
出する第１０の段階と，前記第３の補正量に基づいて原
稿上の画像のスキャンニングデータを補正する第１１の
段階と，を含むことを特徴とする。かかる特徴を有する
請求項４に記載の発明によれば，例えばスキャンニング
ヘッドの整列公差により生じたバンド幅の誤差を補正す
ることができる。
【００１６】ここで，請求項５に記載の発明のように，
前記第２のパターンデータと前記スキャンニングデータ
とは前記第１方向の座標及び前記第２方向の座標につい
ての情報を含み，前記第９の段階は，隣接バンド間の前
記第２のパターンデータの実際値について前記第１方向
の座標が相互に一致するデータ対を検出する第１２の段
階と，前記データ対の前記第２方向の座標の差と前記第
２のパターンデータの期待値とに基づいて前記バンド間
間隔誤差を検出する第１３の段階と，を含むことを特徴
とすることが可能である。
【００１７】さらに，請求項６に記載の発明のように，
前記第１２の段階では，前記データ対が検出される迄，
前記隣接バンドの一方について前記第２のパターンデー
タの実際値を前記第１方向に所定の変化量で座標変化さ
せて水平移動データを形成する第１４段階と，前記水平
移動データと前記隣接バンドの他方の前記第２のパター
ンデータとの間で前記第１方向の座標が相互に一致する
データ対を検出する第１５の段階と，が交互に繰り返さ
れることを特徴とすることが可能である。
【００１８】さらにまた，請求項７に記載の発明のよう
に，前記任意の図形は，少なくとも前記隣接バンドを含
む２以上のバンドにまたがる斜線であることを特徴とす
ることが可能である。さらに，請求項８に記載の発明の
ように，前記傾き成分は，前記第１方向及び第２方向に
対して４５度の傾きをなす直線であることを特徴とする
ことが可能である。
【００１９】尚，請求項９に記載の発明のように，前記
記録体は，パターンシートであることを特徴とすること
が可能である。また，請求項１０に記載の発明のよう
に，前記記録体は，前記スキャンニング装置において，
前記原稿の移送範囲以外の領域であって前記スキャンニ
ングヘッドのスキャンニング範囲内の領域にあるフレー
ムであることを特徴とすることが可能である。
【００２０】言うまでもなく，本願の各請求項に記載の
発明は，相互に組み合わせて実施することが可能であ
る。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下，添附図面を参照して本発明
による好ましい実施形態について詳細に説明する。各図
面の構成要素に参照符号を付する場合において，同一な
構成要素には同一符号を付す。また，以下の説明では，
例えば具体的な回路の構成素子等のように，多数の具体
構成を挙げるが，これは本発明のより全般的な理解のた
め提供された例示的なものであって，他の構成によって
も本発明が実施できることは当技術分野で通常の知識を
持た者においては自明である。
【００２２】図１は，本実施の形態にかかるシャトル方
式スキャナモジュールの分解斜視図である。図１を参照
して，本実施の形態にかかるシャトル方式スキャナモジ
ュールの組立過程について説明すると，レンズホルダ１
にフィルタ２を挿入した後レンズ３を挿入結合してそれ
らを熱融着方式で固定してレンズアセンブリ４に組立す
る。また，フレーム５に電荷結合素子ボード６を締結部
材７で締結して電荷結合素子アセンブリ８を組立して，
レンズホルダ１の外部にスプリング９を挿入した後，即
ち巻きバネであるスプリング９をレンズホルダ１の外側
に被せた後，組立された電荷結合素子アセンブリ８の中
でフレーム５の結合部１０に結合してキャップレンズ１
１をフレーム５の結合部１０に回転させて結合固定す
る。ここで，レンズホルダ１の一側には係合突条１２が
