JPS58190708A - Ｘ−ｙ２次元画像中の基準位置決定方式 - Google Patents
Ｘ−ｙ２次元画像中の基準位置決定方式Info
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- JPS58190708A JPS58190708A JP57071498A JP7149882A JPS58190708A JP S58190708 A JPS58190708 A JP S58190708A JP 57071498 A JP57071498 A JP 57071498A JP 7149882 A JP7149882 A JP 7149882A JP S58190708 A JPS58190708 A JP S58190708A
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- reference position
- coordinates
- scanning
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- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/50—Extraction of image or video features by performing operations within image blocks; by using histograms, e.g. histogram of oriented gradients [HoG]; by summing image-intensity values; Projection analysis
- G06V10/507—Summing image-intensity values; Histogram projection analysis
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- Theoretical Computer Science (AREA)
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、パターン検査などのために工業用テレビカメ
ラ（以下ＩＴＶカメラと記す）によ）撮像し之直交Ｘ−
Ｙ２次元ｉｊ儂中の成る基準となる位置の座標を定義す
るＸ−７２次元１ｉｌｉｉ４ａ中の基準位置決定方式に
関するものである。
ラ（以下ＩＴＶカメラと記す）によ）撮像し之直交Ｘ−
Ｙ２次元ｉｊ儂中の成る基準となる位置の座標を定義す
るＸ−７２次元１ｉｌｉｉ４ａ中の基準位置決定方式に
関するものである。
第１１は撮像画面の説明図である。同一において、１＃
′１ｉＴＶカメラによる撮１＃画面、２は物体像である
。画面１は互いに直交するＸ座標、ｙｉ＊により表わさ
れる。カメラによる走査は、Ｘ方向に水平走ｆが、Ｙ方
向に垂直走査がなされる。
′１ｉＴＶカメラによる撮１＃画面、２は物体像である
。画面１は互いに直交するＸ座標、ｙｉ＊により表わさ
れる。カメラによる走査は、Ｘ方向に水平走ｆが、Ｙ方
向に垂直走査がなされる。
Ｙ座標がＹｌである直線りに沿って画面を走査 。
したときに得られる撮像信号の波形は第２図０）に示す
如くであり、またその２［Ｅ比出力は第２−←）に示す
如くである。
如くであり、またその２［Ｅ比出力は第２−←）に示す
如くである。
さて、ｗ＆１図において、画面１内における物体像２の
ジは、例えば該像２の左上の角の点８によって代表して
表わすことができる。すなわちＳ点のＸ座標、Ｘ座標が
求まれば、物体像２の形状自体は一定で既知であるとす
ると、［２内のどの位置も求めることができる・ 所で１ｊｉｉｆａ技術の応用として検ｌｌ：がある。例
ｔげ第１囮の２で示すような四角な同一形状の物体がコ
ンベヤベルトにょシ順次搬送されているものとする。こ
のとき、最初ＩＴＶカメラにより、成る良品の物体を撮
像して撮像結果をメモリに記憶しておき、次に搬送され
てきた物体を撮像したとき、その撮像結果とメモリに記
憶されている撮像結果とを比較することによｐ１搬送さ
