JPS58129305A - 光位置検出装置 - Google Patents
光位置検出装置Info
- Publication number
- JPS58129305A JPS58129305A JP1347782A JP1347782A JPS58129305A JP S58129305 A JPS58129305 A JP S58129305A JP 1347782 A JP1347782 A JP 1347782A JP 1347782 A JP1347782 A JP 1347782A JP S58129305 A JPS58129305 A JP S58129305A
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- Japan
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- output
- amplifier
- peak value
- circuit
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- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光位置検出装置の信号処理装置に関する。
２分割検知器１ｓ用した光位置検出装置として従来一般
に使用されている一例の系統図を第１図に、その波形図
を第２図に示す、その動作を以下説明する。検知器１に
バルヌ光２が入ると、光による電流Ｉ １ｍ Ｉ ｔが
それぞれのプリアンプ３，４に入力され（こζでＩｘｍ
ｔ＋系、 Ｅｓ側を一系とする）、その出力Ｅｌ＊ Ｅ
ｍは、それぞれ増幅器へ６で増幅される。さらに、入力
光の強さに対するダイナよツクレンジを得るため対数増
幅回路７．８にこれを加え出力Ｅｓ＊Ｅ４を得る１次に
ノくルスのピーク値に比例し九直流電圧を得る九めにま
ず、ピーク検出回路９．１０でバルメ幅を広げ（Ｅｓ
、Ｅ６）、サンルホールド回路１１．１２によシ直流電
圧Ｅ７゜Ｉｓ を得る。このときのサンプルホールド回
路のゲート信号は各対数増幅回路の出力Ｅｓ＊Ｅ４を加
算器１３で加算し、単安定マルチパイフｖ−夕１４で波
形成形した出力Ｅａｔ使う、サンプルホールド回路の出
力Ｅ ｙ ｅ Ｅ ｓＯ差を減算器１５で、得る。
に使用されている一例の系統図を第１図に、その波形図
を第２図に示す、その動作を以下説明する。検知器１に
バルヌ光２が入ると、光による電流Ｉ １ｍ Ｉ ｔが
それぞれのプリアンプ３，４に入力され（こζでＩｘｍ
ｔ＋系、 Ｅｓ側を一系とする）、その出力Ｅｌ＊ Ｅ
ｍは、それぞれ増幅器へ６で増幅される。さらに、入力
光の強さに対するダイナよツクレンジを得るため対数増
幅回路７．８にこれを加え出力Ｅｓ＊Ｅ４を得る１次に
ノくルスのピーク値に比例し九直流電圧を得る九めにま
ず、ピーク検出回路９．１０でバルメ幅を広げ（Ｅｓ
、Ｅ６）、サンルホールド回路１１．１２によシ直流電
圧Ｅ７゜Ｉｓ を得る。このときのサンプルホールド回
路のゲート信号は各対数増幅回路の出力Ｅｓ＊Ｅ４を加
算器１３で加算し、単安定マルチパイフｖ−夕１４で波
形成形した出力Ｅａｔ使う、サンプルホールド回路の出
力Ｅ ｙ ｅ Ｅ ｓＯ差を減算器１５で、得る。
その出力Ｅ１ｏはＥｔｏ ＝Ｋ （Ｅ７−Ｅａ ）とな
Ｊ）Ｅｔａが、光の位置でＫは光の位置に対する利得定
数で、減算器の利得で決まる。ここで増幅器３，４．対
数増幅回路７．８とピークレベル検出回路９．１０ｔそ
れぞれの系の信号増幅部という。
Ｊ）Ｅｔａが、光の位置でＫは光の位置に対する利得定
数で、減算器の利得で決まる。ここで増幅器３，４．対
数増幅回路７．８とピークレベル検出回路９．１０ｔそ
れぞれの系の信号増幅部という。
この信号処理装置において光が検知器の中心にあり光の
強さＰのみが変化したとして第２図と第３図ＯＡ、Ｂ、
Ｃの３点について考えると、Ａ点での入力レベルでは子
糸の利得Ｇ１と、−系の利得Ｇ２とが一致しているので
角度出力ＥＩＯは０である。一方％Ｂ点ではＧｌ＞０２
であるため角度出力Ｅｏは誤差出力Ｅｌを生ずる。同様
に０点ではＧｌ＜Ｇ２ であるため誤差出力ＥＣを生ず
る。
強さＰのみが変化したとして第２図と第３図ＯＡ、Ｂ、
Ｃの３点について考えると、Ａ点での入力レベルでは子
糸の利得Ｇ１と、−系の利得Ｇ２とが一致しているので
角度出力ＥＩＯは０である。一方％Ｂ点ではＧｌ＞０２
であるため角度出力Ｅｏは誤差出力Ｅｌを生ずる。同様
に０点ではＧｌ＜Ｇ２ であるため誤差出力ＥＣを生ず
る。
このように従来鉄量では２系統の信号増幅部の利得が全
ての入力光の強さの範囲で一致していないと光が検知器
の中心にあるにもかかわらず、角度誤差出力を生じてし
まう。
ての入力光の強さの範囲で一致していないと光が検知器
