JPS5817402B2 - 測定探子 - Google Patents
測定探子Info
- Publication number
- JPS5817402B2 JPS5817402B2 JP48106120A JP10612073A JPS5817402B2 JP S5817402 B2 JPS5817402 B2 JP S5817402B2 JP 48106120 A JP48106120 A JP 48106120A JP 10612073 A JP10612073 A JP 10612073A JP S5817402 B2 JPS5817402 B2 JP S5817402B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- needle
- movable element
- contact
- probe
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/002—Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B5/012—Contact-making feeler heads therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
- G01B7/012—Contact-making feeler heads therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は測定装置に使用される探子に関し、特に針と
物体即ち測定対象との接触を検出する探子に関するもの
である。
物体即ち測定対象との接触を検出する探子に関するもの
である。
かかる探子は直交座標枠内で測定を行なう直交スライド
に適用される。
に適用される。
この出願の一つの発明の目的は、物体の正確な検出を繰
返し行なうことができる測定探子を提供することにある
。
返し行なうことができる測定探子を提供することにある
。
この出願の他の発明の目的は、上記の特徴に加え、さら
に簡単な構造を有する測定探子を提供することにある。
に簡単な構造を有する測定探子を提供することにある。
探子は物体に接触して電気回路を閉じまた開くように配
置され、回路の状態を示すように表示ランプが設けられ
ている。
置され、回路の状態を示すように表示ランプが設けられ
ている。
一般に探子が回路を開閉するようにされるのがよく、探
子が物体と接触していないときは表示ランプが点灯し探
子が正しく作用しないのを容易に検知できるようにする
。
子が物体と接触していないときは表示ランプが点灯し探
子が正しく作用しないのを容易に検知できるようにする
。
この発明によれば針と、ハウジングと、針をハウジング
に関連した休止位置の方向に押す装置とを有する探子が
設けられ針が前記休止位置から限られた範囲内で変位し
てハウジングに対して異なった方向を取ったときこの変
位を検知する装置が設けられている。
に関連した休止位置の方向に押す装置とを有する探子が
設けられ針が前記休止位置から限られた範囲内で変位し
てハウジングに対して異なった方向を取ったときこの変
位を検知する装置が設けられている。
この発明の好ましい実施例では針は実質的に等角度で放
射状に延びる部材を有し、針はハ・クジングに対して一
定の休止位置に押されており、各部材はそれぞれの7字
形溝の両側と係合し、休止位置からの針の制限された振
れ変位はハウジングに対して異なった方向を取り、前記
部材の少なくとも1つの部材が前記7字形溝の1つの側
面の少なくとも1つと接触しなくなったとき針の振れを
検知する装置が設けられる。
射状に延びる部材を有し、針はハ・クジングに対して一
定の休止位置に押されており、各部材はそれぞれの7字
形溝の両側と係合し、休止位置からの針の制限された振
れ変位はハウジングに対して異なった方向を取り、前記
部材の少なくとも1つの部材が前記7字形溝の1つの側
面の少なくとも1つと接触しなくなったとき針の振れを
検知する装置が設けられる。
このような針の制限された振れを検知する装置は針がそ
の休止位置にあるとき例えばオン状態となる電気回路を
有し、その回路は1つの7字形溝から次の隣接溝を通り
、各部材がそれぞれの7字形溝の両側間の閉回路を形成
する。
の休止位置にあるとき例えばオン状態となる電気回路を
有し、その回路は1つの7字形溝から次の隣接溝を通り
、各部材がそれぞれの7字形溝の両側間の閉回路を形成
する。
この発明の他の実施例では針は休止位置で軸方向に配置
された2つの7字形溝と接触するよう押されており、針
の彎曲端自体が傾斜面と係合するように押されており、
休止位置からの針の制限された振れはハウジングに対す
る針の振れの方向を変え、かくして7字形溝の1つの少
なくとも1つの側面との接触状態を離し、これにより針
の振れを検知する装置が設けられている。
された2つの7字形溝と接触するよう押されており、針
の彎曲端自体が傾斜面と係合するように押されており、
休止位置からの針の制限された振れはハウジングに対す
る針の振れの方向を変え、かくして7字形溝の1つの少
なくとも1つの側面との接触状態を離し、これにより針
の振れを検知する装置が設けられている。
以下図面についてこの発明の一例を詳述するに、第1図
ないし第3図において、探子1はハヮジング2と針3と
を有する。
ないし第3図において、探子1はハヮジング2と針3と
を有する。
3つの部材4が針3から半径方向に延びており、針3は
その頂部6に作用するばね5によってハウジング2に対
し定められた休止位置に向ってばね附勢されている。
その頂部6に作用するばね5によってハウジング2に対
し定められた休止位置に向ってばね附勢されている。
この休止位置にて、各部材4は各7字形溝8の両側部6
゜Tに係合する。
゜Tに係合する。
7字形溝8は、孔1L12内にそれぞれ設けられた一対