れてきた物体が傷のない良品であるか否かを検査するこ
とができる。
ジは、例えば該像２の左上の角の点８によって代表して
表わすことができる。すなわちＳ点のＸ座標、Ｘ座標が
求まれば、物体像２の形状自体は一定で既知であるとす
ると、［２内のどの位置も求めることができる・ 所で１ｊｉｉｆａ技術の応用として検ｌｌ：がある。例
ｔげ第１囮の２で示すような四角な同一形状の物体がコ
ンベヤベルトにょシ順次搬送されているものとする。こ
のとき、最初ＩＴＶカメラにより、成る良品の物体を撮
像して撮像結果をメモリに記憶しておき、次に搬送され
てきた物体を撮像したとき、その撮像結果とメモリに記
憶されている撮像結果とを比較することによｐ１搬送さ
れてきた物体が傷のない良品であるか否かを検査するこ
とができる。
このような検査のための比較の際、＊？７１に良品を撮
像したときの一面内儂位置と、次に搬送されてきた物体
を撮像したときの画面円像位置とかずれていると、単純
な比較では良品を不良品と誤判定することが起こりうる
。このようなとき、第１因における物体像２０基準点と
してのＳ点の座標が搬送されてきた物体の像において容
易に求まれば、この座標？用いて像位置を修正すること
ができるから、同一の画面内像位ｔＶＣあるものとして
前述の比較を行ない、１判定を避けることができる口 このような次第で必要となる１ｉｉｉ面内の［Ｋおける
成る基準位置の決定は、従来は、例えば第１図において
、ｉＴＶカメラにょ勺水平走査、垂直走査を行なって最
初に画像信号が走ｆｍ上に出現する点をとらえ、この点
のＸ座標Ｘ、とＹ座標Ｙ８を基準位置となるＳ点の座標
として定義する方式によるものであった。
像したときの一面内儂位置と、次に搬送されてきた物体
を撮像したときの画面円像位置とかずれていると、単純
な比較では良品を不良品と誤判定することが起こりうる
。このようなとき、第１因における物体像２０基準点と
してのＳ点の座標が搬送されてきた物体の像において容
易に求まれば、この座標？用いて像位置を修正すること
ができるから、同一の画面内像位ｔＶＣあるものとして
前述の比較を行ない、１判定を避けることができる口 このような次第で必要となる１ｉｉｉ面内の［Ｋおける
成る基準位置の決定は、従来は、例えば第１図において
、ｉＴＶカメラにょ勺水平走査、垂直走査を行なって最
初に画像信号が走ｆｍ上に出現する点をとらえ、この点
のＸ座標Ｘ、とＹ座標Ｙ８を基準位置となるＳ点の座標
として定義する方式によるものであった。
しかし、かかる従来の方式には次のような欠点があった
。先ず、物体像の始点ＳのＸ座標を撮像信号の立上り位
置の検出により決定しているので、撮像信号にノイズが
含まれていると、そのノイズの出現した位置を始点Ｓの
Ｘ座標と＃４刊定してしまい、ノイズに弱いという欠点
がある。このことを第３−を参照して説明する。
。先ず、物体像の始点ＳのＸ座標を撮像信号の立上り位
置の検出により決定しているので、撮像信号にノイズが
含まれていると、そのノイズの出現した位置を始点Ｓの
Ｘ座標と＃４刊定してしまい、ノイズに弱いという欠点
がある。このことを第３−を参照して説明する。
第３図はノイズを含む撮ｆａ画面の一例を示す説ｔｊ８
図である。同図において、３はノイズを、４は物体像を
示す。同図で明らかなように、撮像Ｉｉｉ面内に物体＠
４０外にノイズ３が図示Ｏ如き位置にあると、ノイズ３
ｔ−走査し九ときに得られるＹ座標Ｙ１とＸ座標ａ１
（ａｌはノイズ３の先端のＸ座標を示す）を物体像の始
点の座標と誤決足してしまう。
図である。同図において、３はノイズを、４は物体像を
示す。同図で明らかなように、撮像Ｉｉｉ面内に物体＠
４０外にノイズ３が図示Ｏ如き位置にあると、ノイズ３
ｔ−走査し九ときに得られるＹ座標Ｙ１とＸ座標ａ１
（ａｌはノイズ３の先端のＸ座標を示す）を物体像の始
点の座標と誤決足してしまう。
従来方式の第２の欠点は、物体像の始点のＸ座標を、Ｔ
座標を見出した位置で決定しているので、物体像Ｏ形状
によってはＸ座標の誤差が大きくなることである。この
ことをＪＲ５図を参照して説明する◎ 第５ａｌｌに見られるように、物体像５が、Ｘ方向に入
