JPS5850453A - 物品検査システム - Google Patents
物品検査システムInfo
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- JPS5850453A JPS5850453A JP56149246A JP14924681A JPS5850453A JP S5850453 A JPS5850453 A JP S5850453A JP 56149246 A JP56149246 A JP 56149246A JP 14924681 A JP14924681 A JP 14924681A JP S5850453 A JPS5850453 A JP S5850453A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は生産ないし流通過程等における大形の物品の
検査な込し識別作業の合理化、省力化システムに関する
ものである。
検査な込し識別作業の合理化、省力化システムに関する
ものである。
従来この種の装置として第１図に示すものがあっに０図
にお−てｆｉｌは検査対象、（２）は搬送設備、（３１
は搬送設備（２＋の制御装置、（４１σ操作車であυ、
この操作卓（４）を介して検査物品（１１は所定の検査
位置に移すことができる。（５）はＸ線発生装置、ｆ６
１ｉ’ｔＸ線螢光表示装置であシ、操作卓（４）を介し
てＸ線発生装置（５）よシ送出されるＸ線照射によシ得
られる検査対象（１）の画像はＸ線螢光表示装置（６）
Ｋ表示することができる。
にお−てｆｉｌは検査対象、（２）は搬送設備、（３１
は搬送設備（２＋の制御装置、（４１σ操作車であυ、
この操作卓（４）を介して検査物品（１１は所定の検査
位置に移すことができる。（５）はＸ線発生装置、ｆ６
１ｉ’ｔＸ線螢光表示装置であシ、操作卓（４）を介し
てＸ線発生装置（５）よシ送出されるＸ線照射によシ得
られる検査対象（１）の画像はＸ線螢光表示装置（６）
Ｋ表示することができる。
次に動作にりｌで説明する。まず係員は操作卓（４１お
よび制御装置（３）を介して搬送設備（２）を動作させ
、検査対象（１）ｆ所定の検査位＃に移動させる。次に
操作卓（４）全弁して係員が行う指示または制御装置＋
３１ Ｋよる検査物品（１）の検査位置到達検出信号Ｋ
ｘ’り、Ｘ線発生装置ａｒ ｆ５＋よｐＸ線が送出され
る。このＸ線が検査対象（１１に照射されると、検査対
象ｆ＋ｌの構成要素のＸａ［対する特性に応じてＸ線螢
光表示装置＋６１ Ｋ到達するＸ線の強さが変調さｈ５
９表示装置（６）Ｋよ如このＸ線が目？Ｊ！可能な光に
変換さり、る。この結果表示装置（６１により検査対象
（１）のＸ線透視図が表示さｈ−る。さらに検査のため
の情報収集が完了すると。
よび制御装置（３）を介して搬送設備（２）を動作させ
、検査対象（１）ｆ所定の検査位＃に移動させる。次に
操作卓（４）全弁して係員が行う指示または制御装置＋
３１ Ｋよる検査物品（１）の検査位置到達検出信号Ｋ
ｘ’り、Ｘ線発生装置ａｒ ｆ５＋よｐＸ線が送出され
る。このＸ線が検査対象（１１に照射されると、検査対
象ｆ＋ｌの構成要素のＸａ［対する特性に応じてＸ線螢
光表示装置＋６１ Ｋ到達するＸ線の強さが変調さｈ５
９表示装置（６）Ｋよ如このＸ線が目？Ｊ！可能な光に
変換さり、る。この結果表示装置（６１により検査対象
（１）のＸ線透視図が表示さｈ−る。さらに検査のため
の情報収集が完了すると。
係員の判断による操作卓（４１の操作または制御装置（
３１による自動制御によシ検査物品（１）は次工程に移
される。
３１による自動制御によシ検査物品（１）は次工程に移
される。
係員は表示装＃（６）に表示さｈｋ図を目視し。
経験を基にした判断によシ、検査対象（１）内の異物の
存在を物品（１）の解体または荷姿の変更を行わずに実
施することが可能となる。
存在を物品（１）の解体または荷姿の変更を行わずに実
施することが可能となる。
又、検査対象ｆｉ＋が大形コンテナ（例えば高さ２４ｍ
×巾２４ｍ×長さ１２ｍ）のように大きな物の場合、Ｘ
