JPS5844509A - 状態変化検出装置 - Google Patents
状態変化検出装置Info
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- JPS5844509A JPS5844509A JP14264981A JP14264981A JPS5844509A JP S5844509 A JPS5844509 A JP S5844509A JP 14264981 A JP14264981 A JP 14264981A JP 14264981 A JP14264981 A JP 14264981A JP S5844509 A JPS5844509 A JP S5844509A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B15/00—Systems controlled by a computer
- G05B15/02—Systems controlled by a computer electric
Landscapes
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Control By Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は微分回路を用いてデジタル入力の状態変化を検
出する状態変化検出装置に係わり、特に構成の簡略化と
信頼性の向上を図った状態変化装置に関する。
出する状態変化検出装置に係わり、特に構成の簡略化と
信頼性の向上を図った状態変化装置に関する。
従来プロセス大田力(以下、PIδと称する)装置にお
けるデジタル入力の状態変化を検出するのに、抵抗、コ
ンデンサから成る微分回路を使用している。
けるデジタル入力の状態変化を検出するのに、抵抗、コ
ンデンサから成る微分回路を使用している。
然し乍ら、かかる回路を使用し穴状態度化検出では、入
力点数の増加及び状態変化でも立上り/立下りの両方を
漕たすためには、入力点数の2倍の微分回路が必要とな
り、部品数が多くなって装置構成が複雑になるという問
題がある。
力点数の増加及び状態変化でも立上り/立下りの両方を
漕たすためには、入力点数の2倍の微分回路が必要とな
り、部品数が多くなって装置構成が複雑になるという問
題がある。
また、従来の微分回路はその性質上、同一プリント板上
に状態変化の立上り/立下り/無視を混在させることが
困難であるため、入力信号に合わせて立上り用、立下り
用、検出機能無し用を夫々各種製作しているのが現状で
あるO本発明は上記のような事情に鑑みて成されたもの
で、その目的はpI5のデジタル入力における立上り入
力、立下り入力、立上り立下りの両入力およびその禁止
の状態変化検出を1点毎に任意に行なうことができる構
成が簡単で信頼性の高い状態変化検出装置を提供するこ
とにあるO 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る0 第1図は、本発明による状態変化検出の概要を示したも
のである。図において状態変化検出装置1は外部から与
えられるデジタル信号りに状態変化が生じると、それを
検出し入出力パス1介してCPU(中央処理装置)3に
割込要求wt発生するもので、その詳細な構成はっぎの
ようになっている。第2図は状態変化検出装置1の構成
例tブロック的に示したものである。
に状態変化の立上り/立下り/無視を混在させることが
困難であるため、入力信号に合わせて立上り用、立下り
用、検出機能無し用を夫々各種製作しているのが現状で
あるO本発明は上記のような事情に鑑みて成されたもの
で、その目的はpI5のデジタル入力における立上り入
力、立下り入力、立上り立下りの両入力およびその禁止
の状態変化検出を1点毎に任意に行なうことができる構
成が簡単で信頼性の高い状態変化検出装置を提供するこ
とにあるO 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る0 第1図は、本発明による状態変化検出の概要を示したも
のである。図において状態変化検出装置1は外部から与
えられるデジタル信号りに状態変化が生じると、それを
検出し入出力パス1介してCPU(中央処理装置)3に
割込要求wt発生するもので、その詳細な構成はっぎの
ようになっている。第2図は状態変化検出装置1の構成
例tブロック的に示したものである。
図において、水晶発振回路08は外部のデジタル信号T