ｐ組んだ針山状の形状を上端部に有している場合、Ｘ方
向走査線のＸ座標位置がＹｌからＹｌへと、僅か一本ず
れただけで４．Ｘ座標位置はｘｌからｘｌへと大幅に変
動している。この丸め、このような形状の物体像におい
ては、−ｔの始点のＸ座標の誤差が大きくなる可能性が
ある。なお、かかる形状に近い物体としては、多数のビ
ンを突出させているコネクタとかＩＣ（集積回路）部品
とか、或いは羽毛のような物品とか、色々のものを挙げ
ることができる。
座標を見出した位置で決定しているので、物体像Ｏ形状
によってはＸ座標の誤差が大きくなることである。この
ことをＪＲ５図を参照して説明する◎ 第５ａｌｌに見られるように、物体像５が、Ｘ方向に入
ｐ組んだ針山状の形状を上端部に有している場合、Ｘ方
向走査線のＸ座標位置がＹｌからＹｌへと、僅か一本ず
れただけで４．Ｘ座標位置はｘｌからｘｌへと大幅に変
動している。この丸め、このような形状の物体像におい
ては、−ｔの始点のＸ座標の誤差が大きくなる可能性が
ある。なお、かかる形状に近い物体としては、多数のビ
ンを突出させているコネクタとかＩＣ（集積回路）部品
とか、或いは羽毛のような物品とか、色々のものを挙げ
ることができる。
Ｘ座標の誤差が大きくなるという欠点は、第５図に示し
た形状ばかシでなく、Ｎ６図に示した如き、円形の物体
像６についてもあてｔｉｔまる・累６図において、Ｘ座
標の僅かな変化量ノＹに対してＸ座標の変化量ｊＸが大
きい仁とに注意されたい。
た形状ばかシでなく、Ｎ６図に示した如き、円形の物体
像６についてもあてｔｉｔまる・累６図において、Ｘ座
標の僅かな変化量ノＹに対してＸ座標の変化量ｊＸが大
きい仁とに注意されたい。
一般に、カメラ視野（撮像画面）内の照駅を全体に均一
化することは困難である０このような事情によシ、物体
像領域内の場所によっては、儂の信号レベルと背景の信
号レベル或いはノイズの信号レベルとが同程度の所があ
り、このような場所でＦｉ儂と背景とＯ境をなす縁部の
検出が困難である。他方、逆Ｋｍの信号レベルと背景の
信号レベルが大きく相違し、縁部の検出が容易な部分も
どこかにある場合が多い。しかるに従来の方式でｔｉｔ
、物体像の始点のＸ座標を、必ずＹ座標検出位置で決定
しておシ、場所的に固足したや９方であったから、その
場所が上述の如き、縁の検出し難い場所にあったときＦ
ｉ誤差が大きくなるという欠点があった。
化することは困難である０このような事情によシ、物体
像領域内の場所によっては、儂の信号レベルと背景の信
号レベル或いはノイズの信号レベルとが同程度の所があ
り、このような場所でＦｉ儂と背景とＯ境をなす縁部の
検出が困難である。他方、逆Ｋｍの信号レベルと背景の
信号レベルが大きく相違し、縁部の検出が容易な部分も
どこかにある場合が多い。しかるに従来の方式でｔｉｔ
、物体像の始点のＸ座標を、必ずＹ座標検出位置で決定
しておシ、場所的に固足したや９方であったから、その
場所が上述の如き、縁の検出し難い場所にあったときＦ
ｉ誤差が大きくなるという欠点があった。
かかる欠点を改善するための撮ａｍ面１こおける儂の基
準位置決定装置が、特願昭５６年第１９５６７１号にお
いて提案されている。
準位置決定装置が、特願昭５６年第１９５６７１号にお
いて提案されている。
それによれば、物体偉の基準位置を表わす点の座標Ｘと
Ｙを、画像上の同一点に対応するＸ座標、Ｙ座標とする
のでなく、両者を分離し、それぞれ形状によって誤差の
少ない位置を選んでｘｉｓとＹ座標を別ａＫ定めるよう
にし、しかもＹ座標の決定は、Ｘ方向ｌ走査期間におい
て所足期間長を超えて、所定の＃！１のしきい値レベル
を超える像信号レベルが検出されたとき、６該走査のＹ
ｌ！標をもって行ない、Ｘ座標の決定は、誤差の少ない
場所、縁の検出が容易な場所を選んで、Ｘ方向走査時に
おける撮像信号が第２のしきい値レベルを超える立上９
位置のＸ座標をもって行なうようにしている。
Ｙを、画像上の同一点に対応するＸ座標、Ｙ座標とする
のでなく、両者を分離し、それぞれ形状によって誤差の
少ない位置を選んでｘｉｓとＹ座標を別ａＫ定めるよう
にし、しかもＹ座標の決定は、Ｘ方向ｌ走査期間におい
