JPH1131777A - リードフレームおよび半導体装置とその製造方法 - Google Patents
リードフレームおよび半導体装置とその製造方法Info
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- JPH1131777A JPH1131777A JP18643997A JP18643997A JPH1131777A JP H1131777 A JPH1131777 A JP H1131777A JP 18643997 A JP18643997 A JP 18643997A JP 18643997 A JP18643997 A JP 18643997A JP H1131777 A JPH1131777 A JP H1131777A
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- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 需要の変動に柔軟に対応することが可能な、
複数の機能を選択可能な半導体装置とその製造方法およ
びその半導体装置を構成するリードフレームを提供す
る。 【解決手段】 モールド材5により封入された半導体素
子1の電極2a、2bにボンディングワイヤ4a、4b
を介して電気的に接続されるリードフレーム3におい
て、複数の枝部10a、10bに分岐した端子を備え、
この枝部10a、10bの分岐点9がモールド材5の外
側に位置するように形成する。
複数の機能を選択可能な半導体装置とその製造方法およ
びその半導体装置を構成するリードフレームを提供す
る。 【解決手段】 モールド材5により封入された半導体素
子1の電極2a、2bにボンディングワイヤ4a、4b
を介して電気的に接続されるリードフレーム3におい
て、複数の枝部10a、10bに分岐した端子を備え、
この枝部10a、10bの分岐点9がモールド材5の外
側に位置するように形成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、リードフレーム
および半導体装置とその製造方法に関し、より特定的に
は、異なる機能を有する複数の回路とこの複数の回路の
それぞれに対応して設けられた複数の電極とを備える半
導体素子の、上記電極と電気的に接続されるリードフレ
ームおよびこのリードフレームを用いた半導体装置とそ
の製造方法に関する。
および半導体装置とその製造方法に関し、より特定的に
は、異なる機能を有する複数の回路とこの複数の回路の
それぞれに対応して設けられた複数の電極とを備える半
導体素子の、上記電極と電気的に接続されるリードフレ
ームおよびこのリードフレームを用いた半導体装置とそ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子上に複数の異なる機能
を有する複数の回路と、この各回路に対応する電極とを
形成し、所定の上記電極とリードフレームとを接続する
ことにより、回路を切換えて使用することが可能な半導
体装置が知られている。
を有する複数の回路と、この各回路に対応する電極とを
形成し、所定の上記電極とリードフレームとを接続する
ことにより、回路を切換えて使用することが可能な半導
体装置が知られている。
【0003】図12は、従来の複数の回路を切換えて使
用可能な半導体装置を示した平面図である。図12を参
照して、従来の複数の回路を切換えて使用可能な半導体
装置は、半導体素子101とリードフレーム103とモ
ールド材105とボンディングワイヤ104とから構成
されている。半導体素子101の表面上には複数の電極
102a、102bが形成されている。この電極102
a、102bは、それぞれ異なる回路に対応している。
そして、リードフレーム103と電極102bとは、ボ
ンディングワイヤ104により接続されている。半導体
素子101とボンディングワイヤ104とリードフレー
ム103の一部とを覆うように、モールド材105が封
入されている。このように、半導体素子101の表面上
に存在する電極102a、102bのいずれかとリード
フレーム103とをボンディングワイヤ104により接
続することによって、それぞれの電極102a、102
bに対応した半導体素子101内の回路を切り換えて使
用可能とすることができる。この半導体素子101内の
回路を切換えて使用している状況を説明するため、領域
200を模式的に示した図が図13である。
用可能な半導体装置を示した平面図である。図12を参
照して、従来の複数の回路を切換えて使用可能な半導体
装置は、半導体素子101とリードフレーム103とモ
ールド材105とボンディングワイヤ104とから構成
されている。半導体素子101の表面上には複数の電極
102a、102bが形成されている。この電極102
a、102bは、それぞれ異なる回路に対応している。
そして、リードフレーム103と電極102bとは、ボ
ンディングワイヤ104により接続されている。半導体
素子101とボンディングワイヤ104とリードフレー
ム103の一部とを覆うように、モールド材105が封
入されている。このように、半導体素子101の表面上
に存在する電極102a、102bのいずれかとリード
フレーム103とをボンディングワイヤ104により接
続することによって、それぞれの電極102a、102
bに対応した半導体素子101内の回路を切り換えて使
用可能とすることができる。この半導体素子101内の
回路を切換えて使用している状況を説明するため、領域
200を模式的に示した図が図13である。
【0004】図13を参照して、半導体素子101の表
面には、それぞれ異なる回路に対応した電極102a、
102bが形成されている。そして、電極102bとリ
ードフレーム103とはボンディングワイヤ104によ
り接続されている。そして、半導体素子101とボンデ
ィングワイヤ104とリードフレーム103の一部と
が、モールド材105により封入されている。ここで、
この半導体素子101は、リードフレーム103との接
続電極を電極102a、102bのどちらか一方に選択
することで、それぞれ異なる回路を使用することができ
る。
面には、それぞれ異なる回路に対応した電極102a、
102bが形成されている。そして、電極102bとリ
ードフレーム103とはボンディングワイヤ104によ
り接続されている。そして、半導体素子101とボンデ
ィングワイヤ104とリードフレーム103の一部と
が、モールド材105により封入されている。ここで、
この半導体素子101は、リードフレーム103との接
続電極を電極102a、102bのどちらか一方に選択
することで、それぞれ異なる回路を使用することができ
る。
【0005】図14は、図13に示した従来の半導体装
置の製造プロセスを説明するための模式図である。図1
4を参照して、半導体素子101の表面には、それぞれ
異なる回路を使用するための電極102a、102bが
形成されている。そして、一方の電極102aおよび他
方の電極102bのいずれかとリードフレーム103と
がボンディングワイヤ104により接続されることによ
り、回路の切換えが行なわれる。この図14では、電極
102bとリードフレーム103とを接続することで、
電極102bに対応する回路を使用できるようにした半
導体装置が示されている。また、電極102aに対応す
る回路を使用したい場合は、電極102aとリードフレ
ーム103とを接続すればよい。
置の製造プロセスを説明するための模式図である。図1
4を参照して、半導体素子101の表面には、それぞれ
