JPS5850290B2 - 還元溶解炉内装入物の電気抵抗測定用ゾンデ - Google Patents
還元溶解炉内装入物の電気抵抗測定用ゾンデInfo
- Publication number
- JPS5850290B2 JPS5850290B2 JP4859082A JP4859082A JPS5850290B2 JP S5850290 B2 JPS5850290 B2 JP S5850290B2 JP 4859082 A JP4859082 A JP 4859082A JP 4859082 A JP4859082 A JP 4859082A JP S5850290 B2 JPS5850290 B2 JP S5850290B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- furnace
- sonde
- electrode
- electrical resistance
- charge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Blast Furnaces (AREA)
- Vertical, Hearth, Or Arc Furnaces (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高炉、シャフト炉などのように炉頂部よりコ
ークス、焼結鉱、ペレットおよび塊鉱石(以下鉱石類と
称する)を層状に装入している炉で、コークスと鉱石類
推積層の電気抵抗の差を利用することによって、装入物
の堆積層厚を測定する場合の検出ゾンデの構造に関する
ものである。
ークス、焼結鉱、ペレットおよび塊鉱石(以下鉱石類と
称する)を層状に装入している炉で、コークスと鉱石類
推積層の電気抵抗の差を利用することによって、装入物
の堆積層厚を測定する場合の検出ゾンデの構造に関する
ものである。
高炉およびシャフト炉などの還元溶解炉では、ベル型も
しくは旋回シュート型の炉頂装入装置によって所定量づ
つ非連続で、しかもコークスと鉱石類を交互に装入して
いる。
しくは旋回シュート型の炉頂装入装置によって所定量づ
つ非連続で、しかもコークスと鉱石類を交互に装入して
いる。
第1図に本発明に係る高炉の炉頂部の要部断面を示す。
この場合、ベル1を使用した炉頂装入装置では、ムーバ
ブルアーマ−2の位置により、また図示しないが同様に
用いられる旋回シュート型装入装置では、シュートの傾
斜角の違いにより装入物分布形状が変化する。
ブルアーマ−2の位置により、また図示しないが同様に
用いられる旋回シュート型装入装置では、シュートの傾
斜角の違いにより装入物分布形状が変化する。
このことは同時に、炉径方向における装入物堆積層厚も
大きく変化する。
大きく変化する。
この結果、炉下部の羽目から送風して生じる炉内ガスの
流れに大きな影響を与える。
流れに大きな影響を与える。
すなわち、通気抵抗の大きい鉱石層の層厚が厚い部分で
はガス流れが少なく、反対に薄い部分にはガス流れが多
くなる。
はガス流れが少なく、反対に薄い部分にはガス流れが多
くなる。
このガス流れが著しく偏流した場合には、棚吊り、スリ
ップ、さらにはガス吹抜けなどのトラブルを生じ、炉の
正常な操業が維持できなくなる。
ップ、さらにはガス吹抜けなどのトラブルを生じ、炉の
正常な操業が維持できなくなる。
したがって、安定した操業状態を維持するには、常に望
ましいガス流れ分布となるよう装入物の層厚を調整する
必要がある。
ましいガス流れ分布となるよう装入物の層厚を調整する
必要がある。
層厚を調整する方法として、ベル型装入装置ではムーバ
ブルアーマ−2の位置を変更し、また旋回シュート型装
入装置ではシュートの傾斜角を変える手段があるが、い
ずれにしても適切な層厚調整を行うためには、堆積層厚
を確実に測定しなければならない。
ブルアーマ−2の位置を変更し、また旋回シュート型装
入装置ではシュートの傾斜角を変える手段があるが、い
ずれにしても適切な層厚調整を行うためには、堆積層厚
を確実に測定しなければならない。
堆積層厚を測定する方法として、炉内の装入物の電気抵
抗の差を利用したものが知られており、この方法は一対
の電極を有する2個のゾンデ7゜7′を高さhだけ異に
して炉壁から炉内へ挿入固定し、炉内を降下するコーク
スと鉱石類の判別を行うと共にコークス層と鉱石層がそ
れぞれ継続して検出されている時間を測定し、更にコー
クス層と鉱石類層の境界面が上方のゾンデ7で検知した
後同じ境界面が下方のゾンデγで検出するまでの時間を
測定する一部とにより、ゾンデ7と7′間距離を表わす
前記高さhを前記同じ境界面が2個のゾンデで検出され
