JPH1152007A - Ｄｃ特性測定器 - Google Patents
Ｄｃ特性測定器Info
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- JPH1152007A JPH1152007A JP9211655A JP21165597A JPH1152007A JP H1152007 A JPH1152007 A JP H1152007A JP 9211655 A JP9211655 A JP 9211655A JP 21165597 A JP21165597 A JP 21165597A JP H1152007 A JPH1152007 A JP H1152007A
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- 230000009189 diving Effects 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 101000919345 Arabidopsis thaliana Cryptochrome-1 Proteins 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 負荷抵抗を接続することなしに、負荷抵抗が
接続された状態でのＤＣ電流特性、電圧特性が測定する
ことが可能なＤＣ特性測定器を提供する。 【解決手段】 外部回路の１端子の電圧を検出する電圧
検出手段と、外部回路の１端子に流出又は流入する電流
を検出する電流検出手段と、電圧検出手段の測定値と所
定の電圧値との差分または、電流検出手段の測定値と所
定の電流値との差分を増幅し、出力を電流検出手段を通
して外部回路の１端子に供給する差動増幅器と、電圧検
出手段の検出する電圧又は電流検出手段の検出する電圧
を測定する測定手段とを備えるＤＣ特性測定器におい
て、更に、電圧検出手段が検出する電圧を設定抵抗で除
して、商を設定電流として出力する割算回路と、差動増
幅器の入力を、設定電流と電流検出手段の検出する電流
とに切り替える切り換え器とを備える。
接続された状態でのＤＣ電流特性、電圧特性が測定する
ことが可能なＤＣ特性測定器を提供する。 【解決手段】 外部回路の１端子の電圧を検出する電圧
検出手段と、外部回路の１端子に流出又は流入する電流
を検出する電流検出手段と、電圧検出手段の測定値と所
定の電圧値との差分または、電流検出手段の測定値と所
定の電流値との差分を増幅し、出力を電流検出手段を通
して外部回路の１端子に供給する差動増幅器と、電圧検
出手段の検出する電圧又は電流検出手段の検出する電圧
を測定する測定手段とを備えるＤＣ特性測定器におい
て、更に、電圧検出手段が検出する電圧を設定抵抗で除
して、商を設定電流として出力する割算回路と、差動増
幅器の入力を、設定電流と電流検出手段の検出する電流
とに切り替える切り換え器とを備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＤＣ特性測定器に関し、
特にＩＣの検査に使用されるテスターに搭載されている
ＤＣ特性測定器に関する。
特にＩＣの検査に使用されるテスターに搭載されている
ＤＣ特性測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣの検査に使用されるテスターに搭載
されている従来のＤＣ特性測定器は図３のようにデジタ
ルの電圧値をアナログ値に変換する第１のＤ／Ａ変換器
１と、デジタルの電流値をアナログ値に変換する第２の
Ｄ／Ａ変換器２と、電圧設定を行うか、電流設定を行う
か、を選択するサミング回路３と、電圧設定の為センス
出力を帰還するバッファ４と、サミング回路３の出力を
増幅し出力に電圧、電流を供給する最終アンプ５と電流
設定の為、出力電流を帰還する電流検出回路６と、電圧
出力を測定するか、電流出力を測定するかを切り換える
第１のリレー７と、測定値をデジタル信号に変換するＡ
／Ｄ変換器８を有する。サミング回路３と最終アンプ５
は差動増幅器を形成する。
されている従来のＤＣ特性測定器は図３のようにデジタ
ルの電圧値をアナログ値に変換する第１のＤ／Ａ変換器
１と、デジタルの電流値をアナログ値に変換する第２の
Ｄ／Ａ変換器２と、電圧設定を行うか、電流設定を行う
か、を選択するサミング回路３と、電圧設定の為センス