異なる回路を使用するための電極102a、102bが
形成されている。そして、一方の電極102aおよび他
方の電極102bのいずれかとリードフレーム103と
がボンディングワイヤ104により接続されることによ
り、回路の切換えが行なわれる。この図14では、電極
102bとリードフレーム103とを接続することで、
電極102bに対応する回路を使用できるようにした半
導体装置が示されている。また、電極102aに対応す
る回路を使用したい場合は、電極102aとリードフレ
ーム103とを接続すればよい。
【0006】そして、モールド材105(図13参照)
により半導体素子101とリードフレーム103の一部
とボンディングワイヤ104とを封入することにより、
図13に示すような半導体装置を得る。
により半導体素子101とリードフレーム103の一部
とボンディングワイヤ104とを封入することにより、
図13に示すような半導体装置を得る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来、リードフレーム
103と半導体素子101のそれぞれ異なる回路に対応
した電極102a、102bのいずれか一方とを接続す
ることで、半導体素子101上に形成された複数の回路
を切換えて使用していた。このため、図13に示したよ
うに、モールド材105により半導体素子101とボン
ディングワイヤ104とリードフレーム103の一部と
を封入した後は、半導体素子101上の回路を切換える
ため、リードフレーム103と接続された一方の電極1
02bを他方の電極102aに変更することはできなか
った。そのため、需要の動向の変化により、半導体素子
101の機能を切換えた製品を出荷しようとしても、電
極102aとリードフレーム103との接続、およびモ
ールド材105による封入という工程を実施することが
必要であり、必要な製品の完成まである程度の時間が必
要であった。その結果、市場に製品を出荷するまでに時
間がかかり、需要の動向に柔軟に対応し、最適なタイミ
ングで製品を市場に供給することが難しいという問題が
あった。
103と半導体素子101のそれぞれ異なる回路に対応
した電極102a、102bのいずれか一方とを接続す
ることで、半導体素子101上に形成された複数の回路
を切換えて使用していた。このため、図13に示したよ
うに、モールド材105により半導体素子101とボン
ディングワイヤ104とリードフレーム103の一部と
を封入した後は、半導体素子101上の回路を切換える
ため、リードフレーム103と接続された一方の電極1
02bを他方の電極102aに変更することはできなか
った。そのため、需要の動向の変化により、半導体素子
101の機能を切換えた製品を出荷しようとしても、電
極102aとリードフレーム103との接続、およびモ
ールド材105による封入という工程を実施することが
必要であり、必要な製品の完成まである程度の時間が必
要であった。その結果、市場に製品を出荷するまでに時
間がかかり、需要の動向に柔軟に対応し、最適なタイミ
ングで製品を市場に供給することが難しいという問題が
あった。
【0008】本発明は、上記のような課題を解決するた
めになされたものであり、本発明の目的は、需要の変動
に柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能
な半導体装置を提供することである。
めになされたものであり、本発明の目的は、需要の変動
に柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能
な半導体装置を提供することである。
【0009】本発明のもう1つの目的は、需要の変動に
柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能な
半導体装置の製造方法を提供することである。
柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能な
半導体装置の製造方法を提供することである。
【0010】本発明のもう1つの目的は、需要の変動に
柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能な
半導体装置を構成するリードフレームを提供することで
ある。
柔軟に対応することが可能な、複数の機能を選択可能な
半導体装置を構成するリードフレームを提供することで
ある。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1におけるリード
フレームは、モールド材により封入された半導体素子の
電極にボンディングワイヤを介して電気的に接続される
リードフレームであって、複数の枝部に分岐した端子を
備えている。そして、上記枝部の分岐点がモールド材の
外側に位置するように形成されている。このように、枝
部の分岐点がモールド材の外側に位置するように形成さ
れているので、半導体素子をモールド材により封入した
後、モールド材の外側に位置する枝部の1つを切断する
ことができる。このため、任意の電極とリードフレーム
との電気的接続をモールド材による封入後に切断するこ
とが可能となる。そのため、電極とリードフレームとの
接続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に対応し
た回路を切換える半導体装置において、モールド材によ
る封入後においても、半導体素子の回路の切換えが可能
となる。これにより、半導体素子のモールド材による封
入まで実施して、ほぼ完成品に近い状態にした後、この
半導体装置を在庫として保管しておくことが可能とな
る。この結果、リードフレームの端子の所定の枝部をモ
ールド材の外側に位置する領域において切断するだけ
で、異なる機能を有する半導体装置を得ることができ、
半導体装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能と
なる。
フレームは、モールド材により封入された半導体素子の
電極にボンディングワイヤを介して電気的に接続される
リードフレームであって、複数の枝部に分岐した端子を
備えている。そして、上記枝部の分岐点がモールド材の
外側に位置するように形成されている。このように、枝
部の分岐点がモールド材の外側に位置するように形成さ
れているので、半導体素子をモールド材により封入した
後、モールド材の外側に位置する枝部の1つを切断する
ことができる。このため、任意の電極とリードフレーム
との電気的接続をモールド材による封入後に切断するこ
とが可能となる。そのため、電極とリードフレームとの
接続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に対応し
た回路を切換える半導体装置において、モールド材によ
る封入後においても、半導体素子の回路の切換えが可能
となる。これにより、半導体素子のモールド材による封
入まで実施して、ほぼ完成品に近い状態にした後、この
半導体装置を在庫として保管しておくことが可能とな
る。この結果、リードフレームの端子の所定の枝部をモ
ールド材の外側に位置する領域において切断するだけ
で、異なる機能を有する半導体装置を得ることができ、
半導体装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能と
なる。
【0012】請求項2におけるリードフレームは、請求
項1の構成において、上記枝部のうち少なくとも1つ
が、上記モールド材の外側に位置する領域に断線部を有