て所足期間長を超えて、所定の＃！１のしきい値レベル
を超える像信号レベルが検出されたとき、６該走査のＹ
ｌ！標をもって行ない、Ｘ座標の決定は、誤差の少ない
場所、縁の検出が容易な場所を選んで、Ｘ方向走査時に
おける撮像信号が第２のしきい値レベルを超える立上９
位置のＸ座標をもって行なうようにしている。
上記提案にかかる像の基準位置決定装置の原理をもう少
し具体的に説明する。
し具体的に説明する。
第４図ｆｍ、第３鵬におけるＹ座標がＹｌである水″ｖ
２インＬｌ に沿って走査したとき得られる撮像信号の
２Ｈ化出力の波形図であり、纂４図仲）は同じく、ｙｍ
＊がＹｌである水平フィン（８点、ｂ５点を含む）に沿
って走査し九ときに得られる撮ｇＩ！信号の２値化出力
の波形囚である。ｔた第３図において、Ｙ座標を求むべ
き始点８は、該８点を含む水平走査ラインに沿って走査
することによシ得られる撮壕信号のレベルが、少なくも
距離Ｎにわ念ってＰｆｒ定しきい値を超える点と足めて
おく。
２インＬｌ に沿って走査したとき得られる撮像信号の
２Ｈ化出力の波形図であり、纂４図仲）は同じく、ｙｍ
＊がＹｌである水平フィン（８点、ｂ５点を含む）に沿
って走査し九ときに得られる撮ｇＩ！信号の２値化出力
の波形囚である。ｔた第３図において、Ｙ座標を求むべ
き始点８は、該８点を含む水平走査ラインに沿って走査
することによシ得られる撮壕信号のレベルが、少なくも
距離Ｎにわ念ってＰｆｒ定しきい値を超える点と足めて
おく。
このようにすれば、第４図（イ）から分かるように１第
３内におけるノイズ３や像の突出部ａ２− ｂ２を始点
と誤決足することはなくなる。以上が、上記提案に＆け
るＹ座標の決定の手法である。
３内におけるノイズ３や像の突出部ａ２− ｂ２を始点
と誤決足することはなくなる。以上が、上記提案に＆け
るＹ座標の決定の手法である。
次に第７図を参照され逢い。今、物体ｇ１７が内示の如
き形状であるとすると、光漏領域８１においては、Ｙ座
標は上述の手法を用いることによシ、例えばＹ、と決定
できるが、Ｘ座標は誤差が大きくな９求め崩いことは、
すでに第５ｍＡを参照して詳述した。そこで物体儂７の
形状を見ると、Ｓ１領域からＹ座標にしてＹＬだけ離れ
′ｆｉｃ＆２領域においては、Ｙ座標の変化に対してＸ
座標は一定であシ、誤差なしにＸＩ！Ｍ標を求め得るこ
とが有る。そこで８２領域に＄Ｐいて、水平走査を行な
うことによ）得られる撮像信号の立ち上夛が所定のしき
い値レベルを超えた点の座標Ｘｔを求めてＸ座標とすれ
ば誤差の少ない値を得ることができる。しかも、Ｙ座標
を決定するときに用いるしきい値レベルと、Ｘ座標を決
定するときに用いるしきい値レベルとを、それぞれの領
域の信号レベルの実態に応じて別個に定められるように
すれば、より適切な座標位置の決定が′Ｃきるというも
のである０本発明は、上述の如き既提案にかかる基準位
置決定装置の１１ｗ度を更に高めるためになされたもの
であｐ１従って本発明の目的は、従来よシ一段と精度の
高いＸ−Ｙ２次元画像中の基準位置決定方式を提供する
ことにある。
き形状であるとすると、光漏領域８１においては、Ｙ座
標は上述の手法を用いることによシ、例えばＹ、と決定
できるが、Ｘ座標は誤差が大きくな９求め崩いことは、
すでに第５ｍＡを参照して詳述した。そこで物体儂７の
形状を見ると、Ｓ１領域からＹ座標にしてＹＬだけ離れ
′ｆｉｃ＆２領域においては、Ｙ座標の変化に対してＸ
座標は一定であシ、誤差なしにＸＩ！Ｍ標を求め得るこ
とが有る。そこで８２領域に＄Ｐいて、水平走査を行な
うことによ）得られる撮像信号の立ち上夛が所定のしき
い値レベルを超えた点の座標Ｘｔを求めてＸ座標とすれ
ば誤差の少ない値を得ることができる。しかも、Ｙ座標
を決定するときに用いるしきい値レベルと、Ｘ座標を決
定するときに用いるしきい値レベルとを、それぞれの領
域の信号レベルの実態に応じて別個に定められるように
すれば、より適切な座標位置の決定が′Ｃきるというも
のである０本発明は、上述の如き既提案にかかる基準位
置決定装置の１１ｗ度を更に高めるためになされたもの
であｐ１従って本発明の目的は、従来よシ一段と精度の
高いＸ−Ｙ２次元画像中の基準位置決定方式を提供する
