JPS5832097A - 単結晶成長方法 - Google Patents

単結晶成長方法

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Publication number
JPS5832097A
JPS5832097A JP12979881A JP12979881A JPS5832097A JP S5832097 A JPS5832097 A JP S5832097A JP 12979881 A JP12979881 A JP 12979881A JP 12979881 A JP12979881 A JP 12979881A JP S5832097 A JPS5832097 A JP S5832097A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
film
scanning
amorphous
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP12979881A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiko Takahama
高浜 圀彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Denki Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd, Sanyo Denki Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
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Publication of JPS5832097A publication Critical patent/JPS5832097A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/14Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method characterised by the seed, e.g. its crystallographic orientation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Recrystallisation Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は単結晶成長方法に関し1例えば5ins膜上に
シリコン薄膜を単結晶状態で成長させる際に有効に適用
される。
近時、半導体集積回路の集積度を飛躍的に大きくできる
ものとして6次元回路素子が注目されているが、祈る素
子を作るには、 B111膜等の絶縁膜上にシリコン等
の半導体薄膜を単結晶の状態で成長させる必要がある。
グラフオエピタキシャル法は、この様な単結晶成長のた
めに提案された有効な方法である。簡単に述べるとグラ
フオエピタキシャル法は、表面に周期的な溝を設けた絶
縁膜上に非晶質の半導体薄膜な形成し、所る薄膜にレー
デビーム等のエネルギビームを走査的に数回照射して上
記薄膜を順次局部的に溶融することにより非晶質から多
結晶。
更に単結晶へと結晶粒の成長を行なうものである。
従来上記の如くエネルギビームの走査的照射により結晶
粒を成長させる場合、そのビームの断面形状は円形であ
りた。第1図はその様子を示し、点線で示すビーム位置
から実線で示すビーム位置までの移動があると、非晶質
薄膜の溶融している頭載も移動し1点線で示された以前
の溶融w4域が凝固する。この時結晶粒が成長しビーム
走査のくり返しにより−クの結晶粒が膜全体に成長すれ
ば単結晶薄膜が得11:1t″Lることになる。図にお
いて。
a、b、oは各結晶粒を表わしている。
しかし乍ら、第1図の場合、成長させたいaの結晶粒だ
けでなくs  b*  ’の結晶粒も同時に成長するた
め、aの結晶粒は先細シとな2てビームの走査方向(A
)に成長するのは容易でない。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その特徴は
エネルギビームの断面形状に関し、その走査方向に垂直
な方向を平行な方向より長く設定することにある。
第2図は本発明によるW、理的な結晶成長法を示し、こ
の場合、エネルギビーム(町の断面はビーム走査方向(
A)に垂直な方向を長手方向とする長方形となりている
。即ち、ビームが点線位置から実線位置まで移動するに
従うて成長させたい結晶粒轟と同時にす、oの結晶粒も
成長するが、b、oの結晶粒はビームの短辺に含まれる
ためビーム走査方向(A)に垂直な方向からの成長の割
合いは少なくなり、はとんどaの結晶粒のみビーム走査
方向に成長させることができるのである。
ビームの断面は上記の如き長方形に限らず楕円形でも良
く、いずれの場合も長辺(長径〕は短辺(短径)に対し
4倍以上の長さを有するのが好ましい口 又エネルギビームとしてはレーザビームや電子線ビーム
が好適であり、光学レンズ、電界レンズあるいは所望形
状のスリットを使うて所定のビー以下実施例を説明する
(100)シリコン単結晶基板上にスチーム酸化により
8101膜を0.25μm成長させ、所る膜にフォトリ
ソグラフィ技術により深さ0.1μm、ピッチ4μmの
矩形溝な設ける。次いで、上記810all上にCVD
法によりシリコン非晶質膜を0.5μmの厚さに形成し
、所る非晶質膜に6WcDAr+レーザビームを走査的
に照射する。
このとき、長径1n、短径0.2 mgの楕円ビームを
用いた場合6回の定在で単結晶か成長したが。
同一面積の単結晶化をなすのに従来法に従う円形ビーム
(直径約0.5 ff )を用いると5回以上の走査を
必要とした。
かくして不発IJ4によね、は、エネルギビームな用い
て効率良く結晶粒の成長を行え1例えばグラフオエピタ
キシャル法における単結晶成長を迅速に実施することが
できる。
【図面の簡単な説明】
@1図は従来例を示す模式図、第2図は本発明実施例を
示す模式図である。 (B)・・・ビーム。 第1図 第2図 1〜A

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  レーデビーム等のエネルギビームの走査的照
    射による局部溶融の移動によ〕結晶粒の成長を行なう際
    に、上記ビームの断面形状の走査方向に垂直な方向を平
    行な方向より長く設定Tることを特徴とする単結晶成長
    力法。
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