JPS5846786B2 - 円筒磁区記憶装置 - Google Patents
円筒磁区記憶装置Info
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- JPS5846786B2 JPS5846786B2 JP751861A JP186175A JPS5846786B2 JP S5846786 B2 JPS5846786 B2 JP S5846786B2 JP 751861 A JP751861 A JP 751861A JP 186175 A JP186175 A JP 186175A JP S5846786 B2 JPS5846786 B2 JP S5846786B2
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 36
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 241001347978 Major minor Species 0.000 description 2
- 108010076504 Protein Sorting Signals Proteins 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はマイク・ループと、入力部と出力部の配置さ
れている移動路と、マイク・ループと移動路間で情報の
転送を制御する手段を有する円筒磁区素子を用いた記憶
装置に関するものであり、特にマイク・ループの欠陥に
対処する手段を備えた円筒磁区記憶装置に関するもので
ある。
れている移動路と、マイク・ループと移動路間で情報の
転送を制御する手段を有する円筒磁区素子を用いた記憶
装置に関するものであり、特にマイク・ループの欠陥に
対処する手段を備えた円筒磁区記憶装置に関するもので
ある。
本発明の円筒磁区記憶装置に使用される第1図に示すよ
うなメイジャ・マイク・ループ方式の円筒磁区記憶素子
の構成が、1971年6月に発行された雑誌「サイエン
ティフィック・アメリカン」(5cientific
American )、第224巻、第6号、第78頁
〜第90頁(文献1)、特に第90頁に提案されている
。
うなメイジャ・マイク・ループ方式の円筒磁区記憶素子
の構成が、1971年6月に発行された雑誌「サイエン
ティフィック・アメリカン」(5cientific
American )、第224巻、第6号、第78頁
〜第90頁(文献1)、特に第90頁に提案されている
。
図において矢印の付された実線は円筒磁区(磁区)の移
動路を表わしている。
動路を表わしている。
複数個のマイク・ループ111〜116には情報が記憶
されている。
されている。
マイク・ループ111〜116はメモリ・ゲート141
〜146を介して入力部と出力部の配置されているメイ
ジャ・ループ117に連結されている。
〜146を介して入力部と出力部の配置されているメイ
ジャ・ループ117に連結されている。
入力部は、回転磁界の1周期毎に磁区を発生する磁区発
生113L磁区消去器132、および書込みゲート14
7からなる書込み部と、磁区消去器133、および消去
ゲート148からなる消去部とからなり、出力部は磁区
検出器134からなる検出部で構成される。
生113L磁区消去器132、および書込みゲート14
7からなる書込み部と、磁区消去器133、および消去
ゲート148からなる消去部とからなり、出力部は磁区
検出器134からなる検出部で構成される。
読取り・書込みの動作の説明は前記文献1に詳細になさ
れているので参照されたい。
れているので参照されたい。
なお、以後の説明では第1図の構成の円筒磁区素子を円
筒磁区素子の1単位としている。
筒磁区素子の1単位としている。
円筒磁区記憶素子(円筒磁区素子)を用いた記憶装置に
おいては、円筒磁区素子の価格が全体の価格に占める割
合が大きいので、円筒磁区素子の歩留りを向上させるこ
とが記憶装置の低価格化につながる。
おいては、円筒磁区素子の価格が全体の価格に占める割
合が大きいので、円筒磁区素子の歩留りを向上させるこ
とが記憶装置の低価格化につながる。
記憶素子の歩留りを決定するのは、円筒磁区を保持する
磁性単結晶の欠陥と、円筒磁区を移動するために設けら
れる軟磁性材料や導体の欠陥である。
磁性単結晶の欠陥と、円筒磁区を移動するために設けら
れる軟磁性材料や導体の欠陥である。
欠陥を含むため全く動作しない、あるいは動作マージン
の狭いような欠陥マイク・ループを有する円筒磁区素子
が多数生産されたとき、このような円筒磁区素子を装置
に組込まないようにすると、円筒磁区素子の歩留りは低
下し記憶装置の価格は上昇してしまう。
の狭いような欠陥マイク・ループを有する円筒磁区素子
が多数生産されたとき、このような円筒磁区素子を装置
に組込まないようにすると、円筒磁区素子の歩留りは低
下し記憶装置の価格は上昇してしまう。
