JPH0513530A - バイポーラram - Google Patents
バイポーラramInfo
- Publication number
- JPH0513530A JPH0513530A JP3167950A JP16795091A JPH0513530A JP H0513530 A JPH0513530 A JP H0513530A JP 3167950 A JP3167950 A JP 3167950A JP 16795091 A JP16795091 A JP 16795091A JP H0513530 A JPH0513530 A JP H0513530A
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- JP
- Japan
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- current
- digit
- holding
- read
- control circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】保持電流制御回路7は、セル4−11〜4−n
mに流れ情報を保持するための保持電流を制御する。リ
ード電流制御回路8は、ディジット線2−1〜2−mに
流れる読出し電流を制御する。 【効果】簡単にセルのリーク電流をテストできる。
mに流れ情報を保持するための保持電流を制御する。リ
ード電流制御回路8は、ディジット線2−1〜2−mに
流れる読出し電流を制御する。 【効果】簡単にセルのリーク電流をテストできる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はバイポーラRAMに関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】従来のバイポーラRAMは、テスト用の
回路は有しておらず、SRAMに供給する電源電圧を下
げることで、等価的に記憶セルの保持電流を減少させ、
記憶セルが反転するかどうかでリーク電流の有無をテス
トしていた。
回路は有しておらず、SRAMに供給する電源電圧を下
げることで、等価的に記憶セルの保持電流を減少させ、
記憶セルが反転するかどうかでリーク電流の有無をテス
トしていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のバイポ
ーラRAMは、電源電圧を下げてしまうため、アドレス
デコーダ,リードライト制御回路等が不定となり誤書込
みをしてしまいセルのリークテストが正確に行われない
という欠点をもつ。また多電源のバイポーラRAMでは
電源の電位関係を守る必要から任意に電圧を変化させる
ことができず、セルのリークについてテストをできない
という欠点を持つ。
ーラRAMは、電源電圧を下げてしまうため、アドレス
デコーダ,リードライト制御回路等が不定となり誤書込
みをしてしまいセルのリークテストが正確に行われない
という欠点をもつ。また多電源のバイポーラRAMでは
電源の電位関係を守る必要から任意に電圧を変化させる
ことができず、セルのリークについてテストをできない
という欠点を持つ。
【0004】
【課題を解決するための手段】第1の発明のバイポーラ
RAMは、情報を保持するセルに流れる保持電流を制御
する保持電流制御回路と、ディジット線に流れる読出し
電流を制御する読出し電流制御回路とを含んで構成され
る。
RAMは、情報を保持するセルに流れる保持電流を制御
する保持電流制御回路と、ディジット線に流れる読出し
電流を制御する読出し電流制御回路とを含んで構成され
る。
【0005】第2の発明のバイポーラRAMは、ディジ
ット線に流れる読出し電流を制御する読出し電流制御回
路を含んで構成される。
ット線に流れる読出し電流を制御する読出し電流制御回
路を含んで構成される。
【0006】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例を示すブロック図である。
4−11〜4−nmは情報を保持するセルで、ワードト
ップWT1−1〜1−nから供給された保持電流はセ
ル,ワードボトムWB9−1〜9−nを通って保持電流
用の定電流源6−1〜6−nへ流れる。定電流源6−1
〜6−nは保持電流制御回路7からの制御信号によりそ
の電流値を制御される。
る。図1は本発明の一実施例を示すブロック図である。
4−11〜4−nmは情報を保持するセルで、ワードト
ップWT1−1〜1−nから供給された保持電流はセ
ル,ワードボトムWB9−1〜9−nを通って保持電流
用の定電流源6−1〜6−nへ流れる。定電流源6−1
〜6−nは保持電流制御回路7からの制御信号によりそ
の電流値を制御される。
【0007】ディジット線DL2−1,DR3−1はセ
ル4−11〜4−n1に接続し、ディジットデコーダ5
−1に接続される。ディジット線DL2−2〜2−m,
DR3−2〜3−mも同様である。ディジットデコーダ
DS5−1〜5−mはリード電流用の定電流源10に接
続されディジットデコーダDS5−1〜5−mのうちア
ドレス信号(図示せず)で選択されたディジットデコー
ダが論理的にオンとなり、選択されたディジットデコー
ダに接続されたディジット線にリード電流が流れる。
ル4−11〜4−n1に接続し、ディジットデコーダ5
−1に接続される。ディジット線DL2−2〜2−m,
DR3−2〜3−mも同様である。ディジットデコーダ
DS5−1〜5−mはリード電流用の定電流源10に接
続されディジットデコーダDS5−1〜5−mのうちア
ドレス信号(図示せず)で選択されたディジットデコー
ダが論理的にオンとなり、選択されたディジットデコー
ダに接続されたディジット線にリード電流が流れる。
【0008】定電流源10は、読出し電流制御回路8か
らの制御信号によりその電流値を制御される。セルのリ
ークテストはデータをすべてのセルに書き込んだ後、保
持電流,リード電流を小さくし、しばらく時間がたった
後保持電流とリード電流をもとにもどし、全セルのデー
タを読み出し、書き込んだデータと比較することにより
行なわれる。
らの制御信号によりその電流値を制御される。セルのリ