している。このように、リードフレームの枝部のうち、
少なくとも1つがモールド材の外側に位置する領域に断
線部を有しているので、モールド材による封入後に、こ
の断線部を形成する際、断線部を形成する枝部を変更す
ることにより、リードフレームに接続される電極を切換
えることが可能となる。このため、電極とリードフレー
ムとの接続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に
対応した回路を切換える半導体装置において、モールド
材による封入後においても、半導体素子の回路の切換え
が可能となる。このため、半導体素子のモールド材によ
る封入まで実施して、ほぼ完成品に近い状態にした後、
この半導体装置を在庫として保管しておくことが可能と
なる。この結果、リードフレームの所定の枝部をモール
ド材の外側に位置する領域において切断するだけで、異
なる機能を有する半導体装置を得ることができ、半導体
装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能となる。
項1の構成において、上記枝部のうち少なくとも1つ
が、上記モールド材の外側に位置する領域に断線部を有
している。このように、リードフレームの枝部のうち、
少なくとも1つがモールド材の外側に位置する領域に断
線部を有しているので、モールド材による封入後に、こ
の断線部を形成する際、断線部を形成する枝部を変更す
ることにより、リードフレームに接続される電極を切換
えることが可能となる。このため、電極とリードフレー
ムとの接続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に
対応した回路を切換える半導体装置において、モールド
材による封入後においても、半導体素子の回路の切換え
が可能となる。このため、半導体素子のモールド材によ
る封入まで実施して、ほぼ完成品に近い状態にした後、
この半導体装置を在庫として保管しておくことが可能と
なる。この結果、リードフレームの所定の枝部をモール
ド材の外側に位置する領域において切断するだけで、異
なる機能を有する半導体装置を得ることができ、半導体
装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能となる。
【0013】請求項3におけるリードフレームは、請求
項1または2の構成において、上記リードフレームの構
成部材が複数の部材からなっている。このように、リー
ドフレームを複数の部材から構成するので、リードフレ
ームの上記枝部の形状が複雑になり、従来の工程では形
成することが難しくなった場合でも、複数の比較的単純
な形状の部材に分割してそれぞれの部材を形成すること
ができる。そのため、その複数の部材を組合せてリード
フレームを形成することにより、複雑な形状のリードフ
レームを形成することができる。
項1または2の構成において、上記リードフレームの構
成部材が複数の部材からなっている。このように、リー
ドフレームを複数の部材から構成するので、リードフレ
ームの上記枝部の形状が複雑になり、従来の工程では形
成することが難しくなった場合でも、複数の比較的単純
な形状の部材に分割してそれぞれの部材を形成すること
ができる。そのため、その複数の部材を組合せてリード
フレームを形成することにより、複雑な形状のリードフ
レームを形成することができる。
【0014】請求項4におけるリードフレームは、請求
項2または3の構成において、上記枝部の断線部が絶縁
材で被覆されている。このように、上記枝部の断線部が
絶縁材で被覆されているので、断線した部分における短
絡の発生を防止することができる。このため、請求項4
におけるリードフレームを用いて半導体装置を製造する
際、断線部における短絡の発生に起因する半導体装置の
誤動作や損傷といった問題の発生を防止することが可能
となる。
項2または3の構成において、上記枝部の断線部が絶縁
材で被覆されている。このように、上記枝部の断線部が
絶縁材で被覆されているので、断線した部分における短
絡の発生を防止することができる。このため、請求項4
におけるリードフレームを用いて半導体装置を製造する
際、断線部における短絡の発生に起因する半導体装置の
誤動作や損傷といった問題の発生を防止することが可能
となる。
【0015】請求項5における半導体装置は、異なる機
能を有する複数の回路と、上記複数の回路のそれぞれに
対応して設けられた複数の電極とを有する半導体素子
と、複数の枝部に分岐した端子を有するリードフレーム
と、上記電極と上記枝部とを接続するボンディングワイ
ヤと、上記半導体素子と上記ボンディングワイヤと上記
リードフレームの端子の一部とを覆うように形成された
モールド材とを備え、上記枝部の分岐点が、上記モール
ド材の外側に位置している。このように、枝部の分岐点
がモールド材の外側に位置するように形成されているの
で、半導体素子をモールド材により封入した後、モール
ド材の外側に位置する上記枝部の1つを切断することが
できる。このため、任意の電極とリードフレームとの電
気的接続を切断することが可能となる。そのため、電極
とリードフレームとの接続状況により半導体素子上のそ
れぞれの機能に対応した回路を切換える半導体装置にお
いて、モールド材による封入後においても、半導体素子
の回路の切換えが可能となる。これにより、半導体素子
のモールド材による封入まで実施して、ほぼ完成品に近
い状態にした後、この半導体装置を在庫として保管して
おくことが可能となる。その結果、リードフレームの端
子の所定の枝部をモールド材の外側に位置する領域にお
いて切断するだけで、異なる機能を有する半導体装置を
得ることができ、半導体装置の需要の変動に柔軟に対応
することが可能となる。
能を有する複数の回路と、上記複数の回路のそれぞれに
対応して設けられた複数の電極とを有する半導体素子
と、複数の枝部に分岐した端子を有するリードフレーム
と、上記電極と上記枝部とを接続するボンディングワイ
ヤと、上記半導体素子と上記ボンディングワイヤと上記
リードフレームの端子の一部とを覆うように形成された
モールド材とを備え、上記枝部の分岐点が、上記モール
ド材の外側に位置している。このように、枝部の分岐点
がモールド材の外側に位置するように形成されているの
で、半導体素子をモールド材により封入した後、モール
ド材の外側に位置する上記枝部の1つを切断することが
できる。このため、任意の電極とリードフレームとの電
気的接続を切断することが可能となる。そのため、電極
とリードフレームとの接続状況により半導体素子上のそ
れぞれの機能に対応した回路を切換える半導体装置にお
いて、モールド材による封入後においても、半導体素子
の回路の切換えが可能となる。これにより、半導体素子
のモールド材による封入まで実施して、ほぼ完成品に近
い状態にした後、この半導体装置を在庫として保管して
おくことが可能となる。その結果、リードフレームの端
子の所定の枝部をモールド材の外側に位置する領域にお
いて切断するだけで、異なる機能を有する半導体装置を
得ることができ、半導体装置の需要の変動に柔軟に対応
することが可能となる。
【0016】請求項6における半導体装置は、請求項5
の構成において、上記枝部のうちの少なくとも1つが、
上記モールド材の外側に位置する領域において断線部を
有する。このように、リードフレームの端子の枝部のう
ち、少なくとも1つが上記モールド材の外側に位置する
領域に断線部を有しているので、半導体素子などをモー
ルド材により封入した後に、この断線部を形成する際、
断線部を形成する枝部を変更することにより、リードフ