の球軸受9,10の間に形成される。
の球軸受9,10の間に形成される。
ハウジング2を通って延びる針3の端部13の先端には
中心位置に正しく配置された球14が取付けられている
。
中心位置に正しく配置された球14が取付けられている
。
以上の構成において、探子1は例えば直角座標または球
形極座標枠等の座標測定装置(図示しない)に連接され
、測定される物体の境界を検知するようどの方向にも空
間を可動できる。
形極座標枠等の座標測定装置(図示しない)に連接され
、測定される物体の境界を検知するようどの方向にも空
間を可動できる。
球14と物体の間の接触係合はばね5のばね力に抗して
針3を休止位置から離すよう変位する。
針3を休止位置から離すよう変位する。
このように針3が変位されている間、針3のハウジング
2に対する位置ないし向きは異なったものとなる。
2に対する位置ないし向きは異なったものとなる。
変位は、針3が休止位置にあるときに例えばオン状態と
なる電気回路15を形成することによって検出される。
なる電気回路15を形成することによって検出される。
各球軸受9,10は絶縁体16によって相互に絶縁され
ると共にハウジング2とも絶縁される。
ると共にハウジング2とも絶縁される。
回路は7字形溝8から次々と隣りの溝に直列に形成され
、針3と他の部材4から絶縁された部材4の各々は各7
字形溝8の両側部6゜7の間に閉回路を形成する。
、針3と他の部材4から絶縁された部材4の各々は各7
字形溝8の両側部6゜7の間に閉回路を形成する。
部材4は針3が休止位置から変位すれば、各7字形溝8
の1つの側部の少くとも1つのと接触を離れ、これにて
回路15を遮断して電源18にて常時は点灯される表示
ランプ17を消灯する。
の1つの側部の少くとも1つのと接触を離れ、これにて
回路15を遮断して電源18にて常時は点灯される表示
ランプ17を消灯する。
回路の遮断は、図示されていないが、このときに探子の
座標を読取って記録すべく装置に指令をもたらすよう使
用できるそれ自体公知の自動切換装置に入力パルスをも
たらすよう用いられる。
座標を読取って記録すべく装置に指令をもたらすよう使
用できるそれ自体公知の自動切換装置に入力パルスをも
たらすよう用いられる。
1マイクロセ力ンド時間のパルスが高精度の測定を可能
にすることが知られている。
にすることが知られている。
針3とハウジング2の間に間隙19が設けられている、
この間隙19はハウジング2内の針の製限された変位を
可能にしている。
この間隙19はハウジング2内の針の製限された変位を
可能にしている。
休止位置から離れるように針3が変位すればこれをばね
5の圧縮によって弾性的に受けることにより、測定の際
の探子の慣性にもとずく針3に対する損傷を避けること
ができる。
5の圧縮によって弾性的に受けることにより、測定の際
の探子の慣性にもとずく針3に対する損傷を避けること
ができる。
もし探子の慣性が問題であれば、例えば読取りが行われ
た後の針3の軸20の曲げを防止することが困難となる
が、これはそれ自体公知の破断装置を針に設けることに
よって解決できる。
た後の針3の軸20の曲げを防止することが困難となる
が、これはそれ自体公知の破断装置を針に設けることに
よって解決できる。
探子の作成にあたり、各組の球軸受の各々と各部材を良
好に接触させることを確実にする必要がある。
好に接触させることを確実にする必要がある。
このことは、針3に嵌合される各部材4の部分21をに
かわで被って絶縁し、そこで探子を組立てXlはね5の
保持体として働く蓋板22を止ねじ25で取付けること
によって簡単に行うことができる。
かわで被って絶縁し、そこで探子を組立てXlはね5の
保持体として働く蓋板22を止ねじ25で取付けること
によって簡単に行うことができる。
にかわが固まり、回路が電源18に接続されるときに、
表示ランプ17の点灯は3つのスイッチが全て接触して
いることを表示する。
表示ランプ17の点灯は3つのスイッチが全て接触して
いることを表示する。
この様にして、各球軸受9,10が設けられる孔の深さ
に関連した製作公差により不都合が生じないようにされ
る。
に関連した製作公差により不都合が生じないようにされ
る。
球14の中心が探子に対して所望位置にあることを確実
にするために、部材4の配置が固定された後に針3に対
して球14とその関連した軸20を取付けるべく構成す
ることができる。
にするために、部材4の配置が固定された後に針3に対
して球14とその関連した軸20を取付けるべく構成す
ることができる。
針3の軸20は端ぐり機で形成した穴に係合する軸、ス
ピゴット24によって取付けられる。
ピゴット24によって取付けられる。
球14の中心は、探子と球14が組立治具に固持される
間に、針3の端ぐりにスピゴット24をゆる。
間に、針3の端ぐりにスピゴット24をゆる。
く嵌合させにかわ付けすることによりハウジング2と整
列される。
列される。
球軸受9,10のための孔26は各球軸受の直径よりも
小さな直径にてハウジング2にあけられるので、組立の
際に誤まった球軸受を容易に除去。
小さな直径にてハウジング2にあけられるので、組立の
際に誤まった球軸受を容易に除去。
して取換えできる。
第1図に示される針3の軸は検知器とはマ同軸であるが
、これは装置の作用に必要がなく、例えばシリンダ孔の
測定の際に図示位置の半径方向に球と軸を置くことが好
適であることが明らかになろう。
、これは装置の作用に必要がなく、例えばシリンダ孔の
測定の際に図示位置の半径方向に球と軸を置くことが好
適であることが明らかになろう。
ここでハウジング2内に電気絶縁油を充填すれば、探子
の作用を改善することができる。
の作用を改善することができる。
これは接触部分の劣化をもたらすような接触部分におけ
るスパークを防止し、ゴムガータ27は軸3に沿っての
油の漏出を防止し、制限された休止位置の探子の載置に