の中心にあるにもかかわらず、角度誤差出力を生じてし
まう。
本発明の目的は光位置検出装置の信号処理装置において
信号増幅部の利得の不一致による角度検出誤差をなくす
装置を提供することにある。
信号増幅部の利得の不一致による角度検出誤差をなくす
装置を提供することにある。
光位置検出装置の信号処理装置において、２系統とも同
じ信号増幅部を使用することによ抄信号増幅部の利得の
不一致による角度検出誤差ｔなくする装置。
じ信号増幅部を使用することによ抄信号増幅部の利得の
不一致による角度検出誤差ｔなくする装置。
以下５本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
本発明の一実施例のブロック図を第４図に、その波形図
を第５図に示す、光が中心にあり入力光の強さが変化し
た場合について説明する。
を第５図に示す、光が中心にあり入力光の強さが変化し
た場合について説明する。
検知器１６にパルス光１７が入射することにより生ずる
光電流Ｉｎ、Ｉｎがそれぞれのプリアンプ１８．１９で
増幅され、その出力ｔＥｕＪ１雪とする。−系の出力Ｅ
１ｇのみ遅延回路２０１に通し、時間Ｔだけ遅延させて
１１ｍとする。ＰｌｌとＥＬＳとを加算器２１で加算し
くＥｔ４）、更に対数増幅回路２２およびピーク値検出
回路２３を経て出力Ｋｘｓｔ得る。Ｅｔｓｔ＋系のサン
プルホールド回路２４と一系のサンプルホールド回路２
５に同時に加える。そのときの子糸サンプルホールド回
路２４のゲート信号ｇｔ−はプリアンプ１８の出力を単
安定マルチバイブレータ２６により波形整形したものを
使い、−系サンプルホールド回路２５のゲート信号１１
７は遅延回路出力Ｅ１ｓｔ−単安定マルチバイブレータ
２７で波形整形したものを使う、それぞれのサンプルホ
ールド°回路出力Ｅ１ｓ 、 Ｉｔｓ を減算器２８に
加え差出力Ｅｗとする。この’Ｅｗｔサンプルホールド
回路２９に加えて角度出力Ｅａｔ得る。サンプルホール
ド回路２９のゲート信号はＫｌｙｔ−さらに単安定マル
チバイブレータ３０に加え波形整形したＥｚｌを使う。
光電流Ｉｎ、Ｉｎがそれぞれのプリアンプ１８．１９で
増幅され、その出力ｔＥｕＪ１雪とする。−系の出力Ｅ
１ｇのみ遅延回路２０１に通し、時間Ｔだけ遅延させて
１１ｍとする。ＰｌｌとＥＬＳとを加算器２１で加算し
くＥｔ４）、更に対数増幅回路２２およびピーク値検出
回路２３を経て出力Ｋｘｓｔ得る。Ｅｔｓｔ＋系のサン
プルホールド回路２４と一系のサンプルホールド回路２
５に同時に加える。そのときの子糸サンプルホールド回
路２４のゲート信号ｇｔ−はプリアンプ１８の出力を単
安定マルチバイブレータ２６により波形整形したものを
使い、−系サンプルホールド回路２５のゲート信号１１
７は遅延回路出力Ｅ１ｓｔ−単安定マルチバイブレータ
２７で波形整形したものを使う、それぞれのサンプルホ
ールド°回路出力Ｅ１ｓ 、 Ｉｔｓ を減算器２８に
加え差出力Ｅｗとする。この’Ｅｗｔサンプルホールド
回路２９に加えて角度出力Ｅａｔ得る。サンプルホール
ド回路２９のゲート信号はＫｌｙｔ−さらに単安定マル
チバイブレータ３０に加え波形整形したＥｚｌを使う。
以上の説明では、第１図に示す増幅器５，６は図示され
ていないが、これはその影響が少ないためで、第４図で
はプリアンプ１８．１９にそれぞれ含めている。その代
りに別に加算器２１の直後に１個の増幅器を設けても良
い。このように本発明は信号増幅部を子糸と一系で共用
しているために、従来のように利得の不一致による角度
誤差出力がなくなる。
ていないが、これはその影響が少ないためで、第４図で
はプリアンプ１８．１９にそれぞれ含めている。その代
りに別に加算器２１の直後に１個の増幅器を設けても良
い。このように本発明は信号増幅部を子糸と一系で共用
しているために、従来のように利得の不一致による角度
誤差出力がなくなる。
本発明は以上説明したように、信号増幅部を＋系、−系
で共用することにより、入力光の強さの変化による角度
誤差出力はなくなる。さらに回路調整は２系統を一致さ
せる必要がなくなるので調整が容易になる。
で共用することにより、入力光の強さの変化による角度
誤差出力はなくなる。さらに回路調整は２系統を一致さ
せる必要がなくなるので調整が容易になる。
第１図と第２図は従来の信号処理装置のブロック図とそ
の波形図、第３図は子糸、−系の信号増幅部で利得の不
一致を生じた場合の各基の直流電圧出力と角度出力の関
係を示す図、第４図は本発明の信号処理装置のブロック
図、第５図は第４図の波形図を示す図である。 １．１６・・・・・・検知器、２．１７・・・・・・光
、３〜６ 、１８゜１９・・・・・・増幅器、？、８，
２２・・・・・・対数増幅器、９゜１０ 、２３・・・
・・・ピーク値検出回路、１１．１２，２４゜２５．２
９・・・・・・サンプルホールド回路、１３．２１・・