3會取込むために、周波数が例えば5 Mn2 の基本
クロック信号φ1.φ2を発生するものである0カウン
タCTRは、基本クロック信号φ1¥tla分周して外
部のデジタル信号Dtシフトレジスタ8RAK取込むた
めのロード信号LODおよびデコーダFDC、NDCO
ための信号CNT、7〜41に発生するものである○I
y’e、、レフトレジスタ8tLムは外部のデジタル信
号D’10−ド信号LODKより取込み、基本クロック
信号−1で順次シフトし信号NDJとして出力すゐもの
である。そして、この次段のシフトレジスタ8RBは、
前段のシフトレジスタ8RAの出力NDJtさらに基本
クロック信号−1で順次シフトし信号ODJとして出力
する。入力回路ICは、外部からのデジタル信号D1〜
16t−内部回路用に変換する回路であるO一方デコー
ダFDC,NDCは、1点毎の状態変化tカウンタCT
Rの出力CNTl〜4で夫々デコードするものである。
3會取込むために、周波数が例えば5 Mn2 の基本
クロック信号φ1.φ2を発生するものである0カウン
タCTRは、基本クロック信号φ1¥tla分周して外
部のデジタル信号Dtシフトレジスタ8RAK取込むた
めのロード信号LODおよびデコーダFDC、NDCO
ための信号CNT、7〜41に発生するものである○I
y’e、、レフトレジスタ8tLムは外部のデジタル信
号D’10−ド信号LODKより取込み、基本クロック
信号−1で順次シフトし信号NDJとして出力すゐもの
である。そして、この次段のシフトレジスタ8RBは、
前段のシフトレジスタ8RAの出力NDJtさらに基本
クロック信号−1で順次シフトし信号ODJとして出力
する。入力回路ICは、外部からのデジタル信号D1〜
16t−内部回路用に変換する回路であるO一方デコー
ダFDC,NDCは、1点毎の状態変化tカウンタCT
Rの出力CNTl〜4で夫々デコードするものである。
オフデテクト許可/禁止用スイッチSA、オンデクト許
可/禁止用スイッチSBは、1点毎にオンデテクト、オ
フデテクト、オン/オフ両方デテクトおよびデテクト禁
止の設定を行なうものである。またセレクタSELは、
上記信号OD1.NDJd2および各デテクト許可/禁
止用スイッチSA。
可/禁止用スイッチSBは、1点毎にオンデテクト、オ
フデテクト、オン/オフ両方デテクトおよびデテクト禁
止の設定を行なうものである。またセレクタSELは、
上記信号OD1.NDJd2および各デテクト許可/禁
止用スイッチSA。
SBからの信号FDT 、ND’rt−人力し、入力の
何点目がどういう設定になっているかを示す信号IEf
t−出力するものである。デテクタ(エクスクルシブオ
ア)X5Rは、上記各シフトレジスタSRA、8RBか
らの出力NDJ。
何点目がどういう設定になっているかを示す信号IEf
t−出力するものである。デテクタ(エクスクルシブオ
ア)X5Rは、上記各シフトレジスタSRA、8RBか
らの出力NDJ。
0DJt−人力し、各出力が異なっているつまり状態変
化があるとその検出信号DT1f出力するものである。
化があるとその検出信号DT1f出力するものである。
さらに、割込発生用ゲー) ATNGは論理アンド回路
であり、状態変化検出信号DTJおよびセレクタSEL
からの検出杆可信号5E1f入力した時、割込信号DT
Jt−発生するものである0割込フリップフロップAT
NFは、割込(発生用ゲート)信号DT2に1リセツト
され、前記CPUJが割込み要求w’l受付けるとリセ
ットされるものである。
であり、状態変化検出信号DTJおよびセレクタSEL
からの検出杆可信号5E1f入力した時、割込信号DT
Jt−発生するものである0割込フリップフロップAT
NFは、割込(発生用ゲート)信号DT2に1リセツト
され、前記CPUJが割込み要求w’l受付けるとリセ
ットされるものである。
次に、かかる装置の作用について述べる。まず、外部か
ら入力回路ICにデジタル信号D1〜16が入力さnる
0この入力信号を、水晶発振回路O8でシフトレジスタ
SRAに6.4声1間隔で並列に16点分同時にロード
LODする。
ら入力回路ICにデジタル信号D1〜16が入力さnる
0この入力信号を、水晶発振回路O8でシフトレジスタ
SRAに6.4声1間隔で並列に16点分同時にロード
LODする。
ロード−された入力信号は、400vr8 のクロッ
ク信号−1によりシフトレジスタ8RAで順次シフトさ
れ最下位ビットOから信号NI)Jとして出力される。
ク信号−1によりシフトレジスタ8RAで順次シフトさ