線螢光表示装置（６）が一般に入手できる大きさに限度
があること及び、検査対象（１）全体を一回の照射でカ
バーできるような大形のＸ線発生装置は実用的には得ら
ｈないので。
×巾２４ｍ×長さ１２ｍ）のように大きな物の場合、Ｘ
線螢光表示装置（６）が一般に入手できる大きさに限度
があること及び、検査対象（１）全体を一回の照射でカ
バーできるような大形のＸ線発生装置は実用的には得ら
ｈないので。
大形の検査対象（＋ｌ ｆ普通に１１台のＸＳ発生装置
（５）と一台のＸａ螢光表示装置（６１１１み合わせた
第１図のシステム構成のシステムで検査するとすわば、
小さな視野で大きな範囲をみるために。
（５）と一台のＸａ螢光表示装置（６１１１み合わせた
第１図のシステム構成のシステムで検査するとすわば、
小さな視野で大きな範囲をみるために。
Ｘ線発生装置（５）とＸ線螢光表示装置（６）の組み合
わせを（両者が相対的に移動しな因ようにして）移動す
るか、検査対象（１１′ｆ運搬装置（２１により移動書
せて検査対象（１１及びＸ線発生装置（５）とＸ１１ｉ
ｉ！螢光表示装置（６）を結ぶ線＃ｌ′２図＋＋３＋
（照射視野０２）の軌跡がｖｇ２図０１）の如くなるよ
うにして検査する必要があシ、検査時間に大きな時間を
要し全体的な検査システムの各装置も犬がかりとなシ非
常に高価格の検査システムとなる欠点が従来の検査装＃
にはあった。
わせを（両者が相対的に移動しな因ようにして）移動す
るか、検査対象（１１′ｆ運搬装置（２１により移動書
せて検査対象（１１及びＸ線発生装置（５）とＸ１１ｉ
ｉ！螢光表示装置（６）を結ぶ線＃ｌ′２図＋＋３＋
（照射視野０２）の軌跡がｖｇ２図０１）の如くなるよ
うにして検査する必要があシ、検査時間に大きな時間を
要し全体的な検査システムの各装置も犬がかりとなシ非
常に高価格の検査システムとなる欠点が従来の検査装＃
にはあった。
前述の欠点を解決するため、考えを一歩進めて第３図イ
の如く、複数台のＸ線螢光表示装置＋６１ ｆｒ配＃（
検査対象（１）全水平に移動させる場合この移動方向と
直角になるように複数台のｘｍセンサを複数台の全体の
センサー高さＨが検査対象（１１の高さをカバーするに
充分な数だけ並べる）シ、検査対象ｆ（水平に）移動さ
せて順次映像をメモリにとり込んで被検査物（１）の全
体画像をとりこみ、後でこれケ別の表示装＃に表示して
検査する方法が考えらり、るが、この方法の欠点け、各
センサー（４１の検出有効視野３１１ヲとシま〈枠ｃｌ
Ｉｚ等の無効視野（ハ）が全体画像（第３図口）の不連
続部（継ぎ目）としてあられノ１−９検査不可能な範囲
を生ずることである。
の如く、複数台のＸ線螢光表示装置＋６１ ｆｒ配＃（
検査対象（１）全水平に移動させる場合この移動方向と
直角になるように複数台のｘｍセンサを複数台の全体の
センサー高さＨが検査対象（１１の高さをカバーするに
充分な数だけ並べる）シ、検査対象ｆ（水平に）移動さ
せて順次映像をメモリにとり込んで被検査物（１）の全
体画像をとりこみ、後でこれケ別の表示装＃に表示して
検査する方法が考えらり、るが、この方法の欠点け、各
センサー（４１の検出有効視野３１１ヲとシま〈枠ｃｌ
Ｉｚ等の無効視野（ハ）が全体画像（第３図口）の不連
続部（継ぎ目）としてあられノ１−９検査不可能な範囲
を生ずることである。
従来の物品検査は以上のようＶＣ構成さね、で因るので
、単なる濃淡画像表示及び、大形検査対象の検査の場合
第２図の如き一組のＸ線発生装置とＸ線螢光表示装置の
検査対象に対する相対的な長距離の移動や、単純なＸ線
螢光表示＆置のような配列（第３図イ）による広範囲検
査で長時間の作業や、検査不能範囲のあることによる検
査課シ等多くの欠点があった。
、単なる濃淡画像表示及び、大形検査対象の検査の場合
第２図の如き一組のＸ線発生装置とＸ線螢光表示装置の
検査対象に対する相対的な長距離の移動や、単純なＸ線
螢光表示＆置のような配列（第３図イ）による広範囲検
査で長時間の作業や、検査不能範囲のあることによる検
査課シ等多くの欠点があった。
この発明は上記のようで従来のものの欠点を除去するた