る時間差で除して装入物の降下速度を求め、この降下速
度と前記各層が継続して検出されている時間との積から
各層の層厚を求めるものである。
抗の差を利用したものが知られており、この方法は一対
の電極を有する2個のゾンデ7゜7′を高さhだけ異に
して炉壁から炉内へ挿入固定し、炉内を降下するコーク
スと鉱石類の判別を行うと共にコークス層と鉱石層がそ
れぞれ継続して検出されている時間を測定し、更にコー
クス層と鉱石類層の境界面が上方のゾンデ7で検知した
後同じ境界面が下方のゾンデγで検出するまでの時間を
測定する一部とにより、ゾンデ7と7′間距離を表わす
前記高さhを前記同じ境界面が2個のゾンデで検出され
る時間差で除して装入物の降下速度を求め、この降下速
度と前記各層が継続して検出されている時間との積から
各層の層厚を求めるものである。
従って、装入物の電気抵抗をいかに精度よくかつ継続し
て測定するかということが炉内装入物の層厚を測定する
重要なポイントとなっている。
て測定するかということが炉内装入物の層厚を測定する
重要なポイントとなっている。
第1図において、3は検尺計、4は炉壁を示す。
このゾンデとしては、従来は第2図a =dに示す構造
のものが用いられていた。
のものが用いられていた。
第2図a、bは装入物粒径が30朋以下の比較的細粒の
多い場合に使用され、第2図c、dは粒径30□□□以
上の粗粒の多い場合によく使用されるゾンデの例を示す
ものでa、cは径方向断面図、b、dは長さ方向断面図
である。
多い場合に使用され、第2図c、dは粒径30□□□以
上の粗粒の多い場合によく使用されるゾンデの例を示す
ものでa、cは径方向断面図、b、dは長さ方向断面図
である。
第2図a−dに示す従来のゾンデは一対の電極10.1
1を絶縁物質12により電気的に絶縁して同心状に構成
し中心の電極11を円筒状の電極10よりは炉内側へ水
平方向に長く突出させる如く構成しており、例えば一対
の電極間距離が40mmでコークス堆積層の電気抵抗ば
1〜3Ωの場合、鉱石類では1000〜10000Ωと
大きな差異があることを利用したものである。
1を絶縁物質12により電気的に絶縁して同心状に構成
し中心の電極11を円筒状の電極10よりは炉内側へ水
平方向に長く突出させる如く構成しており、例えば一対
の電極間距離が40mmでコークス堆積層の電気抵抗ば
1〜3Ωの場合、鉱石類では1000〜10000Ωと
大きな差異があることを利用したものである。
しかるに、第2図axdに示す従来のゾンデによる測定
では、炉内装入物の電気抵抗測定値が、経時的に大きく
変化し、ある期間以上経過するとほとんど抵抗測定がで
きなくなる欠点をもって0)る。
では、炉内装入物の電気抵抗測定値が、経時的に大きく
変化し、ある期間以上経過するとほとんど抵抗測定がで
きなくなる欠点をもって0)る。
この例を第3図a、b、cに示す。すなわち、ゾンデ設
置2日後では、コークス層1〜3Ω、鉱石類層800〜
1000Ωを示しているが、20日後では鉱石類層が8
0〜110Ωまで低下し、50日後では、100前後と
なり、コークス層か、鉱石類層かの判定ができず装入物
層厚を求めることが不可能となる。
置2日後では、コークス層1〜3Ω、鉱石類層800〜
1000Ωを示しているが、20日後では鉱石類層が8
0〜110Ωまで低下し、50日後では、100前後と
なり、コークス層か、鉱石類層かの判定ができず装入物
層厚を求めることが不可能となる。
この原因は、炉内に挿入されたゾンデの電極10.11
間の絶縁物質12が、炉内ガス温度が高いことによる熱
ショック、または装入物の降下による衝撃、および摩耗
作用によって破損、脱落し、電極10.11間に炉内ガ
ス中に含まれる微粉カーボンや、装入物中の小粒径のコ
ークスが入り込み、絶縁不良を起し、電気抵抗がコーク
スと同程度まで低下することによるものである。
間の絶縁物質12が、炉内ガス温度が高いことによる熱
ショック、または装入物の降下による衝撃、および摩耗
作用によって破損、脱落し、電極10.11間に炉内ガ
ス中に含まれる微粉カーボンや、装入物中の小粒径のコ
ークスが入り込み、絶縁不良を起し、電気抵抗がコーク
スと同程度まで低下することによるものである。
ゾンデに使用する絶縁物質12は、使用条件が、高温の
還元ガス中であるため、使用材料が非常に限定され、従
来は鉱石とはゾ同程度の電気抵抗をもつ耐熱レンガを使
用して0)るため、炉内への装入物装入時の衝撃や装入
物降下による摩耗作用により短期間で前述のような破損
、脱落を起している。
還元ガス中であるため、使用材料が非常に限定され、従
来は鉱石とはゾ同程度の電気抵抗をもつ耐熱レンガを使