出力を帰還するバッファ４と、サミング回路３の出力を
増幅し出力に電圧、電流を供給する最終アンプ５と電流
設定の為、出力電流を帰還する電流検出回路６と、電圧
出力を測定するか、電流出力を測定するかを切り換える
第１のリレー７と、測定値をデジタル信号に変換するＡ
／Ｄ変換器８を有する。サミング回路３と最終アンプ５
は差動増幅器を形成する。
【０００３】次に従来のＤＣ特性測定器の動作について
説明する。
説明する。
【０００４】まず電圧印加・電流測定に関して説明す
る。
る。
【０００５】プログラムで、電圧印加・電流測定の命令
が記述されていると、第１のＤＡ１の出力に印加すべき
電圧値が出力され、サミング回路を介し、この値とセン
ス出力９をバッファ４で帰還した値が同じになるように
最終アンプ５が出力電圧を供給するようにＬＯＯＰ１で
帰還がかかり、命令で記述した電圧値が出力される。
（この時センス出力９とフォース出力１０は供給先でシ
ョートされている。） また、出力電流測定は第１のリレー７がｂ側に倒れ、電
流検出回路６の出力がＡ／Ｄ変換器８に入力され、Ａ／
Ｄ変換器８はこの値をデジタル値に変換し、テスターは
このデジタル値を読み取り測定は完了する。
が記述されていると、第１のＤＡ１の出力に印加すべき
電圧値が出力され、サミング回路を介し、この値とセン
ス出力９をバッファ４で帰還した値が同じになるように
最終アンプ５が出力電圧を供給するようにＬＯＯＰ１で
帰還がかかり、命令で記述した電圧値が出力される。
（この時センス出力９とフォース出力１０は供給先でシ
ョートされている。） また、出力電流測定は第１のリレー７がｂ側に倒れ、電
流検出回路６の出力がＡ／Ｄ変換器８に入力され、Ａ／
Ｄ変換器８はこの値をデジタル値に変換し、テスターは
このデジタル値を読み取り測定は完了する。
【０００６】次に電流印加・電圧測定に関して説明す
る。
る。
【０００７】プログラムで電流印加・電圧測定の命令が
記述されていると、第２のＤ／Ａ変換器２の出力に印加
すべき電流値が出力され、サミング回路を介し、この値
と電流検出回路６の出力が同じになるように最終アンプ
５が出力電流を供給するようにＬＯＯＰ２で帰還がかか
り、命令で記述した電流値が出力される。
記述されていると、第２のＤ／Ａ変換器２の出力に印加
すべき電流値が出力され、サミング回路を介し、この値
と電流検出回路６の出力が同じになるように最終アンプ
５が出力電流を供給するようにＬＯＯＰ２で帰還がかか
り、命令で記述した電流値が出力される。
【０００８】また、出力電圧測定は第１のリレー７がａ
側に倒れ、出力電圧がバッファ４を介しＡ／Ｄ変換器８
に入力され、Ａ／Ｄ変換器８はこの値をデジタル値に変
換し、テスターはこのデジタル値を読み取り測定は完了
する。
側に倒れ、出力電圧がバッファ４を介しＡ／Ｄ変換器８
に入力され、Ａ／Ｄ変換器８はこの値をデジタル値に変
換し、テスターはこのデジタル値を読み取り測定は完了
する。
【０００９】最近、ＩＣの検査に使用されるテスターは
このＤＣ特性測定器を各ピンに有しているものが一般的
である。
このＤＣ特性測定器を各ピンに有しているものが一般的
である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ＤＣ特性測
定器による回路の出力特性の測定は、外部負荷を接続し
た条件のもとで行う場合が多い。これは、回路には負荷
を接続した状態で使用するのが通常であり、これに伴
い、負荷を接続した状態での出力特性を設計段階で調整
したり、製造段階でチェックしたり、データブックに載
せたりする必要があるからである。
定器による回路の出力特性の測定は、外部負荷を接続し
た条件のもとで行う場合が多い。これは、回路には負荷
を接続した状態で使用するのが通常であり、これに伴
い、負荷を接続した状態での出力特性を設計段階で調整
したり、製造段階でチェックしたり、データブックに載
せたりする必要があるからである。
【００１１】ところが、この従来のＤＣ特性測定器で
は、図３で示すように、ＬＯＯＰ１による電圧設定かＬ
ＯＯＰ２による電流設定しか出来ず、ＤＣ特性測定器を
任意の値の抵抗として使うことができない。また、仮想
的に任意の抵抗を接続した状態での特性を測定すること
ができない。
は、図３で示すように、ＬＯＯＰ１による電圧設定かＬ
ＯＯＰ２による電流設定しか出来ず、ＤＣ特性測定器を
任意の値の抵抗として使うことができない。また、仮想
