JPS5844752A - 樹脂モ−ルド型半導体装置 - Google Patents

樹脂モ−ルド型半導体装置

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Publication number
JPS5844752A
JPS5844752A JP56142234A JP14223481A JPS5844752A JP S5844752 A JPS5844752 A JP S5844752A JP 56142234 A JP56142234 A JP 56142234A JP 14223481 A JP14223481 A JP 14223481A JP S5844752 A JPS5844752 A JP S5844752A
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JP
Japan
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resin
recess
semiconductor device
fin
metal case
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JP56142234A
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JPS6151426B2 (ja
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Kenji Iimura
飯村 健二
Satoshi Mikami
三上 訓
Ryuichiro Sakai
酒井 隆一郎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W40/00Arrangements for thermal protection or thermal control
    • H10W40/20Arrangements for cooling
    • H10W40/22Arrangements for cooling characterised by their shape, e.g. having conical or cylindrical projections

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は樹脂モールド型半導体装置、特に放熱性能向上
に゛好適な、フィン付き金属ケースを備える半導体装置
に関する。
樹脂モールド型半導体装置の一例として、自冷式単相ダ
イオードモジュールを例として説明する。
自冷式単相ダイオードモジュールは、4個の半導体素子
を金属リードで接続しブリッジ回路を構成し、これをく
ぼみのついた金属ケースに入れ、樹脂でモールドしてい
る。従来の金属ケースの一例を第1図に、第1図のA−
A’の断面図を第2図に、ダイオードモジュールの断面
図を第3図にそれぞれ示す。第1図から第3図において
金属ケース1の材質は例えばアルミニウムであり、これ
には放熱のだめのフィン1.、及びペレット等を入れる
くぼみ1゜がある。くぼみ16にはモールド後、樹脂が
くぼみ13から抜は出るのを防止するための抜は止め1
bが設置されている。
これを用いたダイオードモジュールは第3図に示すよう
に、金属ケース1のくぼみ1.中にセラミックの絶縁板
11を入れ、リード16.17と半導体ペレット12.
13を設置し、シリコンゴム14でコーティングして、
さらにエポキシ樹脂15でモールドしている。抜は止め
1bにエポキシ樹脂15が入るためモールド後、リード
16゜17を上方に引張っても抜けることはない。
金属ケース1は、第1図の紙面に垂直方向に引抜き型を
用いて長尺に押出し成型し、一定の長さに切断し、その
後機械加工によりくぼみ11及び抜は止め1kを設ける
ことにより製造される。
このようにして作られた金属ケースは放熱特性面からは
必ずしも最適とはなっておらず、また機械加工を必要と
するためコスト高となっていた。
第4図は第1図にEで示すフィンの部分拡大図である。
図から明らかなように、従来の金属ケースのフィンは、
凸部の反対側が凸部、凹部の反対側が凹部となるような
形状となっている。
放熱は自冷式であるので、放熱形態としては自然対流に
よる熱伝達が支配的であり、放熱性能はその熱伝達率で
決められる。一般に局所熱伝達率はフィンの断面積の大
きい個所即ち凸部が向い合っている11□と1”11+
1m4と1’13tl16と11.。
11.と1□17の部分で大きく、断面積の小さい個所
即ち凹部が向い合っている1、1と1 aIQ +1m
sと1’j2+1・、と1・16,1・7と”Ia *
 1・。と1・1.で小さい。
このため、右から左へと流れる熱は、凹部が向い合って
いる部分で熱伝達を阻止され、フィンの放熱性能が悪い
という問題を生じる。
本発明の目的は、上記欠点を除去し放熱性能が向上゛す
ると共にその製作を簡略化した樹脂モールド型半導体装
置を提供することにある。
か\る目的を奏する本発明樹脂モールド型半導体装置の
特徴とするところは、冷却フィンを凸部の反対側に凹部
が位置するような形状とすると共に、くぼみ部の底部を
底板のカシメ固着によシ形成した点にある。
以下、本発明を第1の実施例によシ詳細に説明する。
第5.6.7.8図において、金属ケース3の材質は例
えばアルミニウムであり、放熱のためのフィン3.及び
ペレット等を入れるくぼみ3.とから成っている。4は
凹部3゜の底板である。
フィンは第6図に示す様に、凹部の反対側が凸部即ち3
.1と3 ”10 m 3a3と3aI□、3.5と3
114 +3、□と3’16*3agと3.16とが対
向するように、凸部の反対側が凹部即ち3・2と3.I
□、3,4と3a13w31.と3’15y3allと
3.I、とが対向するように形成され、フィン3.0厚
さが全体に亘って略均−となっている。
第5図に於いて、放熱に最適なフィン長りとフィン間隔