これに対し、欠陥マイク・ループは存在するが、メイジ
ャ・ループには欠陥のない円筒磁区素子であれば、これ
を記憶装置に組込み、欠陥マイク・ループを使用しない
ようにすると、円筒磁区素子の歩留りは向上するので、
記憶装置の価格を低下せしめることができる。
ャ・ループには欠陥のない円筒磁区素子であれば、これ
を記憶装置に組込み、欠陥マイク・ループを使用しない
ようにすると、円筒磁区素子の歩留りは向上するので、
記憶装置の価格を低下せしめることができる。
この場合、円筒磁区素子内のとのマイナ・ループに欠陥
が存在するかを示す情報、すなわち欠陥マイナ・ループ
位置情報(欠陥位置情報)に基づいて、欠陥マイナ・ル
ープを使用しないように書込み情報に対応する信号や読
取り情報に対応する信号の配列を制御することが必要で
ある。
が存在するかを示す情報、すなわち欠陥マイナ・ループ
位置情報(欠陥位置情報)に基づいて、欠陥マイナ・ル
ープを使用しないように書込み情報に対応する信号や読
取り情報に対応する信号の配列を制御することが必要で
ある。
円筒磁区素子をバイアス磁界装置と一体として取扱うよ
うにすれば、円筒磁区素子を不揮発性記憶素子とみなす
ことができる。
うにすれば、円筒磁区素子を不揮発性記憶素子とみなす
ことができる。
この特長を活用すれば、円筒磁区素子を媒体交換可能な
記憶素子として使用することができる。
記憶素子として使用することができる。
欠陥マイナ・ループを有する円筒磁区素子を媒体交換可
能な記憶素子として使用する場合には、円筒磁区素子と
欠陥位置情報との対応を確実に管理しておかなければな
らない。
能な記憶素子として使用する場合には、円筒磁区素子と
欠陥位置情報との対応を確実に管理しておかなければな
らない。
しかし、この対応関係を外部の記憶回路に記憶しておく
と、この対応関係が乱されるおそれがあった。
と、この対応関係が乱されるおそれがあった。
さらに、円筒磁区素子を記憶装置に装着する毎に欠陥位
置情報を記憶回路から読取って記憶装置にロードするこ
とは、煩雑であった。
置情報を記憶回路から読取って記憶装置にロードするこ
とは、煩雑であった。
円筒磁区素子を媒体交換可能な記憶素子として使用する
使用しないにかかわらず、メイジャ・マイナ・ループで
構成される円筒磁区素子の単位毎に欠陥位置情報を記憶
するための記憶回路の存在は、記憶装置の価格の上昇を
もたらしていた。
使用しないにかかわらず、メイジャ・マイナ・ループで
構成される円筒磁区素子の単位毎に欠陥位置情報を記憶
するための記憶回路の存在は、記憶装置の価格の上昇を
もたらしていた。
この発明の第1の目的は、記憶装置の価格上昇を伴なわ
ずに、欠陥マイナ・ループを有する記憶素子を組込み可
能とする記憶装置を得ることにある。
ずに、欠陥マイナ・ループを有する記憶素子を組込み可
能とする記憶装置を得ることにある。
この発明の第2の目的は、媒体交換可能な記憶装置にお
いて、記憶装置の欠陥マイナ・ループに関する情報の管
理を容易で確実なものにすることにある。
いて、記憶装置の欠陥マイナ・ループに関する情報の管
理を容易で確実なものにすることにある。
次にこの発明について図面を参照して説明する。
第2図はメイジャ・マイナ・ループ方式の円筒磁区素子
に欠陥マイナ・ループ位置晴報を記憶した状態を示して
いる。
に欠陥マイナ・ループ位置晴報を記憶した状態を示して
いる。
第1図に示した円筒磁区素子と異なり、第2図の円筒磁
区素子では、入出力部は省略され、メモリ・ケートは簡
略化されて実線で示されている。
区素子では、入出力部は省略され、メモリ・ケートは簡
略化されて実線で示されている。
記憶情報用マイナ・ループは14個必要であるが、2個
の欠陥マイナ・ループの存在を許すものとして、16個
の記憶情報用マイナ・ループ4−0〜4−15を配置し
ている。
の欠陥マイナ・ループの存在を許すものとして、16個
の記憶情報用マイナ・ループ4−0〜4−15を配置し
ている。
マイナ・ループ4−16は1個の円筒磁区を格納してい
るタイミング用のマイナ・ループである。
るタイミング用のマイナ・ループである。
マイナ・ループ4−17〜4−20は欠陥位置情報を記
憶するためのマイナ・ループである。
憶するためのマイナ・ループである。
各マイナ・ループとメイジャ・ループ1間の情報の転送
単位は2ビツトであるとする。
単位は2ビツトであるとする。
なお、注目する磁区位置の情報は、黒丸によって1″が
表現され、白丸によってO′”が表現されるものとする
。
表現され、白丸によってO′”が表現されるものとする
。
マイナ・ループ4−16に格納されている唯1個の円筒
磁区が、たとえば、磁区位置PTに存在するときを基準
にして、マイナ・ループ4−0〜4−20の各磁区位置
に存在する情報の番地が規定される。
磁区が、たとえば、磁区位置PTに存在するときを基準
にして、マイナ・ループ4−0〜4−20の各磁区位置
