JPH1151907A

JPH1151907A - 隠蔽配管路の損傷箇所探査工法

Info

Publication number: JPH1151907A
Application number: JP9208731A
Authority: JP
Inventors: Yukinobu Satake; 志伸佐竹; Akiharu Inoue; 晶晴井上
Original assignee: K M S KK; Tokyo Gas Co Ltd
Current assignee: K M S KK; Tokyo Gas Co Ltd
Priority date: 1997-08-04
Filing date: 1997-08-04
Publication date: 1999-02-26
Anticipated expiration: 2017-08-04
Also published as: JP3734343B2

Abstract

(57)【要約】【課題】外部からの損傷箇所の探査が可能でしかも探
査に要する設備や作業を簡略化することが可能な既設管
路の損傷箇所探査工法を提供する。【解決手段】フレキシブル管６からなる配管路の探査
対象区間両端間に電流を流してフレキシブル管周辺に磁
界を発生させ、配管路の隠蔽部材９の表面から磁界の変
化に応じた誘導電流を検知し、検出された電流と予め配
管深さに応じた磁界の強さから得られる電流値とを比較
してフレキシブル管６の配管位置と配管深さとを判別し
て配管位置を探査する一方、配管位置の探査過程におい
て上記配管深さに対応する電流値よりも検出された誘導
電流値が大きくなる箇所がフレキシブル管に接触もしく
は貫通する電気的導体が存在している箇所として判断
し、その位置を指定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は隠蔽配管路の損傷箇
所探査工法に関し、さらに詳しくは、隠蔽箇所に配管さ
れているフレキシブル管の損傷箇所を外部から探査して
該当個所を外部から識別できるようにする探査工法に関
する。

【０００２】

【従来の技術】近年、プレハブ住宅やツーバイフォー住
宅を始めとした量産戸建住宅や集合住宅等に用いられる
配管構造として、例えば、ガスを供給するための配管を
対象とした場合、灯内内管のうちで屋内配管は、コンロ
や給湯器あるいは暖房器具等、ガス器具の使用する場所
が異なる場合に対応するために、それぞれのガス器具の
設置場所にあわせて複数の配管を敷設する構造が必要と
されてきている。

【０００３】一方、上記のような構造とするための配管
スペースや施工に掛けられる時間は、必要最小限とされ
ることが望まれる関係上、鋳鉄管を用いた配管施工では
なく、薄肉で可撓性を有するステンレス製のフレキシブ
ル管を用いた配管施工が用いられるようになってきてい
る。フレキシブル管を用いた配管施工では、それが有す
る可撓性を利用して配管スペースに合せた敷設形態が任
意に決められるので、建築工事中の段階で床や壁等、将
来その部分が隠れてしまう箇所を対象として施工するこ
とが可能になる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、フレキシブ
ル管を用いた配管施工には、次のような問題があった。
つまり、フレキシブル管は、可撓性を持たせるために比
較的薄肉であるために、外力による衝撃に弱い。特に、
配管後、釘打ち機により打ち込まれる釘を用いて床や壁
等の仕上げの際に内装用ボードや合板を外部から釘打ち
機によって打ち込取り付ける場合、打ち込まれた釘がフ
レキシブル管を貫通したりあるいは接触して損傷を与
え、ガス漏れなどの原因となることがある。

【０００５】従来、フレキシブル管を配管した後、内装
仕上げが行われてしまうと外部からフレキシブル管の損
傷箇所を発見することはできない。このため、竣工時の
検査に際しては、フレキシブル管内に所定の圧力の空気
などを流し、その圧力変化を観察することでフレキシブ
ル管に損傷箇所があるかどうかを検査していた。また、
このような検査では、損傷箇所を特定することが難しい
ので、フレキシブル管内にファイバースコープやテレビ
カメラを導入し、その画像から損傷箇所の有無および損
傷箇所の特定を行う場合があった。

【０００６】しかし、上記のような設備を用いた損傷箇
所の探査では、探査装置の導入を行うために管路の一部
を開口する必要があったり、それら導入機材の大きさに
見合う管路口径未満のフレキシブル管を対象とすること
ができなかったりする問題があった。しかも、設備その
ものにも費用がかかるばかりでなく、管路の一部開口作
業のように、配管施工とは関係のない作業が必要とな
り、配管コストが上昇してしまう虞もあった。

