JPS6217165B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6217165B2 JPS6217165B2 JP1347782A JP1347782A JPS6217165B2 JP S6217165 B2 JPS6217165 B2 JP S6217165B2 JP 1347782 A JP1347782 A JP 1347782A JP 1347782 A JP1347782 A JP 1347782A JP S6217165 B2 JPS6217165 B2 JP S6217165B2
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- JP
- Japan
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- output
- circuit
- peak value
- sample
- sampling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光位置検出装置の信号処理装置に関す
る。
る。
２分割検知器を使用した光位置検出装置として
従来一般に使用されている一例の系統図を第１図
に、その波形図を第２図に示す。その動作を以下
説明する。検知器１にパルス光２が入ると、光に
よる電流I1，I2がそれぞれのプリアンプ３，４に
入力され（ここでI1側を＋系、I2側を−系とす
る）、その出力E1，E2は、それぞれ増幅器５，６
で増幅される。さらに、入力光の強さに対するダ
イナミツクレンジを得るため対数増幅回路７，８
にこれを加え出力E3，E4を得る。次にパルスの
ピーク値に比例した直流電圧を得るためにまず、
ピーク検出回路９，１０でパルス幅を広げ
（E5，E6）、サンプルホールド回路１１，１２に
より直流電圧E7，E8を得る。このときのサンプ
ルホルド回路のゲート信号は各対数増幅回路の出
力E3，E4を加算器１３で加算し、単安定マルチ
バイブレータ１４で波形成形した出力E9を使
う。サンプルホールド回路の出力E7，E8の差を
減算器１５で、得る。その出力E10はE10＝Ｋ
（E7−E8）となりE10が、光の位置でＫは光の位置
に対する利得定数で、減算器の利得で決まる。こ
こで増幅器３，４．対数増幅回路７，８とピーク
レベル検出回路９，１０をそれぞれの系の信号増
幅部という。
従来一般に使用されている一例の系統図を第１図
に、その波形図を第２図に示す。その動作を以下
説明する。検知器１にパルス光２が入ると、光に
よる電流I1，I2がそれぞれのプリアンプ３，４に
入力され（ここでI1側を＋系、I2側を−系とす
る）、その出力E1，E2は、それぞれ増幅器５，６
で増幅される。さらに、入力光の強さに対するダ
イナミツクレンジを得るため対数増幅回路７，８
にこれを加え出力E3，E4を得る。次にパルスの
ピーク値に比例した直流電圧を得るためにまず、
ピーク検出回路９，１０でパルス幅を広げ
（E5，E6）、サンプルホールド回路１１，１２に
より直流電圧E7，E8を得る。このときのサンプ
ルホルド回路のゲート信号は各対数増幅回路の出
力E3，E4を加算器１３で加算し、単安定マルチ
バイブレータ１４で波形成形した出力E9を使
う。サンプルホールド回路の出力E7，E8の差を
減算器１５で、得る。その出力E10はE10＝Ｋ
（E7−E8）となりE10が、光の位置でＫは光の位置
に対する利得定数で、減算器の利得で決まる。こ
こで増幅器３，４．対数増幅回路７，８とピーク
レベル検出回路９，１０をそれぞれの系の信号増
幅部という。
この信号処理装置において光が検知器の中心に
あり光の強さＰのみが変化したとして第２図と第
３図のＡ，Ｂ，Ｃの３点について考えると、Ａ点
での入力レベルでは系の利得G1と、−系の利得G2
とが一致しているので角度出力E10は０である。
一方、Ｂ点ではG1＞G2であるため角度出力E0は
誤差出力ＥBを生ずる。同様にＣ点ではG1＜G2で
あるため誤差出力ＥCを生ずる。このように従来
装置では２系統の信号増幅部の利得が全ての入力
光の強さの範囲で一致していないと光が検知器の
中心にあるにもかかわらず、角度誤差出力を生じ
てしまう。
あり光の強さＰのみが変化したとして第２図と第
３図のＡ，Ｂ，Ｃの３点について考えると、Ａ点
での入力レベルでは系の利得G1と、−系の利得G2
とが一致しているので角度出力E10は０である。