形成されてレンズホルダ１の外面に挿入結合されたスプ
リング９が係合突条１２により支持される。また，フレ
ーム５の結合部１０の外面とキャップレンズ１１の内面
には各々結合溝１３と結合突起１４が加工されてキャッ
プレンズ１１を回転することによってキャップレンズ１
１とフレーム５の結合部１０は締結固定される。
【００２３】前記過程を通して結合されたレンズアセン
ブリ４と電荷結合素子アセンブリ８の結合体をフレーム
ベース１５に結合した後，フレーム５の結合部１０に形
成されたクリップ溝１６にスプリングクリップ１７を挿
入結合して，ノブ調整装置１８のねじ１９の中で一側は
フレームベース１５の左右側支持台の中でいずれの一つ
の支持台２０に形成された貫通孔２１に挿入結合して，
ノブ調整装置１８のねじ１９の中で他側はフレームベー
ス１５の他の一つの支持台２２に形成された結合溝２３
に押込めば，結合する。ここで，結合溝２３にはねじ１
９の外直径より小径を持つ段差２４が形成されて結合溝
２３に挿入結合されたねじ１９の結合溝２３からの離脱
が防止される。
【００２４】一方，反射鏡２５にランプボード２６を結
合して反射鏡２５の貫通孔２７に少なとも一つ以上のラ
ンプ２８を挿入した後，はんだ付けを行ってランプアセ
ンブリ２９を組み立てる。以後，組み立てられたランプ
アセンブリ２９をカバーロワー（ｃｏｖｅｒ ｌｏｗｅ
ｒ）３０の下端に挿入結合して，フレームベース１５組
立品（レンズアセンブリ４と電荷結合素子アセンブリ
８）をランプアセンブリ２９の上端に結合した後締結部
材３１で締結固定する。
【００２５】次に，スキャナモジュールの傾き偏差補正
作業を実行した後，カバーアッパー（ｃｏｖｅｒ ｕｐ
ｐｅｒ）３２をカバーロワー３０に結合して，ラベル３
３を所定の位置に付着して組立過程を完了する。
【００２６】図２は本発明に適用されたスキャンニング
誤差補正システムの概略的ブロック図である。図１と併
せて図２を参照すると，中央処理装置３４は所定のプロ
グラムによってシステムを全般的に制御する。メモリ部
３５は中央処理装置３４が実行する各種プログラムデー
タを格納して画像処理過程で発生する画像データを一時
的に格納する。入力部３６は使用者からの操作信号の入
力を受け中央処理装置３４に伝送する。
【００２７】画像処理部３７はスキャナヘッド（ここで
は電荷結合素子アセンブリ８とランプアセンブリ２９と
レンズアセンブリ４とを含むものと定意する）３８によ
りスキャンニングされた画像データのスキャンニング偏
差を補正してその他の各種画像処理作業を実行する。出
力部３９は画像処理部３７でシェーディング（ｓｈａｄ
ｉｎｇ）補正された画像データをモニタまたはプリンタ
等のような出力手段を通して出力する。
【００２８】このように構成された本発明の動作につい
て図３〜図１０を参照して説明する。尚，図３は，スキ
ャンニングヘッドのスキャンニング誤差を補正する過程
を示す動作流れ図である。さらに，図４は，スキャナヘ
ッドの傾斜偏差を補正する過程の他の実施例を示す動作
流れ図であり，図５は，スキャナヘッドのバンド間間隔
誤差を補正する過程の他の実施例を示す動作流れ図であ
る。また，図６〜図９は，本発明によって傾斜偏差とバ
ンド間間隔誤差を補正する状態を示す状態図であり，図
１０は，スキャナヘッドの傾斜偏差を補正する過程の他
の実施例を示す動作流れ図である。
【００２９】まず，図２と併せて図３を参照する。作業
者が，プリントされた所定の直線形態と所定の任意図形
とをスキャンニング領域内に設定し傾き偏差補正を選択
する所定の操作を行うと，本実施の形態にかかるスキャ
ンニング補正システムでは，操作信号が，入力部３６を
経て中央処理装置（ＣＰＵ）３４に伝達される。