レームに接続される電極を切換えることが可能となる。
このため、電極とリードフレームとの接続状況により半
導体素子上のそれぞれの機能に対応した回路を切換える
半導体装置において、モールド材による封入後において
も、半導体素子の回路の切換が可能となる。そのため、
半導体素子のモールド材による封入まで実施して、ほぼ
完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫とし
て保管しておくことが可能となる。その結果、リードフ
レームの端子の所定の枝部をモールド材の外側に位置す
る領域において切断するだけで、異なる機能を有する半
導体装置を得ることができ、半導体装置の需要の変動に
柔軟に対応することが可能となる。
の構成において、上記枝部のうちの少なくとも1つが、
上記モールド材の外側に位置する領域において断線部を
有する。このように、リードフレームの端子の枝部のう
ち、少なくとも1つが上記モールド材の外側に位置する
領域に断線部を有しているので、半導体素子などをモー
ルド材により封入した後に、この断線部を形成する際、
断線部を形成する枝部を変更することにより、リードフ
レームに接続される電極を切換えることが可能となる。
このため、電極とリードフレームとの接続状況により半
導体素子上のそれぞれの機能に対応した回路を切換える
半導体装置において、モールド材による封入後において
も、半導体素子の回路の切換が可能となる。そのため、
半導体素子のモールド材による封入まで実施して、ほぼ
完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫とし
て保管しておくことが可能となる。その結果、リードフ
レームの端子の所定の枝部をモールド材の外側に位置す
る領域において切断するだけで、異なる機能を有する半
導体装置を得ることができ、半導体装置の需要の変動に
柔軟に対応することが可能となる。
【0017】請求項7における半導体装置は、請求項6
の構成において、上記枝部の断線部が絶縁材で被覆され
ている。このように、上記枝部の断線部が絶縁材で被覆
されているので、断線した部分における短絡の発生を防
止することができる。このため、断線部における短絡の
発生に起因する半導体装置の誤動作や損傷といった問題
の発生を防止することが可能となる。
の構成において、上記枝部の断線部が絶縁材で被覆され
ている。このように、上記枝部の断線部が絶縁材で被覆
されているので、断線した部分における短絡の発生を防
止することができる。このため、断線部における短絡の
発生に起因する半導体装置の誤動作や損傷といった問題
の発生を防止することが可能となる。
【0018】請求項8における半導体装置は、請求項5
〜7のいずれか1項の構成において、上記モールド材の
上記分岐点の近傍に位置する領域に、分岐点を示す位置
検出用マークを形成している。このように、分岐点の近
傍に位置する領域に位置検出用マークを形成しているの
で、この分岐点の近傍において上記枝部の1つを切断す
る際、精度よく分岐点を検出することができ、その結
果、他の部位を切断して不良品が発生するといった問題
の発生を防止することが可能となる。
〜7のいずれか1項の構成において、上記モールド材の
上記分岐点の近傍に位置する領域に、分岐点を示す位置
検出用マークを形成している。このように、分岐点の近
傍に位置する領域に位置検出用マークを形成しているの
で、この分岐点の近傍において上記枝部の1つを切断す
る際、精度よく分岐点を検出することができ、その結
果、他の部位を切断して不良品が発生するといった問題
の発生を防止することが可能となる。
【0019】請求項9における半導体装置の製造方法
は、複数の枝部に分岐した端子を備えるリードフレーム
の上記枝部と、異なる機能を有する複数の回路を含む半
導体素子の表面に形成された、上記複数の回路のそれぞ
れに対応して設けられた複数の電極とをボンディングワ
イヤで接続する工程と、上記半導体素子とボンディング
ワイヤとリードフレームの端子の一部とをモールド材に
より上記枝部の分岐点がモールド材の外側に位置するよ
うに封入する工程とを備えている。このように、リード
フレームの端子の分岐点がモールド材の外側に位置する
ようにモールド材を封入するので、半導体素子をモール
ド材により封入した後、モールド材の外側に位置する上
記枝部の1つを切断することができる。このため、任意
の電極とリードフレームとの電気的接続を切断すること
が可能となる。そのため、電極とリードフレームとの接
続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に対応した
複数の回路を切換える半導体装置において、モールド材
による封入後においても、半導体素子の回路の切換えが
可能となる。それにより、半導体素子をモールド材によ
り封入する工程まで実施して、ほぼ完成品に近い状態に
した後、この半導体装置を在庫として保管しておくこと
が可能となる。その結果、リードフレームの端子の所定
の枝部をモールド材の外側に位置する領域において切断
するだけで、異なる機能を有する半導体装置を得ること
ができ、需要の変動に柔軟に対応して半導体装置を製造
することが可能となる。
は、複数の枝部に分岐した端子を備えるリードフレーム
の上記枝部と、異なる機能を有する複数の回路を含む半
導体素子の表面に形成された、上記複数の回路のそれぞ
れに対応して設けられた複数の電極とをボンディングワ
イヤで接続する工程と、上記半導体素子とボンディング
ワイヤとリードフレームの端子の一部とをモールド材に
より上記枝部の分岐点がモールド材の外側に位置するよ
うに封入する工程とを備えている。このように、リード
フレームの端子の分岐点がモールド材の外側に位置する
ようにモールド材を封入するので、半導体素子をモール
ド材により封入した後、モールド材の外側に位置する上
記枝部の1つを切断することができる。このため、任意
の電極とリードフレームとの電気的接続を切断すること
が可能となる。そのため、電極とリードフレームとの接
続状況により半導体素子上のそれぞれの機能に対応した
複数の回路を切換える半導体装置において、モールド材
による封入後においても、半導体素子の回路の切換えが
可能となる。それにより、半導体素子をモールド材によ
り封入する工程まで実施して、ほぼ完成品に近い状態に
した後、この半導体装置を在庫として保管しておくこと
が可能となる。その結果、リードフレームの端子の所定
の枝部をモールド材の外側に位置する領域において切断
するだけで、異なる機能を有する半導体装置を得ること
ができ、需要の変動に柔軟に対応して半導体装置を製造
することが可能となる。
【0020】請求項10における半導体装置の製造方法
は、請求項9の構成において、上記枝部のうち少なくと
も1つにおいて、上記モールド材の外側に位置する領域
に断線部を形成する工程を備えている。このように、リ
ードフレームの端子の枝部のうち少なくとも1つにおい
て、上記モールド材の外側に位置する領域に断線部を形
成する工程を備えているので、モールド材による封入後
に、この断線部を形成する枝部を変更することにより、
端子に接続される電極を切換えることが可能となる。こ
のため、電極とリードフレームとの接続状況により半導
体素子上のそれぞれの機能に対応した回路を切換える半
導体装置において、モールド材による封入後において
も、半導体素子の回路の切換えが可能となる。そのた
め、半導体素子のモールド材による封入まで実施して、
ほぼ完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫
として保管しておくことが可能となる。これにより、リ
ードフレームの端子の所定の枝部をモールド材の外側に
位置する領域において切断するだけで、異なる機能を有
する半導体装置を得ることができる。その結果、半導体
装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能となる。
は、請求項9の構成において、上記枝部のうち少なくと
も1つにおいて、上記モールド材の外側に位置する領域
に断線部を形成する工程を備えている。このように、リ
ードフレームの端子の枝部のうち少なくとも1つにおい
て、上記モールド材の外側に位置する領域に断線部を形
成する工程を備えているので、モールド材による封入後
に、この断線部を形成する枝部を変更することにより、
端子に接続される電極を切換えることが可能となる。こ
のため、電極とリードフレームとの接続状況により半導
体素子上のそれぞれの機能に対応した回路を切換える半
導体装置において、モールド材による封入後において
も、半導体素子の回路の切換えが可能となる。そのた
め、半導体素子のモールド材による封入まで実施して、
ほぼ完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫
として保管しておくことが可能となる。これにより、リ
ードフレームの端子の所定の枝部をモールド材の外側に
位置する領域において切断するだけで、異なる機能を有
する半導体装置を得ることができる。その結果、半導体
装置の需要の変動に柔軟に対応することが可能となる。
【0021】請求項11における半導体装置の製造方法
は、請求項10の構成において、上記断線部を絶縁材で
被覆する工程をさらに備えている。このように、上記枝
部の断線部を絶縁材で被覆する工程を備えているので、
断線した部分における短絡の発生を防止することができ
る。このため、断線部における短絡の発生に起因する半
導体装置の誤動作や損傷といった問題の発生を防止する
ことが可能となる。
は、請求項10の構成において、上記断線部を絶縁材で
被覆する工程をさらに備えている。このように、上記枝
部の断線部を絶縁材で被覆する工程を備えているので、
断線した部分における短絡の発生を防止することができ
る。このため、断線部における短絡の発生に起因する半
導体装置の誤動作や損傷といった問題の発生を防止する
ことが可能となる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。
施の形態を説明する。
【0023】図1は、本発明の実施の形態による、リー
ドフレームを用いた半導体装置の全体図である。図1を
参照して、本発明の実施の形態によるリードフレームを
用いた半導体装置は、半導体素子1とリードフレーム3
とモールド材5とボンディングワイヤ4a、4bとから
構成されている。半導体素子1の表面上には複数の電極
2a、2bが形成されている。これらの電極2a、2b
にボンディングワイヤ4a、4bを介して電気的に接続
するようにリードフレーム3が配置されている。半導体
素子1とボンディングワイヤ4a、4bとリードフレー
ム3の端子の枝部10a、10bの一部とを覆うよう
に、モールド材5が封入されている。このとき、リード
フレーム3の枝部10a、10bの分岐点9は、モール
ド材5の外側に位置するように形成されている。そし
て、枝部10aのモールド材5の外側に位置する領域に
おいて、切断部が形成されている。
ドフレームを用いた半導体装置の全体図である。図1を
参照して、本発明の実施の形態によるリードフレームを
用いた半導体装置は、半導体素子1とリードフレーム3
とモールド材5とボンディングワイヤ4a、4bとから
構成されている。半導体素子1の表面上には複数の電極
2a、2bが形成されている。これらの電極2a、2b
にボンディングワイヤ4a、4bを介して電気的に接続
するようにリードフレーム3が配置されている。半導体
素子1とボンディングワイヤ4a、4bとリードフレー
ム3の端子の枝部10a、10bの一部とを覆うよう
に、モールド材5が封入されている。このとき、リード
フレーム3の枝部10a、10bの分岐点9は、モール
ド材5の外側に位置するように形成されている。そし
て、枝部10aのモールド材5の外側に位置する領域に
おいて、切断部が形成されている。
【0024】このように、本発明の実施の形態では、リ
ードフレーム3の端子の枝部10a、10bの分岐点9
が、モールド材5の外側に位置するように形成されてい
るので、モールド材5により半導体素子1とリードフレ
ーム3の一部とボンディングワイヤ4a、4bとを封入
した後、枝部10aにおけるモールド材5の外側に位置
する領域を切断することにより、リードフレーム3と接
続されている電極を電極10bのみとすることができ
る。そのため、モールド材5による封入まで実施して、
ほぼ完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫
として保管しておくことが可能となる。この結果、リー
ドフレーム3の端子の所定の枝部をモールド材5の外側
に位置する領域において切断するだけで、異なる機能を
有する半導体装置を得ることができる。その結果、需要
の変動に柔軟に対応して、半導体装置を提供することが
可能となる。
ードフレーム3の端子の枝部10a、10bの分岐点9
が、モールド材5の外側に位置するように形成されてい
るので、モールド材5により半導体素子1とリードフレ
ーム3の一部とボンディングワイヤ4a、4bとを封入
した後、枝部10aにおけるモールド材5の外側に位置
する領域を切断することにより、リードフレーム3と接
続されている電極を電極10bのみとすることができ
る。そのため、モールド材5による封入まで実施して、
ほぼ完成品に近い状態にした後、この半導体装置を在庫
として保管しておくことが可能となる。この結果、リー
ドフレーム3の端子の所定の枝部をモールド材5の外側
に位置する領域において切断するだけで、異なる機能を
有する半導体装置を得ることができる。その結果、需要
の変動に柔軟に対応して、半導体装置を提供することが
可能となる。
【0025】図2は、図1に示した領域100に対応す
る半導体素子とリードフレームとの接合部を示した模式
図である。図2を参照して、半導体素子1の表面には、
異なる回路に対応する電極2a、2bが形成されてい
る。リードフレーム3の端子の枝部10a、10bが、
それぞれ電極2a、2bとボンディングワイヤ4a、4
bを介して接続されている。半導体素子1とボンディン
グワイヤ4a、4bと枝部10a、10bの一部とを覆
うように、モールド材5が封入されている。そして、枝
部10a、10bの分岐点9はモールド材5の外側に位
置している。さらに、枝部10aは、モールド材の外側
に位置する領域において切断されている。このように、
モールド材5の外側に枝部10a、10bの分岐点9を
形成し、枝部10a、10bのいずれかに断線部を形成
するので、後述する製造プロセスにおいて、モールド材
5により半導体素子1などを封入した後、リードフレー
ム3に接続される電極2a、2bを選択することが可能
となる。
る半導体素子とリードフレームとの接合部を示した模式
図である。図2を参照して、半導体素子1の表面には、
異なる回路に対応する電極2a、2bが形成されてい
る。リードフレーム3の端子の枝部10a、10bが、
それぞれ電極2a、2bとボンディングワイヤ4a、4
bを介して接続されている。半導体素子1とボンディン
グワイヤ4a、4bと枝部10a、10bの一部とを覆