れ最下位ビットOから信号NI)Jとして出力される。
この出力NDJは、次段のシフトレジスタ8RBKも最
下位ビット15から入リ、400mg のクロック信号
φ1で順次シフトされ最下位ビット0から信号OD1と
して出力さnる。この2つのシフトレジスタSRA。
下位ビット15から入リ、400mg のクロック信号
φ1で順次シフトされ最下位ビット0から信号OD1と
して出力さnる。この2つのシフトレジスタSRA。
SRBは16ビツトで構成さnており、第1ビツト目に
入力し良信号が出力NDIされるのは16りa”)り後
(400!Is X 16=6.4718)である。そ
して、このシフトレジスタSRAの出力MDIとシフト
レジスタSRBの出力6D1と會デテクタX5Rで比較
し、この時に2つの出力NDJ、ODJが異なっていれ
ば(つまり入力に状態変化があったということ)検出信
号り丁1を出力する。この信号DTIの論理式はDTJ
=槍育・6D1+ND1・δD1 で表わされる。以上
が状態変化検出の動作である。
入力し良信号が出力NDIされるのは16りa”)り後
(400!Is X 16=6.4718)である。そ
して、このシフトレジスタSRAの出力MDIとシフト
レジスタSRBの出力6D1と會デテクタX5Rで比較
し、この時に2つの出力NDJ、ODJが異なっていれ
ば(つまり入力に状態変化があったということ)検出信
号り丁1を出力する。この信号DTIの論理式はDTJ
=槍育・6D1+ND1・δD1 で表わされる。以上
が状態変化検出の動作である。
次に、1点毎にオンデテクト、オフデテクト、オンオフ
両方デテクト、デテクト禁止の動作であるが、水晶発振
回路O8から出力される4 00 n8 のクロック
信号−1をカウンタCTRで16分周し、その出力CN
丁1〜4をオフデテクト用デコーダFDCとオフデテク
ト用デコーダNDCに与える。これKより、デコーダF
DC、NDCではそれに対応したaカ全送出すゐ(0〜
15)。またオフデテクト許可/禁止はスイッチ8Aで
、オンデテクト許可/禁止はスイッチSRで行なう。(
これらの設定は、入力が16点なので16個用意されて
いる)そして、このデコーダFDC、NDCとスイッチ
で8ム、13Bで1点毎の設定状態を出力(オフデテク
ト:FD丁、オフデテクトニNDT)Lエセレクタ8E
Lに与える。セレクタSELでは、前述した設定状mt
−セレクト信号にして1点毎の状態を決める。つまり、 となりセレクタSELの出力SEJと状態変化検出出力
DTIとのアンドで割込発生用ゲートATNGにて割込
要因を作成する(DTJ)。・また、この割込要因で割
込フリツプフロツプATNFにより割込を発生させ、C
PUはこの割込要求Wで16点の入力部の状態を絖込む
。
両方デテクト、デテクト禁止の動作であるが、水晶発振
回路O8から出力される4 00 n8 のクロック
信号−1をカウンタCTRで16分周し、その出力CN
丁1〜4をオフデテクト用デコーダFDCとオフデテク
ト用デコーダNDCに与える。これKより、デコーダF
DC、NDCではそれに対応したaカ全送出すゐ(0〜
15)。またオフデテクト許可/禁止はスイッチ8Aで
、オンデテクト許可/禁止はスイッチSRで行なう。(
これらの設定は、入力が16点なので16個用意されて
いる)そして、このデコーダFDC、NDCとスイッチ
で8ム、13Bで1点毎の設定状態を出力(オフデテク
ト:FD丁、オフデテクトニNDT)Lエセレクタ8E
Lに与える。セレクタSELでは、前述した設定状mt
−セレクト信号にして1点毎の状態を決める。つまり、 となりセレクタSELの出力SEJと状態変化検出出力
DTIとのアンドで割込発生用ゲートATNGにて割込
要因を作成する(DTJ)。・また、この割込要因で割
込フリツプフロツプATNFにより割込を発生させ、C
PUはこの割込要求Wで16点の入力部の状態を絖込む
。
第3図は、入力の8点目をオフデテクト禁止、オンデテ
クト許可とした時のタイミングチャート図を示すもので
ある。図において、φノ。
クト許可とした時のタイミングチャート図を示すもので
ある。図において、φノ。
−2は水晶発振回路O8からの出力であり、周期が約4
00 n8 で動作している。、CNT7〜3はカウ
ンタCTRの出力であり、16分周さn次ものでデコー
ダFDC、NDCへの信号となっている0また、シフト
レジスタSRAに入力のデータfa−ドする信号Lci
pは64 j8 おきに出力されている。
00 n8 で動作している。、CNT7〜3はカウ
