JPH1129860A - スパッタ膜の作製方法及び対向ターゲット式スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタ膜の作製方法及び対向ターゲット式スパッタリング装置

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JPH1129860A
JPH1129860A JP20385697A JP20385697A JPH1129860A JP H1129860 A JPH1129860 A JP H1129860A JP 20385697 A JP20385697 A JP 20385697A JP 20385697 A JP20385697 A JP 20385697A JP H1129860 A JPH1129860 A JP H1129860A
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 互いに対向するターゲット間のスパッタ
空間の側方に基板を配置し、該基板上にスパッタ膜を形
成する対向ターゲット式スパッタリング法にてスパッタ
膜を作製するに際し、上記2個のターゲットに互いに1
80度位相のずれた交流電圧を印加することを特徴とす
るスパッタ膜の作製方法。 【効果】 本発明によれば、速い成膜速度でスパッタ膜
を作製することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、速い成膜速度でス
パッタ膜を作製する方法及びかかるスパッタ膜を作製す
るための装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来よ
り、種々の金属や金属化合物をスパッタリング法により
作製することは広く行われており、各種スパッタリング
方式、スパッタリング装置が提案されている。
【0003】例えば、特公昭62−56575号公報、
特公昭63−20304号公報、特公平3−1810号
公報には、対向ターゲット式スパッタリング法が提案さ
れており、結晶性の良好な垂直磁化膜を作製することが
開示されている。
【0004】しかし、この従来の対向ターゲット式スパ
ッタリング法は、成膜速度が遅いという課題があり、こ
の点の解決が望まれていた。
【0005】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】本
発明者は、上記要望に応えるため鋭意検討を行った結
果、互いに対向するターゲット間のスパッタ空間の側方
に基板を配置し、該基板上にスパッタ膜を形成する対向
ターゲット式スパッタリング方式によりスパッタ膜を作
製する場合に、上記両ターゲットに180度位相のずれ
た交流電圧を印加することにより、高速で成膜し得るこ
とを見出した。
【0006】即ち、対向ターゲット式スパッタリング法
は、カソード(ターゲット)は互いに対向して2個ある
が、従来の方法では、これらカソードに直流又は交流電
圧を同じ位相で印加するものであり、上述したように成
膜速度が遅いものである。特に、反応性ガスを導入して
リアクティブスパッタリングを行うと、反応性ガスとの
反応の面から極端に成膜速度が低下する。ところが、対
向ターゲット式スパッタリング法において、互いに対向
する2個のターゲットに180度位相のずれた交流電圧
を印加することで、特にリアクティブスパッタリング法
の場合、結晶性の優れた金属化合物を高速で成膜するこ
とができ、例えばターゲットにチタン金属を用い、スパ
ッタ空間に不活性ガスと酸素分子を有するガスとを導入
して酸化チタン薄膜を作製した場合、高速で高光触媒活
性を有するアナターゼ型結晶リッチの薄膜を形成し得る
ことを知見したものである。
【0007】なお従来、位相を180度ずらした交流ス
パッタ法は、特開平5−222531号公報、特開平6
−212421号公報で提案されている。しかし、従来
のこの種の交流スパッタ法は、2個のターゲットを対向
させずに並列配置し、これらターゲットにスパッタ膜を
形成すべき基板を対向した状態で配置してスパッタリン
グを行うものであるが、この方式では基板がプラズマ放
電にさらされる上、特に酸化チタン光触媒膜を成膜する
場合、得られる膜はアモルファス構造となってしまうた
め、触媒活性が殆どないものであり、上記対向ターゲッ
トに位相が180度ずれた交流電圧を印加することで、
高速でアナターゼ構造の光触媒膜を得ることができるも
のである。
【0008】従って、本発明は、 請求項1:互いに対向するターゲット間のスパッタ空間
の側方に基板を配置し、該基板上にスパッタ膜を形成す
る対向ターゲット式スパッタリング法にてスパッタ膜を
作製するに際し、上記2個のターゲットに互いに180
度位相のずれた交流電圧を印加することを特徴とするス
パッタ膜の作製方法 請求項2:ターゲットがチタンであり、スパッタ空間に
不活性ガスと酸素分子を有するガスを導入して、基板上
に酸化チタン膜を成膜するようにした請求項1記載の作
製方法 請求項3:装置本体内に一対のターゲットを対向配置す
ると共に、スパッタ空間の側方にスパッタ膜を形成すべ
き基板を配置してなる対向ターゲット式スパッタリング
装置において、上記2個のターゲットに互いに180度
位相のずれた交流電圧を印加する交流電源を設置したこ
とを特徴とする対向ターゲット式スパッタリング装置 を提供する。
【0009】以下、本発明につき更に詳しく説明する
と、本発明のスパッタ膜の作製方法は、対向ターゲット
式スパッタリング装置を用いて成膜するものであるが、
この場合、互いに対向して配置された2個のターゲット
に180度位相のずれた交流電圧を印加してスパッタリ
ングを行うものである。
【0010】ここで、この対向ターゲット式スパッタリ
ング装置としては、電源が相違するほかは公知の装置態
様とすることができ、例えば図1に示す装置を使用し得
る。即ち、図1において、1は内部を脱気真空可能な装
置本体で、この装置本体1内に一対の金属ターゲット