うように、モールド材5が封入されている。そして、枝
部10a、10bの分岐点9はモールド材5の外側に位
置している。さらに、枝部10aは、モールド材の外側
に位置する領域において切断されている。このように、
モールド材5の外側に枝部10a、10bの分岐点9を
形成し、枝部10a、10bのいずれかに断線部を形成
するので、後述する製造プロセスにおいて、モールド材
5により半導体素子1などを封入した後、リードフレー
ム3に接続される電極2a、2bを選択することが可能
となる。
【0026】図3および4は、図2に示した半導体装置
の、半導体素子とリードフレームとの接合部の製造プロ
セスを説明するための模式図である。
の、半導体素子とリードフレームとの接合部の製造プロ
セスを説明するための模式図である。
【0027】図3に示すように、半導体素子1上に、そ
れぞれ別の回路に対応する電極2a、2bを形成する。
この電極2a、2bにボンディングワイヤ4a、4bを
介してリードフレーム3の枝部10a、10bを接続す
る。リードフレーム3の端子の枝部10a、10bの分
岐点9は、モールド材5(図2参照)により封入された
後において、モールド材5の外側に位置するように形成
されている。
れぞれ別の回路に対応する電極2a、2bを形成する。
この電極2a、2bにボンディングワイヤ4a、4bを
介してリードフレーム3の枝部10a、10bを接続す
る。リードフレーム3の端子の枝部10a、10bの分
岐点9は、モールド材5(図2参照)により封入された
後において、モールド材5の外側に位置するように形成
されている。
【0028】次に、図4に示すように、半導体素子1と
ボンディングワイヤ4a、4bと枝部10a、10bの
一部とを、モールド材5により封入する。このとき、枝
部10a、10bの分岐点9はモールド材5の外側に位
置している。
ボンディングワイヤ4a、4bと枝部10a、10bの
一部とを、モールド材5により封入する。このとき、枝
部10a、10bの分岐点9はモールド材5の外側に位
置している。
【0029】その後、電極2aに接続されている枝部1
0aを、モールド材5の外側で切断することにより、図
2に示すような構造を得る。
0aを、モールド材5の外側で切断することにより、図
2に示すような構造を得る。
【0030】ここで、電極2aに対応する回路を使用
し、電極2bに対応する回路は使用しないような半導体
装置を製造する場合には、モールド材5の外側におい
て、枝部10aに代えて枝部10bを切断すればよい。
し、電極2bに対応する回路は使用しないような半導体
装置を製造する場合には、モールド材5の外側におい
て、枝部10aに代えて枝部10bを切断すればよい。
【0031】このように、本発明の実施の形態の製造プ
ロセスでは、枝部10a、10bを有するリードフレー
ム3を用い、その枝部10a、10bの分岐点9がモー
ルド材5の外側に位置するように形成するので、モール
ド材5により半導体素子1などを封入した後に、対応す
る枝部10a、10bのいずれかを切断することによ
り、リードフレーム3と接続されている電極を電極2
a、2bのいずれか一方に選択することができる。
ロセスでは、枝部10a、10bを有するリードフレー
ム3を用い、その枝部10a、10bの分岐点9がモー
ルド材5の外側に位置するように形成するので、モール
ド材5により半導体素子1などを封入した後に、対応す
る枝部10a、10bのいずれかを切断することによ
り、リードフレーム3と接続されている電極を電極2
a、2bのいずれか一方に選択することができる。
【0032】また、図5は、本発明の実施の形態の第1
の変形例による半導体装置を示す模式図である。図5を
参照して、本発明の実施の形態の第1の変形例による半
導体装置では、モールド材5の枝部10a、10bの分
岐点9の近傍に位置する領域に、分岐点9を示す位置検
出用マークが形成されている。このため、分岐点9の近
傍において枝部10a、10bのいずれかを切断する
際、精度よく分岐点9を検出し、枝部10a、10bの
いずれか一方を切断することができる。この結果、他の
部位を切断することにより不良品が発生するというよう
な問題の発生を防止することが可能となる。
の変形例による半導体装置を示す模式図である。図5を
参照して、本発明の実施の形態の第1の変形例による半
導体装置では、モールド材5の枝部10a、10bの分
岐点9の近傍に位置する領域に、分岐点9を示す位置検
出用マークが形成されている。このため、分岐点9の近
傍において枝部10a、10bのいずれかを切断する
際、精度よく分岐点9を検出し、枝部10a、10bの
いずれか一方を切断することができる。この結果、他の
部位を切断することにより不良品が発生するというよう
な問題の発生を防止することが可能となる。
【0033】図6は、本発明の実施の形態の第2の変形
例による半導体装置を示す模式図である。図6を参照し
て、本発明の実施の形態の第2の変形例は、基本的には
図2に示した実施の形態と同様の構造を備えている。し
かし、この第2の変形例では、枝部10aの断線部を樹
脂などの絶縁材8で被覆している。このように、枝部1
0aの断線部を絶縁材8で被覆しているので、断線部を
固定・絶縁でき、断線した部分での短絡の発生を防止す
ることができる。このため、断線部における短絡の発生
に起因する半導体装置の誤動作や損傷といった問題の発
生を防止することが可能となる。
例による半導体装置を示す模式図である。図6を参照し
て、本発明の実施の形態の第2の変形例は、基本的には
図2に示した実施の形態と同様の構造を備えている。し
かし、この第2の変形例では、枝部10aの断線部を樹
脂などの絶縁材8で被覆している。このように、枝部1
0aの断線部を絶縁材8で被覆しているので、断線部を
固定・絶縁でき、断線した部分での短絡の発生を防止す
ることができる。このため、断線部における短絡の発生
に起因する半導体装置の誤動作や損傷といった問題の発
生を防止することが可能となる。
【0034】図7は、本発明の実施の形態の第3の変形
例による半導体装置を示す模式図である。図7を参照し
て、本発明の実施の形態の第3の変形例は、基本的には
図6に示した実施の形態の第2の変形例と同様の構造を
備えている。しかし、この第3の変形例では、枝部10
aの断線部を形成する領域近傍のモールド材5に、凹部
11が形成されている。そして、枝部10aの断線部を
形成した後、この凹部11に樹脂などの絶縁材12を注
入している。このように、本発明の実施の形態の第3の
変形例では、枝部10aの断線部を絶縁材12で被覆す
ることによって、断線部を固定・絶縁でき、断線した部
分での短絡の発生を防止することができる。このため、
断線部における短絡の発生に起因する半導体装置の誤動
作や損傷といった問題の発生を防止することができる。
また、絶縁材12を注入する部分を予め凹部11として
モールド材5を封入するので、絶縁材12を注入した後
の半導体装置の形状を、従来の半導体装置と同様にする
ことができる。
例による半導体装置を示す模式図である。図7を参照し
て、本発明の実施の形態の第3の変形例は、基本的には
図6に示した実施の形態の第2の変形例と同様の構造を
備えている。しかし、この第3の変形例では、枝部10
aの断線部を形成する領域近傍のモールド材5に、凹部
11が形成されている。そして、枝部10aの断線部を
形成した後、この凹部11に樹脂などの絶縁材12を注
入している。このように、本発明の実施の形態の第3の
変形例では、枝部10aの断線部を絶縁材12で被覆す
ることによって、断線部を固定・絶縁でき、断線した部