め［３さり、７７−もので、大きな範囲をカバーするに
必要なかてのＸ線検出器を検査対象ｆｌ＋の移動方向に
垂直な方向で相隣るＸ線検出器の有効検出部が重々らず
かつ隙間ができないようＫ （接するように）配置し、
検査対象の移動と同期をとって各ＸＩｖｉＩセンサーに
よる検出範囲が前肩の検出時期に丁度接するように検査
画像全とり込むようにして大形の合成画面全体を継目や
隙間のない映像とすることにより検査画像による検査課
シや不能部分をなくする装ｒＩｔを提供することを目的
としてしる。
め［３さり、７７−もので、大きな範囲をカバーするに
必要なかてのＸ線検出器を検査対象ｆｌ＋の移動方向に
垂直な方向で相隣るＸ線検出器の有効検出部が重々らず
かつ隙間ができないようＫ （接するように）配置し、
検査対象の移動と同期をとって各ＸＩｖｉＩセンサーに
よる検出範囲が前肩の検出時期に丁度接するように検査
画像全とり込むようにして大形の合成画面全体を継目や
隙間のない映像とすることにより検査画像による検査課
シや不能部分をなくする装ｒＩｔを提供することを目的
としてしる。
以下この発明の実施例を崗ＶＣ−）Ｖて説明する。
第４図においてＣＩｌ＋は一つのＸ線検出器で、（至）
はこのＸ線検出器ｃｉ１１を第５図に示すように複数個
配置した検出器群である。、（至）はＸｉ検出器からの
映像信号を画像処理その他の処理をする処理製電で、０
４１け画像処理結果を表示する表示装置。
はこのＸ線検出器ｃｉ１１を第５図に示すように複数個
配置した検出器群である。、（至）はＸｉ検出器からの
映像信号を画像処理その他の処理をする処理製電で、０
４１け画像処理結果を表示する表示装置。
Ｃｌ５１は各種の周辺装置（例プリンタ等）で、（至）
は検査対象（１）ｆ移動させる搬送装＃Ｃ２１の移動距
離を検出する距離検出器である。（１１（２１（３１（
４１ｆ５）け前述の通シである。
は検査対象（１）ｆ移動させる搬送装＃Ｃ２１の移動距
離を検出する距離検出器である。（１１（２１（３１（
４１ｆ５）け前述の通シである。
大形の物体ｆＸ線透視によシ検査する場合。
Ｘ線の強さく透過力）と線量（粒子数−画質に関係）及
びＸ線の拡がシ（放射）角（これはＸ線放射方向の奥行
きのある物体の形状歪み−Ｘ線源の近くにある物が遠く
にある物より大きく見える−に関係する）等によシ検査
能力が影響を受けるので、Ｘ線発生装置（５）の能力と
Ｘ線検出器（Ｘ線／光変換十光／電気変換）の大きさけ
制限を受けそｈぞれ最も実用的な大きさがある。これら
の限定された大きさの検査装置（Ｘ線発生装置（５）と
Ｘ線検出器ｆ３１１の組み合せ）で大形物品の透視検査
をする場合、第２図の如く一組の検査装置ｔを検査対象
全面をカバーするように移動させるか、第３図イのよう
ＫＸ線検出器を一つの方向（例えば検査対象（１）の高
さＨ）′ｆｒカバーできるように配置して検査対象をこ
れ（Ｈ方向）と直角方向に移動させ（逆に検査対象固定
検査装置移動でもよい）第３図口のように何回かに分け
て（■、■、■がその回数を示す）その図ごとに検査す
るか、■〜■全体を合成して後で全体面としてみるかの
二通りの方法がある。第２図の方法は時間がかかシすぎ
て実用的でない。第３図の方法において問題になるのは
、Ｘ線検出器全体が受感部（有効部）Ｑ】）の如くなっ
ていれば第７図口のように継ぎ目のない全体画像を作る
ことは簡単であるが、一般にＸ線検出器は強度を持たす
ため有効部Ｃ１ｌ＋が枠器ＶＣよって囲まれてしる。こ
れが第３図口の無効検査不能視野の原因となるので、我
々ｉａ第５図イの如くＸ線検出器を配置し第５図口の如
く画像メモリに各検出器の映像をメモリすることによし
継ぎ目のなし全体画像を得る方法を発明しに０すなわち
検査装置用）の有効部かｐｘｑの矩形である場合につめ
て説明すると■列、ｌＩ列に各Ｘ線検出器を１段（１〜
６）の相隣る検出器の有効視野（２１）同志が接する位
置に配置する。この場合９列間の距離ｒＦｉ枠器が交叉
しなり充分な距離があれば特に規定する必要はない。
びＸ線の拡がシ（放射）角（これはＸ線放射方向の奥行
きのある物体の形状歪み−Ｘ線源の近くにある物が遠く