一方、Ｂ点ではG1＞G2であるため角度出力E0は
誤差出力ＥBを生ずる。同様にＣ点ではG1＜G2で
あるため誤差出力ＥCを生ずる。このように従来
装置では２系統の信号増幅部の利得が全ての入力
光の強さの範囲で一致していないと光が検知器の
中心にあるにもかかわらず、角度誤差出力を生じ
てしまう。
本発明の目的は光位置検出装置の信号処理装置
において信号増幅部の利得の不一致による角度検
出誤差をなくす装置を提供することにある。
において信号増幅部の利得の不一致による角度検
出誤差をなくす装置を提供することにある。
光位置検出装置の信号処理装置において、２系
統とも同じ信号増幅部を使用することにより信号
増幅部の利得の不一致による角度検出誤差をなく
する装置。
統とも同じ信号増幅部を使用することにより信号
増幅部の利得の不一致による角度検出誤差をなく
する装置。
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。
する。
本発明の一実施例のブロツク図を第４図に、そ
の波形図を第５図に示す。光が中心にあり入力光
の強さが変化した場合について説明する。
の波形図を第５図に示す。光が中心にあり入力光
の強さが変化した場合について説明する。
検知器１６にパルス光１７が入射することによ
り生ずる光電流I3，I4がそれぞれのプリアンプ１
８，１９で増幅され、その出力をE11，E12とす
る。−系の出力E12のみ遅延回路２０を通し、時間
Ｔだけ遅延させてE13とする。E11とE13とを加算
器２１で加算し（E14）、更に対数増幅回路２２お
よびピーク値検出回路２３を経て出力E15を得
る。E15を＋系のサンプルホールド回路２４と−
系のサンプルホールド回路２５に同時に加える。
そのときの＋系サンプルホールド回路２４のゲー
ト信号E16はプリアンプ１８の出力を単安定マル
チバイブレータ２６により波形整形したものを使
い、−系サンプルホールド回路２５のゲート信号
E17は遅延回路出力E13を単安定マルチバイブレー
タ２７で波形整形したものを使う。それぞれのサ
ンプルホールド回路出力E18，E19を減算器２８に
加え差出力E20とする。このE20をサンプルホール
ド回路２９に加えて角度出力E22を得る。サンプ
ルホールド回路２９のゲート信号はE17をさらに
単安定マルチバイブレータ３０に加え波形整形し
たE21を使う。以上の説明では、第１図に示す増
幅器５，６は図示されていないが、これはその影
響が少ないためで、第４図ではプリアンプ１８，
１９にそれぞれ含めている。その代りに別に加算
器２１の直後に１個の増幅器を設けても良い。こ
のように本発明は信号増幅部を＋系と−系で共用
しているために、従来のように利得の不一致によ
る角度誤差出力がなくなる。
り生ずる光電流I3，I4がそれぞれのプリアンプ１
８，１９で増幅され、その出力をE11，E12とす
る。−系の出力E12のみ遅延回路２０を通し、時間
Ｔだけ遅延させてE13とする。E11とE13とを加算
器２１で加算し（E14）、更に対数増幅回路２２お
よびピーク値検出回路２３を経て出力E15を得
る。E15を＋系のサンプルホールド回路２４と−
系のサンプルホールド回路２５に同時に加える。
そのときの＋系サンプルホールド回路２４のゲー
ト信号E16はプリアンプ１８の出力を単安定マル
チバイブレータ２６により波形整形したものを使
い、−系サンプルホールド回路２５のゲート信号
E17は遅延回路出力E13を単安定マルチバイブレー
タ２７で波形整形したものを使う。それぞれのサ
ンプルホールド回路出力E18，E19を減算器２８に
加え差出力E20とする。このE20をサンプルホール
ド回路２９に加えて角度出力E22を得る。サンプ
ルホールド回路２９のゲート信号はE17をさらに
単安定マルチバイブレータ３０に加え波形整形し
たE21を使う。以上の説明では、第１図に示す増
幅器５，６は図示されていないが、これはその影
響が少ないためで、第４図ではプリアンプ１８，
１９にそれぞれ含めている。その代りに別に加算
器２１の直後に１個の増幅器を設けても良い。こ
のように本発明は信号増幅部を＋系と−系で共用
しているために、従来のように利得の不一致によ
る角度誤差出力がなくなる。
本発明は以上説明したように、信号増幅部を＋
系、−系で共用することにより、入力光の強さの
変化による角度誤差出力はなくなる。さらに回路
調整は２系統を一致させる必要がなくなるので調
整が容易になる。
系、−系で共用することにより、入力光の強さの