【０００７】本発明の目的は、上記従来のフレキシブル
管を対象とした損傷箇所探査工法における問題に鑑み、
外部からの損傷箇所の探査が可能でしかも探査に要する
設備や作業を簡略化することが可能な既設管路の損傷箇
所探査工法を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、隠蔽箇所にて配管されてい
る管路の損傷箇所探査工法であって、フレキシブル管か
らなる配管路の探査対象区間両端間に所定電流を流して
フレキシブル管周辺に磁界を発生させ、配管路の隠蔽部
材の表面から磁界の変化に応じた誘導電流を検知し、検
出された電流と予め配管深さに応じた磁界の強さから得
られる電流値とを比較してフレキシブル管の配管深さを
判別して配管位置を探査する一方、配管位置の探査過程
において上記配管深さに対応する電流値よりも検出され
た誘導電流値が大きくなる箇所がフレキシブル管に接触
もしくは貫通する電気的導体が存在している箇所として
判断し、その位置を指定することを特徴としている。

【０００９】請求項２記載の発明は、請求項１記載の隠
蔽管路の損傷箇所探査工法において、上記電気的導体が
検知された箇所の隠蔽部表面にマーキング処理を施すこ
とを特徴としている。

【００１０】請求項３記載の発明は、隠蔽箇所にて配管
されている管路の損傷箇所探査工法であって、フレキシ
ブル管からなる配管路の探査対象区間両端間に所定電流
を流してフレキシブル管周辺に磁界を発生させ、配管路
の隠蔽部材の表面から磁界の変化に応じた誘導電流を検
知し、検出された電流と予め配管深さに応じた磁界の強
さから得られる電流値とを比較してフレキシブル管の配
管深さを判別して配管位置を探査する一方、配管位置の
探査過程において上記配管深さに対応する電流値よりも
検出された誘導電流値が大きくなる箇所がフレキシブル
管に接触もしくは貫通する電気的導体が存在している箇
所として判断し、その位置を指定し、指定箇所でのフレ
キシブル管に対する処置終了後、上記隠蔽部の復元作業
を行うことを特徴としている。

【００１１】

【作用】請求項１記載の発明では、配管路の表面にて検
出部を走査させることにより、予め入力されているフレ
キシブル管の配管深さに基づき検出部からの誘導電流の
大きさを検知し、配管位置を探査すると共に探査過程に
おいて上記配管深さよりも浅い位置に電気的導体が位置
している状態に相当する誘導電流の大きさが検出された
箇所をフレキシブル管に釘が接触もしくは貫通した損傷
箇所として判断し、その箇所を指定することができる。

【００１２】請求項２記載の発明では、探査により発見
された損傷箇所をマーキングにより表示することで外部
から確認することができる。

【００１３】請求項３記載の発明では、配管路の表面に
て検出部を走査させることにより、予め入力されている
フレキシブル管の配管深さに基づき検出部からの誘導電
流の大きさを検知し、配管位置を探査すると共に探査過
程において上記配管深さよりも浅い位置に電気的導体が
位置している状態に相当する誘導電流の大きさが検出さ
れた箇所をフレキシブル管に釘が接触もしくは貫通した
損傷箇所として判断し、その箇所を指定する一方、その
箇所でのフレキシブル管への処置終了後には隠蔽部材の
復元作業を行うことで配管路を更生させることができ
る。

【００１４】

【実施例】以下、図示実施例により請求項記載の発明の
詳細を説明する。図１は本発明による損傷箇所探査工法
に用いられる探査装置の構成を示すブロック図である。
同図において、損傷箇所探査装置１は、マイクロコンピ
ュータを主要部とする判定部２と、この判定部２に対し
て図示されないＩ／Ｏインターフェースを介して入出力
側に接続されている検出部３、電流発生手段４および警
報部５とを備えている。