的に任意の抵抗を接続した状態での特性を測定すること
ができない。
【００１２】ただし、下記の場合は可能と考えられる。
【００１３】被測定ＩＣの出力端子にＤＣ特性測定器に
よる抵抗を接続しようとする場合で、且つ、その電流に
より出力端子の電圧が変化しない場合は、まず、ＤＣ特
性測定器でその出力電圧を測定し、その電圧を出力−グ
ランド間に設定しようとする抵抗値で割り、設定する電
流値を算出し、次に、ＤＣ特性測定器でその電流値を設
定して接続すれば、抵抗の設定は可能になる。
よる抵抗を接続しようとする場合で、且つ、その電流に
より出力端子の電圧が変化しない場合は、まず、ＤＣ特
性測定器でその出力電圧を測定し、その電圧を出力−グ
ランド間に設定しようとする抵抗値で割り、設定する電
流値を算出し、次に、ＤＣ特性測定器でその電流値を設
定して接続すれば、抵抗の設定は可能になる。
【００１４】しかしながら、この場合でも、電圧測定と
電流設定の２つの動作が必要になる。
電流設定の２つの動作が必要になる。
【００１５】その為、普通はテストボードに必要な抵抗
を外付けした上で、特性を測定する必要がある。
を外付けした上で、特性を測定する必要がある。
【００１６】そこで本発明は、負荷抵抗を接続すること
なしに、負荷抵抗が接続された状態でのＤＣ電流特性、
電圧特性を測定することが可能なＤＣ特性測定器を提供
することである。
なしに、負荷抵抗が接続された状態でのＤＣ電流特性、
電圧特性を測定することが可能なＤＣ特性測定器を提供
することである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明によるＤＣ特性測
定器は、外部回路の１端子の電圧を検出する電圧検出手
段と、前記外部回路の１端子に流出又は流入する電流を
検出する電流検出手段と、前記電圧検出手段の測定値と
所定の電圧値との差分または、前記電流検出手段の測定
値と所定の電流値との差分を増幅し、出力を前記電流検
出手段を通して前記外部回路の１端子に供給する差動増
幅器と、前記電圧検出手段の検出する電圧又は前記電流
検出手段の検出する電圧を測定する測定手段とを備える
ＤＣ特性測定器において、更に、前記電圧検出手段が検
出する電圧を設定抵抗で除して、商を設定電流として出
力する割算回路と、前記差動増幅器の入力を、前記設定
電流と前記電流検出手段の検出する電流とに切り替える
切り換え器とを備え、外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、この
時の前記外部回路の１端子の電圧及び電流とを測定する
ことが可能であること特徴とする。
定器は、外部回路の１端子の電圧を検出する電圧検出手
段と、前記外部回路の１端子に流出又は流入する電流を
検出する電流検出手段と、前記電圧検出手段の測定値と
所定の電圧値との差分または、前記電流検出手段の測定
値と所定の電流値との差分を増幅し、出力を前記電流検
出手段を通して前記外部回路の１端子に供給する差動増
幅器と、前記電圧検出手段の検出する電圧又は前記電流
検出手段の検出する電圧を測定する測定手段とを備える
ＤＣ特性測定器において、更に、前記電圧検出手段が検
出する電圧を設定抵抗で除して、商を設定電流として出
力する割算回路と、前記差動増幅器の入力を、前記設定
電流と前記電流検出手段の検出する電流とに切り替える
切り換え器とを備え、外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、この
時の前記外部回路の１端子の電圧及び電流とを測定する
ことが可能であること特徴とする。
【００１８】また、本発明によるＤＣ特性測定器は、外
部回路の１端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段
と、前記外部回路の１端子に流出又は流入する電流を検
出する第１の電流検出手段と、前記電圧検出手段の測定
値と所定の電圧値との差分または、前記電流検出手段の
測定値と所定の電流値との差分を増幅し、出力を前記電
流検出手段を通して前記外部回路の１端子に供給する第
１の差動増幅器と、前記電圧検出手段の検出する電圧又
は前記電流検出手段の検出する電圧を測定する測定手段
とを備えるＤＣ特性測定器において、更に、外部回路の
他の１端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、前