【００３０】尚，本実施の形態において，所定の直線形
態及び所定の任意図形は，図１２左図に示すようにパタ
ーンシートにプリントしたものを使用することができ
る。ここで，図１２左図のパターンシートにおいては，
バンドと垂直な直線で示される原稿画像が直線形態に相
当し，バンドに対し傾いた斜線で示される原稿画像が任
意図形に相当する。
【００３１】言うまでもなく，図１２左図に示すパター
ンシートにプリントした直線形態と任意図形とは，本実
施の形態に適用可能な直線形態と任意図形との一態様で
しかない。即ち，本実施の形態では，パターンシート以
外に直線と任意の図形をセット内に既刻印して使用する
こともできる。
【００３２】例えば，印刷用紙上にプリンタヘッドでプ
リントした直線形態及び任意図形を使用することもでき
る。尚，かかる場合には，原稿の移送範囲は離脱してい
るがスキャンニング領域内には含まれる地点のスキャナ
フレーム上に，直線形態及び任意図形を刻印形成するこ
とが好適である。
【００３３】さらに，本実施の形態において，直線形態
には，例えば，少なくとも２以上のバンドにまたがりス
キャンニングの主走査方向（バンドの幅方向。以下，
「ｙ方向」という。）と平行なもの，或いは，全バンド
にまたがりｙ方向に平行なもの等を適用することができ
る。また，本実施の形態においては，直線形態の変わり
に，例えば，少なくとも２以上のバンドにまたがりｙ方
向に平行な線分或いは半直線の組み合わせを含む図形
（例えば，点線や破線或いは折れ線等）を利用すること
も可能である。尚，この場合には，組み合わされる線分
（半直線）が実質的に相互に連続と考えられる状態であ
ることが好ましい。
【００３４】さらにまた，本実施の形態において，任意
図形には，例えば，少なくとも２以上のバンドにまたが
りスキャンニングの副走査方向（バンドの長さ方向。以
下，「ｘ方向」という。）に対して所定の傾きを成す連
続図形成分を含む図形等を適用することができる。した
がって，斜線以外にも，例えば，折れ線や閉曲線や開局
線或いは多角形（３角形，４角形，５角形や６角形等）
等の連続図形や隣接点の間隔が極めて狭く実質的に連続
図形と考えられる点線や破線等を適用することが可能で
ある。
【００３５】尚，以下の説明では，説明の便宜から，図
１２左図に示す直線形態及び任意図形を使用する態様に
ついて詳細に説明するが，当業者であれば，本発明にお
いては，他の様々な直線形態及び任意図形が適用可能で
あることが理解できるはずである。
【００３６】上記のように，操作信号が中央処理装置３
４に伝達されると，中央処理装置３４は，スキャナヘッ
ド３８を駆動してパターンシートに記録されたパターン
データ（第１のパターンデータに相当する直線形態のス
キャンニングデータと第２のパターンデータに相当する
任意図形のスキャンニングデータとを含む。）をスキャ
ンニングさせる（Ｓ１０段階）。スキャンニングされた
パターンデータは，中央処理装置３４の制御によってメ
モリ部３５に順次格納される（Ｓ２０段階）。
【００３７】かかるスキャンニングに際して，スキャナ
ヘッド３８に傾き偏差とバンド間の間隔誤差とが発生し
た場合には，メモリ部３５に格納されるパターンデータ
は，図１２右図の画像に対応するものとなる。即ち，ス
キャンニング時に，移送方向に対してスキャナヘッドが
傾くと，パターンデータにおいて，該傾きに対応する偏
差とバンドの境界部分での不連続性とが発生する。本実
施の形態においては，かかるパターンデータの傾き偏
差，スキュー（ｓｋｅｗ）に起因するバンド境界でのデ
ータ間のずれ及びバンド間間隔のスキャンニング誤差を
解消するための補正が行われることになる。
【００３８】上記のように，パターンデータがメモリ部
３５に格納されると，中央処理装置３４は，メモリ部３