・・・・加算器、１５．２８・・・・・・減算器、２０
・・・・・・遅延回路。 Ａ Ｂ
ＣＦ２゜ 峯Ｚ回 寥Ｊ回
の波形図、第３図は子糸、−系の信号増幅部で利得の不
一致を生じた場合の各基の直流電圧出力と角度出力の関
係を示す図、第４図は本発明の信号処理装置のブロック
図、第５図は第４図の波形図を示す図である。 １．１６・・・・・・検知器、２．１７・・・・・・光
、３〜６ 、１８゜１９・・・・・・増幅器、？、８，
２２・・・・・・対数増幅器、９゜１０ 、２３・・・
・・・ピーク値検出回路、１１．１２，２４゜２５．２
９・・・・・・サンプルホールド回路、１３．２１・・
・・・・加算器、１５．２８・・・・・・減算器、２０
・・・・・・遅延回路。 Ａ Ｂ
ＣＦ２゜ 峯Ｚ回 寥Ｊ回
Claims (1)
- ２個に分割された光検知器の各分割部からの光電流のう
ち、一方を所定時間遅延させる遅延回路と、との遅延回
路の出力と他方の光電流とを加算する加算器と、この加
算された出力を増幅する増幅器と、この増幅器の出力の
ピーク値を検出するピーク値検出回路と、このピーク値
を前記所定時間間隔のサンプリングパルスでサンプルホ
ールドする２つのサンブリ、ング回路と、この２つのサ
ンプリング回路出力の差をとる減算器と、この減算器出
力を前記時間遅延を受けたサンプリングパルスト同期し
たパルスでサンプリングする回路とを備えて成ることｔ
−特徴とする光位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347782A JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347782A JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129305A true JPS58129305A (ja) | 1983-08-02 |
| JPS6217165B2 JPS6217165B2 (ja) | 1987-04-16 |
Family
ID=11834199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1347782A Granted JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129305A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257801A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ル−プ・ゲイン制御装置 |
| JPH03226624A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Nec Corp | スタースキャナ |
| EP0944046A3 (en) * | 1998-03-20 | 2001-11-14 | Pioneer Electronic Corporation | Pre-pit detecting apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11439022B2 (en) * | 2019-09-02 | 2022-09-06 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Printed circuit board |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1347782A patent/JPS58129305A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257801A (ja) * | 1987-04-15 | 1988-10-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ル−プ・ゲイン制御装置 |
| JPH03226624A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Nec Corp | スタースキャナ |
| EP0944046A3 (en) * | 1998-03-20 | 2001-11-14 | Pioneer Electronic Corporation | Pre-pit detecting apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6217165B2 (ja) | 1987-04-16 |
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