記他の１端子に流出又は流入する電流を検出する第２の
電流検出手段と、前記第１の電圧検出手段の検出する電
圧と前記第２の電圧検出手段の検出する電圧との差を設
定抵抗で除して、商を設定電流として出力する割算回路
と、前記設定電流と前記第２の電流検出手段の検出する
電流との差を増幅し、出力を前記第２の電流検出手段を
通して前記外部回路の他の１端子に供給する第２の差動
増幅器と、前記第１の差動増幅器の入力を、前記設定電
流と前記電流検出手段の検出する電流とに切り替える切
り換え器とを備え、前記外部回路の１端子に （外部回路の１端子の電圧−外部端子の他の１端子の電
圧）／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、前記
第２の差動増幅器は、上式で与えられる電流を前記第１
の差動増幅器と相補的に出力し、この時の外部回路の１
端子の電圧及び電流とを測定することが可能であること
特徴とする。
部回路の１端子の電圧を検出する第１の電圧検出手段
と、前記外部回路の１端子に流出又は流入する電流を検
出する第１の電流検出手段と、前記電圧検出手段の測定
値と所定の電圧値との差分または、前記電流検出手段の
測定値と所定の電流値との差分を増幅し、出力を前記電
流検出手段を通して前記外部回路の１端子に供給する第
１の差動増幅器と、前記電圧検出手段の検出する電圧又
は前記電流検出手段の検出する電圧を測定する測定手段
とを備えるＤＣ特性測定器において、更に、外部回路の
他の１端子の電圧を検出する第２の電圧検出手段と、前
記他の１端子に流出又は流入する電流を検出する第２の
電流検出手段と、前記第１の電圧検出手段の検出する電
圧と前記第２の電圧検出手段の検出する電圧との差を設
定抵抗で除して、商を設定電流として出力する割算回路
と、前記設定電流と前記第２の電流検出手段の検出する
電流との差を増幅し、出力を前記第２の電流検出手段を
通して前記外部回路の他の１端子に供給する第２の差動
増幅器と、前記第１の差動増幅器の入力を、前記設定電
流と前記電流検出手段の検出する電流とに切り替える切
り換え器とを備え、前記外部回路の１端子に （外部回路の１端子の電圧−外部端子の他の１端子の電
圧）／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、前記
第２の差動増幅器は、上式で与えられる電流を前記第１
の差動増幅器と相補的に出力し、この時の外部回路の１
端子の電圧及び電流とを測定することが可能であること
特徴とする。
【００１９】本発明による定抵抗回路は、外部回路の１
端子のグランドに対する電圧を設定抵抗で除して、商を
設定電流として出力する割算回路と、前記設定電流を前
記外部回路の１端子に流す電流制御手段とを備え、前記
外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込む、或いは、引き込むことを
特徴とする。
端子のグランドに対する電圧を設定抵抗で除して、商を
設定電流として出力する割算回路と、前記設定電流を前
記外部回路の１端子に流す電流制御手段とを備え、前記
外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込む、或いは、引き込むことを
特徴とする。
【００２０】また、本発明による定抵抗回路は、外部回
路の２端子間の電圧を設定抵抗で除して、商を設定電流
として出力する割算回路と、前記設定電流を前記外部回
路の一方の端子に流す第１の電流制御手段と、前記設定
電流を前記外部回路の他方の端子に前記一方の端子とは
相補的に流す第２の電流制御手段とを備え、前記外部回
路の２端子に、 外部回路の２端子間の電圧／設定抵抗 で与えられる電流を相補的に流し込む、或いは、引き込
むことを特徴とする。
路の２端子間の電圧を設定抵抗で除して、商を設定電流
として出力する割算回路と、前記設定電流を前記外部回
路の一方の端子に流す第１の電流制御手段と、前記設定
電流を前記外部回路の他方の端子に前記一方の端子とは
相補的に流す第２の電流制御手段とを備え、前記外部回
路の２端子に、 外部回路の２端子間の電圧／設定抵抗 で与えられる電流を相補的に流し込む、或いは、引き込
むことを特徴とする。
【００２１】更に、本発明による定抵抗回路は、上記の
定抵抗回路において、前記電流制御手段が、電流検出回
路と、差動アンプとを備えることを特徴とする。