５に格納されたパターンデータを画像処理部３７に伝達
する。画像処理部３７は，メモリ部３５から伝送された
パターンデータ中で直線形態に相当するデータ成分（第
１のパターンデータに相当する。）を利用して，傾き偏
差補正作業を実行する（Ｓ３０段階）。ここで，本実施
の形態にかかる傾き偏差補正作業について，一つのバン
ドが１６０個の画素で形成されている場合を例示して，
説明する。
【００３９】共に一番目バンドに含まれる１番目の画素
と１６０番目の画素とは，同一スライス内の画素である
から，スキャンニングデータに相当するパターンデータ
においても本来ｘ座標が同一であるはずである。しか
し，スキャナヘッドが移送方向に対して傾くと，両者の
間には，パターンデータにおいて，ｘ座標に傾き偏差に
相当する分の差，即ち傾き偏差による座標誤差が発生す
る。尚，ここで，ｘ座標は，第１方向の座標に相当し，
ｙ座標は，第２方向の座標に相当する。
【００４０】本実施の形態にかかるスキャンニング誤差
補正システムは，この座標誤差の折半値を計算して格納
し（Ｓ３１段階），一番目バンド内の中央に位置した画
素（８０番目画素）を中心軸として，計算された座標誤
差の折半値分だけ一番目バンドのパターンデータを回転
処理する（Ｓ３２段階）。即ち，本実施の形態において
は，まず，直線形態のパターンデータと実際の直線形態
との座標誤差を検出し，該座標誤差を利用して，スキャ
ンニングデータにバンド単位で回転処理（対応イメージ
の回転に相当する処理）を実施することができる。
【００４１】結果として，パターンデータの直線形態の
対応成分は，一番目バンド内で，直線形態と平行な直線
に正確に対応するようになる。他のバンド内でも同一な
過程を実行することにより，パターンデータの直線形態
の対応成分は，直線形態と平行な直線に正確に対応する
ようにすることができる。結果として，バンド単位のパ
ターンデータで，傾き偏差補正が実現する。
【００４２】また，移送される原稿の給紙過程でスキュ
ー（ｓｋｅｗ）が発生した場合，各バンド単位で傾き偏
差を補正しても，各バンド間の境界部分に直線形態の不
連続性が発生する。即ち，パターンデータは，傾き偏差
補正をかけたとしても，境界部分で連結されず分離され
た状態の直線形態を示す。このようなスキューを補正す
るためには，図４及び図６に図示されるように，傾き偏
差が補正された一つのバンドの直線を基準として，次の
バンド上の一つのバンドに折半値で推定して演算して補
正する。
【００４３】即ち，１番目の画素から１６０番目の画素
まで（一番目のバンド）の傾き偏差を補正した後（Ｓ３
３，Ｓ３４段階），１６１番目の画素から３２０番目の
画素まで（二番目のバンド）の傾き偏差を補正する場合
において，まず，補正前の二番目バンドのパターンデー
タを一番目バンド内に延長して１６０番目画素（一番目
のバンド）の推定座標（Ｘ’１６０，１６０）を計算す
る（Ｓ３５段階）。次に，計算された推定座標（Ｘ’
１６０，１６０）と１６０番目画素の実際座標（Ｘ
１６０，１６０）とを比較して誤差を検出し格納する
（Ｓ３６段階）。
【００４４】次に，格納された誤差分だけ，二番目バン
ドのパターンデータを移動して補正した後（Ｓ３７段
階），本実施の形態にかかる傾き偏差補正（一番目バン
ドのパターンデータを補正する場合について上述し
た。）過程を実行する（Ｓ３８段階）。結果として，原
稿移送時のスキューが発生した場合にも対応できる。
【００４５】以上説明したように傾き偏差補正が行われ
ると，次に，画像処理部３７は，各バンド間の間隔誤差
を補正する（Ｓ４０段階）。即ち，図７に示されるよう
なパターンデータ（第２のパターンデータに相当す
る。）がスキャンニングされた場合，１６１番目の画素