ことにある。
本発明の構成の要点は、画面に訃ける画１＃！の形状か
ら見て基準位置のＹ座標を決定するに適し九場所とＸ座
標金決足するに適した場所を選んでそれぞれウィンド領
域を設定し、該領域内を走査して得られる走査出力の２
＠［化信号を用いて座標を定義するようにした点にある
。
ら見て基準位置のＹ座標を決定するに適し九場所とＸ座
標金決足するに適した場所を選んでそれぞれウィンド領
域を設定し、該領域内を走査して得られる走査出力の２
＠［化信号を用いて座標を定義するようにした点にある
。
耐８図を参照して本発明の原理を詳しく説明する。
第８囚は本発明の動作原理を説明するための第７図と同
様な貌明図である。Ｙ座標を決定するのに適した場所に
ウィンド領域Ｗ２ （ａ 、 ｂ ｒ ｃｒ ｒｄ）を
、Ｘ座標を決定するのに適した場所にウィンド領域Ｗ１
（・、ｆ、ｇ、ｈ）を内示の如く設定する。
様な貌明図である。Ｙ座標を決定するのに適した場所に
ウィンド領域Ｗ２ （ａ 、 ｂ ｒ ｃｒ ｒｄ）を
、Ｘ座標を決定するのに適した場所にウィンド領域Ｗ１
（・、ｆ、ｇ、ｈ）を内示の如く設定する。
ウィンド領域Ｗ２において、像７を各Ｙ座標位置毎にＸ
軸方向に走査して得られる水平走査出力のセグメント長
（例えばＹＳＹというＹ座標位置に２いてはＮ）ｔｕｔ
測し、ＮＯ値が、それまでのＹ座標位置ではどの位置で
も所定のしきい値を超兄なかつ次のに、始めて所定のし
きい値を超えるに至ったＹ座標位置から、例えば連続し
て四つの座標位置において前記しきい値を超えたとする
と、その四つ目の座標位置（ここを仮にＹＳＹならＹＳ
Ｙとする）を１３１に位置のＹＪｉ像と足義する（唯今
の場合は、Ｙ座標位置の進み方は、ウィンド領域Ｗ２に
おいて、下から上へ進むものと仮冗している）。
軸方向に走査して得られる水平走査出力のセグメント長
（例えばＹＳＹというＹ座標位置に２いてはＮ）ｔｕｔ
測し、ＮＯ値が、それまでのＹ座標位置ではどの位置で
も所定のしきい値を超兄なかつ次のに、始めて所定のし
きい値を超えるに至ったＹ座標位置から、例えば連続し
て四つの座標位置において前記しきい値を超えたとする
と、その四つ目の座標位置（ここを仮にＹＳＹならＹＳ
Ｙとする）を１３１に位置のＹＪｉ像と足義する（唯今
の場合は、Ｙ座標位置の進み方は、ウィンド領域Ｗ２に
おいて、下から上へ進むものと仮冗している）。
四つとし九のは、これに限るわけではなく、唯複数にす
る方が、ノイズに強いからである。しきい僅の足め方は
、儂の形状などによ多任意、適宜でよい。
る方が、ノイズに強いからである。しきい僅の足め方は
、儂の形状などによ多任意、適宜でよい。
このようにして基準位置のＹ座標位置ＹＳＹが足義され
たとする。すると次は、Ｙ座標位置ＹＳＹからＹ軸に沿
って、予め設定されている所足距＠Ｎ８（Ｎ８の選び方
は、像の形状等により任意に足める）だけ離れたＹ座標
位置ＹＤＸ において、Ｘ軸方向に走査して得られる水
平走査出力のウィンド領域Ｗｌ内における出力を調べ、
それが立上る点（ｇＩのＮｋ）のＸ座ｍｔ求める。例え
ば、Ｙ座標位＠ＹＤＸを中心としてその上下方向、つま
シ±方向各８本の走査線上におけるウィンド領域Ｗｌ
内の上記立上シ点の％Ｘｊｉｉｌｔ求め、そｏ平Ｍ［（
ｍｘナラｘｓｘとする）を基準位置のＸ座標と定義する
。平均をとったのは１こうすることに１ｃｍ度が向上す
るからである。画１１１！がなければ、その分、平均を
とる走食線の数を減らす。このようにして基準位置のＸ
座標とＹ座標が定義される。
たとする。すると次は、Ｙ座標位置ＹＳＹからＹ軸に沿
って、予め設定されている所足距＠Ｎ８（Ｎ８の選び方
は、像の形状等により任意に足める）だけ離れたＹ座標
位置ＹＤＸ において、Ｘ軸方向に走査して得られる水
平走査出力のウィンド領域Ｗｌ内における出力を調べ、
それが立上る点（ｇＩのＮｋ）のＸ座ｍｔ求める。例え
ば、Ｙ座標位＠ＹＤＸを中心としてその上下方向、つま
シ±方向各８本の走査線上におけるウィンド領域Ｗｌ
内の上記立上シ点の％Ｘｊｉｉｌｔ求め、そｏ平Ｍ［（
ｍｘナラｘｓｘとする）を基準位置のＸ座標と定義する
。平均をとったのは１こうすることに１ｃｍ度が向上す