にある物より大きく見える−に関係する）等によシ検査
能力が影響を受けるので、Ｘ線発生装置（５）の能力と
Ｘ線検出器（Ｘ線／光変換十光／電気変換）の大きさけ
制限を受けそｈぞれ最も実用的な大きさがある。これら
の限定された大きさの検査装置（Ｘ線発生装置（５）と
Ｘ線検出器ｆ３１１の組み合せ）で大形物品の透視検査
をする場合、第２図の如く一組の検査装置ｔを検査対象
全面をカバーするように移動させるか、第３図イのよう
ＫＸ線検出器を一つの方向（例えば検査対象（１）の高
さＨ）′ｆｒカバーできるように配置して検査対象をこ
れ（Ｈ方向）と直角方向に移動させ（逆に検査対象固定
検査装置移動でもよい）第３図口のように何回かに分け
て（■、■、■がその回数を示す）その図ごとに検査す
るか、■〜■全体を合成して後で全体面としてみるかの
二通りの方法がある。第２図の方法は時間がかかシすぎ
て実用的でない。第３図の方法において問題になるのは
、Ｘ線検出器全体が受感部（有効部）Ｑ】）の如くなっ
ていれば第７図口のように継ぎ目のない全体画像を作る
ことは簡単であるが、一般にＸ線検出器は強度を持たす
ため有効部Ｃ１ｌ＋が枠器ＶＣよって囲まれてしる。こ
れが第３図口の無効検査不能視野の原因となるので、我
々ｉａ第５図イの如くＸ線検出器を配置し第５図口の如
く画像メモリに各検出器の映像をメモリすることによし
継ぎ目のなし全体画像を得る方法を発明しに０すなわち
検査装置用）の有効部かｐｘｑの矩形である場合につめ
て説明すると■列、ｌＩ列に各Ｘ線検出器を１段（１〜
６）の相隣る検出器の有効視野（２１）同志が接する位
置に配置する。この場合９列間の距離ｒＦｉ枠器が交叉
しなり充分な距離があれば特に規定する必要はない。
さて、検査装置全体のノステム構成はｉ＠４図の如くな
る。この図ｒＣついて動作説明をする。
る。この図ｒＣついて動作説明をする。
第５図口の如く図の横（水平−検査対象移動）方向に完
全ＶＣ継ぎ目のなめ合成画像にするために、検査画像の
入力と検査対象の移動の同期をトル必要がある。この同
期をとる方法としては第４図（又１ｌ−ｊ第８図）のよ
うに検査対象を移動ζせる搬送装置に移動距離検出器を
つけて、この移動距離が前層の水平方向−画面入力ピッ
チが第５図のＰＫなるようにするか、搬送装置の移動速
度全一定にして、水平方向−画■の入力ピッチがＰＫｆ
ｚるようなタイミングを処理装置側でとって画面を入力
するか二つの方法があるが本明細書での説明は前者につ
いておこなう。
全ＶＣ継ぎ目のなめ合成画像にするために、検査画像の
入力と検査対象の移動の同期をトル必要がある。この同
期をとる方法としては第４図（又１ｌ−ｊ第８図）のよ
うに検査対象を移動ζせる搬送装置に移動距離検出器を
つけて、この移動距離が前層の水平方向−画面入力ピッ
チが第５図のＰＫなるようにするか、搬送装置の移動速
度全一定にして、水平方向−画■の入力ピッチがＰＫｆ
ｚるようなタイミングを処理装置側でとって画面を入力
するか二つの方法があるが本明細書での説明は前者につ
いておこなう。
Ｘ線の照射吠ｉｌｔ第８図に示すようにこの２列６段全
体をカバーするような範囲である。各検出器Ｃｌ１ｌか
らの画面の入力Ｊ＠序は第５図に■、■。
体をカバーするような範囲である。各検出器Ｃｌ１ｌか
らの画面の入力Ｊ＠序は第５図に■、■。
■・・・で示した順序である。これらの入力画をあらか
じめきめらり、＋処理装置ｔｃ１３のパターンメモリの
相当位菅に記憶させｈば２合成全体画は継ぎ目の々い児
金な全体面となる。なお、パターンメモリへの画像情報
としては各画面ｆ構成する画素のアドレスとそれぞｈの
画素の１１度情報の二通シがある。
じめきめらり、＋処理装置ｔｃ１３のパターンメモリの
相当位菅に記憶させｈば２合成全体画は継ぎ目の々い児
金な全体面となる。なお、パターンメモリへの画像情報
としては各画面ｆ構成する画素のアドレスとそれぞｈの
画素の１１度情報の二通シがある。
どのあと、パターンメモリに入った情報をもとにして各
種画像処理１画面の歪補、ノイズ消去１画像強調処理−
−例二値化９輪郭強調、擬似カラー表示、平滑化処理−