（二番目のバンド）から垂直方向に延長する時，一番目
のバンドの斜線（図１２右図）に接する接点座標（Ｘ，
Ｙ’）を検出する（Ｓ４１段階）。この時，接点が検出
されるとそれは原稿の移送間隔が基準値より小さく，斜
線（図１２左図）のパターンを所定間隔分だけ重複して
スキャンニングしたことを意味する。
【００４６】ここで，接点座標（Ｘ，Ｙ’）と二番目の
バンド内の１６１番目の画素に該当する実際座標（Ｘ，
Ｙ）の差を計算してバンド間の間隔誤差（図７のｂ）を
検出して格納する（Ｓ４２段階）。以後，原稿をスキャ
ンニングする時原稿の各バンド当りの実際移送間隔から
バンド間の間隔誤差を加算して補正移送間隔を求めて格
納して（Ｓ４３段階），格納された補正移送間隔に原稿
を移送させる（Ｓ４４段階）。したがって，原稿の補正
移送間隔が実際移送間隔より大きくなることにより移送
間隔が増加してバンド間の間隔誤差が補正される。
【００４７】一方，図８に図示されるように，原稿の実
際移送間隔が基準値より大きくて斜線形態のパターンを
スキップ（ｓｋｉｐ）してスキャンニングした場合に
は，１６１番目の画素から垂直方向に延長する時一番目
のバンドの斜線と接する接点が検出されない。この場
合，図９に図示されるように，一番目のバンド内の斜線
形態のパターンデータを全て設定された画素数（図１０
Ｄでは“ｃ”で設定）ほど水平移動して仮定斜線を形成
して（Ｓ４５段階），一番目のバンドの１６１番目画素
から垂直方向に延長された線と一番目のバンドの仮定斜
線とが接する接点座標（Ｘ−ｃ，Ｙ’）を求める（Ｓ４
６段階）。ここで，接点座標（Ｘ−ｃ，Ｙ’）と二番目
のバンド内の１６１番目の画素に該当する実際座標
（Ｘ，Ｙ）との差を計算してバンド間の間隔誤差（図９
のｂ）を検出して格納する（Ｓ４７段階）。
【００４８】以後，原稿をスキャンニングする原稿の各
バンド当りの実際移送間隔からバンド間の間隔誤差を加
算して補正移送間隔を求めて格納して（Ｓ４８段階），
一番目のバンドの斜線形態のパターンデータを前に移動
した設定量ほど水平方向に復元させた後｛（Ｘ−ｃ）→
Ｘ｝（Ｓ４９段階），格納された補正移送間隔に原稿を
移送させる（Ｓ５０段階）。したがって，原稿の補正移
送間隔が実際移送間隔より小さくなるこのにより移送間
隔が減少してバンド間の間隔誤差が補正される。
【００４９】一方，本発明で仮定した斜線形態のパター
ンを４５°で傾けた斜線で設置すると，バンド間の間隔
誤差値は一番目のバンドの最終ラインでパターンデータ
が検出される画素と二番目のバンドの一番目のラインで
パターンデータが検出される画素間の誤差値と同一であ
るため，バンド間の誤差値をより容易に検出できる。
【００５０】即ち，図１０に図示されるように，傾き偏
差が補正された斜線形態のパターンデータにおいて，一
番目のバンドの最終ラインでパターンデータが検出され
る画素の第１座標（Ｘ１，Ｙ１）と二番目のバンドの一
番目のラインでパターンデータが検出される画素の第２
座標（Ｘ２，Ｙ２）間の水平軸間隔誤差（ｄ）は，第２
座標から第１バンドと第２バンドとの間の境界線に対し
て垂直方向に延長される延長線と一番目のバンド内の斜
線と接する接点との間隔（ｅ）と同一であるため，実際
バンド間の間隔誤差は水平軸間隔誤差（ｄ）値により容
易に検出される。
【００５１】以上，本発明による好ましい実施形態につ
いて詳細に記述したが，本発明が属する技術分野におい
て通常の知識を持つ者であれば，添附された請求範囲に
定義された本発明の精神及び範囲を離脱しなく本発明を
多様に変形または変更して実施できる。
【００５２】
【発明の効果】以上のように本発明の特徴によると，原
稿の移送方向と同一な方向の直線形状のパターンデータ