るからである。画１１１！がなければ、その分、平均を
とる走食線の数を減らす。このようにして基準位置のＸ
座標とＹ座標が定義される。
ウィンド領域Ｗ１．Ｗ２のとり方により、画像における
適当な任意の場所を選んで、高ｎ度に１準位置の座標を
定義することができる。
適当な任意の場所を選んで、高ｎ度に１準位置の座標を
定義することができる。
以上で本発明の動作原理が明らかになったと思われる。
ＷＪ９幽は本発明の一実施例を示すブロック図である。
同図において、１３Ｆｉ２ｍ［化のためのコンパレータ
、１４は４ＩｍｉＩＬフィルタ、１５はカウンタ、１６
はラッチ回路、１７はメモリ、１８は変化点検出部、１
９はラッチ回路、２０はメモリ、２１はＣＰＵ、２２Ｆ
ｉウィンド領域発生部、２３ｉｉ’画素分割回路、であ
る。
、１４は４ＩｍｉＩＬフィルタ、１５はカウンタ、１６
はラッチ回路、１７はメモリ、１８は変化点検出部、１
９はラッチ回路、２０はメモリ、２１はＣＰＵ、２２Ｆ
ｉウィンド領域発生部、２３ｉｉ’画素分割回路、であ
る。
次に動作を説明する。図示せざるｉＴＶカメラからのア
ナログ信号ムがコンパレータ１３へ入力され、適宜に設
定されたしきい値に従って２儀化され、ディジタル信号
Ｂとな９．１ｉｉｉ素分１１１１回路２３を介して「と
して４＠素フイルタ４に入力され、Ｃが出力される。４
１圃累フイルタというのは、４個の画素が連続してハイ
レベルにあるときだけ、出力するディジタルフィルタで
ある。かかるフィルタを設けることにより、４画素以下
の画素により構成されるノイズを除去することができる
。
ナログ信号ムがコンパレータ１３へ入力され、適宜に設
定されたしきい値に従って２儀化され、ディジタル信号
Ｂとな９．１ｉｉｉ素分１１１１回路２３を介して「と
して４＠素フイルタ４に入力され、Ｃが出力される。４
１圃累フイルタというのは、４個の画素が連続してハイ
レベルにあるときだけ、出力するディジタルフィルタで
ある。かかるフィルタを設けることにより、４画素以下
の画素により構成されるノイズを除去することができる
。
４′ｍ素フィルタ１４からのこの出力Ｃを用いて被写体
（像）における基準位置のＹ座標ｙｓｙ 、 ｘ座標Ｘ
ＳＸを発見する。まず４画素フィルタ１４よ）出力され
た信号Ｃは、カウンタ１５及び変化点検出部１８に各々
入力される。カウンタ１５には、第８図に示すウィンド
Ｗ２を作成する信号がウィンド領域発生部２２よシ供給
され、ウィンド前２内の画像信号のみがカウンタ１５に
入力される。
（像）における基準位置のＹ座標ｙｓｙ 、 ｘ座標Ｘ
ＳＸを発見する。まず４画素フィルタ１４よ）出力され
た信号Ｃは、カウンタ１５及び変化点検出部１８に各々
入力される。カウンタ１５には、第８図に示すウィンド
Ｗ２を作成する信号がウィンド領域発生部２２よシ供給
され、ウィンド前２内の画像信号のみがカウンタ１５に
入力される。
このウィンドＷ２ Ｆｉ、先にも述べたように、画像を
より正確にとれる位置に設定できる。そしてこのウィン
ド前２内の画像を物足査線ごとにカウンタ１５によって
画累数の計数を行ない、そのｆｉｌをラッチ１６によっ
てラッチする。このラッチされたデーターは物足査線の
終シにメモリ１７に入力される。１１面分画像を走査し
た後このデーターによって、ＣＰＵ２１において、先に
説明したＷ理に従って基準位置のＹ座標Ｙ８Ｙを求める
。また変化点検出部１８にも＠８図に示すウィンドＷｌ
を作成する信号がウィンド領域発生部２２より供給され
、ウィンドＷｌ内のｉｉ！ｉｉ像信号のみが変化点検出
ｓ１８に入力され、そしてこのウィンドＷｌ内の画ｇｌ
を物足査線ごとに走査することによｐ、変化点検出部１
８によって白／黒の変化点のＸ座標を求めラッチ１９に
よって保持し、メモリｌＯに物足査線ごとに書込み、一
画面分走査した後このデータによって先に説明した原理
に従い、ＣＰＵ２１において、基準位置のＸ座＠ ＸＳ
Ｘを求める。
より正確にとれる位置に設定できる。そしてこのウィン
ド前２内の画像を物足査線ごとにカウンタ１５によって
画累数の計数を行ない、そのｆｉｌをラッチ１６によっ
てラッチする。このラッチされたデーターは物足査線の