９ｆｌ−分拡大の処理をおこなって画像表示器Ｃ３４１
Ｋ表示し、検査官の判断全助け、各種内容ｗＪ検査ケ、
検査対象？開け、中身ケガにとジ出す必要なしＶＣ，お
こなうことが可能となシ検査作業の大幅な自動化省力化
全達成でとる。
種画像処理１画面の歪補、ノイズ消去１画像強調処理−
−例二値化９輪郭強調、擬似カラー表示、平滑化処理−
９ｆｌ−分拡大の処理をおこなって画像表示器Ｃ３４１
Ｋ表示し、検査官の判断全助け、各種内容ｗＪ検査ケ、
検査対象？開け、中身ケガにとジ出す必要なしＶＣ，お
こなうことが可能となシ検査作業の大幅な自動化省力化
全達成でとる。
なお上記実施例では第５図の如く相隣る検出器（３１）
の有効視野の上、下線が接するようＶＣ配置したが、各
段間の有効視野Ｃ１１ｌの土、下厳からだけ父叉するよ
うＶ（シて処′ｆ＃Ａ装置姉のソフトウェアによりパタ
ーンメモリに谷画囲を入力する際。
の有効視野の上、下線が接するようＶＣ配置したが、各
段間の有効視野Ｃ１１ｌの土、下厳からだけ父叉するよ
うＶ（シて処′ｆ＃Ａ装置姉のソフトウェアによりパタ
ーンメモリに谷画囲を入力する際。
図の破線で示したところを境昇線（接線）となるように
メモリのアドレスをきめて記憶させｈは同様にして継目
のない全体画面を合成することができる。
メモリのアドレスをきめて記憶させｈは同様にして継目
のない全体画面を合成することができる。
以上のように、この発明によれば全体システムケ第４図
のように、Ｘ縁検出器の配ｒｋを第５図イの如く構成し
たので、大形検量対象の検査画像′ｆ−複数個のＸｉ検
出器ｒｃよつで短時間に継ぎ目なしの合成画像とし、見
落しのなり全体の透視検査を短時間におこなえ、検査Ｓ
度の向上を検査速度の向上を達成できる。
のように、Ｘ縁検出器の配ｒｋを第５図イの如く構成し
たので、大形検量対象の検査画像′ｆ−複数個のＸｉ検
出器ｒｃよつで短時間に継ぎ目なしの合成画像とし、見
落しのなり全体の透視検査を短時間におこなえ、検査Ｓ
度の向上を検査速度の向上を達成できる。
第７図は従来の物品検査７ヌテム図、第２図は大形検査
対象の透視検査を一組の検査装置でおこなう様子を示す
立体図、第３図のイは従来の複数Ｘ線検出器の配置図で
口はこれによって何回かに分けて全体画像を合成した例
、第４図は発明した物品検査装置のシステム構成図、第
５図のイは発明のＸ線検出器の配置図９口はとのＸ＠検
出器による画像入力の手順説明と合成図、第６図のイけ
Ｘ線検出装置の単体図２口はその中の検出有効視野部を
示す図、第１図イは有効視野部のみを複数台配置して大
形検査対象全検査する際の配置図２口はイによる完全合
成画面、第８図は検査主要部検査状態を示す立体図、第
９図は継ぎ目なし合、成画面を得る場合のＸ線検出器の
複数台配置の他の実施例である。 図中の符号（１）は検査対象、（２１け搬送設備、（５
）（１１） にｉＸ線発生装置、Ｏ】）σχ線検出器、（３３＋は画
像処理装置、０４１は表示装置、 Ｇ５１は周辺装置１
缶は距離検出器である。 代理人 葛 野 信 − （１２） 第３図 イ（３２〕 ロイ（３２
） ロ 第４図 第６図 第７図 イ
ロ電８図 第ｑ図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿 ■、小事件表示 特願昭 ５６−１４９２４６号
２、発明の名称 物品検査システム ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄、及び図面。 ６、補正の内容 （１）明細書第７頁第１５行の「回数」を「順序」と補
正する。 （２）同誓第１０負第１行の「−一例」を「（例：」と
補正する。 （３）同誉第１０頁第２行の「平滑化処理−」を「平滑
化処理）」と補正する。 （４）同誉第１０負第１０行の「上、下線から」を「上
、下線がＳ」と補正する。 （５）図面の第２図及び第５図を別紙のとおシ補正する
。 以上
対象の透視検査を一組の検査装置でおこなう様子を示す
立体図、第３図のイは従来の複数Ｘ線検出器の配置図で
口はこれによって何回かに分けて全体画像を合成した例