【００１５】電流発生手段４は、探査対象区間両端に接
続される給電端子４Ａ、４Ｂを備え、探査対象区間に所
定の電流を流してその区間内に位置する配管周辺に磁界
を生起させるための装置であり、図２に示すように、図
示しないＡ／Ｄ変換器を介して判定部２に接続された発
信回路４Ｃ、出力電流調整回路４Ｄ、出力増幅回路４Ｅ
および電源回路４Ｆを備えている。電流発生手段４によ
って出力される電流値は、判定部２の出力側に接続され
ている電流計４Ｈによって表示されるようになってい
る。電流発生手段４から出力される電流値は、判定部２
の入力側に接続されているボリュームあるいはテンキー
等の出力電流調整器４Ｇによって外部から調整変更でき
るようになっている。なお、図２には、便宜上、電流値
の変更に係る部材として出力電流調整器４Ｇが出力電流
調整回路４Ｄと関連づけて示されている。

【００１６】検出部３は、磁気コイルを内蔵し、磁界内
を移動する際に生起される電磁誘導による誘導電流を検
出する構成が用いられている。検出部３は、図示しない
が、フレキシブル管の配管ルートを探査する検出部と配
管ルート内でフレキシブル管に接触もしくは貫通してい
る釘の存在を探査する検出部とが用いられ、前者の検出
部は磁界の強さに応じた電流値が検出対象とされ、後者
の検出部は自己インダクタンスの変化が検出対象とされ
ている（図３参照）。

【００１７】一方、判定部２には、検出部３からの検出
信号を処理するための信号処理部２Ａが設けられてお
り、信号処理部２Ａは、検出部３のうちで配管ルートを
探査するための構成として、図３に示すように、検出部
３（便宜上、配管ルートの探査用検出部を符号３Ａで示
す）からの検出電流を判定に必要な信号レベルに増幅す
る増幅回路２Ａ１，２Ａ２と、検出電流の雑音を除去す
るフイルタ２Ａ３とが備えられ、増幅された検出電流が
Ａ／Ｄ変換されて判定部２に出力されるようになってい
る。また、図３において信号処理部２Ａには、釘の存在
を探査するための構成として、検出部３（便宜上、釘の
探査用検出部を符号３Ｂで示す）に接続されている自励
発信回路２Ａ４が設けられ、フレキシブル管に接触もし
くは貫通している釘によって変化するインダクタンス量
に基づく検出電流がＡ／Ｄ変換されて判定部２に出力さ
れるようになっている。

【００１８】判定部２は、損傷箇所探査に必要な処理プ
ログラムおよび判定に必要な基礎データを記憶している
ＲＯＭ（図示されず）および検出部３において検出され
た電流に関する信号データを一時登録するＲＡＭ（図示
されず）を有している。判定部２では、内装材表面から
フレキシブル管の配管深さ対応する電流値が予め入力さ
れており、この電流値を閾値として検出部３から出力さ
れる検出電流値の変化によって配管深さよりも検出部３
に近接する釘の存在を判定するようになっている。つま
り、検出部３とフレキシブル管との間の距離に対してフ
レキシブル管に対して接触もしくは貫通している釘が存
在している場合には、その釘を介した磁束の変化を誘導
電流の変化として検出することができるので、その誘導
電流値を閾値と比較することができる。

【００１９】警報部５は、スピーカやランプ等を用いた
警告部５Ａとマーキング処理部５Ｂとを備えて構成され
ている。警告部５Ａは、判定部２においてフレキシブル
管に接触もしくは貫通している釘の存在が判定された場
合に出力される警報信号によりスピーカ鳴動あるいはラ
ンプ点灯により警報するようになっている。

【００２０】一方、マーキング処理部５Ｂは、図４に示
すように、検出部３と同じ筐体内に配置されて警告部５
Ａが作動されると同時に判定部２からの出力信号により
動作されるソレノイド５Ｂ１とソレノイド５Ｂにより駆
動されるマーキングペン５Ｂ２とで構成されており、ソ
レノイド５Ｂ１２が励磁されることによってマーキング
ペン５Ｂ２が作動し、打印することができるようになっ
ている。なお、ソレノイド５Ｂ１は、検出部３と磁気的
シールドが施されて励磁の際の磁力の影響が及ばないよ
うにしてある。なお、このような処置に代えて、ソレノ
イド５Ｂ２１の励磁の際には検出部３での検出動作を中
断するようにしてもよい。