ては押されないように十分な弾性を有している。
るスパークを防止し、ゴムガータ27は軸3に沿っての
油の漏出を防止し、制限された休止位置の探子の載置に
ては押されないように十分な弾性を有している。
■字形溝8間の電気的接続部はハウジング2の状溝28
内に適宜に置かれる。
内に適宜に置かれる。
7字形溝を形成するべく球軸受の使用は便宜のためだけ
のもので、球軸受の各組を互に傾斜した一対のニードル
ローラと換えることができることが明らかであろう。
のもので、球軸受の各組を互に傾斜した一対のニードル
ローラと換えることができることが明らかであろう。
この実施例においては、針3の休止位置とこの休止位置
からの変位とを同じ装置によって制限し且つ検出するよ
うになされている。
からの変位とを同じ装置によって制限し且つ検出するよ
うになされている。
第4図及び第5図はこの発明の他の実施例を示すもので
、第1図ないし第3図について説明したと同様にして形
成された7字形溝とそれぞれ協働する3つの大体円形状
の脚81,82.83を針は有している。
、第1図ないし第3図について説明したと同様にして形
成された7字形溝とそれぞれ協働する3つの大体円形状
の脚81,82.83を針は有している。
3つの脚の1つの脚83は横に延びていて測定をなす球
14を支持している。
14を支持している。
この実施例は例えば円筒孔の測定のような状態のときに
利点をもつ。
利点をもつ。
また第6図ないし第8図はこの発明のさらに他の実施例
を示すもので、探子1はハウジング2内に設けられた針
3を有する。
を示すもので、探子1はハウジング2内に設けられた針
3を有する。
ヘヤピンはねが絶縁体91に接着された2つの帯片92
,93により絶縁体91に一端90において固着される
。
,93により絶縁体91に一端90において固着される
。
第6図及び第7図に示すように絶縁体91ははゾ円柱状
で、大半に亘って延びている■字形溝94と、帯片92
.93が接着されるプラットホーム部95とを有する。
で、大半に亘って延びている■字形溝94と、帯片92
.93が接着されるプラットホーム部95とを有する。
ポリエステル樹脂でつくられた絶縁体91はハウジング
2内に別のポリエステル樹脂で接着される。
2内に別のポリエステル樹脂で接着される。
2組のニードルローラ96゜97及び98.99は7字
形溝の両側部112゜113に接続されて2つの7字形
溝を形成する。
形溝の両側部112゜113に接続されて2つの7字形
溝を形成する。
第5のニードルローラ100は探子1の軸心101と約
45°の角度をなすように絶縁体91に接着される。
45°の角度をなすように絶縁体91に接着される。
以上の構成において針3の直径方向の孔102を通るば
ね5は、針3の円柱部分が2つの7字形溝に接触し、彎
曲端部103がニードルローラ100の傾斜面と接触す
るように押して、針3の休止位置を決めている。
ね5は、針3の円柱部分が2つの7字形溝に接触し、彎
曲端部103がニードルローラ100の傾斜面と接触す
るように押して、針3の休止位置を決めている。
針3の端の球14と測定すべき目的物の間の接触係合は
針3を変位してハウジング2に対する針3の方向を変え
、ニードルローラの少くとも1つから針が離れるよう動
かす。
針3を変位してハウジング2に対する針3の方向を変え
、ニードルローラの少くとも1つから針が離れるよう動
かす。
従って、ニードルローラと針の間に電気回路を設けるこ
とによって、休止位置から離れる針の動きを検出するこ
とができ、針とニードルローラの間の各接触点は電気回
路を開閉するスイッチとして動く。
とによって、休止位置から離れる針の動きを検出するこ
とができ、針とニードルローラの間の各接触点は電気回
路を開閉するスイッチとして動く。
5つのニードルローラ96.97゜98.99,100
はポリエステル樹脂により絶縁体91に接着され、互に
隔てられ且つ電気的に絶縁される。
はポリエステル樹脂により絶縁体91に接着され、互に
隔てられ且つ電気的に絶縁される。
針3はポリエステル樹脂の円筒スリーブ105により針
の残りの部分から絶縁された円筒部分104を有する。
の残りの部分から絶縁された円筒部分104を有する。
斜がニードルローラの1つとの接触を遮断したことを検
出するための電気回路は、導線106からニードルロー
ラ96、針3、ニードルローラ98、ニードルローラ9
9、針3の円柱部104、ニードルローラ97、導線1
07を経て電源と表示ランプ(図示しない)に直列にな
っている。
出するための電気回路は、導線106からニードルロー
ラ96、針3、ニードルローラ98、ニードルローラ9
9、針3の円柱部104、ニードルローラ97、導線1
07を経て電源と表示ランプ(図示しない)に直列にな
っている。
2本の導線106,107は、ねじ108によって探子
に固着されたゴムキャップ119により探子に対し機械
的に支持される。
に固着されたゴムキャップ119により探子に対し機械
的に支持される。
針3のどの軸方向の動きも湾曲端部103を傾斜したニ
ードルローラ100と協働するようにして他のニードル
ローラの1つと針の間の電気的接続を遮断するので、第
5のニードルローラ100と針3の間の接触部を上記の
電気回路と直列に接続する必要はない。
ードルローラ100と協働するようにして他のニードル
ローラの1つと針の間の電気的接続を遮断するので、第
5のニードルローラ100と針3の間の接触部を上記の
電気回路と直列に接続する必要はない。
この実施例にては休止位置に針を位置させるための一対
の7字形溝を形成するようニードルローラを用いること
が便宜であるが、他の位置決め手段を利用できることが
容易に明らかであろう。
の7字形溝を形成するようニードルローラを用いること
が便宜であるが、他の位置決め手段を利用できることが
容易に明らかであろう。
例えば各ニードルローラを短形の金属条片と置き換える