定抵抗回路において、前記電流制御手段が、電流検出回
路と、差動アンプとを備えることを特徴とする。
【００２２】本発明によるＤＣ特性測定器は、上記の定
抵抗回路を備えることを特徴とする。
抵抗回路を備えることを特徴とする。
【００２３】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施形態について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００２４】［実施形態１］図１は本発明の実施形態１
のＤＣ特性測定器のブロック図である。
のＤＣ特性測定器のブロック図である。
【００２５】ただし、センス出力９及びフォース出力１
０は被測定ＩＣの抵抗を接続したい端子に接続してお
く。
０は被測定ＩＣの抵抗を接続したい端子に接続してお
く。
【００２６】プログラムで抵抗設定の命令が記述される
と、第２のリレー１１がＣ側に、第３のリレー１２がｆ
側に倒れるようにしておくと、第２のＤ／Ａ変換器２の
出力に設定されるべき抵抗値が出力され、割算回路１３
の一方の入力端子にはこの抵抗値が入力され、他方の入
力端子にはセンス出力電圧がバッファ４を介し、入力さ
れ、割算回路３の出力には、センス出力電圧と設定すべ
き抵抗値から算出された設定すべき電流値が出力され、
サミング回路を介しこの値と電流検出回路６の出力が同
じになるように最終アンプ５が出力電流を供給するよう
にＬＯＯＰ２で帰還がかかり、設定すべき抵抗値に対応
した電流値が出力される。
と、第２のリレー１１がＣ側に、第３のリレー１２がｆ
側に倒れるようにしておくと、第２のＤ／Ａ変換器２の
出力に設定されるべき抵抗値が出力され、割算回路１３
の一方の入力端子にはこの抵抗値が入力され、他方の入
力端子にはセンス出力電圧がバッファ４を介し、入力さ
れ、割算回路３の出力には、センス出力電圧と設定すべ
き抵抗値から算出された設定すべき電流値が出力され、
サミング回路を介しこの値と電流検出回路６の出力が同
じになるように最終アンプ５が出力電流を供給するよう
にＬＯＯＰ２で帰還がかかり、設定すべき抵抗値に対応
した電流値が出力される。
【００２７】また、出力電流により、出力電圧が変化す
る場は、バッファ４、割算回路１３を通し、ＬＯＯＰ３
で帰還がかかり、最終的に設定したい抵抗値が設定され
る。
る場は、バッファ４、割算回路１３を通し、ＬＯＯＰ３
で帰還がかかり、最終的に設定したい抵抗値が設定され
る。
【００２８】すなわち、センス出力９により、被測定Ｉ
Ｃの出力電圧が測定される。この出力電圧と設定すべき
抵抗値との値から、割算回路１３により 出力電圧／設定すべき抵抗値 で求められる目標電流が求められる。すると、ループ２
により、最終アンプが流すべき電流がこの目標電流に制
御され、結局は、最終アンプが流す電流は、 出力電圧／設定すべき抵抗値 となる。従って、ＤＣ特性測定器は、設定すべき抵抗値
を持った抵抗となる。
Ｃの出力電圧が測定される。この出力電圧と設定すべき
抵抗値との値から、割算回路１３により 出力電圧／設定すべき抵抗値 で求められる目標電流が求められる。すると、ループ２
により、最終アンプが流すべき電流がこの目標電流に制
御され、結局は、最終アンプが流す電流は、 出力電圧／設定すべき抵抗値 となる。従って、ＤＣ特性測定器は、設定すべき抵抗値
を持った抵抗となる。
【００２９】次に変動について説明する。例えば、電源
電圧がプラスでＤＣ特性測定器が電流を引き込む場合を
考える。最終アンプ５の引き込む電流量が増加し、出力
電圧が下降すると、これは、センス出力９により検知さ
れるので、 出力電圧／設定すべき抵抗値 で求められる割算回路１３の出力である目標電流は減少
する。すると、ループ２は、最終アンプ５の引き込む電
流量が減少する方向に作用し、結局は最終アンプ５の引
きこむ電流量は、もとの値に戻り、出力電圧ももとの値
に戻る。従って、最終アンプ５の引き込む電流量は設定
すべき抵抗値と被測定ＩＣの出力電圧により一意に決ま
る値となる。
電圧がプラスでＤＣ特性測定器が電流を引き込む場合を
考える。最終アンプ５の引き込む電流量が増加し、出力
電圧が下降すると、これは、センス出力９により検知さ
れるので、 出力電圧／設定すべき抵抗値 で求められる割算回路１３の出力である目標電流は減少
する。すると、ループ２は、最終アンプ５の引き込む電
流量が減少する方向に作用し、結局は最終アンプ５の引