2,2が互いに所定間隔離間対向して配置されたもので
ある。これらターゲット2,2は、それぞれ支持部3
a,3aを有するホールド3,3に保持され、これらホ
ールド3,3を介してスパッタ電源(交流電源)4に接
続されていると共に、上記ターゲット2,2の背後に磁
石5,5が互いに異なる磁極が対向するように配置さ
れ、上記ターゲット2,2間のスパッタ空間6に、ター
ゲット2,2に対して垂直方向の磁界が発生するように
なっている。そして、上記スパッタ空間6の側方には、
スパッタ膜を形成すべき基板7が配置されたものであ
る。なお、8は基板7を所定方向に移動可能に支持する
支持部材である。
【0011】ここで、上記スパッタ電源4において、4
aは信号発生器、4bは第1増幅器、4cは第2増幅器
であり、信号発生器4aは第1及び第2増幅器4b,4
cを同期させ、信号発生器から出た信号を適宜な回路4
dで180度ずれたある周波数の交流信号を作り、これ
を第1増幅器4bと第2増幅器4cで互いに180度位
相がずれた高電圧、高電流の交流を与え、第1増幅器4
bは一方のホールド3、第2増幅器4cは他方のホール
ド3に接続され、これにより互いに対向するターゲット
2,2に180度位相のずれた交流電圧が印加されるよ
うになっている。なお、このように2個のターゲット
2,2に互いに180度位相がずれた交流電源を与える
回路は公知の回路を採用し得、例えば特開平5−222
531号公報、特開平6−212421号公報記載の方
式を採用することができる。
【0012】上記のような装置を用いてスパッタリング
を行い、基板上にスパッタ膜を形成する場合、その条件
は特に制限されず、通常の条件を採用して金属ターゲッ
トの種類あるいはターゲット空間に導入する反応性ガス
の種類に応じたスパッタ膜を形成することができるが、
本発明は特に基板上に光触媒膜を形成する場合に好適で
ある。
【0013】ここで、基板上に光触媒膜を形成するに際
し、使用する金属ターゲットとしては、光触媒作用を有
する金属酸化物MeOx(MeはAl,Co,Cu,F
e,In,Mg,Sn,Ti,Zn等の金属を示し、x
は金属の種類によって異なるが、0〜10、好ましくは
0〜5の範囲の正数であり、xは必ずしも金属の価数に
相当していなくてもよい)を得るための金属酸化物に対
応した金属が選定されるが、特には酸化チタン膜を形成
するチタンが好ましい。
【0014】真空チャンバー内を十分に排気後、不活性
ガスと酸素分子を有するガスを導入した後、上記チャン
バー内の圧力を0.1〜100mTorr、特に0.3
〜30mTorrに保ち、成膜を行う。ここで、上記ス
パッタ空間に供給される酸素分子を有するガス(酸化性
ガス)としては、公知のガスを使用することができ、具
体的には、酸素、オゾン、空気、水等が挙げられ、通常
は酸素が用いられる。また、不活性ガスとしては、ヘリ
ウム、アルゴンなどを用いることができ、特に工業的に
安価なアルゴンが好適に使用し得る。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、速い成膜速度でスパッ
タ膜を作製することができる。
【0016】
【実施例】以下、実施例と比較例を示し、本発明を具体
的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるも
のではない。
【0017】〔実施例〕図1に示す対向ターゲット式ス
パッタリング装置を用いて、2枚の直径100mmのチ
タンターゲットをそれぞれのカソードに設置した。基材
として0.1mm厚のステンレス板(SUS304)を
用い、予めアセトンで脱脂した後、真空装置にセットし
た。真空チャンバーを排気した後、まずアルゴンガスの
みを流し、チャンバー中で高周波プラズマ処理(100
W×10分間)を行った後、アルゴンガスを流量10c
c/min、酸素ガスを流量10cc/minで流し、
成膜圧力5mTorrで180度位相をずらした交流電
圧を対向するターゲットにそれぞれ印加し、投入電力1
200Wで60分間成膜し、成膜速度及び光触媒効果を
評価した。
【0018】なお、成膜速度はテーラーホブソン社製の
膜厚計で膜厚を測定し、求めた。また、光触媒効果は成
膜した膜の上に機械油を0.1mg/cm2程度塗布し
た後、400W低圧水銀ランプ下15cmの位置に試験
片を置き、3時間照射後の重量減少量から求めた。
【0019】〔比較例〕上述の装置において2つのカソ
ードに印加する電源のみを直流電源に変え、投入パワー
1200Wで60分間成膜したものを比較例1とした。
また、100mm×100mmのターゲットが2枚平行
に並んでおり、基板をこれらターゲットに対向して配置
したデュアルカソード型スパッタリング装置を用い、実
施例と同様に180度位相をずらした交流電圧をそれぞ
れのカソードに印加し、投入電力1500Wで60分間
成膜したものを比較例2とした。得られた膜につき、成
膜速度及び光触媒効果を上記と同様にして評価した。結
果を表1に示す。
【0020】
【表1】
【0021】表1の結果より、本発明の成膜方法は、成
膜速度が速い上、得られた酸化チタン膜の触媒活性が高
いことが認められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る対向ターゲット式スパッタリング
装置の一実施例を示す概略図である。
【符号の説明】
1 装置本体 2 金属ターゲット 3 ホールド 3a 支持部 4 スパッタ電源 4a 信号発生器 4b 第1増幅器 4c 第2増幅器 4d 回路 5 磁石 6 スパッタ空間 7 基板 8 支持部材

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに対向するターゲット間のスパッタ
    空間の側方に基板を配置し、該基板上にスパッタ膜を形
    成する対向ターゲット式スパッタリング法にてスパッタ
    膜を作製するに際し、上記2個のターゲットに互いに1
    80度位相のずれた交流電圧を印加することを特徴とす