分での短絡の発生を防止することができる。このため、
断線部における短絡の発生に起因する半導体装置の誤動
作や損傷といった問題の発生を防止することができる。
また、絶縁材12を注入する部分を予め凹部11として
モールド材5を封入するので、絶縁材12を注入した後
の半導体装置の形状を、従来の半導体装置と同様にする
ことができる。
【0035】図8は、図7に示した本発明の実施の形態
の第3の変形例による半導体装置の製造プロセスを説明
するための模式図である。以下、図8を参照して、図7
に示した本発明の実施の形態の第3の変形例による半導
体装置の製造プロセスを説明する。
の第3の変形例による半導体装置の製造プロセスを説明
するための模式図である。以下、図8を参照して、図7
に示した本発明の実施の形態の第3の変形例による半導
体装置の製造プロセスを説明する。
【0036】まず、図3に示した実施の形態の半導体装
置の製造プロセスを実施し、その後、図8に示すよう
に、枝部10a、10bの分岐点9の近傍に位置する領
域に凹部11を形成するように、モールド材5を封入す
る。
置の製造プロセスを実施し、その後、図8に示すよう
に、枝部10a、10bの分岐点9の近傍に位置する領
域に凹部11を形成するように、モールド材5を封入す
る。
【0037】その後、枝部10aのモールド材5の外側
に位置する領域において断線部を形成し、凹部11に絶
縁材12を注入することにより、図7に示すような構造
を得る。このように、枝部10aの断線部を絶縁材12
で被覆することにより、断線部を固定・絶縁できるとと
もに、絶縁材12を注入する部分を予め凹部11として
形成するので、絶縁材12を注入した後の半導体装置の
形状を、従来の半導体装置と同様にすることができる。
に位置する領域において断線部を形成し、凹部11に絶
縁材12を注入することにより、図7に示すような構造
を得る。このように、枝部10aの断線部を絶縁材12
で被覆することにより、断線部を固定・絶縁できるとと
もに、絶縁材12を注入する部分を予め凹部11として
形成するので、絶縁材12を注入した後の半導体装置の
形状を、従来の半導体装置と同様にすることができる。
【0038】図9は、本発明の実施の形態による半導体
装置に用いられたリードフレームの第1の変形例を示す
全体図である。図9を参照して、本発明の実施の形態に
よるリードフレームの第1の変形例は、枝部10a、1
0bを備えるリードフレーム3(図1参照)を、第1の
部材13aと第2の部材13bとを重ね合わせることに
より形成している。
装置に用いられたリードフレームの第1の変形例を示す
全体図である。図9を参照して、本発明の実施の形態に
よるリードフレームの第1の変形例は、枝部10a、1
0bを備えるリードフレーム3(図1参照)を、第1の
部材13aと第2の部材13bとを重ね合わせることに
より形成している。
【0039】図10および11は、図9の領域300に
示した部材13a、13bの重ね合わせの状況を説明す
るための模式図である。図10を参照して、部材13a
は枝部10aを備え、部材13bは枝部10bを備えて
いる。これらを図10に示すように重ね合わせることに
より、図11に示すような、枝部10a、10bを備え
るリードフレーム3を形成する。
示した部材13a、13bの重ね合わせの状況を説明す
るための模式図である。図10を参照して、部材13a
は枝部10aを備え、部材13bは枝部10bを備えて
いる。これらを図10に示すように重ね合わせることに
より、図11に示すような、枝部10a、10bを備え
るリードフレーム3を形成する。
【0040】なお、今回開示された実施の形態はすべて
の点で例示であって制限的なものではないと考えられる
べきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特
許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の
意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意
図される。たとえば、図1では、リードフレームの端子
は2つのみが複数の枝部を有しているが、全ての端子が
複数の枝部を有していてもよいし、1つの端子における
枝部の数が3つあるいは4つ以上でもよい。
の点で例示であって制限的なものではないと考えられる
べきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特
許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の
意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意
図される。たとえば、図1では、リードフレームの端子
は2つのみが複数の枝部を有しているが、全ての端子が
複数の枝部を有していてもよいし、1つの端子における
枝部の数が3つあるいは4つ以上でもよい。
【0041】
【発明の効果】以上のように、請求項1〜11に記載の
発明によれば、モールド材により封入された半導体素子
の電極にボンディングワイヤを介して電気的に接続する
リードフレームにおいて、上記リードフレームが複数の
枝部に分岐した端子を備え、この枝部の分岐点がモール
ド材の外側に位置するように形成されているので、モー
ルド材による封入後も、リードフレームに接続される半
導体素子の電極を切換えることができる。その結果、需
要の変動に柔軟に対応することが可能な、半導体装置と
その製造方法およびその半導体装置に用いるリードフレ
ームを提供することができる。
発明によれば、モールド材により封入された半導体素子
の電極にボンディングワイヤを介して電気的に接続する
リードフレームにおいて、上記リードフレームが複数の
枝部に分岐した端子を備え、この枝部の分岐点がモール
ド材の外側に位置するように形成されているので、モー
ルド材による封入後も、リードフレームに接続される半
導体素子の電極を切換えることができる。その結果、需
要の変動に柔軟に対応することが可能な、半導体装置と
その製造方法およびその半導体装置に用いるリードフレ
ームを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態による半導体装置を示し
た平面図である。
た平面図である。
【図2】 図1に示した実施の形態による半導体装置の
領域100の部分の構造を説明するための模式図であ
る。
領域100の部分の構造を説明するための模式図であ
る。
【図3】 図2に示した実施の形態による半導体装置の
製造プロセスの第1工程を説明するための模式図であ
る。
製造プロセスの第1工程を説明するための模式図であ
る。
【図4】 図2に示した実施の形態による半導体装置の
製造プロセスの第2工程を説明するための模式図であ
る。
製造プロセスの第2工程を説明するための模式図であ
る。
【図5】 本発明の実施の形態による半導体装置の第1
の変形例を説明するための模式図である。
の変形例を説明するための模式図である。
【図6】 本発明の実施の形態による半導体装置の第2
の変形例を説明するための模式図である。
の変形例を説明するための模式図である。
【図7】 本発明の実施の形態による半導体装置の第3
の変形例を説明するための模式図である。
の変形例を説明するための模式図である。
【図8】 図7に示した本発明の実施の形態による半導
体装置の第3の変形例の製造プロセスの第1工程を説明
するための模式図である。
体装置の第3の変形例の製造プロセスの第1工程を説明