ンタCTRの出力であり、16分周さn次ものでデコー
ダFDC、NDCへの信号となっている0また、シフト
レジスタSRAに入力のデータfa−ドする信号Lci
pは64 j8 おきに出力されている。
この状態で、入力の8魚目D171i例にとって説明す
ると、8点目の入力がオンになりLOD =“0″の時
シフトレジスタ8RAに取込まれ、信号−1の8発目で
出力NDJが現われソ〈る。この時、次段のシフトレジ
スタSRBの出力ODJとで比較すると、(その出力0
DIKは、出力NDJより6.4xS 前の状態が出
力されている)変化があるため(オフ→オンに変った)
状態変化検出信号DT1t−出力する。また、セレクタ
8ΣLの出力SΣ1として7点目のデテクト(スイッチ
で設定)状態が出力されているので、この2つの信号で
割込の要因を作成する。
ると、8点目の入力がオンになりLOD =“0″の時
シフトレジスタ8RAに取込まれ、信号−1の8発目で
出力NDJが現われソ〈る。この時、次段のシフトレジ
スタSRBの出力ODJとで比較すると、(その出力0
DIKは、出力NDJより6.4xS 前の状態が出
力されている)変化があるため(オフ→オンに変った)
状態変化検出信号DT1t−出力する。また、セレクタ
8ΣLの出力SΣ1として7点目のデテクト(スイッチ
で設定)状態が出力されているので、この2つの信号で
割込の要因を作成する。
このように、外部から与えられるデジタル信号りに状態
変化が生じた場合にそれを検出し、入出力パス2を介し
て中央処理装置CPUjに割込要求W【発生するような
状態変化検出装置において、上記デジタル信号DI取込
むための基本クロック信号φ1.φ2を発生する水晶発
振回路08と、この水晶発振回路08からの基本タロツ
ク信号φJt’16分周し上記デジタル信号りを取込む
ためのロード信号LODおよびデコードのためデコーダ
信号CNTt発生するカウンタCTRと、上記デジタル
信号りを該口′−ド信号LODにエリ取込み上記基本ク
ロック信号−1で順次シフトして出力する第1のシフト
レジスタSRAと、この第1のシフトレジスタ8Rムの
出力MDIを上記基本クロック信号φ1で順次シフトし
出力する第2のシフトレジるデコーダFDC、NDCと
、1点毎にオン。
変化が生じた場合にそれを検出し、入出力パス2を介し
て中央処理装置CPUjに割込要求W【発生するような
状態変化検出装置において、上記デジタル信号DI取込
むための基本クロック信号φ1.φ2を発生する水晶発
振回路08と、この水晶発振回路08からの基本タロツ
ク信号φJt’16分周し上記デジタル信号りを取込む
ためのロード信号LODおよびデコードのためデコーダ
信号CNTt発生するカウンタCTRと、上記デジタル
信号りを該口′−ド信号LODにエリ取込み上記基本ク
ロック信号−1で順次シフトして出力する第1のシフト
レジスタSRAと、この第1のシフトレジスタ8Rムの
出力MDIを上記基本クロック信号φ1で順次シフトし
出力する第2のシフトレジるデコーダFDC、NDCと
、1点毎にオン。
オフおよびデテクト禁止の状態変化を設定する設定部と
してのオン、オフデテクト許可/禁止用スイツj8A、
SBと、上記籐1.第2のシフトレジスタSRA、8R
Bと設定部としてのスイッチ8A、8Bの各出力信号お
よび上記基本クロック信号φ2を入力し入力の何点目が
いかなる設定になっているか全出力するセレクタSEL
と、上記第1および第2のシフトレジスタ8RA、SR
Bからの出力NDJ、ODJを入力し両者を比較して異
なっている時状態変化があると判定して状態変化検出信
号DTJ’を出力するデテクタX6Bと、このデテクタ
XORからの状態変化検出信号DTIと上記セレクタ8
ELからの出力(検出許可出力)SEJとを入力しt時
その出力DT2f割込ブリップフロップATNFi介し
上記割込要求Wとして送出する割込発生用ゲー) AT
NGとから状態変化検出装置を構成するようにしたもの
である。
してのオン、オフデテクト許可/禁止用スイツj8A、
SBと、上記籐1.第2のシフトレジスタSRA、8R
Bと設定部としてのスイッチ8A、8Bの各出力信号お
よび上記基本クロック信号φ2を入力し入力の何点目が
いかなる設定になっているか全出力するセレクタSEL
と、上記第1および第2のシフトレジスタ8RA、SR
Bからの出力NDJ、ODJを入力し両者を比較して異
なっている時状態変化があると判定して状態変化検出信
号DTJ’を出力するデテクタX6Bと、このデテクタ