Sとの間には 8ocC1+C,L          ・ (1)C
t 、Cz  二定数 の関係があり、フィン長りが L −< L b < L −< L a     ・
・・■になっていることに応じて、フィン間゛隔Sも、
S、くSbくS。
としている。これによシ、放熱性能の向上を図る。
また、金属ケースのくぼみは、機械加工を用いずカシメ
方式によシ形成されている。即ち、第7図(樽に示す様
に、貫通孔を有する金属ケース3を準備し、その貫通孔
の一方の開口端に底板4を設置し、この底板4を矢印P
方向がら押付けることにより横方向(矢印Q)に広げ、
第7図(b)′f−示すように底板4と金属ケース3と
を固着することによってくぼみが形成される。従って、
従来に比較して製作工程が大幅に削減される。
本方式ではカシメ後、第7図(b)に示すように金属ケ
ース3のくぼみが開口端から底部に向うに従って断面積
が大きくなるテーパー状となっているため、第8図に示
す様に半導体ペレット12゜13をモールド後にも、樹
脂15が抜けることがない。従って、第2図に示す様な
抜は止め1bが不要となり、製作が更に簡略化できる。
本発明の第1の実施例によれば、従来例に比べて、放熱
性能は約15%向上し、材料重量も従来の約60%にな
ることを本発明者等は確認した。
本発明による第2の実施例を第9図及び第10図に示す
第9図及び第10図はともに、フィン形状を示すもので
、第5図のFの部分を拡大した第6図に対応するもので
あり、フィン形状以外は、第1の実施例と同一構造であ
る。いずれの場合もフィンの凸部の裏側が凹部となって
いるので、第1の実施例と同様の効果がある。
以上述べた様に、本発明によれば、放熱性能が向上し、
また、製造方法が簡略化し、低コストの樹脂−モールド
型半導体装置を得ることができる。
以上は、本発明をダイオード・ブリッジに適用した場合
について説明したがこれに−限らず、単体のダイオード
、トランジスタ、サイリスタ等を凹部に案内する樹脂モ
ールド型半導体装置にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の金属ケースの平面図、第2図は第1図の
A−A’断面図、第3図は従来の樹脂モールド型半導体
装置の断面図、第4図は第1図のE部分の拡大図、第5
図は本発明に使用する金属ケースの〆1の実施例を示す
平面図、第6図は第5図のF部分の拡大図、第7図は金
属ケースの製造工程を示す断面図、第8図は第5図の金
属ケースを使用した樹脂モールド型半導体装置の断面図
、第9図及び第10図は本発明に使用する金属ケースの
他の実施例を示す図である。 1.3・・・金属ケース、1..3.・・・フィン、1
e13c・・・くぼみ、4・・・底板、12,13・・
・半導体ぺ第3図 第4目 第f図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数のフィン部を有する金属ケースのくぼみ内に少
    なくとも一つの半導体ベレットを設け、該半導体ペレッ
    トが樹脂でモールドされる樹脂モールド型半導体装置に
    於いて、上記フィン部は複数の凹凸部を有し、凸部の裏
    側に凹部、凹部の裏側に凸部がそれぞれ位置するように
    形成され、上記くぼみは金属ケースに形成された貫通孔
    と、その一端にカシメ固着された底板とから形成されて
    いることを特徴とする樹脂モールド型半導体装置。 2、特許請求の範囲第1項において、上記金属ケースの
    くぼみが、開口部から底部に向うに従ってその断面積が
    大きくなっていることを特徴とする樹脂モールド型半導
    体装置。 3、特許請求の範囲第1項或いは第2項に於いて、上記
    複数のフィンの間隔が、フィンの長さが短い部分で狭く
    、フィンの長さが長い部分で広いことを特徴とする樹脂
    モールド型半導体装置。
JP56142234A 1981-09-11 1981-09-11 樹脂モ−ルド型半導体装置 Granted JPS5844752A (ja)

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JP56142234A JPS5844752A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 樹脂モ−ルド型半導体装置

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JP56142234A JPS5844752A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 樹脂モ−ルド型半導体装置

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59249345A Division JPS60242648A (ja) 1984-11-26 1984-11-26 樹脂モ−ルド型半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5844752A true JPS5844752A (ja) 1983-03-15
JPS6151426B2 JPS6151426B2 (ja) 1986-11-08

Family

ID=15310540

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JP56142234A Granted JPS5844752A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 樹脂モ−ルド型半導体装置

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JPS6151426B2 (ja) 1986-11-08

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