ことができる。
ことができる。
ニードルローラは市販され、高精度の表面仕上と硬さと
、針の動きに対し低摩擦力をなし、探子の感度を良くす
るので好ましい。
、針の動きに対し低摩擦力をなし、探子の感度を良くす
るので好ましい。
この発明は、針の位置を確実に決めるどの様な装置もニ
ードルローラの代りに使用できると共に、針と各ニード
ルローラの間の点接触を線接触にできることを意図して
いる。
ードルローラの代りに使用できると共に、針と各ニード
ルローラの間の点接触を線接触にできることを意図して
いる。
変形例(図示しない)として、第5ニードルローラ10
0を探子の軸心101と直角に配置して探子の測定能力
を二次元に制限することもできる。
0を探子の軸心101と直角に配置して探子の測定能力
を二次元に制限することもできる。
第9図はさらに他の実施例を示すもので、ニードルロー
ラ96,97.98,99,100の配置を第6図のも
のと同様にし、ばね5と組合せることにより休止位置に
針を位置させるだけである。
ラ96,97.98,99,100の配置を第6図のも
のと同様にし、ばね5と組合せることにより休止位置に
針を位置させるだけである。
電気回路15は導線112と針3の下側(図面上針3の
背後)に位置する接点110と針3とヘヤピン5と導線
113とによって形成される。
背後)に位置する接点110と針3とヘヤピン5と導線
113とによって形成される。
針3と接点110とによって形成されるスイッチは、針
3の休止位置からのいかなる変位によっても遮断される
。
3の休止位置からのいかなる変位によっても遮断される
。
従って、どの様な変位も電気回路15を介して検知でき
る。
る。
上述の実施例での物体の測定の際には、物体まわりの種
々な位置にて一連の読取りがなされ、基準対象と測定対
象とを比較するようプログラム組みされたコンピュータ
用の入力データを容易につくり得る情報がもたらされる
。
々な位置にて一連の読取りがなされ、基準対象と測定対
象とを比較するようプログラム組みされたコンピュータ
用の入力データを容易につくり得る情報がもたらされる
。
従って、この発明に依る測定探子は、ガスタービンエン
ジンのパイプや内燃機関のシリンダブロックの様な物体
を測定すべく使用できる。
ジンのパイプや内燃機関のシリンダブロックの様な物体
を測定すべく使用できる。
こ5に説明された探子には電気切換装置を有する検出器
が設けられているが、電気切換装置を流体スイッチや他
のスイッチと取換えたり、検出器をスイッチ以外の他の
装置にできることが明らかであろう。
が設けられているが、電気切換装置を流体スイッチや他
のスイッチと取換えたり、検出器をスイッチ以外の他の
装置にできることが明らかであろう。
例えば針の動きの指示をもたらす2つの指針の間の不整
合を拡大する光学投影装置を各検出器が有するようでき
ている。
合を拡大する光学投影装置を各検出器が有するようでき
ている。
上述のどの実施例においても第1図ないし第3図にて説
明したと同様な具合に油を充填できることがまた明らか
であろう。
明したと同様な具合に油を充填できることがまた明らか
であろう。
以上のように、特許請求の範囲第1項記載の発明によれ
ば、針が物体(対象物)に接触したとき針の変位を許容
し、次いで針が該物体から離れたとき、係合要素、収斂
面、偏倚手段作用により針が正確に元の休止位置(固定
部材に対する位置)に復帰するので、物体の正確な検出
を繰返し行なうことができる。
ば、針が物体(対象物)に接触したとき針の変位を許容
し、次いで針が該物体から離れたとき、係合要素、収斂
面、偏倚手段作用により針が正確に元の休止位置(固定
部材に対する位置)に復帰するので、物体の正確な検出
を繰返し行なうことができる。
また、特許請求の範囲第1項記載の発明によれば、針を
正確に休止位置に戻す働きをする係合要素および収斂面
相互間の接触離開に基いて信号を発するようにしている
ので、測定探子の構造が簡単となる。
正確に休止位置に戻す働きをする係合要素および収斂面
相互間の接触離開に基いて信号を発するようにしている
ので、測定探子の構造が簡単となる。
第1図はこの発明に従って構成された探子の縦断面図、
第2図は第1図の■−■線方向から見た図、第3図は第
2図のI−I線における断面図、第4図はまた他の探子
の断面図、第5図は第4図の探子の■−■線における断
面図、第6図はこの発明に従って構成されたまた別の探
子の断面図、第7図は第6図のvn −vn線における
拡大断面図、第8図は第7図の■−■線における拡大断
面図、第9図は別の実施例での縦断面図である。 1・・・・・・測定探子、2・・・・・・ハウジング、
3・・・・・・針、5・・・・・・ばね、8・・・・・
・7字形溝、9,10・・・・・・球軸受、14・・・
・・・球、15・・・・・・電気回路、16・・・・・
・絶縁体、17・・・・・・表示ランプ、18・・・・
・・電源、91・・・・・・絶縁体、92、93・・・
・・・条片、94・・・・・・7字形溝、96.97.
98,99,100・・・・・・ニードルローラ。
第2図は第1図の■−■線方向から見た図、第3図は第
2図のI−I線における断面図、第4図はまた他の探子
の断面図、第5図は第4図の探子の■−■線における断
面図、第6図はこの発明に従って構成されたまた別の探
子の断面図、第7図は第6図のvn −vn線における
拡大断面図、第8図は第7図の■−■線における拡大断
面図、第9図は別の実施例での縦断面図である。 1・・・・・・測定探子、2・・・・・・ハウジング、
3・・・・・・針、5・・・・・・ばね、8・・・・・
・7字形溝、9,10・・・・・・球軸受、14・・・
・・・球、15・・・・・・電気回路、16・・・・・
・絶縁体、17・・・・・・表示ランプ、18・・・・
・・電源、91・・・・・・絶縁体、92、93・・・
・・・条片、94・・・・・・7字形溝、96.97.