XORからの状態変化検出信号DTIと上記セレクタ8
ELからの出力(検出許可出力)SEJとを入力しt時
その出力DT2f割込ブリップフロップATNFi介し
上記割込要求Wとして送出する割込発生用ゲー) AT
NGとから状態変化検出装置を構成するようにしたもの
である。
従って、次のような効果が得られるものである。
(1)従来状態変化検出にあたって抵抗コンデンサから
なる微分回路全使用していたものを集積回路を使用する
ようにしている次め、入力点数が増加したり、或いは、
立上り/立下りの両方の状態変化全検出するような場合
でも、それとは無関係に一回路にてまかなえ、もつと部
分数を大幅に削減して装置構成の簡略化を図ることがで
きる。
なる微分回路全使用していたものを集積回路を使用する
ようにしている次め、入力点数が増加したり、或いは、
立上り/立下りの両方の状態変化全検出するような場合
でも、それとは無関係に一回路にてまかなえ、もつと部
分数を大幅に削減して装置構成の簡略化を図ることがで
きる。
(2)各点毎に入力信号の立上り、立下りの検出が任意
に指定でき、また禁止することも各点毎に任意に行なう
ことができる。
に指定でき、また禁止することも各点毎に任意に行なう
ことができる。
(3)状態変化の立上り/立下り/無視の検出機能【混
在させ得るため、立上り用、立下り用お工び検出機能無
し用を夫々別個に構成する必要がなくなる。
在させ得るため、立上り用、立下り用お工び検出機能無
し用を夫々別個に構成する必要がなくなる。
(4) シフト回路′ft使用しているので、入力信
号のフィルタ効果も得られるものである0尚、本発明は
上記実施例に限定されるものではない。
号のフィルタ効果も得られるものである0尚、本発明は
上記実施例に限定されるものではない。
(1) 上記スイッチに代えてROM、あるいはCP
U!り自由に書込みが可能でかつ電源がオフしても内容
が確壊されない不揮発生RAMを用いてもよいものであ
る0 (2)並列に読込むビット長を増減する場合は、8RA
、SRB、カウンタCTR,デコーダFDC、NDCl
−ビット長に合わせて変えるようにすnば工い0 その他、本発明はその要旨を変更しない範囲で、種々に
変形して実施することができるものである0 以上説明したように本発明に工nばPIOのディジタル
入力における立上り入力、立下り入力、立上り、立下り
の両入力およびその禁止の状態変化検出1k1点毎に任
意に行なうととができる構成が簡単で信頼性の高い状態
変化検出装置が提供できる。
U!り自由に書込みが可能でかつ電源がオフしても内容
が確壊されない不揮発生RAMを用いてもよいものであ
る0 (2)並列に読込むビット長を増減する場合は、8RA
、SRB、カウンタCTR,デコーダFDC、NDCl
−ビット長に合わせて変えるようにすnば工い0 その他、本発明はその要旨を変更しない範囲で、種々に
変形して実施することができるものである0 以上説明したように本発明に工nばPIOのディジタル
入力における立上り入力、立下り入力、立上り、立下り
の両入力およびその禁止の状態変化検出1k1点毎に任
意に行なうととができる構成が簡単で信頼性の高い状態
変化検出装置が提供できる。
第1図は本発明による状態変化検出の概!!を示す図、
第2図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図、第3
図は本発明の詳細な説明するためのタイムチャート図で
ある。 J・・・状態変化検出装置、2・・・人出カパス、3・
・・CPU、08・・・水晶発振回路、CTR・・・カ
ウンタ、SRA、SRB・・シフトレジスタ、IC・・
・入力回路、FDC、NDC・・・デコーダ、SA。
第2図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図、第3
図は本発明の詳細な説明するためのタイムチャート図で
ある。 J・・・状態変化検出装置、2・・・人出カパス、3・
・・CPU、08・・・水晶発振回路、CTR・・・カ
ウンタ、SRA、SRB・・シフトレジスタ、IC・・
・入力回路、FDC、NDC・・・デコーダ、SA。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 外部から与えられるデジタル信号に状態変化が生じた場
合にそrbt−検出し、入出力パスを介して中央処理装
置(CPU)に割込要求音発生するような状態変化検出
装置において、前記デジタル信号を取込むための基本ク