用して0)るため、炉内への装入物装入時の衝撃や装入
物降下による摩耗作用により短期間で前述のような破損
、脱落を起している。
本発明は、これらの問題を解決し、長期間にわたって安
定して装入物の電気抵抗を測定できるようにしたもので
ある。
定して装入物の電気抵抗を測定できるようにしたもので
ある。
第4図に本発明の層厚検知用ゾンデの構造例を示す。
第4図に示すものは、電極10.11の少なくとも一方
10を耐熱性がよく、シかも耐摩耗性のある材料例えば
ステンレス鋼により作り、この電極10は、絶縁物質1
2のゾンデ生端部下側の一部を残して該絶縁物質12が
炉内を降下する装入物に直接接触しないように端面を含
め全体的に覆うように形威し、他方の中心電極11は外
側電極10の先端付近下側から下向きに炉内に突き出し
、更にその先端部分を屈曲させて電極10の先端面と同
一面まで延長したものである。
10を耐熱性がよく、シかも耐摩耗性のある材料例えば
ステンレス鋼により作り、この電極10は、絶縁物質1
2のゾンデ生端部下側の一部を残して該絶縁物質12が
炉内を降下する装入物に直接接触しないように端面を含
め全体的に覆うように形威し、他方の中心電極11は外
側電極10の先端付近下側から下向きに炉内に突き出し
、更にその先端部分を屈曲させて電極10の先端面と同
一面まで延長したものである。
第4図のaは側断面図を、bは正面図を、またCは第4
図aのA−Aで示される先端部の底面図をそれぞれ示す
。
図aのA−Aで示される先端部の底面図をそれぞれ示す
。
第4図に示す電極10と11の炉内側間隔dは層厚を測
定し、ようとする装入物の最大粒径と同程度に設計する
ことが肝要である。
定し、ようとする装入物の最大粒径と同程度に設計する
ことが肝要である。
これは間隔dが装入物粒径よりも小さい場合、電極10
.11間を装入物が通過しないため装入物と装入物層が
入り込み沈積して絶縁不良を起すことと、ゾンデ自体が
装入物の降下を妨げることによって生ずる空洞内に電極
11が入ってしまい装入物の電気抵抗が測定できなくな
ることがあるためである。
.11間を装入物が通過しないため装入物と装入物層が
入り込み沈積して絶縁不良を起すことと、ゾンデ自体が
装入物の降下を妨げることによって生ずる空洞内に電極
11が入ってしまい装入物の電気抵抗が測定できなくな
ることがあるためである。
なお、前記空洞内にとどまらない間隔であるかぎりその
間隔をあまり大きくとる必要はない。
間隔をあまり大きくとる必要はない。
この間隔を大きくとり過ぎると鉱石類とコークス層との
境界層検知時間に誤差が生じることとなるからである。
境界層検知時間に誤差が生じることとなるからである。
本発明は以上のような構成であるから、装入物により損
傷を受けることが少なく、長期にわたり安定した計測を
行なえるものである。
傷を受けることが少なく、長期にわたり安定した計測を
行なえるものである。
第1図は高炉の炉頂部の要部断面図、第2図a〜dは従
来の層厚検知用ゾンデの構造例を示す図です、dは長さ
方向断面図、a、Cは径方向断面図、第3図a、b、c
は従来の検知用ゾンデを使用した場合の電気抵抗測定値
の経時変化を示す説明図、第4図は本発明の実施例を示
す図であり、aは縦断面図、bは正面図、Cはa図A−
Aで示される先端部分の底面図である。 1・・・・・・ベル、2・・・・・・ムーバブルアーマ
−13・・・・・・検尺針、4・・・・・・炉壁、5・
・・・・・コークス層、6・・・・・・鉱石顔面、7お
よび7′・・・・・・ゾンデ、10および11・・・・
・・電極、12・・・・・・絶縁物質。
来の層厚検知用ゾンデの構造例を示す図です、dは長さ
方向断面図、a、Cは径方向断面図、第3図a、b、c
は従来の検知用ゾンデを使用した場合の電気抵抗測定値
の経時変化を示す説明図、第4図は本発明の実施例を示
す図であり、aは縦断面図、bは正面図、Cはa図A−
Aで示される先端部分の底面図である。 1・・・・・・ベル、2・・・・・・ムーバブルアーマ
−13・・・・・・検尺針、4・・・・・・炉壁、5・
・・・・・コークス層、6・・・・・・鉱石顔面、7お
よび7′・・・・・・ゾンデ、10および11・・・・
・・電極、12・・・・・・絶縁物質。
Claims (1)
- 1 還元溶解炉の側壁から炉内へ挿入した後固定し炉内
を降下する装入物の電気抵抗を測定することによりコー
クスと鉱石類を判別するゾンデにおいて、先端下部に切
欠部を有し残りは先端面を含めて全体を覆うように構成
した筒状の電極10と、この電極10の中に絶縁物12
により電気的に絶縁して同心的に配置した他の電極11
とからなり、電極11の先端を前記切欠部から炉内へ突