98,99,100・・・・・・ニードルローラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 固定要素と、測定対象を検知する針を有する可動要
素とを具え、上記固定要素と上記可動要素とは互いに相
対的に動き得、上記固定要素は2箇所又は3箇所の互い
に離隔した位置で上記可動要素を支持し、さらに上記針
が測定対象に対して所定の位置関係になったときに信号
を発生する手段を具え、 上記可動要素及び固定要素のどちらか一方は上記離間し
た位置の各々に一対の互いに収斂する収斂面を有し、上
記可動要素及び固定要素のうちの他方の要素は上記離間
した位置の各々に当該一対の収斂面の両方に係合し得る
係合要素を有し、上記一対の収斂面はそれぞれ第1の方
向に収斂しかつ上記係合要素が第2の方向に動くのに抗
すると共に、上記係合要素が第3の方向に動くのを許容
するようになされ、上記第1、第2及び第3の方向は互
いに直交しており、 さらに、上記可動要素を上記第1の方向に押しやって上
記固定要素に接触させることにより、上記係合要素を上
記一対の収斂面の両方に接触させて上記可動要素にとっ
ての休止位置を形成させるようにした偏倚手段を具え、 上記可動要素は上記針に力が加えられたとき上記偏倚手
段に抗して上記休止位置から移動し、その後上記針に対
する力が与えられなくなったとき上記偏倚手段及び収斂
面が協動して上記可動要素を上記休止位置に戻すように
したことを特徴とする測定探子。 2 上記位置の各々における。 上記係合要素と、上記収斂面のうちの少くとも一方とは
、一対の電気接点を構成し、上記信号を発生する手段は
、上記可動要素が移動するこみにより、上記電記接点の
いずれか一方の接触状態が変ったとき導通状態が変る電
気回路手段を具え、上記電気接点は上記信号を発生する
手段の一部を成すことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の測定探子。
Applications Claiming Priority (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB4365972 | 1972-09-21 | ||
| GB4365972 | 1972-09-21 | ||
| GB2826073 | 1973-06-14 | ||
| GB2826073*[A GB1445977A (en) | 1972-09-21 | 1973-06-14 | Probes |
| GB3706773 | 1973-08-03 | ||
| GB3706773 | 1973-08-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS4994370A JPS4994370A (ja) | 1974-09-07 |
| JPS5817402B2 true JPS5817402B2 (ja) | 1983-04-07 |
Family
ID=27258700
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP48106120A Expired JPS5817402B2 (ja) | 1972-09-21 | 1973-09-21 | 測定探子 |
| JP1981119327U Expired JPS601364Y2 (ja) | 1972-09-21 | 1981-08-11 | 測定探子 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981119327U Expired JPS601364Y2 (ja) | 1972-09-21 | 1981-08-11 | 測定探子 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4270275A (ja) |
| JP (2) | JPS5817402B2 (ja) |
| CH (1) | CH584884A5 (ja) |
| DE (3) | DE7730258U1 (ja) |
| GB (1) | GB1445977A (ja) |
| IT (1) | IT1003537B (ja) |
Families Citing this family (97)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2551361A1 (de) * | 1974-11-18 | 1976-06-24 | Dea Digital Electronic | Allseitig wirkender elektronischer tastkopf fuer messmaschinen |
| GB1568053A (en) * | 1975-10-04 | 1980-05-21 | Rolls Royce | Contactsensing probe |
| JPS5737042Y2 (ja) * | 1976-03-11 | 1982-08-16 | ||
| DE2725996C2 (de) * | 1976-06-09 | 1986-07-31 | D.E.A. Digital Electronic Automation S.p.A., Moncalieri, Turin/Torino | Elektronische Fühlereinheit für Meßmaschinen |
| GB1593050A (en) * | 1976-09-30 | 1981-07-15 | Renishaw Electrical Ltd | Contact sensing probe |
| US4136458A (en) * | 1976-10-01 | 1979-01-30 | The Bendix Corporation | Bi-axial probe |
| IT1088539B (it) * | 1976-12-24 | 1985-06-10 | Rolls Royce | Sonda per l'uso in apparecchi di misura |
| GB1593682A (en) * | 1977-01-20 | 1981-07-22 | Rolls Royce | Probe for use in mearusing apparatus |
| GB1597842A (en) | 1977-02-07 | 1981-09-09 | Rolls Royce | Indexing mechanism |
| DE2712181C3 (de) * | 1977-03-19 | 1981-01-22 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Tastsystem |
| IT1083357B (it) * | 1977-06-20 | 1985-05-21 | Dea Spa | Gruppo di attacco per un montaggio ripetibile e di precisione di un utensile su macchina particolarmente una macchina di misura |
| JPS5815844Y2 (ja) * | 1977-06-23 | 1983-03-31 | 株式会社三豊製作所 | プロ−ブ |
| SE406228B (sv) * | 1977-09-20 | 1979-01-29 | Johansson Ab C E | Legesgivare avsedd for kontrollmetning av ytor |
| DE3011002A1 (de) * | 1979-03-30 | 1980-10-16 | Renishaw Electrical Ltd | Werkzeugverbindungsmechanismus fuer werkzeugmaschinen |
| SU1095065A2 (ru) | 1979-11-05 | 1984-05-30 | Вильнюсский Филиал Экспериментального Научно-Исследовательского Института Металлорежущих Станков | Измерительна головка |
| WO1981001876A1 (fr) * | 1979-12-26 | 1981-07-09 | Viln Ex Nii Metallorezhushchik | Tete de mesure indiquant le moment de contact avec la surface d'un objet |
| US4443946A (en) * | 1980-07-01 | 1984-04-24 | Renishaw Electrical Limited | Probe for measuring workpieces |
| JPS6317641Y2 (ja) * | 1980-12-18 | 1988-05-18 | ||
| GB2101325B (en) * | 1981-06-23 | 1984-10-17 | Rank Organisation Ltd | Contact sensitive probes using capacitative sensors |
| JPS5813462U (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-27 | 三洋電機株式会社 | ヒ−トポンプ式空気調和機 |