、第４図は発明した物品検査装置のシステム構成図、第
５図のイは発明のＸ線検出器の配置図９口はとのＸ＠検
出器による画像入力の手順説明と合成図、第６図のイけ
Ｘ線検出装置の単体図２口はその中の検出有効視野部を
示す図、第１図イは有効視野部のみを複数台配置して大
形検査対象全検査する際の配置図２口はイによる完全合
成画面、第８図は検査主要部検査状態を示す立体図、第
９図は継ぎ目なし合、成画面を得る場合のＸ線検出器の
複数台配置の他の実施例である。 図中の符号（１）は検査対象、（２１け搬送設備、（５
）（１１） にｉＸ線発生装置、Ｏ】）σχ線検出器、（３３＋は画
像処理装置、０４１は表示装置、 Ｇ５１は周辺装置１
缶は距離検出器である。 代理人 葛 野 信 − （１２） 第３図 イ（３２〕 ロイ（３２
） ロ 第４図 第６図 第７図 イ
ロ電８図 第ｑ図 手続補正書（自発） 特許庁長官殿 ■、小事件表示 特願昭 ５６−１４９２４６号
２、発明の名称 物品検査システム ３、補正をする者 代表者片山仁へ部 ５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄、及び図面。 ６、補正の内容 （１）明細書第７頁第１５行の「回数」を「順序」と補
正する。 （２）同誓第１０負第１行の「−一例」を「（例：」と
補正する。 （３）同誉第１０頁第２行の「平滑化処理−」を「平滑
化処理）」と補正する。 （４）同誉第１０負第１０行の「上、下線から」を「上
、下線がＳ」と補正する。 （５）図面の第２図及び第５図を別紙のとおシ補正する
。 以上
Claims (1)
- 物品の生産および流通過程等に使用さｈ−るものであっ
て、上記物品を搬送するための搬送手段、上記物品の内
部を透過し得るエネルギー波全発生する手段、上記物品
の内部を透過したエネルギーレベルを検出する複数個の
検出器、この検出器の検出面の入力タイミングをとる検
査対象移動距離検出装置、この検出装置からの出力信号
を移動距離検出装置からの信号をもとに同期音とって画
像メモリに入力し所定の画像処理を行なう画像処理装置
とを備え、上記物品の透過特性を示す画像情報の濃淡信
号全上記処理装置によシデータ処理することによシ、上
記物品の解体ないし荷姿の変更を行うことなく上記物品
の検査または識別するようにしたこと′ｆ特徴とする物
品検査システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149246A JPS5850453A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 物品検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56149246A JPS5850453A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 物品検査システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5850453A true JPS5850453A (ja) | 1983-03-24 |
Family
ID=15471066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56149246A Pending JPS5850453A (ja) | 1981-09-21 | 1981-09-21 | 物品検査システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5850453A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6017382A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-01-29 | Toshiba Corp | 危険物判定装置 |