きこむ電流量は、もとの値に戻り、出力電圧ももとの値
に戻る。従って、最終アンプ５の引き込む電流量は設定
すべき抵抗値と被測定ＩＣの出力電圧により一意に決ま
る値となる。
【００３０】このようにして最終アンプが駆動する電流
が決まった場合の出力電圧値、出力電流値は第１のリレ
ーを切り換える事により測定可能である。すなわち、第
１のリレーをａ側に接続したときには出力電圧が測定で
き、第１のリレーをｂ側に接続したときには出力電流が
測定できる。
が決まった場合の出力電圧値、出力電流値は第１のリレ
ーを切り換える事により測定可能である。すなわち、第
１のリレーをａ側に接続したときには出力電圧が測定で
き、第１のリレーをｂ側に接続したときには出力電流が
測定できる。
【００３１】なお、サミング回路３と最終アンプ５で差
動アンプが形成されている。
動アンプが形成されている。
【００３２】これまでは、ＧＮＤとＤＣ特性測定器の出
力の間で抵抗設定を行う場合について説明した。
力の間で抵抗設定を行う場合について説明した。
【００３３】［実施形態２］図２は本発明の実施形態２
のＤＣ特性測定器のブロック図である。
のＤＣ特性測定器のブロック図である。
【００３４】被測定ＩＣのこのＤＣ特性測定器のセンス
出力９とフォース出力１０の接続されている端子と、被
測定ＩＣの別の端子との間で抵抗を設定するために、一
方の入力にバッファ４の出力、他方の入力に第４のリレ
ー１５を介してマトリックスライン１６が接続された差
動回路１４の出力が割算回路１３の一方の入力に接続さ
れている。また、割算回路の出力には、割算回路１３の
出力と電流検出回路１８の出力とを入力し、出力を電流
検出回路１８を介してフォース出力端子１９（符号１
９）に供給する差動増幅器１７が追加されている。な
お、フォース出力１９（符号１９）は、被測定ＩＣ側で
短絡する。
出力９とフォース出力１０の接続されている端子と、被
測定ＩＣの別の端子との間で抵抗を設定するために、一
方の入力にバッファ４の出力、他方の入力に第４のリレ
ー１５を介してマトリックスライン１６が接続された差
動回路１４の出力が割算回路１３の一方の入力に接続さ
れている。また、割算回路の出力には、割算回路１３の
出力と電流検出回路１８の出力とを入力し、出力を電流
検出回路１８を介してフォース出力端子１９（符号１
９）に供給する差動増幅器１７が追加されている。な
お、フォース出力１９（符号１９）は、被測定ＩＣ側で
短絡する。
【００３５】プログラムで、このフォース出力−ＧＮＤ
間ではなく、フォース出力−マトリックスライン間の抵
抗設定を行う命令が記述されると、第２のリレー１１は
Ｃ側に、第３のリレー１２はｆ側に、第４のリレー１５
はｇ側に倒れるようにしておき、次にその別の端子がマ
トリックスライン１６を介して第４のリレー１５のｇ側
に接続されるようにプログラムされれば、差動回路１４
の出力には、抵抗設定したい端子間の差動電圧が出力さ
れるため、フォース出力１０には、割算回路で計算され
た 差動電圧／設定抵抗 で求まる電流が流れ、フォース出力２（符号１９）には
フォース出力１０とは逆方向で同量の電流が流れる。従
って、設定したい端子間で設定すべき抵抗値が設定され
る。第１のリレー７をａ側に倒せば抵抗設定したい端子
間の差電圧値、ｂ側に倒せば、その端子間の電流値を測
定出来る。また、実施形態１のようにフォース出力とＧ
ＮＤの間で抵抗設定したい場合は、第４のリレー１５を
ｈ側に倒すようにしておけば良い。
間ではなく、フォース出力−マトリックスライン間の抵
抗設定を行う命令が記述されると、第２のリレー１１は
Ｃ側に、第３のリレー１２はｆ側に、第４のリレー１５
はｇ側に倒れるようにしておき、次にその別の端子がマ
トリックスライン１６を介して第４のリレー１５のｇ側
に接続されるようにプログラムされれば、差動回路１４
の出力には、抵抗設定したい端子間の差動電圧が出力さ
れるため、フォース出力１０には、割算回路で計算され
た 差動電圧／設定抵抗 で求まる電流が流れ、フォース出力２（符号１９）には
フォース出力１０とは逆方向で同量の電流が流れる。従
って、設定したい端子間で設定すべき抵抗値が設定され
る。第１のリレー７をａ側に倒せば抵抗設定したい端子
間の差電圧値、ｂ側に倒せば、その端子間の電流値を測
定出来る。また、実施形態１のようにフォース出力とＧ
ＮＤの間で抵抗設定したい場合は、第４のリレー１５を
ｈ側に倒すようにしておけば良い。