出せしめかつこの突出せしめた電極11を前方に屈曲さ
せると共に電極10との間隔dを装入物の最大粒径と同
程度にしたことを特徴とする還元溶解炉内装入物の電気
抵抗測定用ゾンデ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4859082A JPS5850290B2 (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 還元溶解炉内装入物の電気抵抗測定用ゾンデ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4859082A JPS5850290B2 (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 還元溶解炉内装入物の電気抵抗測定用ゾンデ |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9266876A Division JPS5318409A (en) | 1976-08-03 | 1976-08-03 | Measuring probe for electric resistance of burden in reduction smelting furnace |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57169005A JPS57169005A (en) | 1982-10-18 |
| JPS5850290B2 true JPS5850290B2 (ja) | 1983-11-09 |
Family
ID=12807615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4859082A Expired JPS5850290B2 (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 還元溶解炉内装入物の電気抵抗測定用ゾンデ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850290B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0427289U (ja) * | 1990-06-28 | 1992-03-04 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5583810A (en) * | 1991-01-31 | 1996-12-10 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | Method for programming a semiconductor memory device |
| US6243293B1 (en) | 1992-01-29 | 2001-06-05 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum | Contacted cell array configuration for erasable and programmable semiconductor memories |
| WO1999009219A1 (en) * | 1997-08-20 | 1999-02-25 | Moskovsky Institute Stali I Splavov (Tekhnologichesky Universitet) | Probe scanning system and built-in burden material defining sensor |
| CN102392089A (zh) * | 2011-11-03 | 2012-03-28 | 江苏省沙钢钢铁研究院有限公司 | 高炉径向焦炭和矿石层厚分布的简易测量装置及方法 |
-
1982
- 1982-03-26 JP JP4859082A patent/JPS5850290B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0427289U (ja) * | 1990-06-28 | 1992-03-04 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57169005A (en) | 1982-10-18 |
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