【００２１】上記構成を備えた探査装置を用いる本実施
例の損傷箇所探査工法は、図５に示すフローチャートに
基づく手順が実行される。図５において、探査装置１
は、図６および図７に示す隠蔽配管路を対象として必要
な準備工程が実行される。まず、探査工法の説明の前に
図６および図７において隠蔽配管路について説明する次
の通りである。配管路を構成しているフレキシブル管６
は、間柱などの構造材７に対して配管固定具８により取
り付けられて固定されており、その表面側には隠蔽材９
およびその隠蔽材９の表面に石膏ボードや化粧内張り材
などの内装材１０が配置されている。内装材１０は、釘
打ち機（図示されず）等によって打ち込まれる釘１１に
より隠蔽材９の表面に取り付けられる。

【００２２】図６および図７において符号１１Ａで示す
釘は、誤ってフレキシブル管６を貫通し、フレキシブル
管６対して損傷を与えた釘を示し、また符号１１Ｂで示
す釘はフレキシブル管６に対して損傷を与えない位置に
打ち込まれた釘をそれぞれ示している。

【００２３】上記構成からなる隠蔽配管路を対象とした
損傷箇所探査工法は、図５に示すように、探査対象区間
のフレキシブル管６に対して所定電流を印加し、フレキ
シブル管６の周辺に磁界を生起させる（ＳＴ１）。な
お、上記所定電流の印加が行われるに際しては、図示し
ないが、探査装置１内の判定部２の初期化および所定電
流を設定するための処理が実行される。所定電流の印加
のためにフレキシブル管６によって構成される配管路の
うちで探査対象区間の両端に電流発生手段４の給電端子
４Ａ、４Ｂがそれぞれ接続される。給電端子４Ａ、４Ｂ
が探査対象区間に接続されると、探査対象区間が閉回路
に構成されてその区間内に所定電流が流れ、その配管路
周辺に電流値に応じた強さの磁界が形成される。このと
き、判定部２では、配管路にて生起される磁界の強さと
その磁界から得られる電磁誘導による誘導電流値との相
関関係により、この電流値が損傷箇所判定のための閾値
として登録される。従って、内装材１０の表面からフレ
キシブル管６の配置位置までの深さに対応した誘導電流
値が予め判定部２において登録されたことになり、配管
深さの変化に応じた誘導電流値の変化によりフレキシブ
ル管６に貫通している釘１１Ｂの存在箇所を探査するこ
とができる。

【００２４】上記所定電流の印加による探査準備が終了
すると、実際の探査が開始される。この場合、探査に
は、フレキシブル配管路の配置ルートの探査（ＳＴ２）
と、その配置ルート内での釘による損傷箇所探査（ＳＴ
３）とが実行される。フレキシブル管６の配置ルートの
探査処理は、図８において、検出部３を内装材１０の表
面に当接させ、その状態で内装材１０の表面を摺接する
ことにより得られる誘導電流値（Ｉ₁）を判定部２に取
り込み（ＳＴ２Ａ）、その電流値を予め判定部２に登録
されている電流値（Ｉ）と比較する（ＳＴ２Ｂ）。ステ
ップＳＴ２Ａにおける比較において、判定部２に登録さ
れている誘導電流値と一致した場合にはその箇所がフレ
キシブル管６の配置位置として認識でき、その結果を表
示部にて表示する（ＳＴ２Ｃ）。なお、表示部での表示
に代えて電流計４Ｈを観察し、検出部３から得られる誘
導電流値を確認するようにしてもよい。この場合には、
判定部２に登録されている電流値を数値表示して比較観
察できるようにすることが好ましい。

【００２５】一方、損傷箇所探査処理は、図９において
検出部３によって得られる誘導電流値（Ｉ₂）を判定部
２に取り込み（ＳＴ３Ａ）、その電流値を予め判定部２
に登録されている電流値（Ｉ）と比較する（ＳＴ３
Ｂ）。ステップＳＴ３Ｂにおいて、検出された電流値
（Ｉ₂）が判定部２に予め登録されている電流値（Ｉ₀）
よりも大きい場合には、フレキシブル管６に貫通もしく
は接触して配置深さが浅くなっている状態に相当する釘
１１Ｂの存在を検出したことになる。この結果、判定部
２では後述する警告部５への警告信号を出力すると共
に、マーキング処理を実行するための駆動信号が出力さ
れる（ＳＴ３Ｃ）。