| US4523450A (en) * | 1981-11-07 | 1985-06-18 | Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz | Method of calibrating probe pins on multicoordinate measurement machines |
| IT1145540B (it) * | 1981-11-20 | 1986-11-05 | Finike Italiana Marposs | Testa per il controllo di dimensioni lineari |
| DE3382579T2 (de) * | 1982-03-05 | 1993-01-21 | Sony Magnescale Inc | Vorrichtung zum bestimmen der lage der oberflaechen eines festen objektes. |
| JPS58156206U (ja) * | 1982-04-12 | 1983-10-19 | 株式会社ミツトヨ | タツチ信号プロ−ブ |
| JPS58156207U (ja) * | 1982-04-12 | 1983-10-19 | 株式会社ミツトヨ | タツチ信号プロ−ブ |
| DE3215878A1 (de) * | 1982-04-29 | 1983-11-03 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Tastkopf fuer koordinatenmessgeraete |
| JPS58196404A (ja) * | 1982-05-11 | 1983-11-15 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | タッチ信号プロ−ブ |
| US4451987A (en) * | 1982-06-14 | 1984-06-05 | The Valeron Corporation | Touch probe |
| US4510693A (en) * | 1982-06-14 | 1985-04-16 | Gte Valeron Corporation | Probe with stylus adjustment |
| DE3231159C2 (de) * | 1982-08-21 | 1985-04-18 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| DE3231160C2 (de) * | 1982-08-21 | 1985-11-07 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| DE3234851C2 (de) * | 1982-09-21 | 1985-11-14 | Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf | Dynamischer Tastkopf |
| JPS5966105U (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-02 | 双葉電子工業株式会社 | タツチセンサ |
| EP0110192B1 (de) * | 1982-11-05 | 1988-01-27 | TRAUB Aktiengesellschaft | Messtaster |
| JPS59104003U (ja) * | 1982-12-29 | 1984-07-13 | 黒田精工株式会社 | タツチセンサ |
| JPS59131002U (ja) * | 1983-02-21 | 1984-09-03 | 株式会社ミツトヨ | タツチ信号プロ−ブ |
| JPS59166106U (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | 双葉電子工業株式会社 | タツチセンサ |
| JPS5953144A (ja) * | 1983-08-04 | 1984-03-27 | Toyoda Mach Works Ltd | 接触検知による高速位置決め方法 |
| GB2145523A (en) * | 1983-08-26 | 1985-03-27 | Gte Valeron Corp | Coatings for contacts of a touch probe |
| US4523063A (en) * | 1983-12-05 | 1985-06-11 | Gte Valeron Corporation | Touch probe having nonconductive contact carriers |
| GB8411437D0 (en) * | 1984-05-04 | 1984-06-13 | Renishaw Plc | Co-ordinate positioning apparatus |
| DE3545330A1 (de) * | 1985-12-20 | 1987-06-25 | Mauser Werke Oberndorf | Schutzeinrichtung an einer pinole |
| DE3604526A1 (de) * | 1986-02-13 | 1987-08-20 | Kurt Kern Gmbh & Co Kg | Vorrichtung fuer das raeumliche abtasten von gegenstaenden |
| DE3763885D1 (de) * | 1986-04-17 | 1990-08-30 | Renishaw Plc | Probe fuer kontakt-sensor. |
| GB8610088D0 (en) * | 1986-04-24 | 1986-05-29 | Renishaw Plc | Probe |
| JPH0765883B2 (ja) * | 1986-06-05 | 1995-07-19 | 宣夫 福久 | 無線送受信器を有する位置検出装置 |
| DE3623614A1 (de) * | 1986-07-12 | 1988-01-14 | Zeiss Carl Fa | Koordinatenmessgeraet mit einem tastkopf vom schaltenden typ |
| US4916339A (en) * | 1986-09-03 | 1990-04-10 | Renishaw Plc | Signal processing for contact-sensing probe |
| DE3634689A1 (de) * | 1986-10-11 | 1988-04-14 | Zeiss Carl Fa | Anordnung fuer den gleichzeitigen anschluss mehrerer tastkoepfe vom schaltenden typ an den messarm eines koordinatenmessgeraetes |
| DE3640160A1 (de) * | 1986-11-25 | 1988-06-01 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-tastkopf |
| JPS6393505U (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-16 | ||
| IT1206842B (it) * | 1987-01-15 | 1989-05-11 | Fidia Spa | Dispositivo tastatore particolarmente per macchina a copiare |
| CH672370A5 (ja) * | 1987-09-15 | 1989-11-15 | Tesa Sa | |
| US5247751A (en) * | 1990-09-29 | 1993-09-28 | Nikon Corporation | Touch probe |
| DE4039336C5 (de) * | 1990-12-10 | 2004-07-01 | Carl Zeiss | Verfahren zur schnellen Werkstück-Temperaturmessung auf Koordinatenmeßgeräten |
| JPH05133721A (ja) * | 1991-10-18 | 1993-05-28 | Carl Zeiss:Fa | 光学式プローブヘツド |
| DE4209829A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-09-30 | Max Hobe | Präzisions-Kupplung zum Einsatz in einem Tastkopf einer Meßeinrichtung |
| DE4216215A1 (de) * | 1992-05-06 | 1994-01-20 | Max Hobe | Tastfühler |
| DE4238724C1 (de) * | 1992-11-17 | 1993-12-23 | Leitz Mestechnik Gmbh | Zentriereinrichtung für einen mechanischen Taster |
| GB9305687D0 (en) * | 1993-03-19 | 1993-05-05 | Renishaw Metrology Ltd | A signal processing for trigger probe |