が記録された記録体をスキャンニングして，一番目のバ
ンド内で一番目のラインで直線形状のパターンデータが
検出される実際座標と最終ラインでパターンデータが検
出される実際座標との間の誤差を検出して，一番目のバ
ンド内で中心ラインと直線形状のパターンデータが接す
る基準点を検出して基準点を基準として誤差の折半値ほ
どパターンデータを前記基準点を中心として回転して，
二番目のバンド内で一番目のラインで直線形状のパター
ンデータが検出される実際座標を検出して実際座標によ
って二番目のバンド内のパターンデータを一番目のバン
ド内の最終ラインで延長した場合の推定座標を計算し
て，計算された推定座標と一番目のバンド内の最終ライ
ンでの実際座標とを比較して誤差量を検出して，二番目
のバンド内の直線形状のパターンデータを誤差量ほど移
動補正して，二番目バンド内で中心ラインと直線形状の
パターンデータとが接する基準点を検出して，基準点を
基準として誤差の折半値ほど直線形状のパターンデータ
を前記基準点を中心として回転して，原稿をスキャンニ
ングする時ごと格納された傾き偏差補正量をスキャンニ
ングされた原稿データに代入して補正するシャトル方式
スキャナのスキャンニング誤差補正方法が開示される。
【００５３】ここで，記録体はパターンシートであり，
パターンデータは原稿の移送範囲を離脱してスキャンニ
ング領域上に包含された位置のフレーム上に直線形状が
刻印された形態で形成できる。
【００５４】また，本発明の他の特徴によると，任意の
形状のパターンデータが記録された記録体をスキャンニ
ングして，一番目のバンド内の任意の形状のパターンデ
ータを既設定された方向に既設定された画素数ほど水平
移動して仮定パターンデータを生成して，二番目のバン
ドの一番目のラインで任意の形状のパターンデータが記
録された画素の実際座標を検出して，実際座標から垂直
方向に延長して一番目のバンド内で仮定パターンデータ
と接する接点座標を検出して，接点座標と実際座標との
間の垂直軸誤差を計算して，一番目のバンドで任意の形
状のパターンデータを設定された方向に対して反対方向
に設定された画素数ほど水平移動して復元して，原稿の
実際移送間隔と垂直軸誤差を加算して補正移送間隔を検
出して，補正移送間隔を格納して，原稿をスキャンニン
グする時ごと格納された補正移送間隔で原稿を移送する
シャトル方式スキャナのスキャンニング誤差補正方法が
開示される。
【００５５】さらに，本発明の他の特徴によると，原稿
の移送方向と同一な方向の直線と任意の形状のパターン
データとが記録された記録体をスキャンニングして，ス
キャンニングされたパターンデータの中で直線のパター
ンデータを利用して傾き偏差を補正して，補正された傾
き偏差補正量を格納して，傾き偏差補正段階後に任意の
形状のパターンデータを利用してバンド間の間隔誤差を
補正して，補正されたバンド間の間隔誤差補正量を格納
して，原稿をスキャンニングする時ごと格納された傾き
偏差補正量とバンド間の間隔誤差補正量とをスキャンニ
ングされた原稿データに代入して補正するシャトル方式
スキャナのスキャンニング誤差補正方法が開示される。
【００５６】さらにまた，本発明の他の特徴によると，
４５°の傾斜を持つ斜線形状のパターンデータが記録さ
れた記録体をスキャンニングして，一番目のバンドの最
終ラインで斜線形状のパターンデータが記録された画素
の第１座標を検出して，二番目のバンドの一番目のライ
ンで斜線形状のパターンデータが記録された画素の第２
座標を検出して，第１座標と第２座標の水平軸間隔誤差
を計算して，原稿の実際移送間隔と水平軸間隔誤差を加
算して補正移送間隔を検出して，補正移送間隔を格納し
て，原稿をスキャンニングする時ごと格納された補正移
送間隔で原稿を移送するシャトル方式スキャナのスキャ