    るスパッタ膜の作製方法。
  2. 【請求項2】 ターゲットがチタンであり、スパッタ空
    間に不活性ガスと酸素分子を有するガスを導入して、基
    板上に酸化チタン膜を成膜するようにした請求項1記載
    の作製方法。
  3. 【請求項3】 装置本体内に一対のターゲットを対向配
    置すると共に、スパッタ空間の側方にスパッタ膜を形成
    すべき基板を配置してなる対向ターゲット式スパッタリ
    ング装置において、上記2個のターゲットに互いに18
    0度位相のずれた交流電圧を印加する交流電源を設置し
    たことを特徴とする対向ターゲット式スパッタリング装
    置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002021168A1 (fr) * 2000-09-05 2002-03-14 Nikon Corporation Filtre optique a film multicouche et dispositif de communications a multiplexage en longueurs d'onde
WO2003014410A1 (en) * 2001-08-07 2003-02-20 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Sputtering device
WO2003034533A1 (fr) * 2001-10-11 2003-04-24 Bridgestone Corporation Electrode semi-conductrice a oxyde metallique sensible a un colorant organique et son procede de fabrication, et photopile sensible a un colorant organique
JP2004022398A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Ulvac Japan Ltd 有機エレクトロルミネッセンスの製造方法
JP2008127582A (ja) * 2006-11-16 2008-06-05 Osaka Vacuum Ltd 複合型スパッタ装置及び複合型スパッタ方法
WO2008090982A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 Osaka Vacuum, Ltd. スパッタ方法及びスパッタ装置
JP2008184624A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Osaka Vacuum Ltd スパッタ方法及びスパッタ装置
WO2011027691A1 (ja) * 2009-09-01 2011-03-10 東京エレクトロン株式会社 スパッタリング装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002021168A1 (fr) * 2000-09-05 2002-03-14 Nikon Corporation Filtre optique a film multicouche et dispositif de communications a multiplexage en longueurs d'onde
WO2003014410A1 (en) * 2001-08-07 2003-02-20 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Sputtering device
WO2003034533A1 (fr) * 2001-10-11 2003-04-24 Bridgestone Corporation Electrode semi-conductrice a oxyde metallique sensible a un colorant organique et son procede de fabrication, et photopile sensible a un colorant organique
US7118936B2 (en) 2001-10-11 2006-10-10 Bridgestone Corporation Organic dye-sensitized metal oxide semiconductor electrode and its manufacturing method, and organic dye-sensitized solar cell
JP2004022398A (ja) * 2002-06-18 2004-01-22 Ulvac Japan Ltd 有機エレクトロルミネッセンスの製造方法
JP2008127582A (ja) * 2006-11-16 2008-06-05 Osaka Vacuum Ltd 複合型スパッタ装置及び複合型スパッタ方法
WO2008090982A1 (ja) * 2007-01-26 2008-07-31 Osaka Vacuum, Ltd. スパッタ方法及びスパッタ装置
JP2008184624A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Osaka Vacuum Ltd スパッタ方法及びスパッタ装置
WO2011027691A1 (ja) * 2009-09-01 2011-03-10 東京エレクトロン株式会社 スパッタリング装置
CN102575338A (zh) * 2009-09-01 2012-07-11 东京毅力科创株式会社 溅射装置
JP5374590B2 (ja) * 2009-09-01 2013-12-25 東京エレクトロン株式会社 スパッタリング装置

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