ワツク信号を発生する水晶発振回路と、この水晶発振回
路からの基本クロック信号を分周し前記デジタル信号を
取込むためのロード信号およびデコードのためのデコー
ダ信号を発生するカウンタと、前記デジタル信号を該ロ
ード信号にエリ取込み前記基本クロック信号で順次シフ
トして出力する第1のレフトレジスタと、この第1のレ
フトレジスタの出力を前記基本タロツク信号で順次シフ
トし出力する第2のレフ1点毎にオン、オフおよびデテ
クト禁止の状態変化【設定する設定部と、前記第1.第
2のシフトレジスタと設定部の各出力信号および前記基
本クロック信号を入力し入力の何点目がいかなる設定に
なっているかを出力するセレクタと、前記第1および第
2のシフトレジスタからの出力を入力し両者を比較して
状態変化がある場合に状態変化検出信号を出力するデテ
クタと、このデテクタからの状態変化検出信号と前記セ
レクタからの出力(検出許可出力)とを入力した時その
出力を前記割込要求として送出する割込発生用回路とを
具備したことを特命とする状態変化検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14264981A JPS6059601B2 (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 状態変化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14264981A JPS6059601B2 (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 状態変化検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5844509A true JPS5844509A (ja) | 1983-03-15 |
| JPS6059601B2 JPS6059601B2 (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=15320262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14264981A Expired JPS6059601B2 (ja) | 1981-09-10 | 1981-09-10 | 状態変化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6059601B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6158005A (ja) * | 1984-06-04 | 1986-03-25 | フアブリコム | フア−ムウエア トランジシヨナル プログラマブル シ−ケンシヤル ロジツク コントロ−ラ |
| JP2002091507A (ja) * | 2000-09-12 | 2002-03-29 | Toshiba Corp | 制御システム及びセンサ信号変化通知回路 |
| JP2007309513A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-29 | Isel Co Ltd | 固定構造および固定方法 |
-
1981
- 1981-09-10 JP JP14264981A patent/JPS6059601B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6158005A (ja) * | 1984-06-04 | 1986-03-25 | フアブリコム | フア−ムウエア トランジシヨナル プログラマブル シ−ケンシヤル ロジツク コントロ−ラ |
| JP2002091507A (ja) * | 2000-09-12 | 2002-03-29 | Toshiba Corp | 制御システム及びセンサ信号変化通知回路 |
| JP2007309513A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-29 | Isel Co Ltd | 固定構造および固定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6059601B2 (ja) | 1985-12-26 |
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