| DE4325743C1 (de) * | 1993-07-31 | 1994-09-08 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| DE4325744C1 (de) * | 1993-07-31 | 1994-12-15 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| DE4341192C1 (de) * | 1993-12-03 | 1995-05-24 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| JPH08509299A (ja) * | 1994-02-18 | 1996-10-01 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 測定プローブ |
| GB9415338D0 (en) * | 1994-07-29 | 1994-09-21 | Renishaw Plc | Trigger probe circuit |
| DE59509004D1 (de) | 1995-03-10 | 2001-03-08 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf mit gleichen Auslenkungen |
| DE19517215C1 (de) * | 1995-05-11 | 1997-02-06 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Mehrkoordinaten-Tastkopf |
| GB2302588B (en) * | 1995-06-21 | 1998-05-20 | Zeiss Stiftung | Probe changing system |
| US5657549A (en) * | 1995-10-04 | 1997-08-19 | Shen; Yin-Lin | Method of improving accuracy of touch trigger probe |
| DE19709460C2 (de) * | 1997-03-07 | 1999-04-01 | Krone Ag | Freiluftgehäuse |
| US6052628A (en) * | 1997-08-08 | 2000-04-18 | Hong; Jaiwei | Method and system for continuous motion digital probe routing |
| EP1316778B1 (fr) * | 2001-11-30 | 2007-07-25 | Tesa Sa | Palpeur à déclenchement et procédé d'assemblage d'un palpeur à déclenchement |
| WO2006079064A1 (en) | 2005-01-24 | 2006-07-27 | Antares Pharma, Inc. | Prefilled needle assisted jet injector |
| WO2007131025A1 (en) | 2006-05-03 | 2007-11-15 | Antares Pharma, Inc. | Injector with adjustable dosing |
| GB0611109D0 (en) | 2006-06-06 | 2006-07-19 | Renishaw Plc | A method for measuring workpieces |
| DE102006035540B3 (de) * | 2006-07-27 | 2008-01-10 | Carl Zeiss 3D Automation Gmbh | Spritzgussfixierung für Taststifte |
| EP2028439A1 (en) * | 2007-07-26 | 2009-02-25 | Renishaw plc | Deactivatable measurement apparatus |
| IT1402715B1 (it) * | 2010-10-29 | 2013-09-18 | Marposs Spa | Sonda di tastaggio |
| EP2479530A1 (en) | 2011-01-19 | 2012-07-25 | Renishaw PLC | Analogue measurement probe for a machine tool apparatus and method of operation |
| CN103562672B (zh) * | 2011-01-19 | 2016-09-28 | 瑞尼斯豪公司 | 用于机床设备的模拟测量探头 |
| EP2479531A1 (en) | 2011-01-19 | 2012-07-25 | Renishaw plc | Analogue measurement probe for a machine tool apparatus |
| EP2505959A1 (en) | 2011-03-28 | 2012-10-03 | Renishaw plc | Coordinate positioning machine controller |
| US9220660B2 (en) | 2011-07-15 | 2015-12-29 | Antares Pharma, Inc. | Liquid-transfer adapter beveled spike |
| DE102012003223A1 (de) * | 2012-02-20 | 2013-08-22 | Carl Zeiss 3D Automation Gmbh | Kugel-Schaft-Verbindung |
| EP2629048B1 (fr) | 2012-02-20 | 2018-10-24 | Tesa Sa | Palpeur |
| PT2822618T (pt) | 2012-03-06 | 2024-03-04 | Antares Pharma Inc | Seringa pré-cheia com característica de força de rutura |
| US9364610B2 (en) | 2012-05-07 | 2016-06-14 | Antares Pharma, Inc. | Injection device with cammed ram assembly |
| ITBO20130426A1 (it) * | 2013-08-01 | 2015-02-02 | Marposs Spa | Sonda di tastaggio e relativi circuiti e metodi di elaborazione dei segnali |
| WO2017121993A1 (en) | 2016-01-15 | 2017-07-20 | Renishaw Plc | Model building from inspection data |
| US9835433B1 (en) | 2017-05-09 | 2017-12-05 | Tesa Sa | Touch trigger probe |
| LU102873B1 (en) * | 2021-11-15 | 2023-05-15 | BigRep GmbH | Range Sensor |
| US11709045B1 (en) * | 2022-02-19 | 2023-07-25 | National Institute Of Metrology, China | Surface texture probe and measurement apparatus with a vibrational membrane |
| CN115307528B (zh) * | 2022-04-29 | 2025-07-08 | 泰尔(安徽)工业科技服务有限公司 | 激光熔覆点位的检测探头装置及应用其进行标定的方法 |
| CN117849033A (zh) * | 2022-09-29 | 2024-04-09 | 泰科电子(上海)有限公司 | 探测装置和焊接质量检查系统 |
| US12287194B2 (en) | 2022-11-29 | 2025-04-29 | Mitutoyo Corporation | Motion mechanism for measuring probe |
| EP4386311A1 (en) | 2022-12-15 | 2024-06-19 | Hexagon Technology Center GmbH | Touch trigger probe with capacitive sensor |
| US12488448B2 (en) | 2023-07-20 | 2025-12-02 | Mitutoyo Corporation | Machine vision system with objective lens and collision protection |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3016619A (en) * | 1957-12-19 | 1962-01-16 | Kurt H Mueller | Depth and groove locating gage |
| US3028675A (en) | 1958-04-03 | 1962-04-10 | Sheffield Corp | Gaging device |