に存在する情報の番地が規定される。
なお、ここでは、2磁区位置、たとえばP2とPlに存
在する情報が1個の番地に属する情報としている。
在する情報が1個の番地に属する情報としている。
ここで、マイナ・ループ4−3とマイナ・ループ4−1
0が欠陥マイナ・ループであるとする。
0が欠陥マイナ・ループであるとする。
記憶情報用マイナ・ループが16個存在するので、欠陥
位置情報は4ビツトで表わされ、この場合には0011
.1010となる。
位置情報は4ビツトで表わされ、この場合には0011
.1010となる。
4ビツトで表わされる2個の欠陥位置情報の各々は、マ
イナ・ループ4−17および4−18並びに4−19お
よび4−20の各番地に格納されている。
イナ・ループ4−17および4−18並びに4−19お
よび4−20の各番地に格納されている。
すなわち、欠陥位置情報0011の下位ビット11はマ
イナ・ループ4−17の各番地に繰返し記憶され、上位
ビット00はマイナ・ループ4−18の各番地に繰返し
記憶されている。
イナ・ループ4−17の各番地に繰返し記憶され、上位
ビット00はマイナ・ループ4−18の各番地に繰返し
記憶されている。
欠陥位置情報1010の下位ビット10はマイナ・ルー
プ4−19の各番地に繰返し記憶され、上位ビット10
はマイナ・ループ4−20の各番地に繰返し記憶されて
いる。
プ4−19の各番地に繰返し記憶され、上位ビット10
はマイナ・ループ4−20の各番地に繰返し記憶されて
いる。
欠陥位置情報のマイナ・ループ4−17〜4−20への
書込みは、マイナ・ループ4−17〜4−20、4−0
〜4−15の各番地に書込み情報1100010100
0・・・・・・・・・00を書込むことによって達成さ
れる。
書込みは、マイナ・ループ4−17〜4−20、4−0
〜4−15の各番地に書込み情報1100010100
0・・・・・・・・・00を書込むことによって達成さ
れる。
この書込みは、記憶装置の外部で行なわれることもある
し、記憶装置で行なわれることもある。
し、記憶装置で行なわれることもある。
欠陥位置情報のマイナ・ループ4−17〜420からの
読取りは次のようになされる。
読取りは次のようになされる。
記憶情報用マイナ・ループ4−0〜4−15の指定され
た番地に記憶されている情報を読取るために、その情報
をメイジャ・ループ1に転送して出力部で信号に変換す
ると、T11000101XXX・・・・・・・・・×
×という読取り情報が得られる。
た番地に記憶されている情報を読取るために、その情報
をメイジャ・ループ1に転送して出力部で信号に変換す
ると、T11000101XXX・・・・・・・・・×
×という読取り情報が得られる。
この情報の第2番目〜第5番目の情報1100が第1の
欠陥位置情報となり、第6番目〜第9番目の情報010
1が第2の欠陥位置情報となる。
欠陥位置情報となり、第6番目〜第9番目の情報010
1が第2の欠陥位置情報となる。
ここで、Tはタイミング用マイナ・ループ4−16から
の読取り情報で一般にはOである。
の読取り情報で一般にはOである。
また×××・・・・・・・・・××は記憶情報用マイナ
・ループ4−0〜415からの指定された番地の読取り
情報である。
・ループ4−0〜415からの指定された番地の読取り
情報である。
×はOあるいは1である。
このように任意の番地を指定して読取り・書込み動作を
行なう場合、読取りに際してはその番地に属している情
報が検出器に移動する以前に欠陥位置情報を読取ること
ができる。
行なう場合、読取りに際してはその番地に属している情
報が検出器に移動する以前に欠陥位置情報を読取ること
ができる。
同様に、書込み根際しては、その番地に書込むべき情報
を書込むべき情報を書込み部から入力する以前に欠陥位
置情報を読取ることができる。
を書込むべき情報を書込み部から入力する以前に欠陥位
置情報を読取ることができる。
任意の番地を指定して行なわれる動作時毎に、選択され
る円筒磁区素子の欠陥位置情報を読取ることができるの
で、欠陥位置情報を記憶しておくレジスタやメモリは不
必要となる。
る円筒磁区素子の欠陥位置情報を読取ることができるの
で、欠陥位置情報を記憶しておくレジスタやメモリは不
必要となる。
第2図において、欠陥マイナ・ループが1個の場合には
もう1個の欠陥位置情報を1111とし、欠陥マイナ・
ループが全熱存在しない場合には欠陥位置情報を111
0と1111とする。
もう1個の欠陥位置情報を1111とし、欠陥マイナ・
ループが全熱存在しない場合には欠陥位置情報を111
0と1111とする。
第2図のように欠陥位置情報をマイナ・ループに記憶す
ることによって、欠陥のある円筒磁区素子をも記憶装置
に組込むことが可能になるが、円筒磁区素子中の記憶情
報用のマイナ・ループ以外には欠陥が存在しないことが
必要である。
ることによって、欠陥のある円筒磁区素子をも記憶装置