ンニング誤差補正方法が開示される。
【００５７】結果として，本発明によれば，傾斜偏差と
バンド間の間隔誤差をソフトウェア的に補正することに
より，機具装置を操作する必要がなくて便利であり，機
具装置が外部の衝撃等により変形されても迅速に対応で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に適用されたシャトル方式スキャナモジ
ュールの分解斜視図である。
【図２】本発明に適用されたスキャンニング誤差補正シ
ステムの概略的ブロック図である。
【図３】スキャナヘッドのスキャンニング誤差を補正す
る過程を示す動作流れ図である。
【図４】スキャナヘッドの傾斜偏差を補正する過程の他
の実施例を示す動作流れ図である。
【図５】スキャナヘッドのバンド間間隔誤差を補正する
過程の他の実施例を示す動作流れ図である。
【図６】本発明によって傾斜偏差とバンド間間隔誤差を
補正する一の状態を示す状態図である。
【図７】本発明によって傾斜偏差とバンド間間隔誤差を
補正する他の状態を示す状態図である。
【図８】本発明によって傾斜偏差とバンド間間隔誤差を
補正する他の状態を示す状態図である。
【図９】本発明によって傾斜偏差とバンド間間隔誤差を
補正する他の状態を示す状態図である。
【図１０】スキャナヘッドの傾斜偏差を補正する過程の
他の実施例を示す動作流れ図である。
【図１１】Ａ４大きさの記録媒体の概略的な構成説明図
である。
【図１２】パターンシートに記録されたパターン形態と
傾斜偏差及びバンド間間隔誤差が発生した状態でスキャ
ンニングされたデータの状態図である。
【符号の説明】
３４ 中央処理装置 ３５ メモリ部 ３６ 入力部 ３７ 画像処理部 ３８ スキャナヘッド ３９ 出力部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 副走査のために往復動するスキャンニン
    グヘッドを備え，第１方向にバンド単位で前記副走査を
    進めるとともに前記第１方向と垂直な第２方向に主走査
    を進める，スキャンニング装置において：前記第２方向
    に実質的に平行に所定の記録体上に形成された直線形状
    のパターンを，前記スキャンニングヘッドを用いてスキ
    ャンニングして，第１のパターンデータを形成する，第
    １の段階と；前記第１のパターンデータの期待値に対す
    る前記第１のパターンデータの実際値の傾き偏差をバン
    ド単位で検出する，第２の段階と；前記傾き偏差に対応
    する第１の補正量をバンド単位で検出する，第３の段階
    と；前記第１の補正量に基づいて，原稿上の画像のスキ
    ャンニングデータを補正する，第４の段階と；を含むこ
    とを特徴とする，スキャンニング誤差補正方法。
  2. 【請求項２】 副走査のために往復動するスキャンニン
    グヘッドを備え，第１方向にバンド単位で前記副走査を
    進めるとともに前記第１方向と垂直な第２方向に主走査
    を進める，スキャンニング装置において：前記第２方向
    に実質的に平行に所定の記録体上に形成された直線形状
    のパターンを，前記スキャンニングヘッドを用いてスキ
    ャンニングして，第１のパターンデータを形成する，第
    １の段階と；前記第１のパターンデータの実際値に生じ
    る隣接バンド境界でのずれを検出する，第５の段階と；
    前記ずれに対応する第２の補正量を，バンド単位で検出
    する，第６の段階と；前記第２の補正量に基づいて，原
    稿上の画像のスキャンニングデータを補正する，第７の
    段階と；を含むことを特徴とする，スキャンニング誤差
    補正方法。