| US3216118A (en) * | 1963-06-14 | 1965-11-09 | Pistoles Lambert Robert | Dial indicator |
| US3212325A (en) * | 1963-07-30 | 1965-10-19 | Katz Lester | Force measuring instrument |
| US3277248A (en) * | 1965-07-19 | 1966-10-04 | Western Electric Co | Switch control unit with improved pivot arm actuator structure |
| FR1543450A (fr) * | 1967-09-14 | 1968-10-25 | Gambin S A | Dispositif palpeur pour machine-outil à copier |
| US3571934A (en) | 1968-06-24 | 1971-03-23 | Lockheed Aircraft Corp | Three-axis inspection probe |
| US3520063A (en) * | 1968-08-30 | 1970-07-14 | Rohr Corp | Multiaxis inspection probe |
| US3557462A (en) * | 1968-10-30 | 1971-01-26 | Inspection Engineering And Equ | Gaging device and system |
| GB1271841A (en) | 1969-01-01 | 1972-04-26 | British Aircraft Corp Ltd | Improvements relating to dimensional sensing devices |
| CH521601A (fr) | 1970-02-16 | 1972-04-15 | Genevoise Instr Physique | Palpeur bidirectionnel de mesure de déplacements |
| US3673695A (en) * | 1970-05-22 | 1972-07-04 | Rohr Corp | Non-tilting probe |
| US3670420A (en) * | 1971-01-04 | 1972-06-20 | Inspection Eng And Equipment I | Gaging head construction |
| US3766653A (en) | 1971-10-04 | 1973-10-23 | Lockheed Missiles Space | Three axis inspection probe |
| DE2242355C2 (de) * | 1972-08-29 | 1974-10-17 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Elektronischer Mehrkoordinatentaster |
| US3855708A (en) * | 1972-10-16 | 1974-12-24 | Candid Logic Inc | Self-actuated digital location sensor |
| DE2346031C2 (de) | 1973-09-12 | 1975-08-07 | Kugelfischer Georg Schaefer & Co, 8720 Schweinfurt | Meßkopf für Koordinatenmeßmaschinen |
| DE2356030C3 (de) * | 1973-11-09 | 1978-05-11 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Taster zur Werkstückantastung |
| US4130941A (en) * | 1975-03-20 | 1978-12-26 | Rolls-Royce Limited | Displacement gauge |
| US4136458A (en) * | 1976-10-01 | 1979-01-30 | The Bendix Corporation | Bi-axial probe |
-
1973
- 1973-06-14 GB GB2826073*[A patent/GB1445977A/en not_active Expired
- 1973-09-20 IT IT52649/73A patent/IT1003537B/it active
- 1973-09-21 DE DE7730258U patent/DE7730258U1/de not_active Expired
- 1973-09-21 JP JP48106120A patent/JPS5817402B2/ja not_active Expired
- 1973-09-21 DE DE732347633A patent/DE2347633C3/de not_active Expired
- 1973-09-21 DE DE2365984A patent/DE2365984C3/de not_active Expired
- 1973-09-21 CH CH1357673A patent/CH584884A5/xx not_active IP Right Cessation
-
1979
- 1979-04-18 US US06/031,149 patent/US4270275A/en not_active Expired - Lifetime
-
1981
- 1981-08-11 JP JP1981119327U patent/JPS601364Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1003537B (it) | 1976-06-10 |
| JPS4994370A (ja) | 1974-09-07 |
| US4270275A (en) | 1981-06-02 |
| GB1445977A (en) | 1976-08-11 |
| DE2365984B2 (de) | 1978-02-23 |
| JPS5752604U (ja) | 1982-03-26 |
| DE2347633C3 (de) | 1979-03-01 |
| DE2347633A1 (de) | 1974-04-04 |
| DE2347633B2 (de) | 1977-09-08 |
| DE2365984C3 (de) | 1978-10-26 |
| JPS601364Y2 (ja) | 1985-01-16 |
| DE2365984A1 (de) | 1977-04-14 |
| DE7730258U1 (de) | 1978-02-16 |
| CH584884A5 (ja) | 1977-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4153998A (en) | Probes | |
| US4270275A (en) | Probes | |
| US4375723A (en) | Contact-sensing probe | |
| JPS5920642Y2 (ja) | タツチ信号プロ−ブ | |
| US4798004A (en) | Displacement detecting apparatus | |
| JPS6137561B2 (ja) | ||
| CN101490500B (zh) | 接触检测器 | |
| JPH0436461Y2 (ja) | ||
| US4529977A (en) | Electrical position sensor for a movable element | |
| JPS5815844Y2 (ja) | プロ−ブ | |
| JP3091009B2 (ja) | 位置検出プローブ | |
| JP3618031B2 (ja) | 着座機構 | |
| JPH0526904A (ja) | スプリングコンタクト及びその接触方法 | |
| KR200181641Y1 (ko) | 압력계용 태엽형 부르돈관을 이용한 압력 스위치 | |
| JPH0665804U (ja) | 接触検知プローブ | |
| SU1497445A1 (ru) | Устройство дл контрол отклонений от перпендикул рности внутреннего торца резьбового отверсти относительно его оси | |
| JPH0782062B2 (ja) | 電気接点検査装置及びその検査方法 | |
| CN223037170U (zh) | 一种具有防尘结构的接触传感器 | |
| SU1747859A1 (ru) | Нулева измерительна головка | |
| RU1768949C (ru) | Емкостный датчик угла | |
| JPS6344162B2 (ja) | ||
| JPH0428068Y2 (ja) | ||
| JPH02109661A (ja) | 接触検出装置 | |
| JP3787582B2 (ja) | タッチセンサ | |
| CN118960808A (zh) | 一种接触传感器 |