に組込むことが可能になるが、円筒磁区素子中の記憶情
報用のマイナ・ループ以外には欠陥が存在しないことが
必要である。
第3図は本発明による記憶装置の構成図である。
メモリ・スタック401には、欠陥マイナ・ループを含
む円筒磁区素子が1個以上格納されている。
む円筒磁区素子が1個以上格納されている。
円筒磁区素子の各構成要素に接続される周辺回路として
、書込みゲート駆動回路402、消去ゲート駆動回路4
03、メモリ・ゲート駆動回路404、センス増幅器4
05が設けられている。
、書込みゲート駆動回路402、消去ゲート駆動回路4
03、メモリ・ゲート駆動回路404、センス増幅器4
05が設けられている。
さらに円筒磁区を安定に存在せしめるためのバイアス磁
界を供給するバイアス磁界装置406、円筒磁区を移動
せしめるための回転磁界を供給する回転磁界装置407
が設げられている。
界を供給するバイアス磁界装置406、円筒磁区を移動
せしめるための回転磁界を供給する回転磁界装置407
が設げられている。
これらの回路および装置は制御回路408により制御さ
れる。
れる。
便宜上、記憶装置に供給される番地情報、読取り書込み
を指定する情報などの制御情報、入力情報、および記憶
装置から外部回路へ供給される出力情報は、制御回路4
08を径由するものとする。
を指定する情報などの制御情報、入力情報、および記憶
装置から外部回路へ供給される出力情報は、制御回路4
08を径由するものとする。
第4図によって、メイジャ・マイナ・ループ方式の円筒
磁区素子から欠陥マイナ・ループ位置情報を読取ったり
書込んだりするときの制御回路408の動作を説明する
。
磁区素子から欠陥マイナ・ループ位置情報を読取ったり
書込んだりするときの制御回路408の動作を説明する
。
なお、ここでは欠陥位置情報は第2図のように円筒磁区
素子に記憶されているものとする。
素子に記憶されているものとする。
第4図の回路は制御回路408に含まれる回路である。
端子501には、第3図に示されたセンス増幅器405
の出力端子から供給される論理レベルの信号が供給され
ている。
の出力端子から供給される論理レベルの信号が供給され
ている。
端子502には、マイナ・ループから記憶情報とともに
メイジャ・ループに転送された欠陥位置情報が、磁区検
出器を通過する8周期の間、1111Tレベルとなる信
号510が印加される。
メイジャ・ループに転送された欠陥位置情報が、磁区検
出器を通過する8周期の間、1111Tレベルとなる信
号510が印加される。
端子502に゛°1″信号が印加されている間、欠陥位
置情報はアンド・ゲート508を径て8ビツト長のシフ
ト・レジスタ504に入力される。
置情報はアンド・ゲート508を径て8ビツト長のシフ
ト・レジスタ504に入力される。
欠陥位置情報、すなわち0011と1010とがシフト
・レジスタ504にセントされ、端子505から制御回
路408内の読取り信号と書込み信号列の配列を制御す
る制御部に供給される。
・レジスタ504にセントされ、端子505から制御回
路408内の読取り信号と書込み信号列の配列を制御す
る制御部に供給される。
端子502からの信号がインバータ506によってイン
バートされた信号511が、アンド・ゲート507の一
方に入力されているので、端子508からは、メイジャ
・ループに転送された情報のうち欠陥位置清報を除いた
情報、すなわちマイナ・ループ4−0、4−1 、・・
・・・・・・・、4−15からの情報が得られる。
バートされた信号511が、アンド・ゲート507の一
方に入力されているので、端子508からは、メイジャ
・ループに転送された情報のうち欠陥位置清報を除いた
情報、すなわちマイナ・ループ4−0、4−1 、・・
・・・・・・・、4−15からの情報が得られる。
通常の読取り動作時には、端子508から得られた読取
り信号の配列は、端子505がら得られた欠陥位置情報
に基づいて制御され、欠陥マイナ・ループからの情報を
含まない連続した読取り信号が得られる。
り信号の配列は、端子505がら得られた欠陥位置情報
に基づいて制御され、欠陥マイナ・ループからの情報を
含まない連続した読取り信号が得られる。
一方通常の書込み動作時には、端子505から得られる
欠陥位置情報に基づいて、欠陥マイナ・ループを使用し
ないように書込み信号の配列が制御される。
欠陥位置情報に基づいて、欠陥マイナ・ループを使用し
ないように書込み信号の配列が制御される。
書込みゲート1駆動回路402は、この配列の制御され
た書込み信号に基づいて動作する。
た書込み信号に基づいて動作する。
これらの詳細な動作は、特願昭48−55883号に示
されている。
されている。
第1図は従来からあるメイジャ・マイナ・ループ方式の
円筒磁区素子の構成図、第2図は欠陥マイナ・ループ位
置情報を記憶するマイナ・ループの記憶状態の図、第3
図は本発明の記憶装置のブロック図、第4図は第3図の