【００３６】なお、サミング回路３と最終アンプ５で差
動アンプが形成されている。
動アンプが形成されている。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来のＤＣ特性測定器に出力電圧を一方の入力にし、設定
したい抵抗値を他方の入力とし、その出力で電流設定を
行わせる為の割算回路を追加したので、ＤＣ特性測定器
自体を抵抗として設定できる。更に、ＤＣ特性測定器自
体を抵抗として設定した状態で、同一のＤＣ特性測定器
で出力電流と出力電圧の測定ができる。
来のＤＣ特性測定器に出力電圧を一方の入力にし、設定
したい抵抗値を他方の入力とし、その出力で電流設定を
行わせる為の割算回路を追加したので、ＤＣ特性測定器
自体を抵抗として設定できる。更に、ＤＣ特性測定器自
体を抵抗として設定した状態で、同一のＤＣ特性測定器
で出力電流と出力電圧の測定ができる。
【００３８】そのため、これらのＤＣ特性測定器を搭載
したパーピンテスターではテストボード上の外付け抵抗
が不要になり、ＩＣのＤＣ特性測定装置が簡素化され、
その測定の煩わしさがなくなり、測定時間を短縮でき
る。また、外付け抵抗用のスペースをＩＣが搭載されて
いる基板に設ける必要がなくなる。
したパーピンテスターではテストボード上の外付け抵抗
が不要になり、ＩＣのＤＣ特性測定装置が簡素化され、
その測定の煩わしさがなくなり、測定時間を短縮でき
る。また、外付け抵抗用のスペースをＩＣが搭載されて
いる基板に設ける必要がなくなる。
【図１】本発明の実施形態１によるＤＣ特性測定器の回
路ブロック図である。
路ブロック図である。
【図２】本発明の実施形態２によるＤＣ特性測定器の回
路ブロック図である。
路ブロック図である。
【図３】従来例によるＤＣ特性測定器の回路ブロック図
である。
である。
１ 第１のＤ／Ａ変換器 ２ 第２のＤ／Ａ変換器 ３ サミング回路 ４ バッファ ５ 最終アンプ ６、１８ 電流検出回路 ７ 第１のリレー ８ Ａ／Ｄ変換器 ９ センス出力 １０ フォース出力 １１ 第２のリレー １２ 第３のリレー １３ 割算回路 １４ 差動回路 １５ 第４のリレー １６ マトリックスライン １７ 差動増幅器 １９ フォース出力２
Claims (6)
- 【請求項１】 外部回路の１端子の電圧を検出する電圧
検出手段と、前記外部回路の１端子に流出又は流入する
電流を検出する電流検出手段と、前記電圧検出手段の測
定値と所定の電圧値との差分または、前記電流検出手段
の測定値と所定の電流値との差分を増幅し、出力を前記
電流検出手段を通して前記外部回路の１端子に供給する
差動増幅器と、前記電圧検出手段の検出する電圧又は前
記電流検出手段の検出する電圧を測定する測定手段とを
備えるＤＣ特性測定器において、 更に、前記電圧検出手段が検出する電圧を設定抵抗で除
して、商を設定電流として出力する割算回路と、 前記差動増幅器の入力を、前記設定電流と前記電流検出
手段の検出する電流とに切り替える切り換え器とを備
え、 外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、この
時の前記外部回路の１端子の電圧及び電流とを測定する
ことが可能であること特徴とするＤＣ特性測定器。 - 【請求項２】 外部回路の１端子の電圧を検出する第１
の電圧検出手段と、前記外部回路の１端子に流出又は流
入する電流を検出する第１の電流検出手段と、前記電圧
検出手段の測定値と所定の電圧値との差分または、前記
電流検出手段の測定値と所定の電流値との差分を増幅
し、出力を前記電流検出手段を通して前記外部回路の１
端子に供給する第１の差動増幅器と、前記電圧検出手段
の検出する電圧又は前記電流検出手段の検出する電圧を
測定する測定手段とを備えるＤＣ特性測定器において、 更に、外部回路の他の１端子の電圧を検出する第２の電
圧検出手段と、 前記他の１端子に流出又は流入する電流を検出する第２
の電流検出手段と、 前記第１の電圧検出手段の検出する電圧と前記第２の電
圧検出手段の検出する電圧との差を設定抵抗で除して、
商を設定電流として出力する割算回路と、 前記設定電流と前記第２の電流検出手段の検出する電流
との差を増幅し、出力を前記第２の電流検出手段を通し
て前記外部回路の他の１端子に供給する第２の差動増幅
器と、 前記第１の差動増幅器の入力を、前記設定電流と前記電
流検出手段の検出する電流とに切り替える切り換え器と