  3. 【請求項３】 前記第１のパターンデータと前記スキャ
    ンニングデータとは，前記第１方向における座標の情報
    を含み；前記傾き偏差は，同一バンド内における前記第
    １のパターンデータの実際値に生じる前記第１方向の座
    標の差から検出される；ことを特徴とする，請求項１又
    は２に記載のスキャンニング誤差補正方法。
  4. 【請求項４】 副走査のために往復動するスキャンニン
    グヘッドを備え，第１方向にバンド単位で前記副走査を
    進めるとともに前記第１方向と垂直な第２方向に主走査
    を進める，スキャンニング装置において：前記スキャン
    ニングヘッドを用いて，所定の記録体上に形成された任
    意の図形をスキャンニングし，第２のパターンデータを
    形成する，第８の段階と；前記第２のパターンデータの
    実際値に生じたバンド間間隔誤差を検出する，第９の段
    階と；前記バンド間間隔誤差に対応する第３の補正量を
    検出する，第１０の段階と；前記第３の補正量に基づい
    て，原稿上の画像のスキャンニングデータを補正する，
    第１１の段階と；を含むことを特徴とする，スキャンニ
    ング誤差補正方法。
  5. 【請求項５】 前記第２のパターンデータと前記スキャ
    ンニングデータとは，前記第１方向の座標及び前記第２
    方向の座標についての情報を含み；前記第９の段階は；
    隣接バンド間の前記第２のパターンデータの実際値につ
    いて前記第１方向の座標が相互に一致するデータ対を検
    出する，第１２の段階と；前記データ対の前記第２方向
    の座標の差と前記第２のパターンデータの期待値とに基
    づいて，前記バンド間間隔誤差を検出する，第１３の段
    階と；を含む；ことを特徴とする，請求項４に記載のス
    キャンニング誤差補正方法。
  6. 【請求項６】 前記第１２の段階では，前記データ対が
    検出される迄，前記隣接バンドの一方について前記第２
    のパターンデータの実際値を前記第１方向に所定の変化
    量で座標変化させて水平移動データを形成する第１４段
    階と，前記水平移動データと前記隣接バンドの他方の前
    記第２のパターンデータとの間で前記第１方向の座標が
    相互に一致するデータ対を検出する第１５の段階と，が
    交互に繰り返されることを特徴とする，請求項５に記載
    のスキャンニング誤差補正方法。
  7. 【請求項７】 前記任意の図形は，少なくとも前記隣接
    バンドを含む２以上のバンドにまたがる斜線であること
    を特徴とする，請求項４，５又は６のいずれかに記載の
    スキャンニング誤差補正方法。
  8. 【請求項８】 前記傾き成分は，前記第１方向及び第２
    方向に対して４５度の傾きをなす直線であることを特徴
    とする，請求項４，５，６又は７のいずれかに記載のス
    キャンニング誤差補正装置。
  9. 【請求項９】 前記記録体は，パターンシートであるこ
    とを特徴とする，請求項１，２，３，４，５，６，７又
    は８のいずれかに記載のスキャンニング誤差補正方法。
  10. 【請求項１０】 前記記録体は，前記スキャンニング装
    置において，前記原稿の移送範囲以外の領域であって前
    記スキャンニングヘッドのスキャンニング範囲内の領域
    にあるフレームであることを特徴とする，請求項１，
    ２，３，４，５，６，７，８又は９のいずれかに記載の
    スキャンニング誤差補正方法。
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