するための模式図である。
【図9】 本発明の実施の形態によるリードフレームの
第1の変形例を説明するための全体構造図である。
第1の変形例を説明するための全体構造図である。
【図10】 図9に示した実施の形態によるリードフレ
ームの第1の変形例の領域300の部分を説明するため
の第1の模式図である。
ームの第1の変形例の領域300の部分を説明するため
の第1の模式図である。
【図11】 図9に示した実施の形態によるリードフレ
ームの第1の変形例の領域300の部分を説明するため
の第2の模式図である。
ームの第1の変形例の領域300の部分を説明するため
の第2の模式図である。
【図12】 従来の半導体装置を説明するための平面図
である。
である。
【図13】 図12に示した従来の半導体装置の領域2
00の部分を説明するための模式図である。
00の部分を説明するための模式図である。
【図14】 図12に示した従来の半導体装置の領域2
00の部分の製造プロセスを説明するための模式図であ
る。
00の部分の製造プロセスを説明するための模式図であ
る。
1 半導体素子、2a,2b電極、3 リードフレー
ム、4 ボンディングワイヤ、5 モールド材、6 マ
ーキング、11 モールド材の凹部、8,12絶縁材、
9 分岐点、10a,10b 端子の枝部、13a,1
3b リードフレームの部材。
ム、4 ボンディングワイヤ、5 モールド材、6 マ
ーキング、11 モールド材の凹部、8,12絶縁材、
9 分岐点、10a,10b 端子の枝部、13a,1
3b リードフレームの部材。
Claims (11)
- 【請求項1】 モールド材により封入された半導体素子
の電極にボンディングワイヤを介して電気的に接続され
るリードフレームであって、 複数の枝部に分岐した端子を備え、 前記枝部の分岐点がモールド材の外側に位置するように
形成されている、リードフレーム。 - 【請求項2】 前記枝部のうち少なくとも1つが、前記
モールド材の外側に位置する領域に断線部を有する、請
求項1に記載のリードフレーム。 - 【請求項3】 前記リードフレームの構成部材が複数の
部材からなる、請求項1または2に記載のリードフレー
ム。 - 【請求項4】 前記断線部が絶縁材で被覆されている、
請求項2または3に記載のリードフレーム。 - 【請求項5】 異なる機能を有する複数の回路と、前記
複数の回路のそれぞれに対応して設けられた複数の電極
とを含む半導体素子と、 複数の枝部に分岐した端子を有するリードフレームと、 前記電極と前記枝部とを接続するボンディングワイヤ
と、 前記半導体素子と、前記ボンディングワイヤと、前記リ
ードフレームの端子の一部とを覆うように形成されたモ
ールド材とを備え、 前記枝部の分岐点が前記モールド材の外側に位置してい
る、半導体装置。 - 【請求項6】 前記枝部のうち少なくとも1つが、前記
モールド材の外側に位置する領域において断線部を有す
る、請求項5に記載の半導体装置。 - 【請求項7】 前記枝部の断線部が絶縁材で被覆されて
いる、請求項6に記載の半導体装置。 - 【請求項8】 前記モールド材の、前記分岐点の近傍に
位置する領域に、前記分岐点を示す位置検出用マークを
形成した、請求項5〜7のいずれか1項に記載の半導体
装置。 - 【請求項9】 複数の枝部に分岐した端子を備えるリー
ドフレームの前記枝部と、異なる機能を有する複数の回
路を含む半導体素子の表面に形成された、前記複数の回
路のそれぞれに対応して設けられた複数の電極とをボン
ディングワイヤで接続する工程と、 前記半導体素子と前記ボンディングワイヤと前記リード
フレームの端子の一部とをモールド材により前記枝部の
分岐点が前記モールド材の外側に位置するように封入す
る工程とを備える、半導体装置の製造方法。 - 【請求項10】 前記枝部のうち少なくとも1つにおい
て、前記モールド材の外側に位置する領域に断線部を形
成する工程を備える、請求項9に記載の半導体装置の製
造方法。 - 【請求項11】 前記断線部を絶縁材で被覆する工程を
さらに備える、請求項10に記載の半導体装置の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18643997A JPH1131777A (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | リードフレームおよび半導体装置とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18643997A JPH1131777A (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | リードフレームおよび半導体装置とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1131777A true JPH1131777A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=16188475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18643997A Pending JPH1131777A (ja) | 1997-07-11 | 1997-07-11 | リードフレームおよび半導体装置とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1131777A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003504874A (ja) * | 1999-07-07 | 2003-02-04 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 隣接する接着パッドのコード化による配置を備えた半導体デバイス構成 |
| JP2007142205A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Denso Corp | 接続装置 |
| JP2015035515A (ja) * | 2013-08-09 | 2015-02-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
-
1997
- 1997-07-11 JP JP18643997A patent/JPH1131777A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003504874A (ja) * | 1999-07-07 | 2003-02-04 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 隣接する接着パッドのコード化による配置を備えた半導体デバイス構成 |
| JP2007142205A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Denso Corp | 接続装置 |
| JP2015035515A (ja) * | 2013-08-09 | 2015-02-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040614 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040713 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041130 |