を備え、 前記外部回路の１端子に （外部回路の１端子の電圧−外部端子の他の１端子の電
圧）／設定抵抗 で与えられる電流を流し込み、或いは、引き込み、 前記第２の差動増幅器は、上式で与えられる電流を前記
第１の差動増幅器と相補的に出力し、この時の外部回路
の１端子の電圧及び電流とを測定することが可能である
こと特徴とするＤＣ特性測定器。 - 【請求項３】 外部回路の１端子のグランドに対する電
圧を設定抵抗で除して、商を設定電流として出力する割
算回路と、前記設定電流を前記外部回路の１端子に流す
電流制御手段とを備え、前記外部回路の１端子に、 外部回路の１端子のグランドに対する電圧／設定抵抗 で与えられる電流を流し込む、或いは、引き込むことを
特徴とする定抵抗回路。 - 【請求項４】 外部回路の２端子間の電圧を設定抵抗で
除して、商を設定電流として出力する割算回路と、前記
設定電流を前記外部回路の一方の端子に流す第１の電流
制御手段と、前記設定電流を前記外部回路の他方の端子
に前記一方の端子とは相補的に流す第２の電流制御手段
とを備え、前記外部回路の２端子に、 外部回路の２端子間の電圧／設定抵抗 で与えられる電流を相補的に流し込む、或いは、引き込
むことを特徴とする定抵抗回路。 - 【請求項５】 前記電流制御手段は、電流検出回路と、
差動アンプとを備えることを特徴とする請求項３又は４
に記載の定抵抗回路。 - 【請求項６】 請求項３乃至５のいずれか１項に記載の
定抵抗回路を備えることを特徴とするＤＣ特性測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9211655A JP3063972B2 (ja) | 1997-08-06 | 1997-08-06 | Ｄｃ特性測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9211655A JP3063972B2 (ja) | 1997-08-06 | 1997-08-06 | Ｄｃ特性測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1152007A true JPH1152007A (ja) | 1999-02-26 |
| JP3063972B2 JP3063972B2 (ja) | 2000-07-12 |
Family
ID=16609402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9211655A Expired - Lifetime JP3063972B2 (ja) | 1997-08-06 | 1997-08-06 | Ｄｃ特性測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3063972B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967744A (zh) * | 2011-08-30 | 2013-03-13 | 现代自动车株式会社 | 用于判断dc-dc转换器的失衡电流的装置及其方法 |
| KR20190077842A (ko) | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 주식회사 포스코 | 충격특성이 우수한 고내식성 고인(p)선재, 성형품 및 그 제조방법 |
-
1997
- 1997-08-06 JP JP9211655A patent/JP3063972B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102967744A (zh) * | 2011-08-30 | 2013-03-13 | 现代自动车株式会社 | 用于判断dc-dc转换器的失衡电流的装置及其方法 |
| KR20190077842A (ko) | 2017-12-26 | 2019-07-04 | 주식회사 포스코 | 충격특성이 우수한 고내식성 고인(p)선재, 성형품 및 그 제조방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3063972B2 (ja) | 2000-07-12 |
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