| JPS6017341A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-01-29 | Toshiba Corp | 危険物判定前処理装置 |
| JPS6114592A (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-22 | Toshiba Corp | 内容物判定装置 |
| JPS6191588A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-09 | ツリユツラー ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンデイトゲゼルシヤフト | 紡織繊維梱中の金属片などのような異物を探知する装置 |
| FR2604258A1 (fr) * | 1986-09-19 | 1988-03-25 | Gen Electric | Procede et appareil d'inspection d'objets a rapport signal sur bruit ameliore et flou d'image reduit |
| JPS63149548A (ja) * | 1986-12-12 | 1988-06-22 | Kawasaki Steel Corp | Ｘ線回折装置 |
| WO2003046532A1 (en) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray examining device, and its control method and its adjusting method |
-
1981
- 1981-09-21 JP JP56149246A patent/JPS5850453A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6017382A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-01-29 | Toshiba Corp | 危険物判定装置 |
| JPS6017341A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-01-29 | Toshiba Corp | 危険物判定前処理装置 |
| JPS6114592A (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-22 | Toshiba Corp | 内容物判定装置 |
| JPS6191588A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-09 | ツリユツラー ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンデイトゲゼルシヤフト | 紡織繊維梱中の金属片などのような異物を探知する装置 |
| FR2604258A1 (fr) * | 1986-09-19 | 1988-03-25 | Gen Electric | Procede et appareil d'inspection d'objets a rapport signal sur bruit ameliore et flou d'image reduit |
| JPS63149548A (ja) * | 1986-12-12 | 1988-06-22 | Kawasaki Steel Corp | Ｘ線回折装置 |
| WO2003046532A1 (en) * | 2001-11-26 | 2003-06-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray examining device, and its control method and its adjusting method |
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