終シにメモリ１７に入力される。１１面分画像を走査し
た後このデーターによって、ＣＰＵ２１において、先に
説明したＷ理に従って基準位置のＹ座標Ｙ８Ｙを求める
。また変化点検出部１８にも＠８図に示すウィンドＷｌ
を作成する信号がウィンド領域発生部２２より供給され
、ウィンドＷｌ内のｉｉ！ｉｉ像信号のみが変化点検出
ｓ１８に入力され、そしてこのウィンドＷｌ内の画ｇｌ
を物足査線ごとに走査することによｐ、変化点検出部１
８によって白／黒の変化点のＸ座標を求めラッチ１９に
よって保持し、メモリｌＯに物足査線ごとに書込み、一
画面分走査した後このデータによって先に説明した原理
に従い、ＣＰＵ２１において、基準位置のＸ座＠ ＸＳ
Ｘを求める。
以上説明した通り、本発ＢＡＩＣよれば、検査の対象と
なる画像の基準位置を、ウィンド領域を設けたことによ
り、高ｎ度に定義できるという利点がある。
なる画像の基準位置を、ウィンド領域を設けたことによ
り、高ｎ度に定義できるという利点がある。
なお、本発明は、ｉＴＶカメラ画像画像液写体の基準位
置の位置決めは、パターン認識等による被写体の検査に
必要であるため、移動物体から成る製品等をｉＴＶカメ
ラで検査する場合に応用される。
置の位置決めは、パターン認識等による被写体の検査に
必要であるため、移動物体から成る製品等をｉＴＶカメ
ラで検査する場合に応用される。
第１図は撮イ象画面の説明図、第２図に撮像信号の波形
とその２値化した結果を示す波形図、第３図はノイズを
含む撮像画面の−ｆＩｌｔ−示す説明図、第４図は第３
図の画面に対する撮儂出力の２値化信号の波形図、第５
図および第６図はそれぞれ従来技術の欠点を説明するの
に必要な物体像の形状を示した説明図、第７図は既提案
にかかる基準位置決定装置の動作原理を説明するのに必
要な物体儂の形状を示した説明図、第８図は本発明の動
作原理を説明するための第７図と同様な説明図、第９図
は本発明の一実施例を示すブロック図、である。 符号説明 １３・・・コンパレータ、１４・・・４画素フィルタ、
１５・・・カウンタ、１６．１９・・・ラッチ回路、１
７゜２０・・・メモリ、１８・・・変化点検出部、２１
・・・ＣＰＵ、２２・・・ウィンド領域発生部、２３・
・・画素分割回路代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 渭 第１図 館３！ｌ 第２図 ８４図 Ｓ ｂ３ ＦＡ Ｉ’ｌ−乙り６２−４ 禦５図 第６図 Ａχ １１１１７図 特開昭５８５８−１９０７０８（ ５）図
とその２値化した結果を示す波形図、第３図はノイズを
含む撮像画面の−ｆＩｌｔ−示す説明図、第４図は第３
図の画面に対する撮儂出力の２値化信号の波形図、第５
図および第６図はそれぞれ従来技術の欠点を説明するの
に必要な物体像の形状を示した説明図、第７図は既提案
にかかる基準位置決定装置の動作原理を説明するのに必
要な物体儂の形状を示した説明図、第８図は本発明の動
作原理を説明するための第７図と同様な説明図、第９図
は本発明の一実施例を示すブロック図、である。 符号説明 １３・・・コンパレータ、１４・・・４画素フィルタ、
１５・・・カウンタ、１６．１９・・・ラッチ回路、１
７゜２０・・・メモリ、１８・・・変化点検出部、２１
・・・ＣＰＵ、２２・・・ウィンド領域発生部、２３・
・・画素分割回路代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 渭 第１図 館３！ｌ 第２図 ８４図 Ｓ ｂ３ ＦＡ Ｉ’ｌ−乙り６２−４ 禦５図 第６図 Ａχ １１１１７図 特開昭５８５８−１９０７０８（ ５）図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）犀いに直交するＸ座標とＹ゛座標より表わされる撮
像画面において儂の基準となる位置の座標信号を、前記
座標に沿って走査することにより得られる撮像信号の２
値化出力から求めて出力するＸ−７２次元画像中の基準
位置決定方式であって、当該１ｍ儂の形状から見て前記
基準位置のＹ座標を決定するに適した場所を含む第１の
ウィンド領域と同じくＸ座標を決定するに適した場所を