【００２６】釘探査処理にて釘１１Ｂの存在が探査され
ると、警告部５では警告信号の有無を判別し、警告信号
が出力されている場合には警告部５を駆動してブザーあ
るいはランプを駆動する（図５中のＳＴ４、ＳＴ５）。

【００２７】また、判定部２において警告信号が出力さ
れると、マーキング処理が実施される（図５中のＳＴ
６）。マーキング処理は図１０に示すように、マーキン
グに用いられるソレノイドの駆動部において駆動のため
の信号が出力されたかどうかが判別され（ＳＴ６Ａ）、
駆動信号が出力された場合にはソレノイドを駆動してマ
ーキングペン５Ｂ２（図４参照）を作動させて内装材１
０の表面に打印する（ＳＴ６Ｂ）。

【００２８】以上が探査装置１における動作であり、フ
レキシブル管６の配置ルート内でフレキシブル管６に対
して接触もしくは貫通している釘１１Ａの存在が警報さ
れた場合には、探査対象区間全域の探査が終了した後、
該当個所のフレキシブル管６の撤去あるいは交換作業が
実行される。フレキシブル管６の撤去あるいは交換作業
は、マーキング処理によって打印された内装材１０の表
面を確認し、その位置で内装材１０が穿孔される。この
場合の穿孔作業は、フレキシブル管６の撤去あるいは交
換作業さらには釘とフレキシブル管６との状態確認が行
えるに必要な大きさの孔がドリルなどで穿たれる。ま
た、フレキシブル管６に対して釘１１が接触しているだ
けでガス漏れに影響しない状態の場合には、敢えてフレ
キシブル管６の交換作業をしないで、釘を内装材１０か
ら引き抜き、別な位置で打ち直すこともある。

【００２９】一方、上述したフレキシブル管の撤去ある
いは交換作業が終了すると、内装材１０の復元作業が行
われる。この作業は、内装材１０の穿孔箇所を対象とす
るだけでよく、隠蔽材９の再取り付けおよび内装材１０
の貼り付け等の作業が行われる。

【００３０】なお、本実施例では、フレキシブル管６の
配置ルートとそのルート内での釘による損傷箇所をそれ
ぞれ探査するために、検出部３における電気磁気的な変
化を探査条件としたが、例えば、このような条件に加え
て、探査位置での導通状態を検出するようにしてもよ
い。つまり、損傷箇所として探査された箇所で釘１１Ｂ
の頭部にプローブを当接させ、このプローブとフレキシ
ブル管６の探査対象区間とを閉回路に構成してその回路
中での電気的抵抗値を観察する。貫通状態も含めてフレ
キシブル管６と釘１１との接触関係に応じて電気抵抗が
変化するので、その電気抵抗値に貫通状態での閾値を設
定しておき、この閾値よりも抵抗値が低い場合に貫通し
ていることを判別する。このような条件の付加によれ
ば、損傷箇所の探査と共に、探査位置での釘によるフレ
キシブル管６の損傷状態を判定することが可能になる。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によれば、配管路の表面にて検出部を走査させること
により、予め入力されているフレキシブル管の配管深さ
に基づき検出部からの誘導電流の大きさを検知し、配管
位置を探査すると共に探査過程において上記配管深さよ
りも浅い位置に電気的導体が位置している状態に相当す
る誘導電流の大きさが検出された箇所をフレキシブル管
に釘が接触もしくは貫通した損傷箇所として判断し、そ
の箇所を指定することができる。これにより、大掛かり
な設備を要することなくしかも隠蔽部の全面を除去する
ような作業を要することなく損傷箇所の識別が容易に行
えることになる。

【００３２】請求項２記載の発明によれば、探査により
発見された損傷箇所をマーキングにより表示することで
外部から確認することができる。これにより、探査後の
確認作業が容易となる。