変化による角度誤差出力はなくなる。さらに回路
調整は２系統を一致させる必要がなくなるので調
整が容易になる。
第１図と第２図は従来の信号処理装置のブロツ
ク図とその波形図、第３図は＋系、−系の信号増
幅部で利得の不一致を生じた場合の各系の直流電
圧出力と角度出力の関係を示す図、第４図は本発
明の信号処理装置のブロツク図、第５図は第４図
の波形図を示す図である。 １，１６……検知器、２，１７……光、３〜
６，１８，１９……増幅器、７，８，２２……対
数増幅器、９，１０，２３……ピーク値検出回
路、１１，１２，２４，２５，２９……サンプル
ホールド回路、１３，２１……加算器、１５，２
８……減算器、２０……遅延回路。
ク図とその波形図、第３図は＋系、−系の信号増
幅部で利得の不一致を生じた場合の各系の直流電
圧出力と角度出力の関係を示す図、第４図は本発
明の信号処理装置のブロツク図、第５図は第４図
の波形図を示す図である。 １，１６……検知器、２，１７……光、３〜
６，１８，１９……増幅器、７，８，２２……対
数増幅器、９，１０，２３……ピーク値検出回
路、１１，１２，２４，２５，２９……サンプル
ホールド回路、１３，２１……加算器、１５，２
８……減算器、２０……遅延回路。
Claims (1)
- １ ２個に分割された光検知器の各分割部からの
光電流のうち、一方を所定時間遅延させる遅延回
路と、この遅延回路の出力と他方の光電流とを加
算する加算器と、この加算された出力を増幅する
増幅器と、この増幅器の出力のピーク値を検出す
るピーク値検出回路と、このピーク値を前記所定
時間間隔のサンプリングパルスでサンプルホール
ドする２つのサンプリング回路と、この２つのサ
ンプリング回路出力の差をとる減算器と、この減
算器出力を前記時間遅延を受けたサンプリングパ
ルスと同期したパルスでサンプリングする回路と
を備えて成ることを特徴とする光位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347782A JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347782A JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129305A JPS58129305A (ja) | 1983-08-02 |
| JPS6217165B2 true JPS6217165B2 (ja) | 1987-04-16 |
Family
ID=11834199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1347782A Granted JPS58129305A (ja) | 1982-01-29 | 1982-01-29 | 光位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129305A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240076408A (ko) * | 2019-09-02 | 2024-05-30 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2658043B2 (ja) * | 1987-04-15 | 1997-09-30 | 松下電器産業株式会社 | ループ・ゲイン制御装置 |
| JPH03226624A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-07 | Nec Corp | スタースキャナ |
| JP3887480B2 (ja) * | 1998-03-20 | 2007-02-28 | パイオニア株式会社 | プリピット検出装置 |
-
1982
- 1982-01-29 JP JP1347782A patent/JPS58129305A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240076408A (ko) * | 2019-09-02 | 2024-05-30 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58129305A (ja) | 1983-08-02 |
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