含む第２のウィンド領域を前記画像面に設足する手１′ 段と、（前記第１のウィンド領域においてＸ＠方向走査
により得られる画像の一走査線毎のセグメント長を計測
し、計測された該セグメント長に基いて前記基準位置の
Ｙ座標を定義する手段と、定義されたＹ座標位置からＹ
座標に白って所足距離だけ離れたＹ座標位置において前
記第２のウィンド領塘内ｔ−ｘ軸方向走査して得られる
帥紀２厘化出力の変化点からＭ記基準位置のＸ座標を定
義する手段と、を有して成ることを％徴とするＸ−Ｙ２
次元画像中の基準位置決定方式。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071498A JPS58190708A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ−ｙ２次元画像中の基準位置決定方式 |
| US06/483,505 US4566126A (en) | 1982-04-30 | 1983-04-11 | Pattern discriminator |
| DE19833315109 DE3315109A1 (de) | 1982-04-30 | 1983-04-27 | Musterdiskriminator |
| US06/691,164 US4555801A (en) | 1982-04-30 | 1985-01-14 | Pattern discriminator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071498A JPS58190708A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ−ｙ２次元画像中の基準位置決定方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58190708A true JPS58190708A (ja) | 1983-11-07 |
| JPS6259242B2 JPS6259242B2 (ja) | 1987-12-10 |
Family
ID=13462386
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57071498A Granted JPS58190708A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | Ｘ−ｙ２次元画像中の基準位置決定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58190708A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60256004A (ja) * | 1984-06-01 | 1985-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50124668A (ja) * | 1974-03-06 | 1975-09-30 |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP57071498A patent/JPS58190708A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50124668A (ja) * | 1974-03-06 | 1975-09-30 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60256004A (ja) * | 1984-06-01 | 1985-12-17 | Matsushita Electric Works Ltd | チツプ部品のはんだ付検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6259242B2 (ja) | 1987-12-10 |
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