【００３３】請求項３記載の発明によれば、配管路の表
面にて検出部を走査させることにより、予め入力されて
いるフレキシブル管の配管深さに基づき検出部からの誘
導電流の大きさを検知し、配管位置を探査すると共に探
査過程において上記配管深さよりも浅い位置に電気的導
体が位置している状態に相当する誘導電流の大きさが検
出された箇所をフレキシブル管に釘が接触もしくは貫通
した損傷箇所として判断し、その箇所を指定する一方、
その箇所でのフレキシブル管への処置終了後には隠蔽部
材の復元作業を行うことで配管路を更生させることがで
きる。これにより、隠蔽部における必要最小限の範囲で
隠蔽管路の修復作業が可能になるので、隠蔽管路の損傷
箇所の復元に必要な設備や労力を少なくして簡易な作業
とすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明実施例による損傷箇所探査工法に用いら
れる探査装置の構成を説明するためのブロック図であ
る。

【図２】図１に示した探査装置に用いられる電流発生手
段の構成を説明するためのブロック図である。

【図３】図１に示した探査装置に用いられる判定部に備
えられている信号処理部の構成を説明するためのブロッ
ク図である。

【図４】図１に示した探査装置における警報部に用いら
れるマークキング処理部の構成を説明するための模式図
である。

【図５】図１に示した探査装置の動作を説明するための
フローチャートである。

【図６】本発明実施例による損傷箇所探査工法の対象で
ある模式的な管路の平面図である。

【図７】本発明実施例による損傷箇所探査工法の対象で
ある管路の模式的な側面図である。

【図８】図５に示したフローチャートにおける管路の配
置ルート探査処理を説明するためのフローチャートであ
る。

【図９】図５に示したフローチャートにおける損傷箇所
探査処理を説明するためのフローチャートである。

【図１０】図５に示したフローチャートにおけるマーキ
ング処理を説明するためのフローチャートである。

【符号の説明】

１探査装置２判定部３検出部３Ａ配管ルートの検出部３Ｂ釘の存在検出部４電流発生手段５警告部５Ａ警報部５Ｂマーキング処理部６フレキシブル管８隠蔽材１０内装材１１釘１１Ａフレキシブル管に接触もしくは貫通して
いない釘１１Ｂフレキシブル管に接触もしくは貫通して
いる釘

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】隠蔽箇所にて配管されている管路の損傷
箇所探査工法であって、フレキシブル管からなる配管路
の探査対象区間両端間に所定電流を流してフレキシブル
管周辺に磁界を発生させ、配管路の隠蔽部材の表面から
磁界の変化に応じた誘導電流を検知し、検出された電流
と予め配管深さに応じた磁界の強さから得られる電流値
とを比較してフレキシブル管の配管深さを判別して配管
位置を探査する一方、配管位置の探査過程において上記
配管深さに対応する電流値よりも検出された誘導電流値
が大きくなる箇所がフレキシブル管に接触もしくは貫通
する電気的導体が存在している箇所として判断し、その
位置を指定することを特徴とする隠蔽管路の損傷箇所探
査工法。
【請求項２】請求項１記載の隠蔽管路の損傷箇所探査
工法において、上記電気的導体が検知された箇所の隠蔽部表面にマーキ
ング処理を施すことを特徴とする隠蔽管路の損傷箇所探
査工法。
【請求項３】隠蔽箇所にて配管されている管路の損傷
箇所探査工法であって、フレキシブル管からなる配管路
の探査対象区間両端間に所定電流を流してフレキシブル
管周辺に磁界を発生させ、配管路の隠蔽部材の表面から
磁界の変化に応じた誘導電流を検知し、検出された電流
と予め配管深さに応じた磁界の強さから得られる電流値
とを比較してフレキシブル管の配管深さを判別して配管
位置を探査する一方、配管位置の探査過程において上記
配管深さに対応する電流値よりも検出された誘導電流値
が大きくなる箇所がフレキシブル管に接触もしくは貫通
する電気的導体が存在している箇所として判断し、その
位置を指定し、指定箇所でのフレキシブル管に対する処置終了後、上記
隠蔽部の復元作業を行うことを特徴とする隠蔽管路の損
傷箇所探査工法。