ブロック図に示された制御回路の一部を示す図である。 図において、1はメイジャ・ループ、4−0〜4−15
は記憶情報用マイナ・ループ、4−17〜4−20は欠
陥マイナ・ループ位置情報を記憶するマイナ・ループで
ある。
円筒磁区素子の構成図、第2図は欠陥マイナ・ループ位
置情報を記憶するマイナ・ループの記憶状態の図、第3
図は本発明の記憶装置のブロック図、第4図は第3図の
ブロック図に示された制御回路の一部を示す図である。 図において、1はメイジャ・ループ、4−0〜4−15
は記憶情報用マイナ・ループ、4−17〜4−20は欠
陥マイナ・ループ位置情報を記憶するマイナ・ループで
ある。
Claims (1)
- 1 複数個の長さの等しいマイク・ループと、入力部と
出力部の配置されている移動路と、前記マイク・ループ
と前記移動路間で情報の転送を制御する手段とを有する
円筒磁区記憶素子を用いた記憶装置において、欠陥マイ
ク・ループ位置情報を繰返し記憶し前記出力部に近接す
る欠陥位置情報用マイク・ループと、欠陥マイク・ルー
プ位置情報の読取り、書込みを制御する制御手段とを備
えたことを特徴とする円筒磁区記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP751861A JPS5846786B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | 円筒磁区記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP751861A JPS5846786B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | 円筒磁区記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5182531A JPS5182531A (ja) | 1976-07-20 |
| JPS5846786B2 true JPS5846786B2 (ja) | 1983-10-18 |
Family
ID=11513317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP751861A Expired JPS5846786B2 (ja) | 1974-12-27 | 1974-12-27 | 円筒磁区記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5846786B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6140386U (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-14 | 三洋電機株式会社 | 機器の梱包装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5570985A (en) * | 1978-11-21 | 1980-05-28 | Nec Corp | Bubble domain element |
| JPS5619581A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-24 | Nec Corp | Memory element |
| JPS5651081A (en) * | 1979-10-02 | 1981-05-08 | Nec Corp | Bubble memory device |
| FR2833277A1 (fr) * | 2001-12-07 | 2003-06-13 | Michelin Soc Tech | Cable metallique utilisable pour renforcer une armature de carcasse d'un pneumatique et un tel pneumatique |
| KR20190121137A (ko) | 2018-08-06 | 2019-10-25 | 삼성전기주식회사 | 유전체 조성물 및 이를 이용한 전자 부품 |
-
1974
- 1974-12-27 JP JP751861A patent/JPS5846786B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6140386U (ja) * | 1984-08-20 | 1986-03-14 | 三洋電機株式会社 | 機器の梱包装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5182531A (ja) | 1976-07-20 |
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