ークテストはデータをすべてのセルに書き込んだ後、保
持電流,リード電流を小さくし、しばらく時間がたった
後保持電流とリード電流をもとにもどし、全セルのデー
タを読み出し、書き込んだデータと比較することにより
行なわれる。
【0009】このとき記憶情報が失われたセルがリーク
を生じているセルである。このテストを行うため保持電
流制御回路7で保持電流を、リード電流制御回路8でリ
ード電流をそれぞれ小さくすることで上記のリークテス
トを実行する。
を生じているセルである。このテストを行うため保持電
流制御回路7で保持電流を、リード電流制御回路8でリ
ード電流をそれぞれ小さくすることで上記のリークテス
トを実行する。
【0010】なお、図1から保持電流制御回路7を省略
してもよい。リード電流制御回路8から定電流源10に
リード電流を流さないような制御信号を送ることによ
り、セルに流れる電流を保持電流のみにする。この状態
で保持電流を流すのに使用している電源の電圧を下げる
と保持電流も減少しリークテストを行うことができる。
してもよい。リード電流制御回路8から定電流源10に
リード電流を流さないような制御信号を送ることによ
り、セルに流れる電流を保持電流のみにする。この状態
で保持電流を流すのに使用している電源の電圧を下げる
と保持電流も減少しリークテストを行うことができる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は保持電流,
リード電流を制御する回路を持つことにより簡単にセル
のリークテストを行うことができる効果がある。
リード電流を制御する回路を持つことにより簡単にセル
のリークテストを行うことができる効果がある。
【図1】本発明の一実施例のブロック図である。
1−1〜1−n ワードトップ線
2−1〜2−m ディジット線
3−1〜3−m ディジット線
4−11〜4−nm セル
5−1〜5−m ディジットセレクタ
6−1〜6−n 保持電流用の定電流源
7 保持電流制御回路
8 リード電流制御回路
9−1〜9−n ワードボトム
10 リード電流用の定電流源
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所
H01L 27/04 T 8427−4M
27/102
Claims (2)
- 【請求項1】 情報を保持するセルに流れ情報を保持す
るための保持電流を制御する保持電流制御回路と、ディ
ジット線に流れる読出し電流を制御する読出し電流制御
回路とを含むことを特徴とするバイポーラRAM。 - 【請求項2】 ディジット線に流れる読出し電流を制御
する読出し電流制御回路を含むことを特徴とするバイポ
ーラRAM。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3167950A JPH0513530A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | バイポーラram |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3167950A JPH0513530A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | バイポーラram |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0513530A true JPH0513530A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=15859056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3167950A Pending JPH0513530A (ja) | 1991-07-09 | 1991-07-09 | バイポーラram |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0513530A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4873638A (en) * | 1986-05-09 | 1989-10-10 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Traction control system for controlling slip of a driving wheel of a vehicle |
| US4873639A (en) * | 1986-03-04 | 1989-10-10 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Traction control system for controlling slip of a driving wheel of a vehicle |
-
1991
- 1991-07-09 JP JP3167950A patent/JPH0513530A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4873639A (en) * | 1986-03-04 | 1989-10-10 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Traction control system for controlling slip of a driving wheel of a vehicle |
| US4873638A (en) * | 1986-05-09 | 1989-10-10 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Traction control system for controlling slip of a driving wheel of a vehicle |
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